CN210321584U - 一种用于检测封装产品的装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型具体公开了一种用于检测封装产品的装置，包括电磁装置、第一连杆、第二连杆、安装块和夹持块；第一连杆转动连接于电磁装置的顶部；第一连杆远离电磁装置一端与第二连杆的一端转动连接；安装块转动连接于第二连杆的另一端；安装块远离第二转杆一端活动连接有夹持块；夹持块用于夹持千分表；千分表用于测量产品的平整度。本实用新型有利于工作人员将该装置安装于不同的位置对封装产品进行检测，能够完成各个方向的转动，便于对产品不同的位置进行平整度的检测，增强了该装置的通用性，通过调节安装块的位置使得千分表在重力作用下始终贴合于产品的表面，提高平整度的测量精度，夹持块便于对不同直径的千分表进行夹持，提高测量的范围。

Description

一种用于检测封装产品的装置

技术领域

本实用新型涉及一种用于检测封装产品的装置。

背景技术

千分表是通过齿轮或杠杆将一般的直线位移(直线运动)转换成指针的旋转运动，然后在刻度盘上进行读数的长度测量仪器。其工作原理是将被测尺寸引起的测杆微小直线移动，经过齿轮传动放大，变为指计在刻度盘上的转动，从而读出被测尺寸的大小。产品在封装时往往需要检测其平整度，并通过千分表记录相应数值，为此，我们提出一种用于检测封装产品的装置。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是，提供一种用于检测封装产品的装置，其具有通用性强、测量精度高、测量范围广的优点。

一种用于检测封装产品的装置，包括电磁装置、第一连杆、第二连杆、安装块和夹持块；所述第一连杆转动连接于电磁装置的顶部；所述第一连杆远离电磁装置一端与第二连杆的一端转动连接；所述安装块转动连接于第二连杆的另一端；所述安装块远离第二转杆一端活动连接有夹持块；所述夹持块用于夹持千分表；所述千分表用于测量产品的平整度。

优选地，所述电磁装置的顶部螺纹连接有第一球体；所述第一连杆靠近电磁装置一端设有第一球体转动接头；所述第一球体转动接头上设有第一卡槽，所述第一球体转动连接于第一球体转动接头的第一卡槽内。第一球体转动接头能实现第一连杆完成各个方向的转动，便于对产品不同的位置进行平整度的检测。

优选地，所述电磁装置的侧壁上设有控制开关。控制开关有利于工作人员将该装置安装于不同的位置对封装产品进行检测，携带方便。

进一步优选地，所述第一连杆靠近第二连杆一端设有第二转头；所述第二连杆与第一连杆连接一端设有与第二转头相互配合的第一转头。

优选地，所述第一连杆与第二连杆的连接处设有第一旋钮；所述第一转头和第二转头通过第一旋钮转动连接。便于通过第一旋钮控制第一连杆和第二连杆的相对夹角，方便对不同高度的产品进行平整度的检测，增强了该装置的通用性。

进一步优选地，所述第二连杆远离第一转头一端设有第二球体转动接头；所述第二球体转动接头上设有第二卡槽；所述安装块一端设有连接块；所述连接块上设有第二球体；所述第二球体转动连接于第二卡槽内。便于调节安装块的位置使得千分表在重力作用下始终贴合于产品的表面，提高平整度的测量精度。

优选地，所述安装块的另一端设有固定孔；所述夹持块的一端伸入固定孔内；所述安装块的侧壁上设有第二旋钮；所述第二旋钮的螺纹端沿着安装块的侧壁伸入固定孔内与夹持块连接。便于夹持块的安装与更换，提高该装置的测量范围。

优选地，所述夹持块一端设有固定柱；所述固定柱伸入固定孔内与第二旋钮的螺纹端连接。开槽便于对不同直径的千分表进行夹持，提高测量的范围。

进一步优选地，所述夹持块另一端设有开槽；所述开槽沿着夹持块的长度方向延伸至夹持块靠近固定柱一端且将夹持块分隔成对称的两部分；所述开槽的中部设有用于夹持千分表的夹持槽；所述开槽靠近固定柱一端对称设有缓冲槽；所述夹持块远离固定柱一端设有夹持齿。

进一步优选地，所述夹持块的侧壁设有第三旋钮；所述第三旋钮的螺纹端垂直穿过开槽并将夹持块对称的两部分螺纹连接在一起。第三旋钮调节开槽的宽度，便于千分表的安装与拆卸，缓冲槽能避免夹持块在第三旋钮作用下开槽的张合带来压力集中，从而提高夹持块的使用寿命，夹持齿使得夹持槽在夹持过程中更为紧固。

