CN210834723U - 一种x射线衍射仪用样品台 - Google Patents

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王洋
范广新
罗成果
刘宝忠
冯艳艳
朱林剑
江文亮
肖俊
王潇涵
刘泽萍
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Henan Nali Youcai Technology Co ltd
Henan University of Technology
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Jiaozuo Banlv Nano Material Engineering Co ltd
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Abstract

本实用新型提供了一种X射线衍射仪用样品台,包括支撑台,在支撑台上设置有样品槽,样品槽中布置有样品托盘,支撑台上还设置有安装槽,安装槽位于样品槽的旁侧,在安装槽中设置有电热膜加热件,使得电热膜加热件能够通过热辐射的方式对样品托盘上的待测样品进行加热,从而实现对待测样品进行温度调节;在使用该样品台时,将待测样品放置在样品托盘之中,然后将支撑台支撑放置在X射线衍射仪中,在通过X射线衍射仪对待测样品进行测试时,电热膜加热件能够通过热辐射的方式对待测样品进行加热,以对待测样品进行温度调节,从而能够测试不同温度下待测样品的性能,使得测试结果能够更加准确的反映待测样品在不同温度下的材料性能。

Description

一种X射线衍射仪用样品台
技术领域
本实用新型涉及一种X射线衍射仪用样品台。
背景技术
X射线衍射(简称XRD)是分析材料结构的重要手段,在冶金、化工、材料合成、药学等领域发挥着重要的作用。X射线衍射仪就是利用衍射原理研究晶体材料以及部分非晶材料的微观结构的主要仪器。鉴于材料随着温度的变化,材料的晶体结构会有所不同,甚至材料会发生物相变化,这就会使得材料的性质发生改变。因此在材料开发中,用XRD实时监测材料随着温度改变的变化越来越受到重视。
在现有技术中,如授权公告号为CN207007750U的中国实用新型专利公开的一种简易多形状X射线衍射仪样品台,该样品台包括支撑台,支撑台具有样品槽,在样品槽中高度可调的布置有置样台,以根据放入置样台上的样品量调节置样台至合适的高度。目前,现有的X射线衍射仪大多是在室内环境温度下使用的,但是,待测材料的实际工作环境温度不是一成不变的,而且待试材料在不同的温度下的性质会有所变化,这就使得仅在室温下的测试结果与待试材料在实际工作环境温度下的实际性质往往有很大偏差,不能测试不同温度下待试材料的性能,无法准确反映待试材料实际性能。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种X射线衍射仪用样品台,以解决现有技术中仅在室温下对样品进行测试而导致不能准确反映待测样品在不同温度下材料性能的技术问题。
为实现上述目的,本实用新型的X射线衍射仪用样品台采用如下技术方案:
一种X射线衍射仪用样品台,包括:支撑台,用于支撑放置在X射线衍射仪中;样品槽,设置于所述支撑台的上端面;样品托盘,布置在所述样品槽中以承托待测样品;其特征在于,安装槽,设置在所述支撑台上,布置与所述样品槽的旁侧;电热膜加热件,设置在所述安装槽中,以通过热辐射的方式加热所述样品托盘上的待测样品。
本实用新型的有益效果在于:支撑台上设置有样品槽,样品槽中布置有用于承托待测样品的样品托盘,支撑台上还设置有布置与样品槽旁侧的安装槽,而且在安装槽中还设置有电热膜加热件,使得电热膜加热件能够通过热辐射的方式对样品托盘上的待测样品进行加热,从而对待测样品进行温度调节。在使用该样品台时,将待测样品放置在样品托盘之中,然后将支撑台支撑放置在X射线衍射仪中,在通过X射线衍射仪对待测样品进行测试时,电热膜加热件能够通过热辐射的方式对待测样品进行加热,以对待测样品进行温度调节,从而能够测试不同温度下待测样品的性能,使得测试结果能够更加准确的反映待测样品在不同温度下的材料性能。
进一步地,所述支撑台于所述样品槽下方旁侧设有所述安装槽。
有益效果:在样品槽下方设置安装槽,尽量减小支撑台整体径向尺寸。
进一步地,支撑台上于所述样品槽的底部设有螺纹孔,所述螺纹孔穿过所述安装槽,在螺纹孔中螺旋装配有支撑螺杆,所述支撑螺杆与所述样品托盘顶撑配合,以驱使样品托盘在样品槽中上下升降。
有益效果:支撑螺杆在螺纹孔中进行螺旋上下运动,以对支撑杆顶撑的样品托盘的高度调节,实现了根据放入样品托盘中的待测样品量,调节样品托盘位于样品槽中合适的高度。
进一步地,所述电热膜加热件上设有与所述螺纹孔对应的避让孔,以供所述支撑螺杆穿过。
进一步地,所述避让孔位于电热膜加热件的中心位置处。
