CN211403212U - 一种半自动化堵转平台及伺服测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半自动化堵转平台，包括固定平台、供电电源及处理器；所述固定平台为固定安置待测伺服电机的平台；所述供电电源为与所述处理器相连、对所述处理器供电的电源；所述处理器的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连。本实用新型通过将所述待测伺服电机的各端与所述处理器相连，配合简单的计时程序，实现所述处理器自动记录堵转测试中每一轮的数据，提升测试效率，节约人工成本。本实用新型同时还提供了一种具有上述有益效果的伺服测试设备。

Description

一种半自动化堵转平台及伺服测试设备

技术领域

本实用新型涉及机械质检领域，特别是涉及一种半自动化堵转平台及伺服测试设备。

背景技术

伺服电机可使控制速度，位置精度非常准确，可以将电压信号转化为转矩和转速以驱动控制对象。伺服电机转子转速受输入信号控制，并能快速反应，在自动控制系统中，用作执行元件，且具有机电时间常数小、线性度高、始动电压等特性，可把所收到的电信号转换成电动机轴上的角位移或角速度输出，这使得它越来越多的在高精尖技术的发展中占据重要的一席之地。

而堵转测试是伺服众多测试中的一个测试项，主要是确保伺服在主要的6个电机角度堵转情况下，可以正常的报出故障，保护伺服，但现有的堵转测试技术，只能记录当前堵转时间，下一次堵转开始后，会覆盖上一次时间，需要有人时刻记录，记录效率低、误差较大，并且很大程度的耗费人力和时间。

因此，如何找到一种提高记录效率与准确度，同时提高记录效率的方法，是本领域技术人员亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种半自动化堵转平台及伺服测试设备，以解决现有技术中实验数据记录效率低、误差大的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种半自动化堵转平台，包括固定平台、供电电源及处理器；

所述固定平台为固定安置待测伺服电机的平台；

所述供电电源为与所述处理器相连、对所述处理器供电的电源；

所述处理器的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连。

可选地，在所述的半自动化堵转平台中，所述半自动化堵转平台还包括人机界面组件；

所述人机界面组件为将所述处理器记录的每轮测试中的每一次堵转时间及所述平均堵转时间进行显示的组件；所述供电电源为对所述人机界面组件供电的电源。

可选地，在所述的半自动化堵转平台中，所述处理器为可编程逻辑控制器。

可选地，在所述的半自动化堵转平台中，所述可编程逻辑控制器与所述人机界面组件之间通过RS232串口连接。

可选地，在所述的半自动化堵转平台中，所述供电电源为24V直流电源。

可选地，在所述的半自动化堵转平台中，所述半自动化堵转平台还包括触点开关；

所述触点开关为每轮测试的触发开关。

一种伺服测试设备，所述伺服测试设备包括如上述任一种所述的半自动化堵转平台。

本实用新型所提供的半自动化堵转平台，包括固定平台、供电电源及处理器；所述固定平台为固定安置待测伺服电机的平台；所述供电电源为与所述处理器相连、对所述处理器供电的电源；所述处理器的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连。本实用新型通过将所述使能信号输入端、所述故障信号输出端及所述故障复位信号输入端与所述处理器相连，配合简单的计时程序，可实现各个输入信号及输出信号的接收/发送时间点的标定，进而实现所述处理器自动记录堵转测试中每一轮的数据，缩短每一次堵转后的必要的等待复位时间，即缩短一轮测试需要的时间，提升测试效率，同时避免了人工记录过程中可能出现人为失误导致记录数据准确率下降的问题，整轮测试过程自动完成，节约人工成本。本实用新型同时还提供了一种具有上述有益效果的伺服测试设备。

附图说明

为了更清楚的说明本实用新型实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的半自动化堵转平台的一种具体实施方式的局部结构示意图；

图2为本实用新型提供的半自动化堵转平台的另一种具体实施方式的局部结构示意图；

图3为本实用新型提供的半自动化堵转平台的一种具体实施方式的可编程逻辑控制器的结构示意图；

图4为本实用新型提供的半自动化堵转平台的一种具体实施方式的人机界面的示意图。

具体实施方式

本具体实施方式中的PLC指可编程逻辑控制器，HMI指人机界面。

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型的核心是提供一种半自动化堵转平台，其一种具体实施方式的结构示意图如图1所示，称其为具体实施方式一，包括固定平台1、供电电源2及处理器3；

所述固定平台1为固定安置待测伺服电机的平台；

所述供电电源2为与所述处理器3相连、对所述处理器3供电的电源；

所述处理器3的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器3的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器3的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连。

