CN210294665U - 一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架 - Google Patents

Abstract

一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，包括支架底座、支撑调节架，支撑调节架包括立架、顶板，立架底部与支架底座滑动连接，可相对于支架底座前后滑动；顶板的一端滑动连接于立架的顶部，可相对于立架左右滑动；读数显微镜通过架套安装于顶板的另一端，顶板上设有安装架套的螺纹通孔，架套外壁设有外螺纹，该架套螺纹连接于螺纹通孔内；读数显微镜下方设有用于夹持试样的左、右可旋式夹持手柄，左、右可旋式夹持手柄分别螺纹旋入左、右侧立板并相向布置。使用时，可对读数显微镜进行前后、左右、上下位置的调节，提高了读数显微镜支架的使用便捷性和准确性，具有广阔的市场空间。

Description

一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架

技术领域

本实用新型属于尺寸测量技术领域，具体涉及一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架。

背景技术

布氏硬度是工业企业、大专院校和科研单位内广泛使用的一种金属硬度测量方法。布氏硬度测量是使用读数显微镜测量出压痕直径，查表得到硬度值。虽然现在的布氏硬度计有配套测量装置的，但价格较高，仍然有大量布氏硬度压痕测量采用传统的和硬度计分离测量的方法。

传统的布氏硬度压痕直径测量是将读数显微镜置于被测试样上，先让标线与压痕一侧相切，并记下此时标线所在位置尺寸数值，转动读数鼓轮，使标线再与压痕的另一侧相切，再记下此时测量刻线所在位置尺寸数值。两数值相减，则测得压痕的直径，再将试样旋转90°测量一次，取两次测量结果平均值得到试样直径。这种方法测量时，存在一些不足：

第一，测量时要求显微镜的底面与工件被测面贴紧且处于同一水平面内，如果试样面较大，读数显微镜可直接置于试样上，但如果试样面较小，则需要寻找夹具等物件来支撑读数显微镜以进行测量，给测量工作带来不便；第二，测量过程中，读数显微镜是直接置于试样或夹具上的，在测试人员操作时 (如转动读数鼓轮)，很容易造成读数显微镜的移动，从而造成测量误差；第三，在学校教学过程中使用时，无法直观指导学生使用。

实用新型内容

为了克服现有的测微目镜测量的不足，本实用新型提供了一种新型的布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，能适用于不同尺寸的试样，提高测量精度，并可直观指导学生使用。

本实用新型的技术方案如下：

一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，其特征是，包括支架底座、支撑调节架，所述支架底座由一块主立板以及左、右侧立板连接形成U型结构，所述支撑调节架包括立架、顶板，所述立架底部与主立板滑动连接，可相对于支架底座前后滑动，所述顶板的一端滑动连接于立架的顶部，可相对于立架左右滑动；

该读数显微镜通过架套安装于顶板的另一端，所述顶板上设有安装架套的螺纹通孔，所述架套外壁设有外螺纹，该架套螺纹连接于螺纹通孔内；所述螺纹通孔下方设有用于夹持试样的左、右可旋式夹持手柄，左、右可旋式夹持手柄分别螺纹旋入左、右侧立板并相向布置。

优选地，所述顶板上设有手机支架，所述手机支架由手机架板、带外螺纹的手机架杆连接而成，所述手机架杆套在顶板中部的通孔内，所述手机架杆上设有螺母，以便调节手机架板的高度，且该螺母置于顶板顶部。

优选地，所述读数显微镜的下方设有放置试样的试样台，该试样台由试样台底座、试样台面构成；所述试样台底座顶部设有螺纹孔，所述试样台面底部设有螺纹柱，所述试样台面通过螺纹柱、螺纹孔与试样台螺纹连接，以便调节试样台面的高度。

优选地，所述试样台面底部的螺纹柱，其顶部侧壁沿径向设有若干小孔。

优选地，所述立架底部设有第一凸块，所述主立板顶部中间位置设有带空腔的立架安装座，所述立架安装座的空腔内设有前后水平方向布置的轴；所述第一凸块置于立架安装座内，并与轴前后滑动连接；所述第一凸块的前后端分别设有调节手柄、复位弹簧，所述调节手柄的尾端螺纹旋入立架安装座内，所述复位弹簧套于轴上。

优选地，所述顶板底部设有第二凸块，所述立架顶部中间位置设有带空腔的顶板安装座，所述顶板安装座的空腔内设有左右水平方向布置的轴；所述第二凸块置于顶板安装座内，并与轴左右滑动连接；所述第二凸块的左右端分别设有调节手柄、复位弹簧，所述调节手柄的尾端螺纹旋入顶板安装座内，所述复位弹簧套于轴上。

