CN210347814U - 测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试治具，所述测试治具用于接收线圈的性能测试，所述测试治具包括夹具组件，所述夹具组件包括：中架板、第一盖板和第二盖板，所述中架板的厚度两侧分别为第一侧和第二侧，所述第一盖板设在所述中架板的所述第一侧，且用于将接收线圈夹设在所述中架板与所述第一盖板之间，所述第二盖板设在所述中架板的所述第二侧，且用于将发射线圈夹设在所述中架板与所述第二盖板之间。根据本实用新型的测试治具，可以至少改善一些不确定因素对测试结果的影响，提高测试结果的准确性，而且测试治具的结构简单、简单易用。

Description

测试治具

技术领域

本实用新型涉及无线充电用线圈测试技术领域，尤其是涉及一种测试治具。

背景技术

对于一些可无线充电的电子设备来说，通常内置有接收线圈，无线充电底座中通常内置有发射线圈，发射线圈与接收线圈之间产生感应电流，感应电流输出到被充电的电子设备内，以对电子设备进行充电。各接收线圈的生产厂家在打样或者生产之后，或者各电子设备厂商在购买接收线圈之后，需要对接收线圈的性能进行测试。然而，相关技术中的测试方法，大都是将接收线圈直接摆放在内置有发射线圈的发射底座上，测试结果常常受到不确定因素的影响，测试误差较大，可比性不高。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型在于提出一种测试治具，所述测试治具可在一定程度上提高测试结果的准确性，且测试治具的结构简单、简单易用。

根据本实用新型实施例的测试治具，所述测试治具用于接收线圈的性能测试，所述测试治具包括夹具组件，所述夹具组件包括：中架板，所述中架板的厚度两侧分别为第一侧和第二侧；第一盖板，所述第一盖板设在所述中架板的所述第一侧，且用于将接收线圈夹设在所述中架板与所述第一盖板之间；第二盖板，所述第二盖板设在所述中架板的所述第二侧，且用于将发射线圈夹设在所述中架板与所述第二盖板之间。

根据本实用新型的测试治具，可以至少改善一些不确定因素对测试结果的影响，提高测试结果的准确性，而且测试治具的结构简单、简单易用。

在一些实施例中，所述中架板的厚度两侧表面分别为第一表面和第二表面，所述第一表面面对所述第一盖板设置，所述第一表面上形成有第一沉槽，所述接收线圈适于配合于所述第一沉槽。

在一些实施例中，所述第一沉槽为矩形槽。

在一些实施例中，所述第一沉槽内具有第一基圆，所述第一沉槽的底壁上具有沿所述第一基圆的周向间隔开分布的多个线槽，所述测试治具包括嵌设于所述线槽的点温线。

在一些实施例中，所述第一基圆的圆心为所述第一沉槽的中心，每个所述线槽均沿所述第一基圆的径向延伸，多个所述线槽沿所述第一基圆的周向均匀地间隔开分布。

在一些实施例中，所述第一沉槽为深度为0.3mm、边长为60mm的正方形槽，所述线槽为八个且每个所述线槽的宽度和深度均为0.5mm。

在一些实施例中，所述第一表面上形成有第一避让槽，所述第一避让槽与所述第一沉槽相连，且所述第一避让槽的深度大于所述第一沉槽的深度。

在一些实施例中，所述中架板与所述第一盖板通过第一定位结构定位配合，所述第一定位结构设在所述第一沉槽外且围绕所述第一沉槽分布。

在一些实施例中，所述第一定位结构包括设于所述第一表面的多个第一凸起和设于所述第一盖板的多个第一凹槽，多个所述第一凸起与多个所述第一凹槽分别对应定位配合，多个所述第一凸起沿所述第一表面的轮廓边缘间隔开分布。

在一些实施例中，所述第二表面面对所述第二盖板设置，所述第二盖板的面对所述中架板的一侧表面为第三表面，所述第二表面和所述第三表面中的至少一个上形成有第二沉槽，所述发射线圈适于配合于所述第二沉槽。

在一些实施例中，所述第二沉槽的中心与所述第一沉槽的中心位于同一竖直线上。

在一些实施例中，所述第二沉槽为圆形槽。

在一些实施例中，所述第二沉槽内具有定位凸块，所述定位凸块设在所述第二沉槽的轮廓边缘位置。

在一些实施例中，所述第二沉槽形成在所述第三表面上，所述第二表面上形成有第二避让槽，所述第二避让槽与所述第二沉槽连通，所述第二避让槽的内端与所述第二沉槽的中心相对，所述第二避让槽的外端延伸且贯穿所述中架板的轮廓边缘。

在一些实施例中，所述第一表面上形成有第一避让槽，所述第一避让槽与所述第一沉槽相连，且所述第一避让槽的深度大于所述第一沉槽的深度，所述第二避让槽和所述第一避让槽沿所述中架板的厚度方向相对设置。

在一些实施例中，所述中架板与所述第二盖板通过第二定位结构定位配合，所述第二定位结构设在所述第二沉槽外且围绕所述第二沉槽分布。

在一些实施例中，所述第二定位结构包括设于所述第二表面的多个第二凸起和设于所述第三表面的多个第二凹槽，多个所述第二凸起与多个所述第二凹槽分别对应定位配合，多个所述第二凸起沿所述第二表面的轮廓边缘间隔开分布。

在一些实施例中，所述中架板和所述第一盖板均为透明件。

在一些实施例中，所述测试治具还包括：温箱组件，所述温箱组件包括箱体、用于调节所述箱体内温度的温度调节装置、和用于检测所述箱体内温度的检测装置，所述夹具组件设在所述箱体内。