优选地，所述供电电源2为24V直流电源。

特别的，所述半自动化堵转平台还包括触点开关；

所述触点开关为每轮测试的触发开关。利用所述触点开关控制每轮堵转测试的开始能更好地掌控测试进度，当然，也可不使用物理开关而是使用程序的虚拟开关，或者预设好预定轮次，直接借助系统程序一次性运行若干轮测试，可根据实际情况做选择。

仅举一例PLC如何控制并记录堵转测试的例子，如图3所示，图3中PLC的第零输入端的输入信号X0，是由外部开关(即所述触点开关)手动控制，PLC的第一信号输入端的输入信号X1和所述待测伺服电机的故障信号输出端连接，当伺服报出故障，X1信号有效；PLC的第一信号输出端的输出信号Y0和所述待测伺服电机的使能信号输入端连接，当Y0有效，伺服使能；所述处理器3的第二信号输出端的故障复位信号Y1和所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连，当Y1有效，伺服进行故障清除。

本实用新型所提供的半自动化堵转平台，包括固定平台1、供电电源2及处理器3；所述固定平台1为固定安置待测伺服电机的平台；所述供电电源2为与所述处理器3相连、对所述处理器3供电的电源；所述处理器3的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器3的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器3的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连。本实用新型通过将所述使能信号输入端、所述故障信号输出端及所述故障复位信号输入端与所述处理器3相连，配合简单的计时程序，可实现各个输入信号及输出信号的接收/发送时间点的标定，进而实现所述处理器3自动记录堵转测试中每一轮的数据，缩短每一次堵转后的必要的等待复位时间，即缩短一轮测试需要的时间，提升测试效率，同时避免了人工记录过程中可能出现人为失误导致记录数据准确率下降的问题，整轮测试过程自动完成，节约人工成本。

在上述具体实施方式的基础上，进一步对所述堵转平台做改进，得到具体实施方式二，其结构示意图如图2所示，包括固定平台1、供电电源2及处理器3；

所述固定平台1为固定安置待测伺服电机的平台；

所述供电电源2为与所述处理器3相连、对所述处理器3供电的电源；

所述处理器3的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器3的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器3的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连；

所述半自动化堵转平台还包括人机界面组件4；

所述人机界面组件4为将所述处理器3记录的每轮测试中的每一次堵转时间及所述平均堵转时间进行显示的组件；所述供电电源2为对所述人机界面组件4供电的电源。

本具体实施方式与上述具体实施方式的不同之处在于，本具体实施方式中为所述半自动化堵转平台增设了所述人机界面组件4，其余结构均与上述具体实施方式相同，在此不再展开赘述。

本具体实施方式中，为所述半自动化堵转平台增设了所述人机界面组件4，其一种人机界面的示意图如图4所示，通过所述人机界面组件4可使工作人员更直观地得到堵转测试的相关数据，能更方便地得知测试程序的进程，变相增加测试效率。

更进一步地，所述可编程逻辑控制器与所述人机界面组件4之间通过RS232串口5连接。当然，所述人机界面组件4也可通过所述24V直流电源2供电。

图4中的人机界面示意图，右上角的时间则是当前北京时间显示，方便记录测试的具体时间；当前堵转时间显示的是伺服进行堵转，当前的过载的时间；等待时间测试为前一次堵转报出过载后到下一次堵转开始的时间；时间复位显示为前一次堵转报出过载后，此时间值后进行故障复位；平均堵转时间指完成预设次数(如50次)的堵转后，每次堵转的平均时间；堵转完成：完成预设次数堵转后，会有指示灯亮起提示堵转完成；堵转次数指每进行一次堵转，会在此计算，直到达到预设的堵转次数，停止计数。

在具体实施方式二的基础上，进一步对所述堵转平台做改进，得到具体实施方式三，其结构示意图与具体实施方式二中相同，包括固定平台1、供电电源2及处理器3；

所述固定平台1为固定安置待测伺服电机的平台；

所述供电电源2为与所述处理器3相连、对所述处理器3供电的电源；

所述处理器3的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器3的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器3的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连；

所述半自动化堵转平台还包括人机界面组件4；

所述人机界面组件4为将所述处理器3记录的每轮测试中的每一次堵转时间及所述平均堵转时间进行显示的组件；所述供电电源2为对所述人机界面组件4供电的电源；

所述处理器3为可编程逻辑控制器。

本具体实施方式与上述具体实施方式的不同之处在于，本具体实施方式中将所述处理器3限定为可编程逻辑控制器，其余结构均与上述具体实施方式相同，在此不再展开赘述。

本具体实施方式中将所述处理器3限定为可编程逻辑控制器，可编程逻辑控制器是种专门为在工业环境下应用而设计的数字运算操作电子系统。它采用一种可编程的存储器，在其内部存储执行逻辑运算、顺序控制、定时、计数和算术运算等操作的指令，通过数字式或模拟式的输入输出来控制各种类型的机械设备或生产过程。其泛用性高，兼容性强，易于操作，便于不同平台上的使用及后续调整，变相提高了工作效率。