优选地，所述顶板下方设有顶板支撑架，顶板支撑架的两端分别与左、右立板相连，其顶部与顶板支撑架的底面接触。

本实用新型的读数显微镜支架，可将读数显微镜插入对应的架套内，通过架套与顶板的螺纹连接结构，来调整读数显微镜的高度（即读数显微镜与试样之间的距离），螺纹连接方式可使读数显微镜平稳上移，有效保证读数显微镜与试样之间的水平对齐状态；顶板可与立架左右滑动，来对读数显微镜进行左右位置的调节（第二凸块在前后方向的长度与顶板安装座空腔尺寸匹配，并可在轴上进行左右方向的滑动，达到读数显微镜左右位移调节）；立架可与主立板前后滑动，来对读数显微镜进行前后位置的调节（第一凸块在左右方向的长度与立架安装座空腔尺寸匹配，并可在轴上进行前后方向的滑动，达到读数显微镜前后位移调节）。在进行前后、左右位移调节时，可螺纹旋动调节手柄，推动第一或第二凸块在对应的轴上滑动；相反方向位移调节时，可反向旋动调节手柄，套于轴上的复位弹簧在弹簧力作用下，推动第一或第二凸块在对应的轴上反向滑动。

本实用新型的读数显微镜支架，在顶板上安装有手机支架，可将手机置于手机架板上，把读数显微镜目镜中看到的图像在手机上显示出来，可直观指导学生使用，当读数显微镜高度调整后，通过旋动手机架杆螺母，来调节手机架的高度，保证手机镜头读数显微镜距离一致，如果不需要，可直接拆下来。

本实用新型的读数显微镜支架，在读数显微镜的下方设置试样台，通过试样台面与试样台底座的螺纹连接结构，可调节放置在试样台面上试样的高度；而左、右可旋式夹持手柄通过与左、右立板的螺纹连接方式，一方面可夹持住试样，另一方面可在左右方向上对试样进行微量调节，即对试样进行平稳移动并固定位置。

本实用新型结构简单合理，生产制造容易，使用时，使读数显微镜的标线与压痕对齐，通过读数显微镜测量压痕直径，可对读数显微镜进行前后、左右、上下位置的调节，提高了读数显微镜支架的使用便捷性和准确性，具有广阔的市场空间。

附图说明

图1为本实用新型的侧视图；

图2为图1中局部放大图；

图3为本实用新型中支架底座的俯视图；

图4为本实用新型中支架底座的主视图；

图5为本实用新型中支架底座的侧视图；

图6为本实用新型中立架侧视图；

图7为本实用新型中立架俯视图；

图8为本实用新型中立架与顶板连接示意图；

图9为本实用新型中顶板的主视图；

图10为本实用新型中顶板的俯视图；

图11为本实用新型中顶板的侧视图；

图12为本实用新型中手机支架的示意图；

图13为本实用新型中架套的示意图；

图14为本实用新型中读数显微镜的示意图；

图15为本实用新型中试样台的示意图；

图中：支架底座1、读数显微镜2、主立板3、左或右侧立板4、立架5、顶板6、第一凸块7、立架安装座8、轴9、调节手柄10、复位弹簧26、第二凸块11、顶板安装座12、轴13、调节手柄14、复位弹簧15、架套16、螺纹通孔17、左或右可旋式夹持手柄18、手机架板19、手机架杆20、试样台21、试样台底座22、试样台面23、螺纹柱24、小孔25、顶板支撑架27、螺丝28、螺母29。

具体实施方式

如图所示，一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，包括支架底座1、放置读数显微镜2的支撑调节架，支架底座由一块主立板3以及左、右侧立板4连接形成U型结构。

支撑调节架包括立架5、顶板6，立架底部与主立板滑动连接，可相对于支架底座前后滑动；顶板的一端滑动连接于立架的顶部，可相对于立架左右滑动。

具体地，立架底部设有第一凸块7，主立板顶部中间位置设有带空腔的立架安装座8，立架安装座的空腔内设有前后水平方向布置的轴9（轴9的两端分别通过螺丝28与立架安装座的空腔内壁固定连接）；第一凸块置于立架安装座内，并与轴前后滑动连接；第一凸块的前后端分别设有调节手柄10、复位弹簧26，调节手柄的尾端螺纹旋入立架安装座内，复位弹簧套于轴上。如图3所示，向后位移调节读数显微镜时，可螺纹旋动调节手柄10，推动第一凸块在对应的轴9上向后滑动；相反方向位移调节时，可反向旋动调节手柄，套于轴上的复位弹簧在弹簧力作用下，推动第一凸块在对应的轴上向前滑动。

具体地，顶板底部设有第二凸块11，立架顶部中间位置设有带空腔的顶板安装座12，顶板安装座的空腔内设有左右水平方向布置的轴13（轴13的两端分别通过螺丝28与顶板安装座的空腔内壁固定连接）；第二凸块置于顶板安装座内，并与轴左右滑动连接；第二凸块的左右端分别设有调节手柄14、复位弹簧15，调节手柄的尾端螺纹旋入顶板安装座内，复位弹簧套于轴上。在进行左右位移调节时，可螺纹旋动调节手柄，推动第二凸块在对应的轴上向右滑动；相反方向位移调节时，可反向旋动调节手柄，套于轴上的复位弹簧在弹簧力作用下，推动第二凸块在对应的轴上向左滑动。

