CN211553774U - 一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体，主体一侧的中部开设有圆形通道，圆形通道的内部滑动连接有翻转圆筒，主体一侧顶部的一侧固定安装有光源开关，主体的顶部固定安装有与圆形通道的顶部相通的半导体检测显微镜，本实用新型一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，通过调节键控制翻转圆筒活动与固定，操控翻转圆筒抽拉和旋转，实现对半导体的拆装和旋转，便于半导体检测操作，使用方便，提高检测效率；在主体内部对半导体进行检测，环形照明灯提供光源，减少了外界环境对检测的影响，提高检测质量；通过调节治具的大小，实现治具适用于不同大小的半导体，提高使用范围。

Description

一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具

技术领域

本实用新型涉及涉及电子技术领域，具体为一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具。

背景技术

随着经济的繁荣昌盛，人们生活水平的不断的提高，生产技术的发展越来越好，人们对自己时间的利用越来越苛刻，生活中，我们对于设备的要求越来越高，希望能够通过对设备的创新来提高设备的工作效率，减少工作时间，提高使用效率，使之发挥出最大的价值，随着科技的发展，便于调节大小的半导体检测用翻转治具有了很大程度的发展，它的发展给人们在对工厂车间进行清理吸尘时带来了很大的便利，其种类和数量也正在与日俱增。目前市场上的便于调节大小的半导体检测用翻转治具虽然种类和数量非常多，但是大多数的半导体检测设备只有人工通过镊子夹取半导体放置在放大镜下进行检测，检测一面后进行翻转，再检测另一面，操作麻烦，受外界环境影响较大，而且使用镊子夹取半导体需要对使用的力量精确把控，容易导致半导体损坏，这很大程度的限制了半导体检测设备的使用范围。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，以解决上述背景技术提出的目前市场上的大多数的半导体检测设备只有人工通过镊子夹取半导体放置在放大镜下进行检测，检测一面后进行翻转，再检测另一面，操作麻烦，受外界环境影响较大，而且使用镊子夹取半导体需要对使用的力量精确把控，容易导致半导体损坏，这很大程度的限制了半导体检测设备的使用范围的问题。

本实用新型解决其技术问题是通过以下技术方案实现的：

一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体，所述主体一侧的中部开设有圆形通道，所述圆形通道的内部滑动连接有翻转圆筒，所述主体一侧顶部的一侧固定安装有光源开关，所述主体的顶部固定安装有与圆形通道的顶部相通的半导体检测显微镜，且所述圆形通道与半导体检测显微镜的连接处固定安装有环形照明灯，所述环形照明灯通过光源开关与外接电源电性连接。

而且，所述翻转圆筒包括前圆板、后圆板、两个活动治具和把手，所述前圆板一侧的两端分别通过滑杆与后圆板一侧的两端固定连接，两个所述滑杆一侧穿过两个活动治具一侧的两端开设的圆孔，所述前圆板的另一侧固定连接有把手。

而且，所述把手远离前圆板的一端固定安装有调节键，所述调节键的一端通过活动杆穿过把手与前圆板内部的伸缩力臂的一端活动连接，所述伸缩力臂的另一端通过滑块与活动杆表面开设的滑槽滑动连接，所述伸缩力臂的两侧均与伸缩杆的一端固定连接，两个所述伸缩杆的另一端穿过前圆板的表面分别与两个对称的锁柱一端固定连接，所述调节键与把手的连接处和两个锁柱与前圆板的连接处均固定安装有弹簧。

而且，所述圆形通道正对主体一侧的一端嵌设有锁环，所述锁环的内圈开设有两个对称的锁孔，两个所述锁孔分别与两个锁柱卡合连接。

而且，两个所述活动治具均包括底座、滑轨和两个夹片，所述底座的一侧固定连接有滑轨，所述滑轨一侧的两端分别与两个夹片的一端滑动连接，所述滑轨的顶部开设有条形槽，所述条形槽的两端分别通过销钉与两个夹片的一端固定连接。