在一些实施例中，所述测试治具还包括：第一垫件，所述中架板和所述第一盖板之间设有所述第一垫件，所述接收线圈位于所述第一垫件和所述第一盖板之间。

在一些实施例中，所述第一垫件包括多个第一垫板。

在一些实施例中，每个所述第一垫板的面对所述第一盖板的一侧表面的结构均与所述中架板面对所述第一盖板的一侧表面的结构相同。

在一些实施例中，所述测试治具还包括：第二垫件，所述中架板和所述第二盖板之间设有所述第二垫件，所述发射线圈位于所述第二垫件和所述第二盖板之间。

在一些实施例中，所述第二垫件包括多个第二垫板。

在一些实施例中，每个所述第二垫板的面对所述第二盖板的一侧表面的结构均与所述中架板面对所述第二盖板的一侧表面的结构相同。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

图1是根据本实用新型一个实施例的测试治具的示意图；

图2是根据本实用新型一个实施例的夹具组件的爆炸图；

图3是图2中所示的夹具组件从反面观察的爆炸图；

图4是根据本实用新型一个实施例的接收线圈的示意图；

图5是根据本实用新型一个实施例的发射线圈的示意图；

图6是根据本实用新型另一个实施例的测试治具的示意图。

附图标记：

测试治具1000；

夹具组件100；第一侧F1；第二侧F2；

中架板1；第一表面11；第一沉槽111；线槽112；第一避让槽113；

第一凸起114；第一基圆110；

第二表面12；第三沉槽121；第二避让槽122；第二凸起123；

第一盖板2；第四表面21；第一凹槽211；第四避让槽212；

第二盖板3；第三表面31；第二沉槽311；定位凸块312；

第二凹槽313；第三避让槽314；

第一定位结构4；第二定位结构5；点温线6；

第一垫件7；第一垫板71；

第二垫件8；第二垫板81；

温箱组件200；箱体201；温度调节装置202；检测装置203；

接收线圈2000；

接收线圈本体2000a；接收线圈承载基膜2000b；

接收线圈中心出线2000c1；接收线圈边缘出线2000c2；

发射线圈3000；

发射线圈本体3000a；发射线圈承载基板3000b；定位槽孔3000b1；

发射线圈中心出线3000c1；发射线圈边缘出线3000c2。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

下文的实用新型提供了许多不同的实施例或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的实用新型，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本实用新型。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本实用新型提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。

对于一些可无线充电的电子设备来说，通常内置有接收线圈2000，无线充电底座中通常内置有发射线圈3000，发射线圈3000与接收线圈2000之间产生感应电流，感应电流输出到被充电的电子设备内，以对电子设备进行充电。各接收线圈2000的生产厂家在打样或者生产之后，或者各电子设备厂商在购买接收线圈2000之后，需要对接收线圈2000的性能进行测试，然而，相关技术中的测试方法，大都是将接收线圈2000直接摆放在内置有发射线圈3000的发射底座上，测试结果常常受到不确定因素的影响，测试误差较大，可比性不高。

为此，本实用新型提出了一种简单易用的测试治具1000，该测试治具1000用于接收线圈2000的性能测试，其具有结构简单、简单易用的特点，有效地降低了测试难度，而且通过采用本实用新型的测试治具1000，可以至少改善一些不确定因素对测试结果的影响，提高测试结果的准确性。

下面，参照附图，描述根据本实用新型实施例的测试治具1000。

如图1所示，测试治具1000包括夹具组件100，夹具组件100包括：中架板1、第一盖板2和第二盖板3，中架板1的厚度两侧分别为第一侧F1和第二侧F2，第一盖板2设在中架板1的第一侧F1，第二盖板3设在中架板1的第二侧F2。也就是说，第一盖板2和第二盖板3分别设在中架板1的厚度两侧。

如图1所示，第一盖板2用于将接收线圈2000夹设在中架板1与第一盖板2之间。需要说明的是，虽然“接收线圈2000夹设在中架板1与第一盖板2之间”，但是并不限于中架板1与第一盖板2之间仅设有接收线圈2000，也就是说，接收线圈2000位于中架板1与第一盖板2之间且被中架板1与第一盖板2直接或间接夹设即可，例如在图1所示的实施例中，中架板1与第一盖板2之间不具有其他部件，接收线圈2000被中架板1与第一盖板2直接夹设；又例如在后文所述的其他实施例中，中架板1与第一盖板2之间还可以设有若干第一垫板71，接收线圈2000位于第一垫板71和第一盖板2之间，以被中架板1与第一盖板2间接夹设。此外，本文所述的接收线圈2000被“夹设”，指的是接收线圈2000被压紧、不移动。

如图1所示，第二盖板3用于将发射线圈3000夹设在中架板1与第二盖板3之间。需要说明的是，虽然“发射线圈3000夹设在中架板1与第二盖板3之间”，但是并不限于中架板1与第二盖板3之间仅设有发射线圈3000，也就是说，发射线圈3000位于中架板1与第二盖板3之间且被中架板1与第二盖板3直接或间接夹设即可，例如在图1所示的实施例中，中架板1与第二盖板3之间不具有其他部件，发射线圈3000被中架板1与第二盖板3直接夹设；又例如在后文所述的其他实施例中，中架板1与第二盖板3之间还可以设有若干第二垫板81，发射线圈3000位于第二垫板81与第二盖板3之间，以被中架板1与第二盖板3间接夹设。此外，本文所述的发射线圈3000被“夹设”，指的是发射线圈3000被压紧、不移动。

由此，在对接收线圈2000进行性能测试时，可以将发射线圈3000夹设在中架板1与第二盖板3之间，并将接收线圈2000夹设在中架板1与第一盖板2之间，使得发射线圈3000和接收线圈2000的相对位置稳定，提高了电流传输效率的稳定性，降低了测试误差，从而可以简单、方便、且有效地对接收线圈2000进行性能测试。而且，测试治具1000的结构简单、便于加工、生产成本低。

相关技术中，在对接收线圈2000进行性能测试时，将接收线圈2000直接摆放在内置有发射线圈3000的发射底座上，当受某些不确定的外界因素影响时，例如接收线圈2000受到外力冲击时，接收线圈2000的摆放位置可能发生改变，使得电流传输效率受到影响，造成测试结果存在误差。而根据本实用新型实施例的测试治具1000，由于接收线圈2000夹紧在中架板1与第一盖板2之间，降低了接收线圈2000受外力冲击的可能，从而降低了接收线圈2000相对发射线圈3000移动的风险，进而提高了电流传输效率的稳定性，改善了测试误差，也就是说，可以至少改善一些不确定因素对测试结果的影响，提高测试结果的准确性。

