CN211578717U - 一种适用于芯片的测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种适用于芯片的测试机构，包括连接单元、传动结构、测试单元，所述连接单元包含治具连接板、垫片，所述传动结构包含压板、吸嘴、吸嘴固定块、连接基板，所述测试单元包含基座和销钉。本实用新型的有益效果是：是一种高精度的检测机构，芯片在抓取、放置时简单容易，且放置位置精准，不会出现压伤、折弯、折断芯片的引脚，不仅提高芯片的检测效率，同时保证芯片生产的合格率，且该检测机构简单，易于操作。

Description

一种适用于芯片的测试机构

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种适用于芯片的测试机构。

背景技术

随着科技的发展，芯片产业发展越来越快，芯片的小型化、多功能是现代芯片产业的发展趋势。由于芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效，因此芯片检测环节至关重要，采用好的芯片测试机构可以提高芯片生产的合格率。常见的芯片检测机构，通常是将芯片插入主机板的插槽内进行测试，测试完成后再从插槽内拔出，但这种检测十分不方便，而且容易压伤、压弯芯片的引脚，造成极大的浪费，影响芯片的合格率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种适用于芯片的测试机构，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种适用于芯片的测试机构，包括连接单元、传动结构、测试单元；

所述连接单元包含治具连接板、垫片，所述治具连接板上设有第一芯片槽，所述垫片分设于第一芯片槽的两侧；

所述传动结构包含压板、吸嘴、吸嘴固定块、连接基板，所述吸嘴固定于吸嘴固定块上，所述吸嘴固定块的设置于压板的上方，所述吸嘴固定块的上方和连接基板固定连接；

所述测试单元包含基座和销钉，所述基座上设有第二芯片槽，所述销钉设置于第二芯片槽的两侧。

进一步优选，所述治具连接板上设置有和垫片相配合的垫片槽。

进一步优选，所述压板下方设有凸起，所述压板上设有贯穿压板及凸起的通孔。

进一步优选，所述连接基板连接有机械手。

进一步优选，所述基座上设有长槽，其贯穿第二芯片槽的上部。

进一步优选，所述第二芯片槽的底部设有测试机。

进一步优选，所述销钉上沿其圆周方向设有圆形凸台阶。

有益效果

本实用新型的适用于芯片的测试机构，是一种高精度的检测机构，芯片在抓取、放置时简单容易，且放置位置精准，不会出现压伤、折弯、折断芯片的引脚，不仅提高芯片的检测效率，同时保证芯片生产的合格率，且该检测机构简单，易于操作。

附图说明

图1为本实用新型实施例所公开的一种适用于芯片的测试机构的结构示意图。

附图标记

1-治具连接板，2-垫片，3-第一芯片槽，4-压板，5-吸嘴，6-吸嘴固定块，7-连接基板，8-基座，9-销钉，10-第二芯片槽，11-芯片。

具体实施方式

以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。

实施例

如图1所示，一种适用于芯片的测试机构，包括连接单元、传动结构、测试单元；

所述连接单元包含治具连接板1、垫片2，所述治具连接板1上设有第一芯片槽3，所述垫片2分设于第一芯片槽3的两侧；

所述传动结构包含压板4、吸嘴5、吸嘴固定块6、连接基板7，所述吸嘴5固定于吸嘴固定块6上，所述吸嘴固定块6的设置于压板4的上方，所述吸嘴固定块6的上方和连接基板7固定连接；

所述测试单元包含基座8和销钉9，所述基座8上设有第二芯片槽10，所述销钉9设置于第二芯片槽10的两侧。

所述治具连接板1上设置有和垫片2相配合的垫片槽，起到限位的作用，使压板4在下行的过程中不会压伤芯片11。

所述压板4下方设有凸起，所述压板4上设有贯穿压板4及凸起的通孔，所述通孔和吸嘴5连接，引导气源从通孔中流进，吸住芯片11，同时，所述凸起可根据芯片11外形设计，便于卡接芯片11，同时可与第二芯片槽10配合，引导传动结构运行，使其定位更加精确。

所述连接基板7连接有机械手，控制传动结构的运行。

所述基座8上设有长槽，其贯穿第二芯片槽10的上部，所述长槽连接有感应器，可保证芯片11位置放置正确，不会出现歪斜、不到位的情况。

所述第二芯片槽10的底部设有测试机。

所述销钉9上沿其圆周方向设有圆形凸台阶，其不仅对传动结构起引导的作用，精确定位，同时可保证传动结构在下行到圆形凸台阶时就会停止，不会将芯片11压伤，所述传动结构的压板4的下方的凸起，沿着第二芯片槽10下行，引导芯片11的放置准确。

所述第一芯片槽3、第二芯片槽10、传动结构均采用两组完全相同的结构布置，所述两组第一芯片槽3、两组第二芯片槽10和两组传动结构的吸嘴5相配合，吸嘴5可直接从第一芯片槽3吸附芯片11并放入第二芯片槽10，无需再做调整，节约调试时间，提高效率。

本实用新型的适用于芯片的测试机构，可对两片芯片11同时测试，其工作流程如下：

S1）传动结构动作，下行至连接单元，压板4上的凸起正对芯片11的背面，吸嘴5吸附住待测的芯片11；

S2）传动结构带动芯片11上行并移动至测试单元；

S3）传动结构在销钉9的引导下下行，同时压板4上的凸起沿着第二芯片槽10的槽壁引导芯片11精确放置，传动结构的压板4在触碰到销钉9的圆形凸台阶时停止，此时芯片11放置到位；

S4）基座8上的长槽连接的感应器检测芯片11是否放置正确，如果放置正确，测试机开始对芯片11进行测试，至完成测试；

S5）传动结构将测试单元测试好的芯片11吸附至下个工位。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型性的保护范围之内的实用新型内容。

Claims (7)

1.一种适用于芯片的测试机构，其特征在于：包括连接单元、传动结构、测试单元；

所述连接单元包含治具连接板（1）、垫片（2），所述治具连接板（1）上设有第一芯片槽（3），所述垫片（2）分设于第一芯片槽（3）的两侧；

所述传动结构包含压板（4）、吸嘴（5）、吸嘴固定块（6）、连接基板（7），所述吸嘴（5）固定于吸嘴固定块（6）上，所述吸嘴固定块（6）的设置于压板（4）的上方，所述吸嘴固定块（6）的上方和连接基板（7）固定连接；

所述测试单元包含基座（8）和销钉（9），所述基座（8）上设有第二芯片槽（10），所述销钉（9）设置于第二芯片槽（10）的两侧。

2.根据权利要求1所述的一种适用于芯片的测试机构，其特征在于：所述治具连接板（1）上设置有和垫片（2）相配合的垫片槽。

3.根据权利要求1所述的一种适用于芯片的测试机构，其特征在于：所述压板（4）下方设有凸起，所述压板（4）上设有贯穿压板（4）及凸起的通孔。

4.根据权利要求1所述的一种适用于芯片的测试机构，其特征在于：所述连接基板（7）连接有机械手。

5.根据权利要求1所述的一种适用于芯片的测试机构，其特征在于：所述基座（8）上设有长槽，其贯穿第二芯片槽（10）的上部。

6.根据权利要求1所述的一种适用于芯片的测试机构，其特征在于：所述第二芯片槽（10）的底部设有测试机。

7.根据权利要求1所述的一种适用于芯片的测试机构，其特征在于：所述销钉（9）上沿其圆周方向设有圆形凸台阶。

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