CN210401241U - 一种光学硅片的缺陷快速检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型的目的是为了解决现有的不易直观对光学硅片的缺陷情况进行检测的难题，公开了一种光学硅片的缺陷快速检测设备，包括驱动组件、底板、连接布、照明灯、支撑杆、第一齿条、滑板、导向架、滑块、第一螺旋弹簧、套环、握柄、导槽、导杆、第一连接环、滑杆、第一遮挡布、螺帽、第二螺旋弹簧、导向环、第二连接环、第三连接环、定位块、支撑板、第二遮挡布、气囊、电机、第二齿条、安装杆、转盘和通光孔。本实用新型通过第一遮挡布、第二遮挡布和连接布的设置，可以让光学硅片处在一种黑暗的封闭空间，再通过照明灯对光学硅片的照明，进而可以实现对光学硅片缺陷的直观检测，且设计合理，符合光学硅片检测领域的需求。

Description

一种光学硅片的缺陷快速检测设备

技术领域

本实用新型涉及光学硅片检测领域，尤其涉及一种光学硅片的缺陷快速检测设备。

背景技术

光学硅片是二氧化硅、锗，硅，及其他掺杂形成的具有半导体性质的光学薄片，简单地说就是相机里面感光的东西，这种光学硅片要求比较严格，如果出现缺陷，就会影响光学硅片的使用。

现有的对光学硅片进行检测的时候，一般就是人工直接目测，但是由于外界光线或者其它外界因素的影响，将会影响对光学硅片的观测，影响对光学硅片的观察，也有的使用探伤仪等对光学硅片进行检测，但是探伤仪只能够检测光学硅片上凹陷或者裂纹等缺陷，对于上面出现的杂质不易进行检测到，同样会影响光学硅片的使用，因此，需要设计一种光学硅片的缺陷快速检测设备来解决现有技术的不足。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术的不足，提供了一种光学硅片的缺陷快速检测设备。

本实用新型是通过以下技术方案实现：

一种光学硅片的缺陷快速检测设备，包括底板，所述底板上表面左侧焊接有支撑杆，所述支撑杆左侧面上端安装有驱动组件，所述驱动组件内部包括安装杆，所述安装杆左端固定安装有电机，所述电机中部安装有转盘，所述转盘侧面固定安装有第二齿条，所述支撑杆顶端固定安装有滑块，所述滑块内部套设有导向架，所述滑块右端固定安装有第一螺旋弹簧，所述导向架下表面左侧固定安装有滑板，所述滑板下表面固定安装有第一齿条，所述导向架右端固定安装有套环，所述套环内侧面固定安装有气囊，所述套环上安装有照明灯，所述气囊上开设有供照明灯照明的通光孔，且通光孔为封闭的不与气囊相通，所述底板右侧固定安装有支撑板，所述支撑板左侧面上端固定安装有第三连接环，所述第三连接环上开设有供套环滑动的导槽，所述第三连接环与底板之间固定安装有第二遮挡布，所述底板上表面且在第二遮挡布内部固定安装有连接布，所述支撑板右侧面设置有滑杆，所述滑杆与支撑板之间焊接有定位块，所述滑杆顶端固定安装有第一连接环，所述第一连接环下侧固定安装有第一遮挡布，所述第一遮挡布下侧固定安装有第二连接环，所述第二连接环右侧固定安装有与滑杆配合的导向环，所述导向环上端固定安装有第二螺旋弹簧，所述第二螺旋弹簧上端固定安装有螺帽，所述第二连接环左侧面固定安装有握柄，所述第二连接环上端面固定安装有导杆。