此外，在相关技术中，当发射底座上表面具有颗粒杂质等时，可能无法将接收线圈2000摆放平整，致使测试结果存在测试误差。而根据本实用新型实施例的测试治具1000，由于接收线圈2000夹紧在中架板1与第一盖板2之间，从而可以通过测量或者观察中架板1与第一盖板2之间的间隙高度，来判断接收线圈2000是否摆放平整，从而可以提高电流传输效率的稳定性，改善了测试误差，即可以至少改善一些不确定因素对测试结果的影响，提高测试结果的准确性。

在相关技术中，在对接收线圈2000进行性能测试前，测试人员由于看不到发射底座内的发射线圈3000，因此无法将接收线圈2000的中心与发射线圈3000的中心对正、存在中心偏差，电流传输效率受中心偏差影响，致使测试结果存在误差，而且，由于对不同接收线圈2000进行性能测试时的中心偏差很难达到一致，从而使得各检测结果之间的可比性较差。

对此，根据本实用新型一些实施例的测试治具1000，中架板1和第一盖板2均可以为透明件，即中架板1和第一盖板2均可以采用透明材料加工而成，此时，可以先将发射线圈3000夹紧在中架板1与第二盖板3之间，此时便于测试人员透过中架板1观察发射线圈3000的位置，之后，再将接收线圈2000放置于中架板1的第一侧F1时，可以有效地对发射线圈3000和接收线圈2000进行中心对正，降低中心偏差，从而降低重心偏差对电流传输效率的影响，降低测试误差，提高不同接收线圈2000的测试结果之间的可比较性。

此外，需要说明的是，中架板1、第一盖板2、第二盖板3的材质不限，只要为不导电、且对电磁场无影响的材料即可，也就是说，只要对接收线圈2000和发射线圈3000之间的电磁感应不产生干扰即可，例如可以为亚克力材料等，这里不作赘述。

目前，市面上接收线圈2000的生产厂家较多，各厂家生产的接收线圈2000规格型号也非常多，各个厂家在打样或生产接收线圈2000后，分别各自进行接收线圈2000性能测试，各个厂家之间没有统一的测试规范，测试结果受不同因素影响，测试误差不等，且得出的测试数据不具备良好的可比性，导致客户在挑选接收线圈2000时缺乏标定参考。也就是说，对于接收线圈2000的购买客户来说，由于各厂家对接收线圈2000测试的方法和环境都不相同，因此难以根据各生产厂家提供的测试报告在第一时间内从众多的接收线圈2000样品中筛选出合适购买的产品。

为了使得购买客户在对比不同厂家的接收线圈2000样品时，能够根据各生产厂家提供的测试报告，在第一时间内从众多的接收线圈2000样品中筛选出合适购买的产品，可以使得各生产厂家均采用本实用新型实施例的测试治具1000进行测试，或者使得购买商可以采用根据本实用新型实施例的测试治具1000对不同的接收线圈2000进行测试，从而可以获得具有可比性的测试数据，进而可以有效地筛选出适合的接收线圈2000。

在本实用新型的一些实施例中，结合图2和图3，中架板1的厚度两侧表面分别为第一表面11和第二表面12，其中，中架板1在第一侧F1的表面为第一表面11，也就是说，第一表面11面对第一盖板2设置，第一表面11上形成有第一沉槽111，第一沉槽111由从第一侧F1向第二侧F2的方向凹入形成。接收线圈2000适于配合于第一沉槽111，也就是说，沿中架板1的厚度方向投影时，接收线圈2000的正投影全部位于第一沉槽111内，但是，需要说明的是，接收线圈2000的轮廓形状、尺寸、高度等与第一沉槽111的轮廓形状、尺寸、高度等可以相同、也可以不同。

由此，通过在第一表面11上设置可以与接收线圈2000配合的第一沉槽111，从而可以简单有效地提高接收线圈2000的装配效率，并且从一定程度上提高发射线圈3000和接收线圈2000的中心对正效果，降低接收线圈2000在测试过程中相对发射线圈3000移动的可能，进而降低了测试误差，提高了对于不同接收线圈2000测试的结果可比性。

此外，需要说明的是，如图4所示，接收线圈2000可以包括接收线圈本体2000a和接收线圈承载基膜2000b，接收线圈本体2000a由金属线螺旋绕制成接收线圈本体2000a，接收线圈本体2000a承载在接收线圈承载基膜2000b上，第一沉槽111的结构形状可以与接收线圈承载基膜2000b的结构形状相匹配。在通常情况下，各生产厂商提供的接收线圈2000中，接收线圈承载基膜2000b大多为正方形或长方形形状，接收线圈本体2000a的中心与接收线圈承载基膜2000b的中心重合。

因此，在本实用新型的一些实施例中，如图2所示，第一沉槽111可以为矩形槽，从而可以通过判断第一沉槽111各边与接收线圈承载基膜2000b各边之间的平行程度以及间距，简单且有效地判断接收线圈承载基膜2000b与第一沉槽111的中心对正情况，进而降低了测试误差，提高了对于不同接收线圈2000测试的结果可比性。但是，需要说明的是，当第一沉槽111为矩形槽时，也可以用于容纳接收线圈承载基膜2000b为非矩形的接收线圈2000，也就是说，对于一些接收线圈承载基膜2000b为非矩形的接收线圈2000来说，也可以配合于第一沉槽111，以采用根据本实用新型实施例的测试治具1000进行性能测试。

