CN210665827U - 一种测试双头探针性能的测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试双头探针性能的测试夹具，包括探针固定平台以及移动装置，探针固定平台包括底板与探针夹持组件，探针夹持组件包括探针夹持部，移动装置包括两个SMA头，探针夹持部位于两个SMA头之间；探针夹持部的两侧分别贴付有导电泡棉且中心处开设有与SMA头的传导层相对的探针夹持通孔，导电泡棉在探针夹持通孔上开设有与SMA头配合连接的插接通孔；传导层与SMA头的外端面之间的第一距离大于二分之一的待测双头探针凸出探针夹持部的第二距离；本实用新型通过上述结构的配合能实现对双头探针的实际插损数值的准确测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试夹具技术领域，特别涉及一种测试双头探针性能的测试夹具。
背景技术
在对新开发的模块测试工装进行优化的过程中，需要降低工装整体的插入损耗，一般从同轴线、探针等几个方面来优化。在现有技术中，已经存在可以测试同轴线的实际插损数值的技术方案。而双头探针属于非常规类型探针且提供双头探针的厂商也未做这方面的数据测试，所以需要对双头探针的插入损耗进行测试，以和不同厂家的双头探针进行对比，以寻求成本和质量上的最优解。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种测试双头探针性能的测试夹具，以配合现有的网络分析仪来实现对双头探针的实际插损数值的测试。
为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：
一种测试双头探针性能的测试夹具，包括探针固定平台以及移动装置，所述探针固定平台包括底板与探针夹持组件，所述探针夹持组件包括探针夹持部，所述移动装置包括两个SMA头，所述探针夹持部位于两个所述SMA头之间；
所述探针夹持部的两侧分别贴付有导电泡棉且中心处开设有与所述SMA头的传导层相对的探针夹持通孔，所述导电泡棉在所述探针夹持通孔上开设有与SMA头配合连接的插接通孔；
所述传导层与所述SMA头的外端面之间的第一距离大于二分之一的待测双头探针凸出所述探针夹持部的第二距离。
进一步地，所述移动装置包括相互对称设置的第一进给装置以及第二进给装置，所述第一进给装置与其中一个SMA头连接，所述第二进给装置与所述另外一个SMA头连接。
进一步地，所述第一进给装置还包括SMA支架、牙杆、旋钮、牙块、滑块板、轴承座、直线滑轨以及直线滑块；
所述直线滑轨固定安装于所述底板上，所述直线滑块与所述直线滑轨滑动连接，所述滑块板与所述直线滑块间隙配合连接，所述牙块与所述滑块板间隙配合连接，所述牙杆包括与所述牙块螺纹连接的螺纹部、与所述旋钮紧固连接的尾部以及位于所述螺纹部与所述尾部之间的轴承部，所述轴承部与固定在所述轴承座的轴承过盈配合连接；
所述滑块板与所述SMA支架固定螺丝紧固连接，所述SMA支架与所述SMA头螺丝紧固连接。
进一步地，所述探针夹持组件还包括夹持底座以及夹持支架，所述夹持底座固定安装于所述底板上，所述夹持底座上开设有尺寸与夹持支架底部尺寸相配合的第一限位凹槽，所述夹持支架位于所述第一限位凹槽内且与所述夹持底座螺丝紧固连接；
所述夹持支架侧面设置与所述探针夹持部尺寸相配合的第二限位凹槽，所述探针夹持部与所述第二限位凹槽为间隙配合连接。
进一步地，所述探针夹持部包括由黄铜组成的主体部以及在主体部的中心镶嵌的POM圆棒，所述探针夹持通孔位于所述POM圆棒的中心。
进一步地，所述SMA头由外至内分别为屏蔽层、隔离层以及传导层。
进一步地，所述SMA头为SMA-KKF型号SMA头。
进一步地，所述牙块的螺牙规格为国标M6。
进一步地，所述间隙配合连接的间隙为0.05mm。
进一步地，所述过盈配合连接的过盈量为0.02mm。