而且，两个所述底座的两侧均固定安装有旋转螺钉，四个所述圆孔的一侧均卡合设置有锁紧板，四个所述锁紧板远离圆孔的一侧分别与四个旋转螺钉的一端转动连接。

本实用新型的优点和有益效果为：

1、本实用新型的便于调节大小的半导体检测用翻转治具，设置有能够旋转的翻转圆筒，翻转圆筒的内部通过治具夹持固定待检测的半导体，通过调节键控制翻转圆筒活动与固定，操控翻转圆筒抽拉和旋转，实现对半导体的拆装和旋转，便于半导体检测操作，使用方便，提高检测效率；在主体内部对半导体进行检测，环形照明灯提供光源，减少了外界环境对检测的影响，提高检测质量；通过调节治具的大小，实现治具适用于不同大小的半导体，提高使用范围。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的截面图；

图3为本实用新型翻转圆筒的结构示意图；

图4为本实用新型底座的结构示意图。

图中：1、主体；2、半导体检测显微镜；3、翻转圆筒；4、锁环；5、前圆板；6、后圆板；7、滑杆；8、活动治具；9、底座；10、夹片；11、滑轨；12、锁柱；13、调节键；14、把手；15、伸缩力臂；16、圆孔；17、锁紧板；18、旋转螺钉；19、环形照明灯；20、圆形通道；21、锁孔；22、光源开关。

具体实施方式

下面通过具体实施例对本实用新型作进一步详述，以下实施例只是描述性的，不是限定性的，不能以此限定本实用新型的保护范围。

一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体1，主体1一侧的中部开设有圆形通道20，圆形通道20的内部滑动连接有翻转圆筒3，主体1一侧顶部的一侧固定安装有光源开关22，主体1的顶部固定安装有与圆形通道20的顶部相通的半导体检测显微镜2，且圆形通道20与半导体检测显微镜2的连接处固定安装有环形照明灯19，环形照明灯19通过光源开关22与外接电源电性连接；翻转圆筒3包括前圆板5、后圆板6、两个活动治具8和把手14，前圆板5一侧的两端分别通过滑杆 7与后圆板6一侧的两端固定连接，两个滑杆7一侧穿过两个活动治具8一侧的两端开设的圆孔16穿插连接，前圆板5的另一侧固定连接有把手14；把手14远离前圆板5的一端固定安装有调节键13，调节键13的一端通过活动杆穿过把手14与前圆板5内部的伸缩力臂15的一端活动连接，伸缩力臂15的另一端通过滑块与活动杆表面开设的滑槽滑动连接，伸缩力臂15的两侧均与伸缩杆的一端固定连接，两个伸缩杆的另一端穿过前圆板5的表面分别与两个对称的锁柱12一端固定连接，调节键13 与把手14的连接处和两个锁柱12与前圆板5的连接处均固定安装有弹簧；圆形通道20正对主体1一侧的一端嵌设有锁环4，锁环4的内圈开设有两个对称的锁孔21，两个锁孔21分别与两个锁柱12卡合连接；两个活动治具8均包括底座9、滑轨11 和两个夹片10，底座9的一侧固定连接有滑轨11，滑轨11一侧的两端分别与两个夹片10的一端滑动连接，滑轨11的顶部开设有条形槽，条形槽的两端分别通过销钉与两个夹片10的一端固定连接；两个底座9的两侧均固定安装有旋转螺钉18，四个圆孔16的一侧均卡合设置有锁紧板17，四个锁紧板17远离圆孔16的一侧分别与四个旋转螺钉18的一端转动连接。