在本实用新型的一些实施例中，如图2所示，第一沉槽111内具有第一基圆110(第一基圆110可以是虚拟圆，并不要求显现可视)，第一沉槽111的底壁上具有线槽112，线槽112由第一沉槽111的底壁凹入形成，线槽112可以为多个且沿第一基圆110的周向间隔开分布，测试治具1000包括嵌设于线槽112的点温线6，也就是说，每个线槽112内可以容纳一个或者多个点温线6，但是并不要求每个线槽112内均设有点温线6，换言之，若干线槽112内可以设有点温线6，若干线槽112内也可以不设有点温线6，当然，也可以每个线槽112内都设有点温线6。例如在本实用新型的一个具体示例中，每个线槽112内分别设有一个点温线6，从而可以获得较多测试数据，且安装方便。

由此，通过在第一沉槽111的底壁上设置用于容纳线槽112的点温线6，从而可以避免线槽112将置于第一沉槽111的接收线圈2000顶起的问题，进而提高接收线圈2000的摆放平整度，当对不同接收线圈2000进行测试时，每个接收线圈2000都可以不受点温线6影响摆放平整，保证了传输效率，降低了测试误差，提高了对于不同接收线圈2000测试的结果可比性。而且，由于多个线槽112沿第一基圆110的周向间隔开分布，从而可以增大接收线圈2000的测温范围，以获得不同测温点的测试数据，更全面的反映接收线圈2000的性能。

在本实用新型的一些实施例中，如图2所示，第一基圆110的圆心为第一沉槽111的中心，每个线槽112均沿第一基圆110的径向延伸，多个线槽112沿第一基圆110的周向均匀地间隔开分布。由此，可以获得不同测温点的测试数据，更全面的反映接收线圈2000的性能。此外，在对接收线圈2000与发射线圈3000进行中心对正时，还可以通过观察接收线圈承载基膜2000b在每相邻两个线槽112之间的部分尺寸是否一致来判断，接收线圈2000中心是否与第一沉槽111中心对正，从而提高接收线圈2000与发射线圈3000中心对正效果。

此外，需要说明的是，在对接收线圈2000的性能进行测试之前，可以先将第二盖板3、中架板1、发射线圈3000组装好，从而方便后续对于不同接收线圈2000的测试，或者说，在对一个接收线圈2000完成测试后，可以不拆开第二盖板3和中架板1，无需将发射线圈3000取出，直接将第一盖板2打开，将该接收线圈2000取下，放上另外一个接收线圈2000，盖上第一盖板2继续下一次的测试即可。由此，当将发射线圈3000中心与中架板1上的第一沉槽111的中心对正后，只要保证接收线圈2000的中心与第一沉槽111的中心对正，即可以保证发射线圈3000的中心与接收线圈2000的中心对正。

在本实用新型的一个具体示例中，如图2所示，第一沉槽111为深度为0.3mm、边长为60mm的正方形槽，线槽112为八个且每个线槽112的宽度和深度均为0.5mm。由此，第一沉槽111的结构尺寸适于与市面上大多数接收线圈2000配合，且在接收线圈2000容纳于第一沉槽111后，接收线圈2000的顶部可以平齐于或略超出第一沉槽111的顶面，从而保证接收线圈2000可以被第一盖板2盖压平整，降低测试误差。

当然，本实用新型不限于此，当接收线圈2000的规格发生改变时，还可以适应性修改上述设计尺寸。此外，需要说明的是，线槽112的尺寸可以将目前市面上的点温线6收纳在内，也就是说，目前市面上的点温线6可以完全容纳在线槽112内，或者说，点温线6的宽度和高度分别不超过线槽112的宽度和深度。

在本实用新型的一些实施例中，如图2所示，第一表面11上还可以形成有第一避让槽113，第一避让槽113与第一沉槽111相连，也就是说，第一避让槽113的一侧边缘与第一沉槽111的一侧边缘衔接、连通，且第一避让槽113的深度大于第一沉槽111的深度，也就是说，当第一避让槽113和第一沉槽111均由第一表面11朝向第二表面12的方向凹入时，第一避让槽113的凹入深度大于第一沉槽111的凹入深度，或者说，第一避让槽113的底壁与第一表面11之间的高度差大于第一沉槽111的底壁与第一表面11之间的高度差。

由此，可以通过第一避让槽113将接收线圈2000的出线(可以理解的是，接收线圈2000的出线包括接收线圈中心出线2000c1和接收线圈边缘出线2000c2)引出，改善接收线圈2000的出线将第一盖板2顶起、致使第一盖板2无法将接收线圈2000盖压平整的问题。此外，在本实用新型的一些实施例中，第一避让槽113的尺寸可以将目前市面上接收线圈2000的出线收纳在内，也就是说，目前市面上的接收线圈2000的出线可以完全容纳在第一避让槽113内，或者说，接收线圈2000的出线的宽度和高度分别不超过第一避让槽113的宽度和深度。

在本实用新型的一些实施例中，如图2和图3所示，中架板1与第一盖板2通过第一定位结构4定位配合，第一定位结构4设在第一沉槽111外且围绕(可以是连续性围绕、也可以是间断性围绕)第一沉槽111分布。由此，第一定位结构4并不影响第一沉槽111的功能正常发挥，而且，第一定位结构4还可以提高中架板1和第一盖板2的装配效率和连接可靠性，提高将第一盖板2向中架板1上压盖的操作效率，提高第一盖板2盖压后的稳定性，方便测试，且测试误差小。

例如在图2和图3所示的示例中，第一定位结构4包括设于第一表面11的多个第一凸起114和设于第一盖板2的多个第一凹槽211，多个第一凸起114与多个第一凹槽211分别对应定位配合，多个第一凸起114沿第一表面11的轮廓边缘间隔开分布。由此，方便加工和装配。此外，需要说明的是，第一盖板2的面向中架板1的一侧表面可以为第四表面21，第四表面21可以为平面，第一凹槽211可以由第四表面21凹陷形成，从而方便加工且可以简单有效地将接收线圈2000压盖平整。

