CN211403233U

CN211403233U - 伺服驱动器老化测试装置

Info

Publication number: CN211403233U
Application number: CN201922456469.7U
Authority: CN
Inventors: 霍波波; 郭平; 丁信忠; 甘佳佳; 李虎修; 刘虎; 付博
Original assignee: Shanghai Step Robotics Corp
Current assignee: Shanghai Step Robotics Corp
Priority date: 2019-12-30
Filing date: 2019-12-30
Publication date: 2020-09-01
Anticipated expiration: 2029-12-30

Abstract

本实用新型实施例涉及老化测试领域，公开了一种伺服驱动器老化测试装置。本实用新型中伺服驱动器老化测试装置包括：伺服驱动器老化车、电抗器老化车、电源控制柜、上位机和数据采集器；伺服驱动器老化车与电抗器老化车电性连接、以驱动电抗器老化车运行，伺服驱动器老化车分别与电源控制柜、上位机和数据采集器电性连接，数据采集器分别与电源控制柜和上位机电性连接。本实用新型的目的在于提供了一种伺服驱动器老化测试装置，相对于现有技术使得伺服驱动器进行老化测试时，可以模拟实际使用情况、实现带载运行，提高伺服驱动器老化测试的测试效率。

Description

伺服驱动器老化测试装置

技术领域

本实用新型实施例涉及老化测试领域，特别涉及一种伺服驱动器老化测试装置。

背景技术

伺服驱动器属于伺服系统的一部分，是用来控制伺服电机的一种设备。随着社会的发展，人们对伺服驱动器产品的质量要求越来越高，因此为了保证伺服驱动器的可靠与稳定，提高伺服驱动器的良品率，避免产品在早期发生故障，因此需要在出厂前对每一个伺服驱动器产品进行老化测试。伺服驱动器产品在早期发生故障的原因大多是由于设计、原材料和制造过程中的缺陷造成的，通过老化测试手段模拟伺服驱动器使用环境，对伺服驱动器的器件以及系统进行老化测试，激发产品早期类问题，可以提高制程、器件和系统类导致的失效问题拦截率，提高伺服驱动器流向客户端的良品率。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：现有的伺服驱动器老化测试通常采用驱动器控制电机空载运行一定时间，过程中伺服输出电流很小，与现场使用环境相差过大，这种设备和方法对于解决伺服驱动器制程与工艺、设计缺陷造成的故障问题效果不明显，导致流向客户端的设备故障率下降很少。

实用新型内容

本实用新型实施方式的目的在于提供一种伺服驱动器老化测试装置，使得伺服驱动器老化车进行老化测试时可以模拟实际使用情况、实现带载运行，提高伺服驱动器老化测试的测试效率。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施方式提供了一种伺服驱动器老化测试装置，包括：伺服驱动器老化车、电抗器老化车、电源控制柜、上位机和数据采集器；伺服驱动器老化车与电抗器老化车电性连接、以驱动电抗器老化车运行，伺服驱动器老化车分别与电源控制柜、上位机和数据采集器电性连接，数据采集器分别与电源控制柜和上位机电性连接。

本实用新型实施方式相对于现有技术而言，通过在老化测试的过程中使伺服驱动器老化车驱动电抗器老化车运行，使得伺服驱动器老化车进行老化测试时可以模拟实际使用情况、实现带载运行，存在制程与工艺、设计缺陷的不合格品被检测出的效率更高，提高了伺服驱动器老化测试的测试效率。

另外，伺服驱动器老化车与电抗器老化车电性连接、以驱动电抗器老化车运行，具体包括：伺服驱动器老化车的驱动输出根据待测的伺服驱动器型号进行调整。使得伺服驱动器的老化测试可以模拟检测实际使用过程中的各种情况。

另外，伺服驱动器老化车与电抗器老化车电性连接，还包括：根据待测的伺服驱动器型号使用相应型号的电缆进行电连接。通过使用不同型号的电缆进行不同型号待测伺服驱动器的电连接，使得伺服驱动器老化测试装置适用于各种伺服驱动器，提高老化测试的覆盖率。