本实用新型还提供了一种具有上述有益效果的伺服测试设备，所述伺服测试设备包括如上述任一种所述的半自动化堵转平台。本实用新型所提供的半自动化堵转平台，包括固定平台、供电电源及处理器；所述固定平台为固定安置待测伺服电机的平台；所述供电电源为与所述处理器相连、对所述处理器供电的电源；所述处理器的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连。本实用新型通过将所述使能信号输入端、所述故障信号输出端及所述故障复位信号输入端与所述处理器相连，配合简单的计时程序，可实现各个输入信号及输出信号的接收/发送时间点的标定，进而实现所述处理器自动记录堵转测试中每一轮的数据，缩短每一次堵转后的必要的等待复位时间，即缩短一轮测试需要的时间，提升测试效率，同时避免了人工记录过程中可能出现人为失误导致记录数据准确率下降的问题，整轮测试过程自动完成，节约人工成本。

下面本实用新型提供一种通过PLC及HMI程序进行堵转测试的流程，包括：

步骤1：将伺服电机装在堵转平台上，用螺钉拧紧，先不要把堵转的螺钉拧紧。注意电机键一定要安装好，堵转过程中会产生很大的力矩，如不锁紧，会产生相对滑动，影响实验结果，甚至损坏实验台；

步骤2：将对应电机的驱动器连接好电机，并上电，查看参数P21.09(电机的电气角度)，调整电机的位置，使电机的电气角度刚好在90度，使用这个角度是为了保证堵转时保证U相电流处于最大值；设置参数，将驱动器的模式调至速度模式，将转矩滤波时间设置为0；

步骤3：系统上电，将对系统复位；

步骤4：通过PLC触点X0(即所述触点开关)开始第一轮的50次堵转测试(故障复位时间20s)，闭合X0，第一次堵转开始，直到伺服报出故障，记录第一次堵转时间，记录堵转次数为1，20s后故障自动复位，开始第二次堵转，直到报出故障，记录第二次堵转时间，记录堵转次数为2，20s后复位故障；以此循环50次，完成50次堵转，HMI显示堵转完成，显示堵转次数50，分别记录显示50次堵转时间，自动计算并显示50次堵转平均时间；

步骤5：断开X0，第一轮的数据清零，再次闭合X0，系统开始第二轮的50次堵转测试(故障复位时间5s)，循环50次，整个堵转测试完成；

步骤6：90度堵转实验做完之后，调整电机角度到30度/150度/210度/270度/330度，重复步骤4和步骤5进行实验，得到测试结果。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本实用新型所提供的半自动化堵转平台及伺服测试设备进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。

Claims (7)

1.一种半自动化堵转平台，其特征在于，包括固定平台、供电电源及处理器；

所述固定平台为固定安置待测伺服电机的平台；

所述供电电源为与所述处理器相连、对所述处理器供电的电源；

所述处理器的第一信号输出端与所述待测伺服电机的使能信号输入端相连，所述处理器的第一信号输入端与所述待测伺服电机的故障信号输出端相连；所述处理器的第二信号输出端与所述待测伺服电机的故障复位信号输入端相连。

2.如权利要求1所述的半自动化堵转平台，其特征在于，所述半自动化堵转平台还包括人机界面组件；

所述人机界面组件为将所述处理器记录的每轮测试中的每一次堵转时间及平均堵转时间进行显示的组件；所述供电电源为对所述人机界面组件供电的电源。

3.如权利要求2所述的半自动化堵转平台，其特征在于，所述处理器为可编程逻辑控制器。

4.如权利要求3所述的半自动化堵转平台，其特征在于，所述可编程逻辑控制器与所述人机界面组件之间通过RS232串口连接。

5.如权利要求3或4所述的半自动化堵转平台，其特征在于，所述供电电源为24V直流电源。

6.如权利要求1所述的半自动化堵转平台，其特征在于，所述半自动化堵转平台还包括触点开关；

所述触点开关为每轮测试的触发开关。

7.一种伺服测试设备，其特征在于，所述伺服测试设备包括如权利要求1至6任一项所述的半自动化堵转平台。

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