当然，本实用新型不限于此，若干第一凸起114和若干第一凹槽211的位置还可以互换，只要满足定位要求即可。另外，可以理解的是，在第一盖板2和中架板1将接收线圈2000夹设时，第一凸起114的顶壁和第一凹槽211的底壁之间可以存在配合间隙，也就是说，第一凸起114的顶壁并未接触第一凹槽211的底壁，从而保证第一盖板2和中架板1可以将接收线圈2000夹设。

在本实用新型的一些实施例中，如图2和图3所示，中架板1的厚度两侧表面分别为第一表面11和第二表面12，中架板1在第二侧F2的表面为第二表面12，也就是说，第二表面12面对第二盖板3设置，第二盖板3的面对中架板1的一侧表面为第三表面31，也就是说，第二表面12和第三表面31相对设置，第二表面12和第三表面31中的至少一个上形成有第二沉槽311，也就是说，第二沉槽311可以全部由第二表面12凹陷形成，第二沉槽311还可以全部由第三表面31凹陷形成，第二沉槽311还可以包括对拼的两部分、其中一部分由第二表面12凹陷形成、另一部分由第三表面31凹陷形成。

其中，发射线圈3000适于配合于第二沉槽311，也就是说，沿中架板1的厚度方向投影时，发射线圈3000的正投影全部位于第二沉槽311内，但是，需要说明的是，发射线圈3000的轮廓形状、尺寸、高度等与第二沉槽311的轮廓形状、尺寸、高度等可以相同、也可以不同。由此，通过设置可以与发射线圈3000配合的第二沉槽311，从而可以简单有效地提高发射线圈3000的装配效率，并且从一定程度上提高发射线圈3000和发射线圈3000的中心对正效果，降低发射线圈3000在测试过程中相对发射线圈3000移动的可能，进而降低了测试误差，提高了对于不同发射线圈3000测试的结果可比性。

此外，需要说明的是，如图5所示，发射线圈3000可以包括发射线圈本体3000a和发射线圈承载基板3000b，发射线圈本体3000a由金属线螺旋绕制成发射线圈本体3000a，发射线圈本体3000a承载在发射线圈承载基板3000b上，第二沉槽311的结构形状可以与发射线圈承载基板3000b的结构形状相匹配。在通常情况下，各生产厂商提供的发射线圈3000中，发射线圈承载基板3000b大多为圆形形状，发射线圈本体3000a的中心与发射线圈承载基板3000b的中心重合。

因此，在本实用新型的一些实施例中，如图3所示，第二沉槽311可以为圆形槽，从而可以通过判断第二沉槽311边缘与发射线圈承载基板3000b边缘之间的间距，简单且有效地判断发射线圈承载基板3000b与第二沉槽311的中心对正情况，进而降低了测试误差，提高了对于不同发射线圈3000测试的结果可比性，而且，当第二沉槽311的尺寸与发射线圈承载基板3000b的尺寸相匹配时，第二沉槽311还可以对发射线圈3000起到限位作用，从而将进一步改善测试误差。但是，需要说明的是，当第二沉槽311为圆形槽时，也可以用于容纳发射线圈承载基板3000b为非圆形的发射线圈3000，也就是说，对于一些发射线圈承载基板3000b为非圆形的发射线圈3000来说，也可以配合于第二沉槽311，以采用根据本实用新型实施例的测试治具1000进行性能测试。

此外，需要说明的是，在对接收线圈2000的性能进行测试之前，可以先将第二盖板3、中架板1、发射线圈3000组装好，从而方便后续对于不同接收线圈2000的测试，或者说，在对一个接收线圈2000完成测试后，可以不拆开第二盖板3和中架板1，无需将发射线圈3000取出，直接将第一盖板2打开，将该接收线圈2000取下，放上另外一个接收线圈2000，盖上第一盖板2继续下一次的测试即可。由此，通过第二沉槽311对发射线圈3000的限位，可以降低发射线圈3000相对中架板1位置变动的可能，从而降低测试误差，提高不同测试结果之间的可比性。

在本实用新型的一些实施例中，第二沉槽311的中心与第一沉槽111的中心位于同一竖直线上，也就是说，第二沉槽311的中心和第一沉槽111的中心上下对正，由此，当将发射线圈3000中心与第二沉槽311的中心对正，且将接收线圈2000的中心与第一沉槽111的中心对正后，即可以保证发射线圈3000的中心与接收线圈2000的中心对正，从而降低测试误差，提高不同测试结果之间的可比性。

在本实用新型的一些实施例中，如图2和图3所示，第二沉槽311形成在第三表面31上，第二表面12上形成有第二避让槽122，第二避让槽122与第二沉槽311连通，第二避让槽122的内端与第二沉槽311的中心相对，第二避让槽122的外端延伸且贯穿中架板1的轮廓边缘。由此，可以通过第二避让槽122将发射线圈3000的出线(可以理解的是，发射线圈3000的出线包括发射线圈中心出线3000c1和发射线圈边缘出线3000c2)引出，改善发射线圈3000的出线导致第二盖板3无法将发射线圈3000夹设、压平整的问题。此外，在本实用新型的一些实施例中，第二避让槽122的尺寸可以将目前市面上发射线圈3000的出线收纳在内，也就是说，目前市面上的发射线圈3000的出线可以完全容纳在第二避让槽122内，或者说，发射线圈3000的出线的宽度和高度分别不超过第二避让槽122的宽度和深度。

另外，当第一表面11上形成有上述第一避让槽113时，第二避让槽122和第一避让槽113沿中架板1的厚度方向相对设置。由此，接收线圈2000的出线和发射线圈3000的出线，均可以从同一方向引出，从而方便后续将出线与检测设备电连接，方便操作。

此外，如图3所示，第二表面12上同时可以形成有与第二沉槽311相对设置且对拼的第三沉槽121，第三表面31上同时可以形成有与第二避让槽122相对设置且对拼的第三避让槽314，从而可以用于对不同高度的发射线圈3000夹设和出线。

