CN209961695U - 一种芯片外观检测装置 - Google Patents

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唐松林
王鹏
董长国
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Wang Tang (suzhou) Robot Intelligent Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种芯片外观检测装置,该芯片外观检测装置包括安装座,安装座上设有第一升降组件、第二升降组件、光源、光源支架、检测相机、相机支架,光源与光源支架连接,光源支架与第一升降组件连接,检测相机与相机支架连接,相机支架与第二升降组件连接,检测相机设于光源下方,用于对光源上方的芯片进行检测。本实用新型的芯片外观检测装置可以将对芯片表面的缺陷进行检测,可根据需要调节光源和检测相机的高度,操作方便,可以有效提高检测效率。

Description

一种芯片外观检测装置
技术领域
本实用新型涉及缺陷检测技术领域,特别涉及一种芯片外观检测装置。
背景技术
表面缺陷检测是指采用机器视觉检测技术,利用检测相机对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测。
芯片在出厂前同样需要对其外观进行检测,而现有的芯片检测设备大多存在结构复杂,调节不便的问题,带来的结果自然是检测效率低下,已不能满足芯片大批量检测的需求。
实用新型内容
针对现有技术的不足,本实用新型目的在于提供一种结构简单,调节方便,检测效率高的芯片外观检测装置。其采用如下技术方案:
一种芯片外观检测装置,包括安装座,所述安装座上设有第一升降组件、第二升降组件、光源、光源支架、检测相机、相机支架,所述光源与光源支架连接,所述光源支架与第一升降组件连接,所述检测相机与相机支架连接,所述相机支架与第二升降组件连接,所述检测相机设于光源下方,用于对光源上方的芯片进行检测。
作为本实用新型的进一步改进,所述安装座上还设有竖直滑轨,所述竖直滑轨上设有第一滑动座,所述光源支架与所述第一滑动座连接,所述第一升降组件包括第一丝杆、第一滑块,所述第一丝杆的两端均通过轴承与安装座连接,所述第一滑块套设于所述第一丝杆上,所述第一滑块通过第一连接板与所述第一滑动座连接。
作为本实用新型的进一步改进,所述第一丝杆的底部设有第一调节旋钮。
作为本实用新型的进一步改进,所述竖直滑轨上还设有第二滑动座,所述第二滑动座设于第一滑动座下方,所述相机支架与所述第二滑动座连接,所述第二升降组件包括第二丝杆、第二滑块,所述第二丝杆的两端均通过轴承与安装座连接,所述第二滑块套设于所述第二丝杆上,所述第二滑块通过第二连接板与所述第二滑动座连接。
作为本实用新型的进一步改进,所述第二丝杆的底部设有第二调节旋钮。
作为本实用新型的进一步改进,所述光源为环状光源。
作为本实用新型的进一步改进,所述光源支架包括导光筒,所述光源环状设于所述导光筒上方开口处,所述检测相机设于所述导光筒的底部开口处。
作为本实用新型的进一步改进,所述导光筒为管状。
本实用新型的有益效果:
本实用新型的芯片外观检测装置可以将对芯片表面的缺陷进行检测,可根据需要调节光源和检测相机的高度,操作方便,可以有效提高检测效率。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。
附图说明
图1是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的结构示意图一;
图2是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的结构示意图二;
图3是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的正视图;
图4是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的侧视图;
图5是本实用新型实施例中芯片外观检测装置的后视图。
标记说明:100、安装座;110、光源;120、光源支架;121、导光筒;130、检测相机;140、相机支架;150、竖直滑轨;160、第一滑动座;170、第二滑动座;181、第一丝杆;182、第一滑块;183、第一连接板;184、第一调节旋钮;191、第二丝杆;192、第二滑块;193、第二连接板;194、第二调节旋钮;200、芯片。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施,但所举实施例不作为对本实用新型的限定。
如图1-5所示,为本实用新型实施例中的芯片外观检测装置,该芯片外观检测装置包括安装座100,安装座100上设有第一升降组件、第二升降组件、光源110、光源支架120、检测相机130、相机支架140,光源110与光源支架120连接,光源支架120与第一升降组件连接,检测相机130与相机支架140连接,相机支架140与第二升降组件连接,检测相机130设于光源110下方,用于对光源110上方的芯片200进行检测。在本实施例中,芯片200可通过机械手夹持或吸盘吸取并固定于光源110上方。
在本实施例中,安装座100上还设有竖直滑轨150,竖直滑轨150上设有第一滑动座160,光源支架120与第一滑动座160连接,第一升降组件包括第一丝杆181和第一滑块182,第一丝杆181的两端均通过轴承与安装座100连接,第一滑块182套设于第一丝杆181上,第一滑块182内部设有与第一丝杆181配合的螺母,第一滑块182通过第一连接板183与第一滑动座160连接。第一丝杆181的底部设有第一调节旋钮184,通过旋转第一调节旋钮184可调节第一滑块182的高度,进而调节光源110的高度。
在本实施例中,竖直滑轨150上还设有第二滑动座170,第二滑动座170设于第一滑动座160下方,相机支架140与第二滑动座170连接,第二升降组件包括第二丝杆191和第二滑块192,第二丝杆191的两端均通过轴承与安装座100连接,第二滑块192套设于第二丝杆191上,第二滑块192内部设有与第二丝杆191配合的螺母,第二滑块192通过第二连接板193与第二滑动座170连接。第二丝杆191的底部设有第二调节旋钮194,通过旋转第二调节旋钮194可调节第二滑块192的高度,进而调节检测相机130的高度。
在本实施例中,光源110为环状光源,光源支架120包括导光筒121,导光筒121为管状,光源110环状设于导光筒121上方开口处,检测相机130设于导光筒121的底部开口处。导光筒121除了起到导光作用外,还可以有效减少外部光的干扰,提高检测的精度。
本实用新型的芯片外观检测装置可以将对芯片表面的缺陷进行检测,可根据需要调节光源和检测相机的高度,操作方便,可以有效提高检测效率。
以上实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例,本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换,均在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。