工作原理：在使用该便于调节大小的半导体检测用翻转治具时，首先，按下调节键13，使两个锁柱12收缩，脱离对应的锁孔21，松开对翻转圆筒3的锁定，通过把手14带动翻转圆筒3沿着圆形通道20滑出，调节两个活动治具8，使两个活动治具 8适用于不同大小的半导体，具体操作为：旋转四个旋转螺钉18，使锁紧板17与滑杆7分离，滑动两个活动治具8，调节两个活动治具8之间的距离，然后反向旋转两个旋转螺钉18，使锁紧板17与滑杆7紧紧接触，通过增加摩擦力，从而实现对两个活动治具8进行固定，松开四个销钉，使四个夹片10分别沿着两个滑轨11移动，调节相邻两个夹片10之间的距离，调节完成后通过销钉穿过条形槽对四个夹片10进行固定，综上所述，实现调节治具的大小，然后通过四个夹片10夹住半导体的四个边角，实现对半导体的固定，完成半导体的放置后，通过把手14推动翻转圆筒3进入圆形通道20，按下调节键13，两个锁柱12收缩，使其不影响翻转圆筒3进入圆形通道20，翻转圆筒3完全进入圆形通道20后，松开调节键13，两个锁柱12弹出，与对应的锁孔21卡合，对翻转圆筒3进行固定，按压光源开关22，环形照明灯19通电后发出光线，为半导体检测提供光源，通过半导体检测显微镜2放大半导体，通过工作人员观察对半导体的一侧进行检测，减少了外界环境对检测的影响，提高检测质量，一面检测完成后，按下调节键13，使两个锁柱12收缩，通过把手14带动翻转圆筒3旋转180°，松开调节键13，对翻转圆筒3进行固定，实现翻转半导体的功能，对半导体的另一面进行检测，检测效率高。

尽管为说明目的公开的本实用新型的实施例和附图，但是本领域的技术人员可以理解，在不脱离本实用新型及所附权利要求的精神和范围内，各种替换、变化和修改都是可能的，因此本实用新型的范围不局限于实施例和附图所公开的内容。

Claims (6)

1.一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体(1)，其特征在于：所述主体(1)一侧的中部开设有圆形通道(20)，所述圆形通道(20)的内部滑动连接有翻转圆筒(3)，所述主体(1)一侧顶部的一侧固定安装有光源开关(22)，所述主体(1)的顶部固定安装有与圆形通道(20)的顶部相通的半导体检测显微镜(2)，且所述圆形通道(20)与半导体检测显微镜(2)的连接处固定安装有环形照明灯(19)，所述环形照明灯(19)通过光源开关(22)与外接电源电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述翻转圆筒(3)包括前圆板(5)、后圆板(6)、两个活动治具(8)和把手(14)，所述前圆板(5)一侧的两端分别通过滑杆(7)与后圆板(6)一侧的两端固定连接，两个所述滑杆(7)一侧穿过两个活动治具(8)一侧的两端开设的圆孔(16)，所述前圆板(5)的另一侧固定连接有把手(14)。

3.根据权利要求2所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述把手(14)远离前圆板(5)的一端固定安装有调节键(13)，所述调节键(13)的一端通过活动杆穿过把手(14)与前圆板(5)内部的伸缩力臂(15)的一端活动连接，所述伸缩力臂(15)的另一端通过滑块与活动杆表面开设的滑槽滑动连接，所述伸缩力臂(15)的两侧均与伸缩杆的一端固定连接，两个所述伸缩杆的另一端穿过前圆板(5)的表面分别与两个对称的锁柱(12)一端固定连接，所述调节键(13)与把手(14)的连接处和两个锁柱(12)与前圆板(5)的连接处均固定安装有弹簧。

4.根据权利要求3所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述圆形通道(20)正对主体(1)一侧的一端嵌设有锁环(4)，所述锁环(4)的内圈开设有两个对称的锁孔(21)，两个所述锁孔(21)分别与两个锁柱(12)卡合连接。

5.根据权利要求2所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：两个所述活动治具(8)均包括底座(9)、滑轨(11)和两个夹片(10)，所述底座(9)的一侧固定连接有滑轨(11)，所述滑轨(11)一侧的两端分别与两个夹片(10)的一端滑动连接，所述滑轨(11)的顶部开设有条形槽，所述条形槽的两端分别通过销钉与两个夹片(10)的一端固定连接。

6.根据权利要求5所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：两个所述底座(9)的两侧均固定安装有旋转螺钉(18)，四个所述圆孔(16)的一侧均卡合设置有锁紧板(17)，四个所述锁紧板(17)远离圆孔(16)的一侧分别与四个旋转螺钉(18)的一端转动连接。

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