CN211014360U - 一种光电检测电子元器件测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备，包括支座、测试座、测试架、导向座和对射光电传感器，所述支座上设置有所述测试座，所述测试座上设置有所述导向座和对射光电传感器，所述测试座和导向座内部孔中设置有所述测试架，所述测试架包括顶针一、顶针二、顶针三和顶针四，所述顶针一、顶针二、顶针三和顶针四设置在所述测试座内部孔中，能够解决电子元器件产品测试时的损坏率，而且一台测试设备可以测试多款电子元器件产品。

Description

一种光电检测电子元器件测试设备

技术领域

本实用新型涉及机械设备测试的技术领域，特别是一种光电检测电子元器件测试设备的技术领域。

背景技术

以往都是通过人工来对电子元器件产品的测试，现在逐步用机械化设备来代替人工作业，现有的机械化设备也可以完成对电子元器件的测试，但是测试过程中将电子元器件产品的管脚压坏的现象较多，而且每测试一款电子元器件都要专门的夹具，现有的设备适应性低。

实用新型内容

本实用新型的目的就是解决现有技术中的问题，提出一种光电检测电子元器件测试设备，能够解决电子元器件产品测试时的损坏率，设备适应性强，能够更好的满足需求。

为实现上述目的，本实用新型提出了一种光电检测电子元器件测试设备，包括支座、测试座、测试架、导向座和对射光电传感器，所述支座上设置有所述测试座，所述测试座上设置有所述导向座和对射光电传感器，所述测试座和导向座内部孔中设置有所述测试架，所述测试架包括顶针一、顶针二、顶针三和顶针四，所述顶针一、顶针二、顶针三和顶针四设置在所述测试座内部孔中。

作为优选，所述测试座包括测试固定座、调节螺杆、可调孔一、可调孔二、可调孔三、可调孔四和支撑座，所述测试固定座上设置有所述可调孔一、可调孔二、可调孔三、可调孔四和支撑座，所述测试固定座固定在所述支座的顶部，所述测试固定座上设置有所述调节螺杆，所述调节螺杆调节所述测试固定座在所述支座顶部的位置。

作为优选，所述导向座上设置有所述导向孔和红外线槽，所述支撑座设置在所述导向孔中间。

作为优选，所述对射光电传感器设置有两个，所述对射光电传感器的红外感应线穿过所述红外线槽。

作为优选，所述测试架包括可调螺杆一、可调螺杆二、可调螺杆三、可调螺杆四、顶针座一、顶针座二、顶针座三、顶针座四、顶针一、顶针二、顶针三和顶针四，所述顶针座一上设置有所述顶针一，所述顶针座二上设置有所述顶针二，所述顶针座三上设置有所述顶针三，所述顶针座四上设置有所述顶针四，所述可调螺杆一上设置有所述顶针座一和顶针座三，所述可调螺杆二上设置有所述顶针座二和顶针座四，所述可调螺杆三上设置有所述顶针座一和顶针座二，所述可调螺杆四上设置有所述顶针座三和顶针座四，所述可调螺杆一设置在所述可调孔一内，所述可调螺杆二设置在所述可调孔二内，所述可调螺杆三设置在所述可调孔三内，所述可调螺杆四设置在所述可调孔四内。

本实用新型的有益效果：本实用新型通过将电子元器件压紧在支撑座上，实现测试工作，避免了因测试而降电子元器件管脚压坏的现象，电子元器件种类繁多，通过可调测试架可以满足多款电子元器件的测试工作，不需要每测试一款电子元器件就要换一套设备，提高了测试设备对电子元器件产品的适应性，可以减少对专用设备的投入。