此外，如图2和图3所示，第四表面21上同时可以形成有与第一避让槽113相对设置且对拼的第四避让槽212，从而可以用于对不同高度的接收线圈2000夹设和出线。另外，为了方便加工和出现，第四避让槽212可以沿第一盖板2的厚度方向贯穿第一盖板2。

在本实用新型的一些实施例中，如图2所示，第二沉槽311内可以具有定位凸块312，定位凸块312设在第二沉槽311的轮廓边缘位置。也就是说，定位凸块312位于第二沉槽311内且靠近第二沉槽311的轮廓边缘设置。此时，结合图5，发射线圈承载基板3000b上可以形成有与定位凸块312定位配合的定位槽孔3000b1，由此，可以进一步提高发射线圈3000的装配效率，保证发射线圈3000的安装位置满足设计要求，例如保证发射线圈3000的出线可以对准第二避让槽122。

在本实用新型的一些实施例中，如图2和图3所示，中架板1与第二盖板3通过第二定位结构5定位配合，第二定位结构5设在第二沉槽311外且围绕(可以是连续性围绕、也可以是间断性围绕)第二沉槽311分布。由此，第二定位结构5并不影响第二沉槽311的功能正常发挥，而且，第二定位结构5还可以提高中架板1和第二盖板3的装配效率和连接可靠性，提高将第二盖板3向中架板1上压盖的操作效率，提高第二盖板3盖压后的稳定性，方便测试，且测试误差小。

例如在图2和图3所示的示例中，第二定位结构5可以包括设于第二表面12的多个第二凸起123和设于第三表面31的多个第二凹槽313，多个第二凸起123与多个第二凹槽313分别对应定位配合，多个第二凸起123沿第二表面12的轮廓边缘间隔开分布。由此，方便加工和装配。当然，本实用新型不限于此，若干第二凸起123和若干第二凹槽313的位置还可以互换，只要满足定位要求即可。另外，可以理解的是，在第二盖板3和中架板1将接收线圈2000夹设时，第二凸起123的顶壁和第二凹槽313的底壁之间可以存在配合间隙，也就是说，第二凸起123的顶壁并未接触第二凹槽313的底壁，从而保证第二盖板3和中架板1可以将接收线圈2000夹设。

在本实用新型的一些实施例中，如图1所示，测试治具1000还可以包括：温箱组件200，温箱组件200包括箱体201、温度调节装置202和检测装置203，其中温度调节装置202用于调节箱体201内温度，检测装置203用于检测箱体201内温度，夹具组件100设在箱体201内。由此，可以保证测试起始温度的一致性，从而降低测试误差，提高不同测试结果之间的可比较性。

在相关技术中，不同的生产厂家在各自生产完无线充电线圈样品后，难以做到多方面的测试条件统一，致使不同厂家生产的无线充电线圈样品间难以互相衡量比较，例如有些厂家放置在室内进行测试，而室温实际上随着一天的时间从早到晚会变高或变低，因此在不同时间段测得的线圈的温度值会受到环境温度变化的影响，测试结果不具有可比性。而根据本实用新型实施例的测试治具1000，可以将测试夹具设置于箱体201内，通过温度调节装置202和检测装置203将测试其实温度调节为预设值，例如25℃，然后开始进行接收线圈2000性能测试，检测接收线圈2000上各测试点的温升情况。

在一些实施例中，如图6所示，测试治具1000还可以包括：第一垫件7，中架板1和第一盖板2之间设有第一垫件7，接收线圈2000位于第一垫件7和第一盖板2之间。由此，可以通过设置第一垫件7来调整接收线圈2000与中架板1之间的距离，从而可以调整接收线圈2000与发射线圈3000之间的距离，从而满足不同的测试要求。具体而言，第一垫件7可以为高度可调节件，例如在图6所示的示例中，第一垫件7可以括多个第一垫板71，从而可以通过更改垫设在中架板1和第一盖板2之间的第一垫板71的数量，来调节接收线圈2000与发射线圈3000之间的距离，从而满足不同的测试要求。

其中，每个第一垫板71的面对第一盖板2的一侧表面(如图6中所示的每个第一垫板71的上表面)的结构均与中架板1面对第一盖板2的一侧表面(如图6中所示的每个第一垫板71的上表面)的结构相同，例如每个第一垫板71的面对第一盖板2的一侧表面上均形成有第一沉槽111、线槽112、第一避让槽113、第一凸起114等。当然，本实用新型不限于此，例如在本实用新型的其他实施例中，每个第一垫板71的面对第一盖板2的一侧表面(如图6中所示的每个第一垫板71的上表面)的结构与中架板1面对第一盖板2的一侧表面(如图6中所示的每个第一垫板71的上表面)的结构还可以局部相同，例如，例如每个第一垫板71的面对第一盖板2的一侧表面的面积较小，且均形成有第一沉槽111、线槽112、第一避让槽113，而不形成有第一凸起114。

在一些实施例中，如图6所示，测试治具1000还可以包括：第二垫件8，中架板1和第二盖板3之间设有第二垫件8，接收线圈2000位于第二垫件8和第二盖板3之间。由此，可以通过设置第二垫件8来调整接收线圈2000与中架板1之间的距离，从而可以调整接收线圈2000与发射线圈3000之间的距离，从而满足不同的测试要求。具体而言，第二垫件8可以为高度可调节件，例如在图6所示的示例中，第二垫件8可以括多个第二垫板81，从而可以通过更改垫设在中架板1和第二盖板3之间的第二垫板81的数量，来调节接收线圈2000与发射线圈3000之间的距离，从而满足不同的测试要求。

其中，每个第二垫板81的面对第二盖板3的一侧表面(如图6中所示的每个第二垫板81的下表面)的结构均与中架板1面对第二盖板3的一侧表面(如图6中所示的每个第二垫板81的下表面)的结构相同，例如每个第二垫板81的面对第二盖板3的一侧表面上均形成有第三沉槽121、第二避让槽122、第二凸起123等。当然，本实用新型不限于此，例如在本实用新型的其他实施例中，每个第二垫板81的面对第二盖板3的一侧表面(如图6中所示的每个第二垫板81的下表面)的结构与中架板1面对第二盖板3的一侧表面(如图6中所示的每个第二垫板81的下表面)的结构还可以局部相同，例如，例如每个第二垫板81的面对第二盖板3的一侧表面的面积较小，且均形成有第三沉槽121、第二避让槽122，而不形成有第二凸起123。