本实用新型的有益效果在于：一种测试双头探针性能的测试夹具，将待测双头探针放置于探针夹持通孔内，通过移动装置带动SMA头移动，位于两侧的SMA头分别与待测双头探针的两端连接，形成测试回路，此时，由于传导层与SMA头的外端面之间的第一距离大于二分之一的待测双头探针凸出探针夹持部的第二距离，即在移动SMA头与待测双头探针连接的过程中，SMA头的外端面会与探针夹持部上的导电泡棉接触，形成了测试回路与封闭环境，使得测试信号不会散发到空气中；两端的SMA头在与网络分析仪连接后，一端输入，一端输出，输入信号与输出信号之间的差值即为在传递过程中的损耗，即实现了对双头探针的实际插损数值的准确测试。
附图说明
图1为本实用新型实施例的一种测试双头探针性能的测试夹具与网络分析仪的连接示意图；
图2为本实用新型实施例的一种测试双头探针性能的测试夹具的立体示意图；
图3为本实用新型实施例的一种测试双头探针性能的测试夹具的俯视图；
图4为本实用新型实施例的一种测试双头探针性能的测试夹具其中一侧的测视图；
图5为本实用新型实施例的一种测试双头探针性能的测试夹具的部分剖面图。
标号说明：
100、测试夹具；200、网络分析仪；1、底板；2、SMA支架；3、牙杆；4、探针夹持部；5、夹持底座；6、夹持支架；7、旋钮；8、牙块；9、滑块板；10、轴承座；11、同轴线；12、直线滑轨；13、第一SMA头；14、导电泡棉；15、待测双头探针；16、第二SMA头；17、直线滑块；18、隔离层；19、传导层；20、屏蔽层。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
请参照图1至图5，一种测试双头探针性能的测试夹具，包括探针固定平台以及移动装置，所述探针固定平台包括底板与探针夹持组件，所述探针夹持组件包括探针夹持部，所述移动装置包括两个SMA头，所述探针夹持部位于两个所述SMA头之间；
所述探针夹持部的两侧分别贴付有导电泡棉且中心处开设有与所述SMA头的传导层相对的探针夹持通孔，所述导电泡棉在所述探针夹持通孔上开设有与SMA头配合连接的插接通孔；
所述传导层与所述SMA头的外端面之间的第一距离大于二分之一的待测双头探针凸出所述探针夹持部的第二距离。
从上述描述可知，本实用新型的有益效果在于：将待测双头探针放置于探针夹持通孔内，通过移动装置带动SMA头移动，位于两侧的SMA头分别与待测双头探针的两端连接，形成测试回路，此时，由于传导层与SMA头的外端面之间的第一距离大于二分之一的待测双头探针凸出探针夹持部的第二距离，即在移动SMA头与待测双头探针连接的过程中，SMA头的外端面会与探针夹持部上的导电泡棉接触，形成了测试回路与封闭环境，使得测试信号不会散发到空气中；两端的SMA头在与网络分析仪连接后，一端输入，一端输出，输入信号与输出信号之间的差值即为在传递过程中的损耗，即实现了对双头探针的实际插损数值的准确测试。
进一步地，所述移动装置包括相互对称设置的第一进给装置以及第二进给装置，所述第一进给装置与其中一个SMA头连接，所述第二进给装置与所述另外一个SMA头连接。
从上述描述可知，两侧都设置有一个进给装置，且分别与其中一个SMA头连接，从而能更为灵活的调整SMA头与待测双头探针的连接。
进一步地，所述第一进给装置还包括SMA支架、牙杆、旋钮、牙块、滑块板、轴承座、直线滑轨以及直线滑块；
所述直线滑轨固定安装于所述底板上，所述直线滑块与所述直线滑轨滑动连接，所述滑块板与所述直线滑块间隙配合连接，所述牙块与所述滑块板间隙配合连接，所述牙杆包括与所述牙块螺纹连接的螺纹部、与所述旋钮紧固连接的尾部以及位于所述螺纹部与所述尾部之间的轴承部，所述轴承部与固定在所述轴承座的轴承过盈配合连接；
所述滑块板与所述SMA支架固定螺丝紧固连接，所述SMA支架与所述SMA头螺丝紧固连接。
从上述描述可知，通过旋钮转动，通过螺纹连接来进行缓慢的旋转推进，以实现对SMA头的缓慢推进，直至待测双头探针与左右两侧SMA头接触，形成测试回路，即便于调整SMA头与待测双头探针的连接且能实现更加精确的调整。
进一步地，所述探针夹持组件还包括夹持底座以及夹持支架，所述夹持底座固定安装于所述底板上，所述夹持底座上开设有尺寸与夹持支架底部尺寸相配合的第一限位凹槽，所述夹持支架位于所述第一限位凹槽内且与所述夹持底座螺丝紧固连接；