Claims (8)

1.一种芯片外观检测装置,包括安装座,其特征在于,所述安装座上设有第一升降组件、第二升降组件、光源、光源支架、检测相机、相机支架,所述光源与光源支架连接,所述光源支架与第一升降组件连接,所述检测相机与相机支架连接,所述相机支架与第二升降组件连接,所述检测相机设于光源下方,用于对光源上方的芯片进行检测。
2.如权利要求1所述的芯片外观检测装置,其特征在于,所述安装座上还设有竖直滑轨,所述竖直滑轨上设有第一滑动座,所述光源支架与所述第一滑动座连接,所述第一升降组件包括第一丝杆、第一滑块,所述第一丝杆的两端均通过轴承与安装座连接,所述第一滑块套设于所述第一丝杆上,所述第一滑块通过第一连接板与所述第一滑动座连接。
3.如权利要求2所述的芯片外观检测装置,其特征在于,所述第一丝杆的底部设有第一调节旋钮。
4.如权利要求2所述的芯片外观检测装置,其特征在于,所述竖直滑轨上还设有第二滑动座,所述第二滑动座设于第一滑动座下方,所述相机支架与所述第二滑动座连接,所述第二升降组件包括第二丝杆、第二滑块,所述第二丝杆的两端均通过轴承与安装座连接,所述第二滑块套设于所述第二丝杆上,所述第二滑块通过第二连接板与所述第二滑动座连接。
5.如权利要求4所述的芯片外观检测装置,其特征在于,所述第二丝杆的底部设有第二调节旋钮。
6.如权利要求1所述的芯片外观检测装置,其特征在于,所述光源为环状光源。
7.如权利要求6所述的芯片外观检测装置,其特征在于,所述光源支架包括导光筒,所述光源环状设于所述导光筒上方开口处,所述检测相机设于所述导光筒的底部开口处。
8.如权利要求7所述的芯片外观检测装置,其特征在于,所述导光筒为管状。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN116223528A (zh) * 2023-05-09 2023-06-06 超音速人工智能科技股份有限公司 一种视觉检测系统

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