下面，参照附图1-图5，描述根据本实用新型一个具体实施例的测试治具1000。

测试治具1000可以包括夹具组件100和温箱组件200，温箱组件200可以包括箱体201、温度调节装置202和检测装置203，温度调节装置202、检测装置203和夹具组件100均设于箱体201内，夹具组件100可以包括从上到下依次排布的第一盖板2、中架板1和第二盖板3。其中，中架板1、第一盖板2和第二盖板3均可以由亚克力材质计算机数字化控制精密机械加工而成，亚克力材质不导电、对电磁场无影响，适合用于制造本实用新型实施例的夹具组件100。

第一盖板2与中架板1之间用于固定接收线圈2000。当前市面上的接收线圈2000厚度多为0.2mm至0.3mm。在中架板1的顶部中央具有第一沉槽111，第一沉槽111为边长为60mm的正方形凹槽，第一沉槽111的深度为0.3mm，第一沉槽111摆放被测试的接收线圈2000后，接收线圈2000可以刚好被第一盖板2压平整无突起。中架板1的顶部还具有八个宽度和深度都为0.5mm的线槽112，用于摆放测量接收线圈2000温升的热电偶的点温线6，将八个点温线6分别埋入八个线槽112后，点温线6可以不凸出于线槽112，从而保证了被测试的接收线圈2000的摆放平整性。此处，需要说明的是，点温线6的数量不限于八个，例如可以为四个或多于四个，此外，点温线6的检测位置可以根据实际要求设置，例如可以设在接收线圈中心出线2000c1与接收线圈本体2000a相连的一端，又例如可以设在接收线圈边缘出线2000c2与接收线圈本体2000a相连的一端，又例如可以设在接收线圈本体2000a的半径中央位置等等，这里不作限定。

第二盖板3与中架板1之间用于固定发射线圈3000。第二盖板3上具有第二沉槽311，中架板1的底面具有第二避让槽122，第二避让槽122为矩形凹槽且由第二沉槽311的中心沿第二沉槽311的中心向外延伸，从而在发射线圈3000安放在第二盖板3上的第二沉槽311内时，第二避让槽122便于发射线圈3000的中心线出线，保证第二盖板3和中架板1能够夹设发射线圈3000。

此外，中架板1的顶面与发射线圈3000之间的高度差可以为3mm，当需要调整发射线圈3000与接收线圈2000之间的间距时，可以在中架板1与第二盖板3之间垫设若干第二垫板81，例如1mm的亚克力垫片，全部第二垫板81均位于发射线圈3000的顶面和中架板1的底面之间，使得发射线圈3000与接收线圈2000之间的间距在3mm至8mm之间调整；或者还可以在中架板1与第一盖板2之间垫设若干第一垫板71，例如1mm的亚克力垫片，全部第一垫板71均位于接收线圈2000的底面和中架板1的顶面之间，使得发射线圈3000与接收线圈2000之间的间距在3mm至8mm之间调整。

由此，根据本实施例的测试治具1000，当将接收线圈2000摆放在中架板1的上方时，并可参照八个指向中心的线槽112，找齐接收线圈2000的中心摆放位置，再由第一盖板2压平(此后可以将第一盖板2和中架板1采用紧固件连接固定，也可以不采用紧固件连接固定中架板1和第一盖板2，即直接将第一盖板2盖设在接收线圈2000上，就可以开始测试)，由此，可以规范出接收线圈2000在测试时的位置、平整程度、点温线6测试的点位置保持不变等。另外，中架板1的顶面与第二盖板3之间的距离稳定，在夹具组件100安装完成后，发射线圈3000的顶面至接收线圈2000的底面之间的距离固定，可以避免由于发射线圈3000和接收线圈2000之间距离不固定导致的测试误差。此外，通过设置温箱组件200，可以规范接收线圈2000在测试时的物理环境条件，使得不同批次不同厂家生产的接收线圈2000在测试时拥有参考性和可比较性。

综上所述，根据本实用新型实施例的测试治具1000，可以规范测试环境，使得接收线圈2000和发射线圈3000易于中心对正，且接收线圈2000和发射线圈3000的测试间距固定，温度测试点固定(即各点温线6的布置位置依赖于线槽112的设计位置，当线槽112的设计位置确定后，点温线6的布局位置确定)，提高不同批次接收线圈2000测试的可比较性。由此，根据本实用新型实施例的测试治具1000，可以用于厂家生产接收线圈2000的通用测试夹具，使得厂家提供的第一手测试报告可以直观的作为参考，帮助客户选择合适的接收线圈2000。简言之，根据本实用新型实施例的测试治具1000，能够使接收线圈2000在性能测试的过程中保持环境稳定，提高测试精度，使得用户在对比不同厂家的接收圈样品时能有通用的测试标准。

此外，可以理解的是，接收线圈2000的性能测试的测试参数，对于本领域技术人员来说是已知的，因此仅作简要介绍。例如可以从无线充电线圈的电气属性、机械尺寸和工作性能三个方面来综合考量接收线圈2000的性能。其中，电气属性可以包含接收线圈2000的电感量、直流阻抗Rdc(或dcR)、交流阻抗Rac(或acR)，具体地，可以通过高精度电桥来测量电感值、直流阻抗和交流阻抗。其中，机械尺寸可以包含接收线圈2000的厚度(例如包括接收线圈本体2000a和屏蔽贴的总厚度、接收线圈2000出头焊接点的高度等)、接收线圈2000的外径、接收线圈2000的内径，具体地，机械尺寸可以通过游标卡尺等尺寸测量仪器测量。其中，工作性能可以包含实际使用时，对于同一套收发电路、统一标准环境稳定、工作相同的时间后达到的温升值和传输效率等，具体地，工作性能可以采用温度测试仪如热电偶、热成像仪等捕捉测试，效率可以通过直流电压电流表的读数后再计算出来等。