所述夹持支架侧面设置与所述探针夹持部尺寸相配合的第二限位凹槽，所述探针夹持部与所述第二限位凹槽为间隙配合连接。
从上述描述可知，提供一种探针夹持组件的较佳技术方案。
进一步地，所述探针夹持部包括由黄铜组成的主体部以及在主体部的中心镶嵌的POM圆棒，所述探针夹持通孔位于所述POM圆棒的中心。
从上述描述可知，POM是聚甲醛，它是热塑性结晶聚合物，电绝缘性较好，用于本申请中起到绝缘隔绝的作用。
进一步地，所述SMA头由外至内分别为屏蔽层、隔离层以及传导层。
进一步地，所述SMA头为SMA-KKF型号SMA头。
从上述描述可知，提供一种SMA头的较佳技术方案，SMA-KKF型号SMA头的测试频率为0-18G，插入损耗小于0.05DB，能保证本申请对于插入损耗和测频性能的要求。
进一步地，所述牙块的螺牙规格为国标M6。
从上述描述可知，国标M6的螺牙规格大小适中，适合本申请对于缓慢推进的要求。
进一步地，所述间隙配合连接的间隙为0.05mm。
从上述描述可知，间隙为0.05mm在组装时较为方便，且组装后连接关系稳定可靠。
进一步地，所述过盈配合连接的过盈量为0.02mm。
从上述描述可知，过盈量为0.02mm以使得便于组装，且能保证组装后的稳固性。
请参照图1至图5，本实用新型的实施例一为：
一种测试双头探针性能的测试夹具100，包括探针固定平台以及移动装置，探针固定平台包括底板1与探针夹持组件，探针夹持组件包括探针夹持部4、夹持底座5以及夹持支架6。
如图2至图4所示，移动装置包括SMA头、相互对称设置的第一进给装置以及第二进给装置，SMA头包括第一SMA头13和第二SMA头16，探针夹持部4位于第一SMA头13与第二SMA头16之间，移动装置包括相互对称设置的第一进给装置以及第二进给装置，第一进给装置与第一SMA头13连接，第二进给装置与第二SMA头16连接。
如图2至图4所示，探针夹持部4在两侧分别贴付有2mm厚的导电泡棉14、在中心处开设有与SMA头的传导层19相对的探针夹持通孔，夹持底座5固定安装于底板1上，夹持底座5上开设有尺寸与夹持支架6底部尺寸相配合的第一限位凹槽，夹持支架6位于第一限位凹槽内且与夹持底座5螺丝紧固连接；夹持支架6侧面设置与探针夹持部4尺寸相配合的第二限位凹槽，探针夹持部4与第二限位凹槽为间隙配合连接。探针夹持部4包括由黄铜组成的主体部以及在主体部的中心镶嵌的POM圆棒，POM圆棒的直径为4mm，故而主体部的中心也挖设有4mm的安装孔；探针夹持通孔位于POM圆棒的中心；导电泡棉14在探针夹持通孔上开设有与SMA头配合连接的插接通孔；传导层19与SMA头的外端面之间的第一距离大于二分之一的待测双头探针15凸出探针夹持部4的第二距离。
在本实施例中，由图3可知，第一进给装置以及第二进给装置相互对称，故而对其中的一个进给装置进行说明即。具体地，第一进给装置还包括SMA支架2、牙杆3、旋钮7、牙块8、滑块板9、轴承座10、直线滑轨12以及直线滑块17；直线滑轨12固定安装于底板1上，直线滑块17与直线滑轨12滑动连接，滑块板9与直线滑块17间隙配合连接，牙块8与滑块板9间隙配合连接，牙杆3包括与牙块8螺纹连接的螺纹部、与旋钮7紧固连接的尾部以及位于螺纹部与尾部之间的轴承部，轴承部与固定在轴承座10的轴承过盈配合连接；滑块板9与SMA支架2固定螺丝紧固连接，SMA支架2与SMA头螺丝紧固连接。
如图5所示，SMA头由外至内分别为屏蔽层20、隔离层18以及传导层19；在本实施例中，SMA头为SMA-KKF型号SMA头，牙块8的螺牙规格为国标M6，间隙配合连接的间隙为0.05mm，过盈配合连接的过盈量为0.02mm。
具体的，结合网络分析仪200说明本申请的工作过程：
如图1所示，打开网络分析仪200，校准仪器之后，设置仪器参数，通过同轴线11，将测试夹具100与网络分析仪200连接，开始准备测试。