本实用新型的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。

附图说明

图1是本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备的立体图；

图2是本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备的支座立体图；

图3是本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备的测试座立体图；

图4是本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备的测试座立体图。

图5是本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备的测试架立体图。

图6是本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备的导向座立体图。

图中：1-支座、2-测试座、3-测试架、4-导向座、5-对射光电传感器、21-测试固定座、22-调节螺杆、23-可调孔一、24-可调孔二、25-可调孔三、26-可调孔四、27-支撑座、31-可调螺杆一、32-可调螺杆二、33-可调螺杆三、34-可调螺杆四、35-顶针座一、36-顶针座二、37-顶针座三、38-顶针座四、39-顶针一、40-顶针二、401-顶针三、402-顶针四、41-导向孔、42-红外线槽。

具体实施方式

参阅图1至图6，本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备，包括支座1、测试座2、测试架3、导向座4和对射光电传感器5，所述支座1上设置有所述测试座2，所述测试座2上设置有所述导向座4和对射光电传感器5，所述测试座2和导向座4内部孔中设置有所述测试架3，所述测试架3包括顶针一39、顶针二40、顶针三401和顶针四402，所述顶针一39、顶针二40、顶针三401和顶针四402设置在所述测试座2内部孔中。所述测试座2包括测试固定座21、调节螺杆22、可调孔一23、可调孔二24、可调孔三25、可调孔四26和支撑座27，所述测试固定座21上设置有所述可调孔一23、可调孔二24、可调孔三25、可调孔四26和支撑座27，所述测试固定座21固定在所述支座1的顶部，所述测试固定座21上设置有所述调节螺杆22，所述调节螺杆22调节所述测试固定座21在所述支座1顶部的位置。所述导向座4上设置有所述导向孔41和红外线槽42，所述支撑座27设置在所述导向孔41中间。所述对射光电传感器5设置有两个，所述对射光电传感器5的红外感应线穿过所述红外线槽42。所述测试架3包括可调螺杆一31、可调螺杆二32、可调螺杆三33、可调螺杆四34、顶针座一35、顶针座二36、顶针座三37、顶针座四38、顶针一39、顶针二40、顶针三401和顶针四402，所述顶针座一35上设置有所述顶针一39，所述顶针座二36上设置有所述顶针二40，所述顶针座三37上设置有所述顶针三401，所述顶针座四38上设置有所述顶针四402，所述可调螺杆一31上设置有所述顶针座一35和顶针座三37，所述可调螺杆二32上设置有所述顶针座二36和顶针座四38，所述可调螺杆三33上设置有所述顶针座一35和顶针座二36，所述可调螺杆四34上设置有所述顶针座三37和顶针座四38，所述可调螺杆一31设置在所述可调孔一23内，所述可调螺杆二32设置在所述可调孔二24内，所述可调螺杆三33设置在所述可调孔三25内，所述可调螺杆四34设置在所述可调孔四26内。

本实用新型工作过程：

本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备在工作过程中，电子元器件放入导向孔41中，电子元器件落在支撑座27的上方，并保持一定的距离，电子元器件的四个脚对应的落在顶针一39、顶针二40、顶针三401和顶针四402上，电子元器件分别挡住两侧的对射光电传感器5所发出的红外感应线，测试设备检测到电子元器件已经放入测试座2中，然后将电子元器件压紧到支撑座27上，使电子元器件的四个脚和顶针一39、顶针二40、顶针三401和顶针四402紧密接触，顶针底部接入测试信号，测试完成后将此电子元器件取出，再次放入需要测试的电子元器件；由于电子元器件的种类繁多，管脚的间距也不相同，可以通过调节可调螺杆一31、可调螺杆二32、可调螺杆三33和可调螺杆四34，使固定在顶针座一35、顶针座二36、顶针座三37、顶针座四38上的顶针一39、顶针二40、顶针三401和顶针四402移动到和管脚对应的位置，可调螺杆一31、可调螺杆二32、可调螺杆三33和可调螺杆四34的螺杆一半为正丝，另一半为反丝，调节可调螺杆一31可以调节顶针座一35和顶针座三37的间距，调节可调螺杆二32可以调节顶针座二36和顶针座四38的间距，调节可调螺杆三33可以调节顶针座一35和顶针座二36的间距，调节可调螺杆四34可以调节顶针座三37和顶针座四38的间距。