有益效果:支撑螺杆是顶撑在样品托盘的中心位置,而避让孔位于电热膜加热件的中心,使得电热膜加热件与样品托盘中的待测样品在上下方向上相对对应,进而保证了待测样品能够被均匀的加热。
进一步地,所述安装槽的径向尺寸大于样品槽的径向尺寸。
有益效果:使得能够放置在安装槽中的电热膜加热件的径向尺寸大于样品槽的样品托盘中待测样品的径向尺寸,从而实现电热膜加热件能够对待测样品在水平方向尺寸的全覆盖加热,以保证待测样品被更好的全面加热。
进一步地,所述电热膜加热件上连接有温控仪,用于控制电热膜加热件加热温度,对应所述电热膜加热件布置有测温元件,测温元件与所述温控仪连接以将检测结果传输至温控仪。
有益效果:电热膜加热件上布置有测温元件,能够将检测结果传输至温控仪,温控仪根据该检测结果判断电热膜加热件是否被加热到设定温度,以保证电热膜加热件被加热到设定温度。
进一步地,所述支撑台上设有向外悬伸的夹持臂,以用于夹持固定在X射线衍射仪的载物台上。
有益效果:夹持臂的设置便于实现对支撑台的夹持固定。
附图说明
图1为本实用新型实施例1中的一种X射线衍射仪用样品台的结构示意图;
图2为图1中电热膜加热件与外接引线组的连接结构示意图。
图中:1、夹持臂;2、样品托盘;3、支撑螺杆;4、电热膜加热件;5、外接引线组;501、正极;502、测温引线;503、负极;6、样品槽;7、安装槽;10、支撑台。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。
本实用新型的一种X射线衍射仪用样品台的具体实施例1:
如图1和图2所示,X射线衍射仪用样品台包括支撑台10,支撑台10用于支撑放置在X射线衍射仪中。在支撑台10的上端面凹设有样品槽6,在样品槽6中布置有用于承托待测样品的样品托盘2。在支撑台10上于样品槽6下方旁侧设置有安装槽7,在安装槽7中设置有电热膜加热件4,安装槽7具有开设在支撑台10侧面上的侧向开口,电热膜加热件4通过该侧向开口装入到安装槽7中。
电热膜加热件4通过外接引线组5连接有温控仪,温控仪用于控制电热膜加热件的加热温度,在电热膜加热件4上布置有测温元件,测温元件与温控仪连接以将检测结果传输至温控仪。外接引线组5包括与电热膜加热件4连接的正极501和负极503,以及将温控仪与测温元件连接在一起的测温引线502。
温控仪能够对电热膜加热件4进行温度控制,以调节电热膜加热件的温度。电热膜加热件4为低温电热膜,能够提供室温至100度的测试温度,其还具有以下优点:抗氧化、加热均匀、电热转化率高、适用性广、结构简便以及成本较低。
在支撑台10上于样品槽6中心的底部设置有螺纹孔,螺纹孔穿过安装槽7,在螺纹孔中螺旋装配有支撑螺杆3,安装槽7中的电热膜加热件4上设置有与螺纹孔对应的避让孔,以使支撑螺杆3能够从避让孔中穿过,避让孔位于电热膜加热件的中心位置处。支撑螺杆3穿过螺纹孔后顶撑在样品托盘2的中心,通过旋拧支撑螺杆3能够实现样品托盘2在样品槽6中的高度调节。在样品托盘中放入不同量的待测样品时,能够根据待测样品的具体数量旋拧支撑螺杆3,以将样品托盘2调节到刚好能够盛放待测样品的高度。
安装槽7在支撑螺杆3旋拧轴线的径向方向上的尺寸大于样品槽6的径向尺寸,这也就使得放置在安装槽7中个电热膜加热件4的径向尺寸大于样品托盘中的待测样品的径向尺寸,使得电热膜加热件4能够从待测样品的整个径向方向上对其进行热辐射加热,从而保证待测样品被更好的全面加热。
在支撑台10上还设有向外悬伸的夹持臂1,以用于夹持固定在X射线衍射仪的载物台上。
在使用该X射线衍射仪用样品台时,先将待测样品放置在样品托盘2上,然后根据待测样品的量,调节支撑螺杆3,以使待测样品能够刚好装满整个样品槽6,使得待测样品与样品槽6的槽口处于同一高度。然后将支撑台10通过夹持臂1夹持固定在X射线衍射仪的载物台上,此时通过温控仪对电热膜加热件4进行加热,温控仪通过正极501和负极503与电热膜加热件4导电连接,以实现对电热膜加热件4的加热,电热膜加热件4上布置的测温元件能够检测检测电热膜加热件4的温度,然后测温元件通过测温引线502将检测结果传输至温控仪,以保证温控仪将电热膜加热件加热到设定温度。在开启温控仪预热一段时间至温度达到测试要求后,对待测样品进行XRD测试。而通过温控仪控制电热膜加热件4加热到不同的温度,从而能够实现对待测样品在不同温度下材料性能的测试,使得测试结果能够更加准确的反映待测样品在不同温度下的材料性能。
在本实施例中,安装槽设置在样品槽的下方旁侧,在其他实施例中,安装槽还可以设置在支撑台中样品槽的外围圆周方向,安装槽的轴向尺寸还可以大于样品槽的轴向尺寸。
在本实施例中,一个支撑螺杆顶撑支撑在样品托盘的中心,在其他实施例中,还可以设置多个支撑螺杆均匀的对样品托盘进行顶撑支撑;在其他实施例中,可以完全不设置支撑螺杆,此时将样品托盘螺旋装配在样品槽中,样品托盘上设置有用于螺旋调节的把手,或者设置可拆卸把手的螺纹孔。