测试夹具100正面面对操作人员，顺时针旋转旋钮7调节移动，将两侧的进给装置调整移动到合适的位置，便于取放待测双头探针15。用镊子将待测双头探针15放置于探针夹持部4内，逆时针旋转左右旋钮7，使牙杆3旋转，牙杆3旋转带动牙块8和与牙块8连接一体的滑块板9、滑块、SMA支架2以及SMA头沿着直线滑轨12的导向方向移动，此时SMA头慢慢接近待测双头探针15，当SMA头与待测双头探针15接触，待测双头探针15两端开始被压缩，SMA头慢慢与导电泡棉14接触，当待测双头探针15两端压缩到极限时，SMA头的外端面与导电泡棉14贴合，导电泡棉14被压缩，SMA头内插口与待测双头探针15接触，此时，SMA头的外端面与导电泡棉14形成一个封闭的测试环境，隔离掉外界影响，待测双头探针15在SMA头内插口的衔接作用下，通过信号线缆与网络分析仪200连接。
其中，两侧旋钮7缓慢旋转进给，当网络分析仪200显示的数据不再大幅度波动，停止旋转旋钮7，两侧旋钮7缓慢旋转进给，SMA头的外端面与导电泡棉14形成一个封闭的测试环境。在两侧旋钮7缓慢旋转进给的同时，网络分析仪200上显示的数据在变化，当数据不再变化，封闭环境形成，探针已经压缩到极限，此时网络分析仪200上的数据值差即为待测双头探针15的相对插损值。记录当前网络分析器显示的频率和插入损耗的数据，顺时针旋转旋钮7，将进给装置移动调节合适的位置，将待测双头探针15取下放好，测试完毕。
另外，为了能更好的理解本申请，结合图5对为SMA头进行说明如下：
本新型的测试方法是通过网络分析仪200的输出端与测试夹具100的第一SMA头13连接，输入端与测试夹具100的第二SMA头16连接。当封闭环境形成之后，网络分析仪200输出端发射信号，信号在经过同轴线11→第一SMA头13→待测双头探针15→第二SMA头16头→同轴线11这段回路之后，输出端和输入端的信号损耗值即为整个回路的插损。
旋钮7未移动时，待测双头探针15未与左右两侧的SMA头连接，所以无法形成测试回路，输出端发射的信号，输入端无法接受，当旋钮7开始移动，双头探针与左右两侧SMA头接触，SMA头还未与导电泡棉14接触时，测试回路形成，但是封闭环境还未形成。输出端发射的信号一部分通过测试回路传输到输入端，大部分信号都发散到空气中。旋钮7进一步进给时，左右两侧SMA头与导电泡棉14接触，形成了测试回路与封闭环境时，输出端发射的信号不会散发到空气中，大部分被输入端接受，小部分被传递过程中损耗，这个损耗值就是整个测试回路的插损，因此，网络分析仪200显示的数据不再大幅度波动。
请参照图1至图5，本实用新型的实施例二为：
一种测试双头探针性能的测试夹具100，在上述实施例一的基础上，一侧的SMA头可以固定在测试夹具100，只需要另一侧的SMA头与移动装置连接即可。
综上所述，本实用新型提供的一种测试双头探针性能的测试夹具，将待测双头探针放置于探针夹持通孔内，通过移动装置带动SMA头移动，位于两侧的SMA头分别与待测双头探针的两端连接，形成测试回路，此时，由于传导层与SMA头的外端面之间的第一距离大于二分之一的待测双头探针凸出探针夹持部的第二距离，即在移动SMA头与待测双头探针连接的过程中，SMA头的外端面会与探针夹持部上的导电泡棉接触，形成了测试回路与封闭环境，使得测试信号不会散发到空气中；两端的SMA头在与网络分析仪连接后，一端输入，一端输出，输入信号与输出信号之间的差值即为在传递过程中的损耗，即实现了对双头探针的实际插损数值的准确测试；并通过对移动装置、移动装置等的具体结构限定，从而使得对双头探针的实际插损数值的测试更加灵活方便。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：包括探针固定平台以及移动装置，所述探针固定平台包括底板与探针夹持组件，所述探针夹持组件包括探针夹持部，所述移动装置包括两个SMA头，所述探针夹持部位于两个所述SMA头之间；
所述探针夹持部的两侧分别贴付有导电泡棉且中心处开设有与所述SMA头的传导层相对的探针夹持通孔，所述导电泡棉在所述探针夹持通孔上开设有与SMA头配合连接的插接通孔；