有益效果：本实用新型设计合理，操作简单，适用范围广，其包括电磁装置、第一连杆、第二连杆、安装块和夹持块；夹持块用于夹持千分表，其中电磁装置便于第一连杆的转动连接，有利于工作人员将该装置安装于不同的位置对封装产品进行检测，携带方便，第一连杆转动连接于电磁装置的顶部能实现第一连杆完成各个方向的转动，便于对产品不同的位置进行平整度的检测，增强了该装置的通用性，第一连杆远离电磁装置一端与第二连杆的一端转动连接，便于调节安装块的位置使得千分表在重力作用下始终贴合于产品的表面，提高平整度的测量精度，安装块远离第二转杆一端活动连接有夹持块，便于更换不同的夹持块，夹持块便于对不同直径的千分表进行夹持，提高测量的范围。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型电磁装置和第一连杆的连接示意图。

图3为本实用新型第一连杆和第二连杆的连接示意图。

图4为本实用新型第二连杆与安装块的连接示意图。

图5为本实用新型安装块与夹持块的连接示意图。

图中：1-电磁装置；2-第一连杆；3-第二连杆；4-安装块；5-夹持块；6-千分表；7-控制开关；8-第一球体转动接头；9-第一球体；10-第一卡槽；12-第一转头；13-第二转头；14-第一旋钮；15-第二球体转动接头；16-第二卡槽；17-第二球体；18-连接块；19-第二旋钮；20-第三旋钮；21-固定孔；22-固定柱；23-缓冲槽；24-开槽；25-夹持槽；26-夹持齿。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的详细说明。

实施例1

如图1所示，本实用新型提供一种用于检测封装产品的装置，包括电磁装置1、第一连杆2、第二连杆3、安装块4和夹持块5；第一连杆2转动连接于电磁装置1的顶部；第一连杆2远离电磁装置1一端与第二连杆3的一端转动连接；安装块4转动连接于第二连杆3的另一端；安装块4远离第二转杆3一端活动连接有夹持块5；夹持块5用于夹持千分表6；千分表6用于测量产品的平整度。本实用新型设计合理，操作简单，适用范围广，其包括电磁装置1、第一连杆2、第二连杆3、安装块4和夹持块5；夹持块5用于夹持千分表6，其中电磁装置1便于第一连杆2的转动连接，有利于工作人员将该装置安装于不同的位置对封装产品进行检测，携带方便，第一连杆2转动连接于电磁装置1的顶部能实现第一连杆2完成各个方向的转动，便于对产品不同的位置进行平整度的检测，增强了该装置的通用性，第一连杆2远离电磁装置1一端与第二连杆3的一端转动连接，便于调节安装块4的位置使得千分表6在重力作用下始终贴合于产品的表面，提高平整度的测量精度，安装块4远离第二转杆3一端活动连接有夹持块5，便于更换不同的夹持块5，夹持块5便于对不同直径的千分表进行夹持，提高测量的范围。

实施例2

如图2~3所示，本实施例2在上述实施例的基础上采用以下方案：电磁装置1的顶部螺纹连接有第一球体9；第一连杆2靠近电磁装置1一端设有第一球体转动接头8；第一球体转动接头8上设有第一卡槽10，第一球体9转动连接于第一球体转动接头8的第一卡槽10内，第一球体9便于第一连杆的转动连接，电磁装置1的侧壁上设有控制开关7，第一连杆2靠近第二连杆3一端设有第二转头13；第二连杆3与第一连杆2连接一端设有与第二转头13相互配合的第一转头12，第一球体转动接头能实现第一连杆完成各个方向的转动，便于对产品不同的位置进行平整度的检测；控制开关有利于工作人员将该装置安装于不同的位置对封装产品进行检测，携带方便；便于通过第一旋钮控制第一连杆和第二连杆的相对夹角，方便对不同高度的产品进行平整度的检测，增强了该装置的通用性。

实施例3

如图4所示，本实施例3在上述实施例的基础上采用以下方案：第一连杆2与第二连杆3的连接处设有第一旋钮14；第一转头12和第二转头13通过第一旋钮14转动连接；第二连杆3远离第一转头12一端设有第二球体转动接头15；第二球体转动接头15上设有第二卡槽17；安装块4一端设有连接块18；连接块18上设有第二球体17；第二球体17转动连接于第二卡槽17内，安装块4的另一端设有固定孔21；夹持块5的一端伸入固定孔21内；安装块4的侧壁上设有第二旋钮19；第二旋钮19的螺纹端沿着安装块4的侧壁伸入固定孔21内与夹持块5连接，便于调节安装块的位置使得千分表在重力作用下始终贴合于产品的表面，提高平整度的测量精度；便于夹持块的安装与更换，提高该装置的测量范围。

