CN211179937U - 一种新型电导探针 - Google Patents
一种新型电导探针 Download PDFInfo
- Publication number
- CN211179937U CN211179937U CN201921635930.9U CN201921635930U CN211179937U CN 211179937 U CN211179937 U CN 211179937U CN 201921635930 U CN201921635930 U CN 201921635930U CN 211179937 U CN211179937 U CN 211179937U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- spring
- needle
- outer tube
- baffle
- conductance probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 27
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 3
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 5
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型提供了一种新型电导探针，包括针头、一号隔板、弹簧、二号隔板、针尾、外管，所述外管的内部活动安装有弹簧，所述弹簧的两端分别固定安装有一号隔板和二号隔板，所述一号隔板远离弹簧的一侧转动安装有延伸出外管外侧的针头，所述二号隔板远离弹簧的一侧转动安装有延伸出外管外侧的针尾；该新型电导探针通过提高弹簧弹力，提高了检测良率，使用Pd合金的材质，延长使用寿命，减少保养更换的频率，采用三爪形状的针头可明显的增加针测次数。
Description
技术领域
本实用新型涉及电导探针技术领域，尤其涉及一种新型电导探针。
背景技术
在整个IC生产体系中，IC测试位于整个制作过程的后段，是当中一个重要的生产环节。探针是用于测试系统与IC芯片之间的电气连接。测试时，这些探针被压到IC芯片的电极板上，从而完成与IC芯片的电气连接。其主要的功能为检测IC在制造过程中所发生的缺陷，IC产品对于测试的需求又可分为晶片测试和成品测试两个阶段，成品测试则在封装后执行，以确定封装过程后该晶片符合规格。晶片测试在晶圆形成时执行，于封装之前应用IC探针对裸晶做功能测试，区别晶粒的好坏，筛选出不良产品，以避免不必要的浪费。IC产品的缺陷势必要在出货前完成筛选，以增加产品的良率，否则一个不良的IC被使用在产品上会造成产品的不稳定，而使产品无法发挥预期的功能，更严重者，可能因为一个不当的IC而使整批产品遭到退货，断送商机，甚至影响商誉。所以IC产品的检测的成功与否很大程度上取决于IC探针质量的好坏，探针的表面质量影响探针的接触电阻、触电压力等特性，造成IC测试的误差，对整个IC测试具有非常大的影响，因此，必须严格控制IC探针的外形尺寸和表面质量；传统的电导探针里面的弹簧弹力一般，针头采用镀金的材质，使用单锥形状的针头，针测次数少，使用寿命短，保养更换频繁，阻碍了生产率的提高。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种新型电导探针，以解决上述背景技术中提出的问题。
本实用新型提供的技术方案是：一种新型电导探针，包括针头、一号隔板、弹簧、二号隔板、针尾、外管，所述外管的内部活动安装有弹簧，所述弹簧的两端分别固定安装有一号隔板和二号隔板，所述一号隔板远离弹簧的一侧转动安装有延伸出外管外侧的针头，所述二号隔板远离弹簧的一侧转动安装有延伸出外管外侧的针尾。
优选的，所述针头长度为1.6mm，外径为0.18mm，针头采用Pd合金材质，针头的顶部形状为三爪锥形状。
优选的，所述弹簧的弹力范围为30g到40g之间，弹簧采用不锈钢材质。
优选的，所述针尾长度为0.52mm，外径为0.15mm，所述针尾采用Pd合金材质，所述针尾顶部形状为三爪锥形状。
优选的，所述外管的长度为5.5mm，外径为0.28mm，所述外管采用铜材质。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、针头和针尾采用Pd合金材质代替传统的镀金材料，减少保养更换的频率，提高了部件的使用寿命，同时Pd合金材料摩擦系数更小，使针头和针尾在管壁活动更加顺畅，提高检测的便捷性。
2、通过提高弹簧的弹力，减小检测时的接触电阻，提高了检测良率。
3、采用三爪锥形状的针头代替传统的单锥形状针头，增加针测次数，提高了检测的工作效率。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图；
图2是本实用新型的针头和针尾的局部放大图。
图中：1、针头；2、一号隔板；3、弹簧；4、二号隔板；5、针尾；6、外管。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1-2所示，一种新型电导探针，包括针头1、一号隔板2、弹簧3、二号隔板4、针尾5、外管6，外管6内部中空，外管6的内部活动安装有弹簧3，弹簧3的两端分别固定安装有一号隔板2和二号隔板4，一号隔板2远离弹簧3的一侧转动安装有延伸出外管6外侧的针头1，二号隔板4远离弹簧3的一侧转动安装有延伸出外管6外侧的针尾5。
进一步地，针头1长度为1.6mm，外径为0.18mm，针头1采用Pd合金材质，提高针头1的耐磨性，降低针头1与外管6管壁的摩擦系数，使针头1的活动更加顺畅，针头1的顶部形状为三爪锥形状，增加针测次数，提高了检测的工作效率。
进一步地，弹簧3的弹力范围为30g到40g之间，弹簧3采用不锈钢材质，通过提高弹簧的弹力，减小检测时的接触电阻，提高了检测良率。
进一步地，针尾5长度为0.52mm，外径为0.15mm，针尾5采用Pd合金材质，提高针尾5的耐磨性，降低针尾5与外管6管壁的摩擦系数，使针尾5的活动更加顺畅，针尾5顶部形状为三爪锥形状，增加针测次数，提高了检测的工作效率。