所述传导层与所述SMA头的外端面之间的第一距离大于二分之一的待测双头探针凸出所述探针夹持部的第二距离。
2.根据权利要求1所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述移动装置包括相互对称设置的第一进给装置以及第二进给装置，所述第一进给装置与其中一个SMA头连接，所述第二进给装置与所述另外一个SMA头连接。
3.根据权利要求2所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述第一进给装置还包括SMA支架、牙杆、旋钮、牙块、滑块板、轴承座、直线滑轨以及直线滑块；
所述直线滑轨固定安装于所述底板上，所述直线滑块与所述直线滑轨滑动连接，所述滑块板与所述直线滑块间隙配合连接，所述牙块与所述滑块板间隙配合连接，所述牙杆包括与所述牙块螺纹连接的螺纹部、与所述旋钮紧固连接的尾部以及位于所述螺纹部与所述尾部之间的轴承部，所述轴承部与固定在所述轴承座的轴承过盈配合连接；
所述滑块板与所述SMA支架固定螺丝紧固连接，所述SMA支架与所述SMA头螺丝紧固连接。
4.根据权利要求1所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述探针夹持组件还包括夹持底座以及夹持支架，所述夹持底座固定安装于所述底板上，所述夹持底座上开设有尺寸与夹持支架底部尺寸相配合的第一限位凹槽，所述夹持支架位于所述第一限位凹槽内且与所述夹持底座螺丝紧固连接；
所述夹持支架侧面设置与所述探针夹持部尺寸相配合的第二限位凹槽，所述探针夹持部与所述第二限位凹槽为间隙配合连接。
5.根据权利要求1至4任一所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述探针夹持部包括由黄铜组成的主体部以及在主体部的中心镶嵌的POM圆棒，所述探针夹持通孔位于所述POM圆棒的中心。
6.根据权利要求1至4任一所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述SMA头由外至内分别为屏蔽层、隔离层以及传导层。
7.根据权利要求1至4任一所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述SMA头为SMA-KKF型号SMA头。
8.根据权利要求3所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述牙块的螺牙规格为国标M6。
9.根据权利要求3或4所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述间隙配合连接的间隙为0.05mm。
10.根据权利要求3所述的一种测试双头探针性能的测试夹具，其特征在于：所述过盈配合连接的过盈量为0.02mm。
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN115236491A (zh) * | 2022-07-26 | 2022-10-25 | 上海泽丰半导体科技有限公司 | 一种探针高速测试装置及测试系统 |
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2019
- 2019-08-23 CN CN201921378911.2U patent/CN210665827U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN115236491A (zh) * | 2022-07-26 | 2022-10-25 | 上海泽丰半导体科技有限公司 | 一种探针高速测试装置及测试系统 |
| CN115236491B (zh) * | 2022-07-26 | 2023-09-19 | 上海泽丰半导体科技有限公司 | 一种探针高速测试装置及测试系统 |
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