Claims (8)

1.一种X射线衍射仪用样品台,包括:
支撑台,用于支撑放置在X射线衍射仪中;
样品槽,设置于所述支撑台的上端面;
样品托盘,布置在所述样品槽中以承托待测样品;
其特征在于,X射线衍射仪用样品台还包括:
安装槽,设置在所述支撑台上,布置与所述样品槽的旁侧;
电热膜加热件,设置在所述安装槽中,以通过热辐射的方式加热所述样品托盘上的待测样品。
2.根据权利要求1所述的一种X射线衍射仪用样品台,其特征在于:所述支撑台于所述样品槽下方旁侧设有所述安装槽。
3.根据权利要求2所述的一种X射线衍射仪用样品台,其特征在于:所述支撑台上于所述样品槽的底部设有螺纹孔,所述螺纹孔穿过所述安装槽,在螺纹孔中螺旋装配有支撑螺杆,所述支撑螺杆与所述样品托盘顶撑配合,以驱使样品托盘在样品槽中上下升降。
4.根据权利要求3所述的一种X射线衍射仪用样品台,其特征在于:所述电热膜加热件上设有与所述螺纹孔对应的避让孔,以供所述支撑螺杆穿过。
5.根据权利要求4所述的一种X射线衍射仪用样品台,其特征在于:所述避让孔位于电热膜加热件的中心位置处。
6.根据权利要求2-5任意一项所述的一种X射线衍射仪用样品台,其特征在于:所述安装槽的径向尺寸大于样品槽的径向尺寸。
7.根据权利要求1-5任意一项所述的一种X射线衍射仪用样品台,其特征在于:所述电热膜加热件上连接有温控仪,用于控制电热膜加热件加热温度,对应所述电热膜加热件布置有测温元件,测温元件与所述温控仪连接以将检测结果传输至温控仪。
8.根据权利要求1-5任意一项所述的一种X射线衍射仪用样品台,其特征在于:所述支撑台上设有向外悬伸的夹持臂,以用于夹持固定在X射线衍射仪的载物台上。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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