另外，伺服驱动器老化车与电抗器老化车电性连接，还包括：使用预制线对待测的伺服驱动器进行电连接。通过使用预制线，简化老化测试过程，提高老化测试的效率。

另外，伺服驱动器老化车与电抗器老化车电性连接，还包括：根据待测的伺服驱动器型号使用相应型号的电抗器器件、并和伺服驱动器老化车电性连接。通过使用不同型号的电抗器器件与不同型号待测伺服驱动器电连接，使得伺服驱动器老化测试装置适用于各种伺服驱动器，提高老化测试的覆盖率。

另外，伺服驱动器老化车分别与电源控制柜、上位机和数据采集器电性连接，具体包括：伺服驱动器老化车通过插头或端子与电源控制柜、上位机和数据采集器电性连接。通过使用更加方便插接的插头或端子进行连接，简化老化测试过程，提高老化测试的效率。

另外，伺服驱动器老化车通过插头或端子与电源控制柜、上位机和数据采集器电性连接，具体包括：根据待测的伺服驱动器型号使用相应型号的插头或端子。通过使用不同型号的插头或端子与不同型号待测伺服驱动器电连接，使得伺服驱动器老化测试装置适用于各种伺服驱动器，提高老化测试的覆盖率。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1是根据本实用新型第一实施方式的伺服驱动器老化测试装置结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本实用新型各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本实用新型的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。

本实用新型的第一实施方式涉及一种伺服驱动器老化测试装置，如图1所示，包括：伺服驱动器老化车1、电抗器老化车2、电源控制柜3、上位机4和数据采集器5；伺服驱动器老化车1与电抗器老化车2电性连接、以驱动电抗器老化车2运行，伺服驱动器老化车1分别与电源控制柜3、上位机4和数据采集器5电性连接，数据采集器5分别与电源控制柜3和上位机4电性连接。

老化测试开始前，待测的伺服驱动器安装于伺服驱动器老化车1上，电抗器安装于电抗器老化车2上，当老化测试开始时，上位机4向电源控制柜3发送指令，以使电源控制柜3向伺服驱动器老化车1、电抗器老化车2和数据采集器5通电，通电后伺服驱动器老化车1驱动电抗器老化车2运行，此时电抗器老化车2相当于伺服驱动器老化车1的负载，伺服驱动器老化车1带动负载运行，以模拟伺服驱动器在实际使用中的使用场景。伺服驱动器老化车1驱动电抗器老化车2运行过程中，由数据采集器5采集伺服驱动器老化车1的运行参数，具体地说，运行参数包括转速、电流、母线电压、驱动温度等参数，需要说明的是，为了便于理解和说明，本实施例以运行参数包括转速、电流、母线电压、驱动温度为例，本实施例不对运行参数做具体限制。数据采集器5采集伺服驱动器老化车1的运行参数后，将运行参数上传至上位机4，由上位机4根据运行参数，检出早期潜在的失效产品以及因设计不良、制程不良的产品。

优选的，伺服驱动器老化车1的驱动输出根据待测的伺服驱动器型号进行调整。实际应用中，伺服驱动器的驱动输出不是一直不变的，在老化测试中，需要改变伺服驱动器老化车1的驱动输出，使得伺服驱动器老化测试装置可以更好的模拟实际应用中的各种情况，具体地说，通过内部程序控制伺服驱动器老化车1的驱动输出为100％功率运行6min、90％功率运行6min、80％功率运行6min、150％功率运行2s几种不同的情况，使得伺服驱动器的老化测试可以模拟检测实际使用过程中的各种情况。

本实施例中，通过在老化测试的过程中使伺服驱动器老化车驱动电抗器老化车运行，使得伺服驱动器老化车进行老化测试时可以模拟实际使用情况、实现带载运行，存在制程与工艺、设计缺陷的不合格品被检测出的效率更高，提高了伺服驱动器老化测试的测试效率。

本实用新型的第二实施方式涉及一种伺服驱动器老化测试装置。第二实施方式与第一实施方式大致相同，主要区别之处在于：在本实用新型第二实施方式中，伺服驱动器老化车1与电抗器老化车2电性连接中，根据待测的伺服驱动器型号使用相应型号的电缆进行电连接。