进一步地，外管6的长度为5.5mm，外径为0.28mm，外管6采用铜材质，提高探针的延展性。
工作原理：操作人员检测IC芯片时，给IC施加压力，使IC接触到电导探针，进而接触PCB板，确保信号传输路线无断路现象，利用弹簧做成可伸缩的电导探针，来弥补接触上的缺陷，且利用探针针头来刺穿IC锡球上会阻碍测试信号传的输氧化层，通过电导探针使PBC板和IC芯片连接导通，测试信号由PCB板传到IC，经过运算后再传到PCB板，再将处理过后的信号与原信号作比对是否达到预期的值，由此来判断此颗IC功能是否正常。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种新型电导探针，包括针头(1)、一号隔板(2)、弹簧(3)、二号隔板(4)、针尾(5)、外管(6)，其特征在于：所述外管(6)的内部活动安装有弹簧(3)，所述弹簧(3)的两端分别固定安装有一号隔板(2)和二号隔板(4)，所述一号隔板(2)远离弹簧(3)的一侧转动安装有延伸出外管(6)外侧的针头(1)，所述二号隔板(4)远离弹簧(3)的一侧转动安装有延伸出外管(6)外侧的针尾(5)。
2.根据权利要求1所述的一种新型电导探针，其特征在于：所述针头(1)长度为1.6mm，外径为0.18mm，针头(1)采用Pd合金材质，针头(1)的顶部形状为三爪锥形状。
3.根据权利要求1所述的一种新型电导探针，其特征在于：所述弹簧(3)的弹力范围为30g到40g之间，弹簧(3)采用不锈钢材质。
4.根据权利要求1所述的一种新型电导探针，其特征在于：所述针尾(5)长度为0.52mm，外径为0.15mm，所述针尾(5)采用Pd合金材质，所述针尾(5)顶部形状为三爪锥形状。
5.根据权利要求1所述的一种新型电导探针，其特征在于：所述外管(6)的长度为5.5mm，外径为0.28mm，所述外管(6)采用铜材质。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201921635930.9U CN211179937U (zh) | 2019-09-27 | 2019-09-27 | 一种新型电导探针 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201921635930.9U CN211179937U (zh) | 2019-09-27 | 2019-09-27 | 一种新型电导探针 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN211179937U true CN211179937U (zh) | 2020-08-04 |
Family
ID=71798396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201921635930.9U Expired - Fee Related CN211179937U (zh) | 2019-09-27 | 2019-09-27 | 一种新型电导探针 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN211179937U (zh) |
-
2019
- 2019-09-27 CN CN201921635930.9U patent/CN211179937U/zh not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110542771A (zh) | 一种新型电导探针 | |
| CN211179937U (zh) | 一种新型电导探针 | |
| CN201615914U (zh) | 一种新型圆柱电池探针 | |
| TWI458985B (zh) | 高硬度耐磨探針與其製作方法 | |
| CN101576571B (zh) | Pcb测试机用密度转换装置 | |
| CN204694737U (zh) | 旋转手轮式零插拔力老炼测试插座 | |
| CN201047867Y (zh) | Ic测试载板免焊接组装结构 | |
| CN208505969U (zh) | 一种新型磁粉探伤机的棒料上料装置 | |
| CN212391572U (zh) | 一种双缓冲pcba测试治具压板装置 | |
| CN109212281A (zh) | 一种小间距测试探针模组 | |
| CN217276000U (zh) | 一种连接器深度通电及不通电的通止规测试装置 | |
| US20090212805A1 (en) | Probe of vertical probe card | |
| CN208736973U (zh) | 一种pcb检测设备 | |
| JP3183676U (ja) | 半導体検査用プローブピン | |
| CN102419383A (zh) | 低阻无弹簧治具及其制造方法 | |
| CN202929164U (zh) | 测试装置及其探针构造 | |
| KR100331546B1 (ko) | 반도체 패키지 검사공정의 소켓핀 및 이를 이용한 소켓 | |
| CN202599998U (zh) | 低阻无弹簧治具 | |
| CN210038109U (zh) | 一种电子元件正负极的检测结构 | |
| CN212747611U (zh) | 一种镍及镍合金焊丝直径检测装置 | |
| CN208580184U (zh) | 一种用于pcb测试的自动计数装置 | |
| CN217787198U (zh) | 一种pcb牛角盘电路板测试治具 | |
| JP2007298498A (ja) | Ｓｍｄ型受動素子を試験する際の傷の減少方法及び試験システム | |
| US20240036073A1 (en) | Probe head and probe assembly | |
| CN209287766U (zh) | 一种铜母组件三测量装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20200804 |