下面，简要描述根据本实用新型实施例的测试治具1000的测试方法，测试方法包括步骤：将发射线圈3000放置在第二盖板3上，将中架板1压盖在发射线圈3000上，将接收线圈2000放置在中架板1上，将第一盖板2压盖在接收线圈2000上。由此，操作简单、测试结果好。在本实用新型的一些实施例中，测试方法还可以包括步骤：将第一盖板2取下，将接收线圈2000取下，将另一个待测试接收线圈2000放置在中架板1上并利用第一盖板2压盖该待测试接收线圈2000。由此，可以简单便捷地实现对于不同接收线圈2000的测试。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (25)

1.一种测试治具，其特征在于，所述测试治具用于接收线圈的性能测试，所述测试治具包括夹具组件，所述夹具组件包括：

中架板，所述中架板的厚度两侧分别为第一侧和第二侧；

第一盖板，所述第一盖板设在所述中架板的所述第一侧，且用于将接收线圈夹设在所述中架板与所述第一盖板之间；

第二盖板，所述第二盖板设在所述中架板的所述第二侧，且用于将发射线圈夹设在所述中架板与所述第二盖板之间。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述中架板的厚度两侧表面分别为第一表面和第二表面，所述第一表面面对所述第一盖板设置，所述第一表面上形成有第一沉槽，所述接收线圈适于配合于所述第一沉槽。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述第一沉槽为矩形槽。

4.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述第一沉槽内具有第一基圆，所述第一沉槽的底壁上具有沿所述第一基圆的周向间隔开分布的多个线槽，所述测试治具包括嵌设于所述线槽的点温线。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述第一基圆的圆心为所述第一沉槽的中心，每个所述线槽均沿所述第一基圆的径向延伸，多个所述线槽沿所述第一基圆的周向均匀地间隔开分布。

6.根据权利要求5所述的测试治具，其特征在于，所述第一沉槽为深度为0.3mm、边长为60mm的正方形槽，所述线槽为八个且每个所述线槽的宽度和深度均为0.5mm。

7.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述第一表面上形成有第一避让槽，所述第一避让槽与所述第一沉槽相连，且所述第一避让槽的深度大于所述第一沉槽的深度。

8.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述中架板与所述第一盖板通过第一定位结构定位配合，所述第一定位结构设在所述第一沉槽外且围绕所述第一沉槽分布。

9.根据权利要求8所述的测试治具，其特征在于，所述第一定位结构包括设于所述第一表面的多个第一凸起和设于所述第一盖板的多个第一凹槽，多个所述第一凸起与多个所述第一凹槽分别对应定位配合，多个所述第一凸起沿所述第一表面的轮廓边缘间隔开分布。

10.根据权利要求2-9中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述第二表面面对所述第二盖板设置，所述第二盖板的面对所述中架板的一侧表面为第三表面，所述第二表面和所述第三表面中的至少一个上形成有第二沉槽，所述发射线圈适于配合于所述第二沉槽。

11.根据权利要求10所述的测试治具，其特征在于，所述第二沉槽的中心与所述第一沉槽的中心位于同一竖直线上。

12.根据权利要求10所述的测试治具，其特征在于，所述第二沉槽为圆形槽。

13.根据权利要求10所述的测试治具，其特征在于，所述第二沉槽内具有定位凸块，所述定位凸块设在所述第二沉槽的轮廓边缘位置。

14.根据权利要求10所述的测试治具，其特征在于，所述第二沉槽形成在所述第三表面上，所述第二表面上形成有第二避让槽，所述第二避让槽与所述第二沉槽连通，所述第二避让槽的内端与所述第二沉槽的中心相对，所述第二避让槽的外端延伸且贯穿所述中架板的轮廓边缘。

15.根据权利要求14所述的测试治具，其特征在于，所述第一表面上形成有第一避让槽，所述第一避让槽与所述第一沉槽相连，且所述第一避让槽的深度大于所述第一沉槽的深度，所述第二避让槽和所述第一避让槽沿所述中架板的厚度方向相对设置。

16.根据权利要求10所述的测试治具，其特征在于，所述中架板与所述第二盖板通过第二定位结构定位配合，所述第二定位结构设在所述第二沉槽外且围绕所述第二沉槽分布。

17.根据权利要求16所述的测试治具，其特征在于，所述第二定位结构包括设于所述第二表面的多个第二凸起和设于所述第三表面的多个第二凹槽，多个所述第二凸起与多个所述第二凹槽分别对应定位配合，多个所述第二凸起沿所述第二表面的轮廓边缘间隔开分布。

18.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述中架板和所述第一盖板均为透明件。

19.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括：

温箱组件，所述温箱组件包括箱体、用于调节所述箱体内温度的温度调节装置、和用于检测所述箱体内温度的检测装置，所述夹具组件设在所述箱体内。

20.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括：

第一垫件，所述中架板和所述第一盖板之间设有所述第一垫件，所述接收线圈位于所述第一垫件和所述第一盖板之间。

21.根据权利要求20所述的测试治具，其特征在于，所述第一垫件包括多个第一垫板。

22.根据权利要求21所述的测试治具，其特征在于，每个所述第一垫板的面对所述第一盖板的一侧表面的结构均与所述中架板面对所述第一盖板的一侧表面的结构相同。

23.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括：

第二垫件，所述中架板和所述第二盖板之间设有所述第二垫件，所述发射线圈位于所述第二垫件和所述第二盖板之间。

24.根据权利要求23所述的测试治具，其特征在于，所述第二垫件包括多个第二垫板。

25.根据权利要求24所述的测试治具，其特征在于，每个所述第二垫板的面对所述第二盖板的一侧表面的结构均与所述中架板面对所述第二盖板的一侧表面的结构相同。

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