CN211178242U - 一种侧槽高度检测治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种侧槽高度检测治具，包括治具本体，所述治具本体呈圆柱形状，所述治具本体的中部设有可容置被测工件的容置部，所述治具本体包括底面和顶面，所述顶面包括上公差标准面和下公差标准面，在所述治具本体的侧部设有与容置部贯通的通孔，所述通孔上设有可卡置于被测工件上的侧槽的检测棒。该实用新型，易于操作，检测精度高，而且结构简单，易于加工生产。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测治具技术领域，特别涉及一种侧槽高度检测治具。
背景技术
目前，一些需要检测和测量产品的侧槽高度或者精度是否合格，通常会选择千分尺、卡尺等。但是对于一些体积较小的产品，而且对精度要求较高的产品，用现有的千分尺或者卡尺等，比较难操作，而且检测精度不准，误差相对较大。
因此，有必要设计一种侧槽高度检测治具，以解决上述技术问题。
实用新型内容
针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种侧槽高度检测治具，其结构简单，易于操作，而且检测精度高。
本实用新型所采用的技术方案为：
一种侧槽高度检测治具，包括治具本体，所述治具本体呈圆柱形状，所述治具本体的中部设有可容置被测工件的容置部，所述治具本体包括底面和顶面，所述顶面包括上公差标准面和下公差标准面，在所述治具本体的侧部设有与容置部贯通的通孔，所述通孔上设有可卡置于被测工件上的侧槽的检测棒。
作为优选，所述上公差标准面位于所述顶面的一侧，所述下公差标准面位于所述上公差标准面的对称一侧。
作为优选，所述上公差标准面和下公差标准面的平行度小于0.05。
作为优选，所述治具本体的顶部还对称设有定位槽。
作为优选，所述定位槽位于上公差标准面与下公差标准面之间。
本实用新型的有益效果在于：
本实用新型包括治具本体，所述治具本体呈圆柱形状，所述治具本体的中部设有可容置被测工件的容置部，所述治具本体包括底面和顶面，所述顶面包括上公差标准面和下公差标准面，在所述治具本体的侧部设有与容置部贯通的通孔，所述通孔上设有可卡置于被测工件上的侧槽的检测棒。使用时，将被测工件置于所述容置部上，将产品往上顶的时候，使得被测工件的侧槽的底部与检测棒抵接，此时，被测工件的顶端面与所述治具本体的上公差标准面持平，则产品的侧槽的底部公差合格；将产品往下压的时候，使得被测工件的侧槽的顶部与检测棒抵接，此时，被测工件的顶端面与所述治具本体的下公差标准面持平，则产品的侧槽的的顶部公差合格。通过这样的设置，易于操作，检测精度高，而且结构简单，易于加工生产。
附图说明
图1为本实用新型的立体分解图；
图2为本实用新型的主视结构示意图。
附图标号说明：治具本体1；底面11；顶面12；上公差标准面121；下公差标准面122；容置部2；通孔3；检测棒4；定位槽5。
具体实施方式
为使本实用新型要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
如图1和图2所示，为本实用新型的一种侧槽高度检测治具，包括治具本体1，所述治具本体1呈圆柱形状，所述治具本体1的中部设有可容置被测工件的容置部2，所述治具本体1包括底面11和顶面12，所述顶面12包括上公差标准面121和下公差标准面122，在所述治具本体1的侧部设有与容置部2贯通的通孔3，所述通孔3上设有可卡置于被测工件上的侧槽的检测棒4。在本实用新型中，所述容置部2的结构与被测工件配合，可以根据被测工件的形状来设置，在使用的时候，将被测工件置于所述容置部2上，将产品往上顶的时候，使得被测工件的侧槽的底部与检测棒4抵接，此时，被测工件的顶端面与所述治具本体1的上公差标准面121持平，则产品的侧槽的底部公差合格，反之，则产品的侧槽的底部公差不合格；将产品往下压的时候，使得被测工件的侧槽的顶部与检测棒4抵接，此时，被测工件的顶端面与所述治具本体1的下公差标准面122持平，则产品的侧槽的的顶部公差合格，反之，则产品的侧槽的顶部公差不合格。通过这样的设置，易于操作，检测精度高，而且结构简单，易于加工生产。
在本实用新型中，所述上公差标准面121位于所述顶面12的一侧，所述下公差标准面122位于所述上公差标准面121的对称一侧，通过这样的设置，便于操作人员判断产品是否合格。
在本实用新型中，所述上公差标准面121和下公差标准面122的平行度小于0.05。
在本实用新型中，所述治具本体1的顶部还对称设有定位槽5，将被测工件置于所述容置部2上时，在所述定位槽5上通过夹紧件夹持被测工件的相对两侧，避免在检测时被测工件与所述容置部2发生相对位移，影响检测精度。
在本实用新型中，所述定位槽5位于上公差标准面121与下公差标准面122之间，通过这样的设置，不会对上公差标准面121和下公差标准面122造成误差影响。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型公开的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (5)
1.一种侧槽高度检测治具，包括治具本体(1)，其特征在于：所述治具本体(1)呈圆柱形状，所述治具本体(1)的中部设有可容置被测工件的容置部(2)，所述治具本体(1)包括底面(11)和顶面(12)，所述顶面(12)包括上公差标准面(121)和下公差标准面(122)，在所述治具本体(1)的侧部设有与容置部(2)贯通的通孔(3)，所述通孔(3)上设有可卡置于被测工件上的侧槽的检测棒(4)。
2.根据权利要求1所述的一种侧槽高度检测治具，其特征在于：所述上公差标准面(121)位于所述顶面(12)的一侧，所述下公差标准面(122)位于所述上公差标准面(121)的对称一侧。
3.根据权利要求1所述的一种侧槽高度检测治具，其特征在于：所述上公差标准面(121)和下公差标准面(122)的平行度小于0.05。
4.根据权利要求1所述的一种侧槽高度检测治具，其特征在于：所述治具本体(1)的顶部还对称设有定位槽(5)。
5.根据权利要求4所述的一种侧槽高度检测治具，其特征在于：所述定位槽(5)位于上公差标准面(121)与下公差标准面(122)之间。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201922379368.4U CN211178242U (zh) | 2019-12-25 | 2019-12-25 | 一种侧槽高度检测治具 |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN211178242U true CN211178242U (zh) | 2020-08-04 |
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ID=71798442
Family Applications (1)
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| CN201922379368.4U Active CN211178242U (zh) | 2019-12-25 | 2019-12-25 | 一种侧槽高度检测治具 |
Country Status (1)
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2019
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Legal Events
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Address after: 528400 Factory A4, Building C, No. 163, Qianjin Fourth Road, the Third Industrial Zone, Tanzhou Town, Zhongshan City, Guangdong Province Patentee after: Zhongshan Jiarui Intelligent Technology Co.,Ltd. Address before: 528400 Factory A4, Building C, No. 163, Qianjin Fourth Road, the Third Industrial Zone, Tanzhou Town, Zhongshan City, Guangdong Province Patentee before: Zhongshan Jia Rui precision die casting Co.,Ltd. |
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