面对多种型号的伺服驱动器，为了可以使得伺服驱动器老化测试装置的老化测试覆盖率更大，需要根据待测的伺服驱动器型号使用相应型号的电缆进行电连接，具体地说，为了满足所有功率伺服驱动器进行老化，对于小功率伺服驱动器，可以使用2*3*1m²铜芯多股带屏蔽四芯线缆进行连接；大功率伺服驱动器可以使用3*10m²铜芯多股带屏蔽四芯线缆，PE接地线单独接。通过使用不同型号的电缆进行不同型号待测伺服驱动器的电连接，使得伺服驱动器老化测试装置适用于各种伺服驱动器，提高老化测试的覆盖率。

优选的，根据待测的伺服驱动器型号使用相应型号的电抗器器件、并和伺服驱动器老化车电性连接。

优选的，根据待测的伺服驱动器型号使用相应型号的插头或端子。

优选的，使用预制线对待测的伺服驱动器进行电连接。

优选的，伺服驱动器老化车通过插头或端子与电源控制柜、上位机和数据采集器电性连接。

具体地说，对拖老化需要每台伺服驱动器单独接入220V或380V，并且单独控制，需要将现有一次性给所有驱动供电方式变更为通过PLC控制交流接触器给驱动220V、380V的输入；每个电流接触器控制伺服的RST输入(大功率伺服用C25接触器1个控4个，各规格伺服驱动器的供电在上电过程中需要设计互锁功能；小功率伺服驱动器用C25接触器1个控制8个)；24V在配电箱内通过分线排进行分线后转接在伺服驱动器老化车1上；伺服先供24V，驱动在24V供电后再供强电；UVW、RST、制动电阻通过重载连接器与电机、电源、制动电阻箱连在一起；IO和24V供电通过两个4pin航空插头或TE的端子进行转接；每台驱动对应1套IO、RST、UVW、24V；编码器线通过转接线直接转接或用原有的转接座进行转接。UVW用2个12pin电流为70A重载连接器转到电机，转接线缆用4*6m²单屏蔽线缆；RST用2个16pin电流为16A重载转接器转接到配线柜，转接线缆用4*4²单屏蔽线缆，同时在伺服驱动器老化车1上加装上电指示灯；编码器线整根线通过带外壳转接线进行转接；24V通过重载连接器、航空插头进行转接。

本实施例中，通过使用不同型号的电抗器器件与不同型号待测伺服驱动器电连接，以及使用不同型号的插头或端子与不同型号待测伺服驱动器电连接，使得伺服驱动器老化测试装置适用于各种伺服驱动器，提高老化测试的覆盖率。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本实用新型的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本实用新型的精神和范围。

Claims

1.一种伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，包括：伺服驱动器老化车、电抗器老化车、电源控制柜、上位机和数据采集器；所述伺服驱动器老化车与所述电抗器老化车电性连接、以驱动所述电抗器老化车运行，所述伺服驱动器老化车分别与所述电源控制柜、所述上位机和所述数据采集器电性连接，所述数据采集器分别与所述电源控制柜和所述上位机电性连接。

2.根据权利要求1所述的伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，所述伺服驱动器老化车与所述电抗器老化车电性连接、以驱动所述电抗器老化车运行，具体包括：所述伺服驱动器老化车的驱动输出根据待测的所述伺服驱动器型号进行调整。

3.根据权利要求2所述的伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，所述伺服驱动器老化车与所述电抗器老化车电性连接，还包括：根据待测的所述伺服驱动器型号使用相应型号的电缆进行电连接。

4.根据权利要求3所述的伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，所述伺服驱动器老化车与所述电抗器老化车电性连接，还包括：使用预制线对待测的所述伺服驱动器进行电连接。

5.根据权利要求4所述的伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，所述伺服驱动器老化车与所述电抗器老化车电性连接，还包括：根据待测的所述伺服驱动器型号使用相应型号的电抗器器件、并和所述伺服驱动器老化车电性连接。

6.根据权利要求5所述的伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，所述伺服驱动器老化车分别与所述电源控制柜、所述上位机和所述数据采集器电性连接，具体包括：所述伺服驱动器老化车通过插头或端子与所述电源控制柜、所述上位机和所述数据采集器电性连接。

7.根据权利要求6所述的伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，所述伺服驱动器老化车通过插头或端子与所述电源控制柜、所述上位机和所述数据采集器电性连接，具体包括：

根据待测的所述伺服驱动器型号使用相应型号的所述插头或所述端子。