本实用新型一种光电检测电子元器件测试设备，电子元器件测试前，电子元器件的管脚对应的落在顶针上，电子元器件的底面落在支撑座的上方，由于管脚支撑，底面和支撑座会留有一定的空隙，通过对射光电传感器确认后将电子元器件压紧到支撑座上进行测试；根据电子元器件底面到电子元器件的管脚底端距离来调整支撑座到顶针的距离，保证顶针对管脚底端的安全测试距离，使管脚和顶针紧密接触，避免电子元器件管脚弹力过大会导致管脚变形或电子元器件损坏，弹力过小会导致测试误判；电子元器件的种类繁多，可以调节螺杆使顶针移动到管脚对应的位置。

上述实施例是对本实用新型的说明，不是对本实用新型的限定，任何对本实用新型简单变换后的方案均属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.一种光电检测电子元器件测试设备，其特征在于：包括支座(1)、测试座(2)、测试架(3)、导向座(4)和对射光电传感器(5)，所述支座(1)上设置有所述测试座(2)，所述测试座(2)上设置有所述导向座(4)和对射光电传感器(5)，所述测试座(2)和导向座(4)内部孔中设置有所述测试架(3)，所述测试架(3)包括顶针一(39)、顶针二(40)、顶针三(401)和顶针四(402)，所述顶针一(39)、顶针二(40)、顶针三(401)和顶针四(402)设置在所述测试座(2)内部孔中，所述测试座(2)包括测试固定座(21)、调节螺杆(22)、可调孔一(23)、可调孔二(24)、可调孔三(25)、可调孔四(26)和支撑座(27)，所述测试固定座(21)上设置有所述可调孔一(23)、可调孔二(24)、可调孔三(25)、可调孔四(26)和支撑座(27)，所述测试固定座(21)固定在所述支座(1)的顶部，所述测试固定座(21)上设置有所述调节螺杆(22)，所述调节螺杆(22)调节所述测试固定座(21)在所述支座(1)顶部的位置。

2.如权利要求1所述的一种光电检测电子元器件测试设备，其特征在于：所述导向座(4)上设置有导向孔(41)和红外线槽(42)，所述支撑座(27)设置在导向孔(41)中间。

3.如权利要求1所述的一种光电检测电子元器件测试设备，其特征在于：所述对射光电传感器(5)设置有两个，所述对射光电传感器(5)的红外感应线穿过红外线槽(42)。

4.如权利要求1所述的一种光电检测电子元器件测试设备，其特征在于：所述测试架(3)包括可调螺杆一(31)、可调螺杆二(32)、可调螺杆三(33)、可调螺杆四(34)、顶针座一(35)、顶针座二(36)、顶针座三(37)、顶针座四(38)、顶针一(39)、顶针二(40)、顶针三(401)和顶针四(402)，所述顶针座一(35)上设置有所述顶针一(39)，所述顶针座二(36)上设置有所述顶针二(40)，所述顶针座三(37)上设置有所述顶针三(401)，所述顶针座四(38)上设置有所述顶针四(402)，所述可调螺杆一(31)上设置有所述顶针座一(35)和顶针座三(37)，所述可调螺杆二(32)上设置有所述顶针座二(36)和顶针座四(38)，所述可调螺杆三(33)上设置有所述顶针座一(35)和顶针座二(36)，所述可调螺杆四(34)上设置有所述顶针座三(37)和顶针座四(38)，所述可调螺杆一(31)设置在所述可调孔一(23)内，所述可调螺杆二(32)设置在所述可调孔二(24)内，所述可调螺杆三(33)设置在所述可调孔三(25)内，所述可调螺杆四(34)设置在所述可调孔四(26)内。

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