作为本实用新型的优选技术方案，所述连接布、第一遮挡布、第二遮挡布均为黑色尼龙布料制成。

作为本实用新型的优选技术方案，所述第二齿条分布在转盘外半周，第一齿条与第二齿条啮合配合。

作为本实用新型的优选技术方案，所述滑块上开设有供导向架滑动的槽，第一螺旋弹簧一端与滑块固定另外一端与导向架右端固定。

作为本实用新型的优选技术方案，所述气囊为环形结构且设置有充气口。

作为本实用新型的优选技术方案，所述第一连接环上开设有供导杆滑动的孔。

作为本实用新型的优选技术方案，所述螺帽与滑杆螺纹配合，滑杆为L型结构。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型通过设置驱动组件，利用第一齿条和第二齿条的配合，再结合第一螺旋弹簧的设置，进而可以使套环在导槽内进行缓慢滑进和滑出，通过对装夹在气囊内的光学硅片进行更换，便于对不同的光学硅片进行检测，利用第一遮挡布、第二遮挡布和连接布的设置，可以减少外界光对光学硅片检测时的影响，以黑色的连接布为底，在对光学硅片进行检测的时候更易直观看出光学硅片的缺陷，通过设置照明灯，便于对光学硅片进行照明，通过从侧边对光学硅片进行照射，更易对光学硅片的杂质和缺陷进行直观检测，本实用新型通过第一遮挡布、第二遮挡布和连接布的设置，可以让光学硅片处在一种黑暗的封闭空间，再通过照明灯对光学硅片的照明，进而可以实现对光学硅片缺陷的直观检测，且设计合理，符合光学硅片检测领域的需求。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型套环与气囊配合的俯视图。

图3为本实用新型驱动组件的放大图。

图4为本实用新型气囊的内侧面示意图。

图5为本实用新型第三连接环的俯视图。

图中：A、驱动组件，1、底板，2、连接布，3、照明灯，4、支撑杆，5、第一齿条，6、滑板，7、导向架，8、滑块，9、第一螺旋弹簧，10、套环，11、握柄，12、导槽，13、导杆，14、第一连接环，15、滑杆，16、第一遮挡布，17、螺帽，18、第二螺旋弹簧，19、导向环，20、第二连接环，21、第三连接环，22、定位块，23、支撑板，24、第二遮挡布，25、气囊，26、电机，27、第二齿条，28、安装杆，29、转盘，30、通光孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：

一种光学硅片的缺陷快速检测设备，包括底板1，所述底板1上表面左侧焊接有支撑杆4，所述支撑杆4左侧面上端安装有驱动组件A，所述驱动组件A内部包括安装杆28，所述安装杆28左端固定安装有电机26，所述电机26中部安装有转盘29，所述转盘29侧面固定安装有第二齿条27，所述支撑杆4顶端固定安装有滑块8，所述滑块5内部套设有导向架7，所述滑块8右端固定安装有第一螺旋弹簧9，所述导向架7下表面左侧固定安装有滑板6，所述滑板6下表面固定安装有第一齿条5，所述导向架7右端固定安装有套环10，所述套环10内侧面固定安装有气囊25，所述套环10上安装有照明灯3，所述气囊25上开设有供照明灯3照明的通光孔30，且通光孔30为封闭的不与气囊25相通，所述底板1右侧固定安装有支撑板23，所述支撑板23左侧面上端固定安装有第三连接环21，所述第三连接环21上开设有供套环10滑动的导槽12，所述第三连接环21与底板1之间固定安装有第二遮挡布24，所述底板1上表面且在第二遮挡布24内部固定安装有连接布2，所述支撑板23右侧面设置有滑杆15，所述滑杆15与支撑板23之间焊接有定位块22，所述滑杆15顶端固定安装有第一连接环14，所述第一连接环14下侧固定安装有第一遮挡布16，所述第一遮挡布16下侧固定安装有第二连接环20，所述第二连接环20右侧固定安装有与滑杆15配合的导向环19，所述导向环19上端固定安装有第二螺旋弹簧18，所述第二螺旋弹簧18上端固定安装有螺帽17，所述第二连接环20左侧面固定安装有握柄11，所述第二连接环20上端面固定安装有导杆13。