实施例4

如图5所示，本实施例4在上述实施例的基础上采用以下方案：夹持块5一端设有固定柱22；所述固定柱22伸入固定孔21内与第二旋钮19的螺纹端连接，开槽便于对不同直径的千分表进行夹持，提高测量的范围；夹持块5另一端设有开槽24；开槽24沿着夹持块5的长度方向延伸至夹持块5靠近固定柱22一端且将夹持块5分隔成对称的两部分；开槽24的中部设有用于夹持千分表6的夹持槽25；开槽24靠近固定柱22一端对称设有缓冲槽23；夹持块5远离固定柱一端设有夹持齿26；夹持块5的侧壁设有第三旋钮20；第三旋钮20的螺纹端垂直穿过开槽24并将夹持块5对称的两部分螺纹连接在一起，第三旋钮20调节开槽24的宽度，便于千分表6的安装与拆卸，缓冲槽23能避免夹持块5在第三旋钮20作用下开槽24的张合带来压力集中，从而提高夹持块5的使用寿命，夹持齿26使得夹持槽25在夹持过程中更为紧固。

使用时，将电磁装置1安装于铁板上，打开控制开关7，根据实际测量情况调节第一旋钮14调整第一连杆2与第二连杆3的相对夹角，选择相匹配的千分表6，调节第三旋钮20将千分表6固定于夹持块5上，调节第二旋钮19将夹持块5固定于安装块4上，即可对封装产品的平整度进行检测。

当然，以上所述仅表达了本实用新型的某种实施方式，其描述较为详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型。 因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种用于检测封装产品的装置，其特征在于：包括电磁装置（1）、第一连杆（2）、第二连杆（3）、安装块（4）和夹持块（5）；所述第一连杆（2）转动连接于电磁装置（1）的顶部；所述第一连杆（2）远离电磁装置（1）一端与第二连杆（3）的一端转动连接；所述安装块（4）转动连接于第二连杆（3）的另一端；所述安装块（4）远离第二连杆（3）一端活动连接有夹持块（5）；所述夹持块（5）用于夹持千分表（6）；所述千分表（6）用于测量产品的平整度。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述电磁装置（1）的顶部螺纹连接有第一球体（9）；所述第一连杆（2）靠近电磁装置（1）一端设有第一球体转动接头（8）；所述第一球体转动接头（8）上设有第一卡槽（10），所述第一球体（9）转动连接于第一球体转动接头（8）的第一卡槽（10）内。

3.根据权利要求2所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述电磁装置（1）的侧壁上设有控制开关（7）。

4.根据权利要求1所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述第一连杆（2）靠近第二连杆（3）一端设有第二转头（13）；所述第二连杆（3）与第一连杆（2）连接一端设有与第二转头（13）相互配合的第一转头（12）。

5.根据权利要求4所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述第一连杆（2）与第二连杆（3）的连接处设有第一旋钮（14）；所述第一转头（12）和第二转头（13）通过第一旋钮（14）转动连接。

6.根据权利要求3所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述第二连杆（3）远离第一转头（12）一端设有第二球体转动接头（15）；所述第二球体转动接头（15）上设有第二卡槽（16）；所述安装块（4）一端设有连接块（18）；所述连接块（18）上设有第二球体（17）；所述第二球体（17）转动连接于第二卡槽（16）内。

7.根据权利要求5所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述安装块（4）的另一端设有固定孔（21）；所述夹持块（5）的一端伸入固定孔（21）内；所述安装块（4）的侧壁上设有第二旋钮（19）；所述第二旋钮（19）的螺纹端沿着安装块（4）的侧壁伸入固定孔（21）内与夹持块（5）连接。

8.根据权利要求6所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述夹持块（5）一端设有固定柱（22）；所述固定柱（22）伸入固定孔（21）内与第二旋钮（19）的螺纹端连接。

9.根据权利要求8所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述夹持块（5）另一端设有开槽（24）；所述开槽（24）沿着夹持块（5）的长度方向延伸至夹持块（5）靠近固定柱（22）一端且将夹持块（5）分隔成对称的两部分；所述开槽（24）的中部设有用于夹持千分表（6）的夹持槽（25）；所述开槽（24）靠近固定柱（22）一端对称设有缓冲槽（23）；所述夹持块（5）远离固定柱一端设有夹持齿（26）。

10.根据权利要求9所述的一种用于检测封装产品的装置，其特征在于，所述夹持块（5）的侧壁设有第三旋钮（20）；所述第三旋钮（20）的螺纹端垂直穿过开槽（24）并将夹持块（5）对称的两部分螺纹连接在一起。

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