本实用新型中，读数显微镜通过架套16安装于顶板的另一端，顶板上设有安装架套的螺纹通孔17，架套外壁设有外螺纹，该架套螺纹连接于螺纹通孔内。

读数显微镜下方设有用于夹持试样的左、右可旋式夹持手柄18，左、右可旋式夹持手柄分别螺纹旋入左、右侧立板并相对设置。顶板上设有手机支架，手机支架由手机架板19、带外螺纹的手机架杆20连接而成，手机架杆套入顶部中部的通孔内，且手机架杆上设有螺母29以便调节手机架板的高度，螺母置于顶板顶面。顶板下方设有顶板支撑架27，顶板支撑架的两端分别与左、右立板相连，其顶部与顶板支撑架的底面接触，用于支撑顶板，提高顶板的稳定性。

读数显微镜的下方设有放置试样的试样台21，该试样台由试样台底座22、试样台面23构成；试样台底座顶部设有螺纹孔，试样台面底部设有螺纹柱24，试样台面通过螺纹柱、螺纹孔与试样台螺纹连接，以便调节试样台面的高度。

螺纹柱顶部侧壁沿径向设有若干小孔25，若试样台面上放有试样，且试样底面大于试样台面时，不便于旋动试样台面，可利用长轴状物体插入螺纹柱的小孔内旋动试样台面，对试样台面进行高度调节。

本实用新型在使用时，操作步骤如下：

1. 根据试样大小，转动试样台面到适当位置；

2. 将观察试样置于试样台面上；

3. 将试样台面置于读数显微镜底部；

4. 通过转动读数显微镜架套，使读数显微镜中看清试样面；（也可转动试样台面，螺纹柱上的多个小孔，可用于放试样后的转动）

5. 手动移动试样，使压痕处于目镜筒中央；（测量压痕直径时，测一直径后要转90°角再测一次）；

6. 转动支架底座的两夹持手柄，将试样夹紧；

7. 通过转动读数显微镜架套，使目镜中看清压痕；

8. 通过前后、左右的移动，将目镜中标线与压痕对齐；

9. 通过读数显微镜测量压痕直径。

Claims (7)

1.一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，其特征是，包括支架底座、支撑调节架，所述支架底座由一块主立板以及左、右侧立板连接形成U型结构，所述支撑调节架包括立架、顶板，所述立架底部与主立板滑动连接，可相对于支架底座前后滑动，所述顶板的一端滑动连接于立架的顶部，可相对于立架左右滑动；

该读数显微镜通过架套安装于顶板的另一端，所述顶板上设有安装架套的螺纹通孔，所述架套外壁设有外螺纹，该架套螺纹连接于螺纹通孔内；所述螺纹通孔下方设有用于夹持试样的左、右可旋式夹持手柄，左、右可旋式夹持手柄分别螺纹旋入左、右侧立板并相向布置。

2.根据权利要求1所述的一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，其特征是，所述顶板上设有手机支架，所述手机支架由手机架板、带外螺纹的手机架杆连接而成，所述手机架杆套在顶板中部的通孔内，所述手机架杆上设有螺母，以便调节手机架板的高度，且该螺母置于顶板顶部。

3.根据权利要求1所述的一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，其特征是，所述读数显微镜的下方设有放置试样的试样台，该试样台由试样台底座、试样台面构成；所述试样台底座顶部设有螺纹孔，所述试样台面底部设有螺纹柱，所述试样台面通过螺纹柱、螺纹孔与试样台螺纹连接，以便调节试样台面的高度。

4.根据权利要求3所述的一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，其特征是，所述试样台面底部的螺纹柱，其顶部侧壁沿径向设有若干小孔。

5.根据权利要求1所述的一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，其特征是，所述立架底部设有第一凸块，所述主立板顶部中间位置设有带空腔的立架安装座，所述立架安装座的空腔内设有前后水平方向布置的轴；所述第一凸块置于立架安装座内，并与轴前后滑动连接；所述第一凸块的前后端分别设有调节手柄、复位弹簧，所述调节手柄的尾端螺纹旋入立架安装座内，所述复位弹簧套于轴上。

6.根据权利要求1所述的一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，其特征是，所述顶板底部设有第二凸块，所述立架顶部中间位置设有带空腔的顶板安装座，所述顶板安装座的空腔内设有左右水平方向布置的轴；所述第二凸块置于顶板安装座内，并与轴左右滑动连接；所述第二凸块的左右端分别设有调节手柄、复位弹簧，所述调节手柄的尾端螺纹旋入顶板安装座内，所述复位弹簧套于轴上。

7.根据权利要求1所述的一种布氏硬度压痕测量读数显微镜支架，其特征是，所述顶板下方设有顶板支撑架，顶板支撑架的两端分别与左、右立板相连，其顶部与顶板支撑架的底面接触。

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