所述连接布2、第一遮挡布16、第二遮挡布24均为黑色尼龙布料制成，用于遮挡外界光线。

所述第二齿条27分布在转盘29外半周，第一齿条5与第二齿条27啮合配合，可以实现对套环10的来回滑动。

所述滑块8上开设有供导向架7滑动的槽，第一螺旋弹簧9一端与滑块8固定另外一端与导向架7右端固定。

所述气囊25为环形结构且设置有充气口。

所述第一连接环14上开设有供导杆13滑动的孔。

所述螺帽17与滑杆15螺纹配合，滑杆15为L型结构。

工作原理：需要对光学硅片进行检测的时候，首先使用者对气囊25充气，使得气囊25膨胀，然后使用者将电机26和照明灯3接通附近的电源，将电机26的开关打开，电机26就会带动转盘29进行缓慢转动，再通过第一齿条5和第二齿条27的配合，结合第一螺旋弹簧9的弹力，可以使得套环10进行左右滑动，当套环10滑出的时候，将光学硅片平放在气囊25内，使气囊25对光学硅片进行夹紧，当套环10通过导槽12滑动到第三连接环21的时候，此时照明灯3会通过气囊25上的通光孔30对光学硅片进行照明，通过第二螺旋弹簧18对导向环19的推动，使得第二连接环20盖在第三连接环21上，然后使用者只需要从第一连接环14上方对光学硅片进行观看，此时的光学硅片处在第一遮挡布16和第二遮挡布24组成的封闭空间内，会减少外界的干扰，可以直观对光学硅片的缺陷进行检测。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种光学硅片的缺陷快速检测设备，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）上表面左侧焊接有支撑杆（4），所述支撑杆（4）左侧面上端安装有驱动组件（A），所述驱动组件（A）内部包括安装杆（28），所述安装杆（28）左端固定安装有电机（26），所述电机（26）中部安装有转盘（29），所述转盘（29）侧面固定安装有第二齿条（27），所述支撑杆（4）顶端固定安装有滑块（8），所述滑块（8）内部套设有导向架（7），所述滑块（8）右端固定安装有第一螺旋弹簧（9），所述导向架（7）下表面左侧固定安装有滑板（6），所述滑板（6）下表面固定安装有第一齿条（5），所述导向架（7）右端固定安装有套环（10），所述套环（10）内侧面固定安装有气囊（25），所述套环（10）上安装有照明灯（3），所述气囊（25）上开设有供照明灯（3）照明的通光孔（30），且通光孔（30）为封闭的不与气囊（25）相通，所述底板（1）右侧固定安装有支撑板（23），所述支撑板（23）左侧面上端固定安装有第三连接环（21），所述第三连接环（21）上开设有供套环（10）滑动的导槽（12），所述第三连接环（21）与底板（1）之间固定安装有第二遮挡布（24），所述底板（1）上表面且在第二遮挡布（24）内部固定安装有连接布（2），所述支撑板（23）右侧面设置有滑杆（15），所述滑杆（15）与支撑板（23）之间焊接有定位块（22），所述滑杆（15）顶端固定安装有第一连接环（14），所述第一连接环（14）下侧固定安装有第一遮挡布（16），所述第一遮挡布（16）下侧固定安装有第二连接环（20），所述第二连接环（20）右侧固定安装有与滑杆（15）配合的导向环（19），所述导向环（19）上端固定安装有第二螺旋弹簧（18），所述第二螺旋弹簧（18）上端固定安装有螺帽（17），所述第二连接环（20）左侧面固定安装有握柄（11），所述第二连接环（20）上端面固定安装有导杆（13）。

2.根据权利要求1所述的一种光学硅片的缺陷快速检测设备，其特征在于：所述连接布（2）、第一遮挡布（16）、第二遮挡布（24）均为黑色尼龙布料制成。

3.根据权利要求1所述的一种光学硅片的缺陷快速检测设备，其特征在于：所述第二齿条（27）分布在转盘（29）外半周，第一齿条（5）与第二齿条（27）啮合配合。

4.根据权利要求1所述的一种光学硅片的缺陷快速检测设备，其特征在于：所述滑块（8）上开设有供导向架（7）滑动的槽，第一螺旋弹簧（9）一端与滑块（8）固定另外一端与导向架（7）右端固定。

5.根据权利要求1所述的一种光学硅片的缺陷快速检测设备，其特征在于：所述气囊（25）为环形结构且设置有充气口。

6.根据权利要求1所述的一种光学硅片的缺陷快速检测设备，其特征在于：所述第一连接环（14）上开设有供导杆（13）滑动的孔。

7.根据权利要求1所述的一种光学硅片的缺陷快速检测设备，其特征在于：所述螺帽（17）与滑杆（15）螺纹配合，滑杆（15）为L型结构。

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