CN209991921U - 一种用于pwdm器件滤波片的内陷深度检测治具 - Google Patents

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何宇星
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Abstract

本实用新型涉及PWDM器件加工治具技术领域,尤其是涉及一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具,包括治具本体;在所述治具本体上形成有能抵靠于PWDM器件的钢管端部的端面;在所述端面上形成有能从所述钢管端部插入的凸起;所述凸起的高度介于所述滤波片内陷深度的最大值与最小值之间。本发明的发明目的在于提供一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具,采用本发明提供的技术方案解决了现有PWDM器件滤波片的内陷深度的检测方法存在操作复杂、检测效率低以及可视性低的技术问题。

Description

一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具
技术领域
本发明涉及PWDM器件加工治具技术领域,尤其是涉及一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具。
背景技术
PWDM基于成熟的薄膜滤波技术设计,具有平坦的通道带宽、高隔离度、低插损及高环境稳定性和可靠性等特点,其作用为对不同波长进行合成或分离,适用于WDM(波分复用)系统、激光器封装、光纤放大器、CATV(有线电视系统)和FTTH(光纤到户)等领域。
PWDM器件采用空心钢管为壳体,滤波片设置在钢管内,在PWDM产品具体生产过程中,值得注意的是滤波片对钢管端面的内陷深度(以下统称内陷深度)。由于最终要对一个性能合格的PWDM产品封装PD(光电二极管),而封装时需要对其响应度进行监测。若PWDM器件滤波片位置不正确,会导致后续耦合困难,严重时导致产品响应度不合格,影响产品耦合的效率和良率。因此,在生产时需要对成品PWDM器件的滤波片的位置进行严格检测、筛选,请参见图1,其内陷深度的标准范围为0.3mm~0.7mm。
请参见图2,目前对于深度测量的方法主要有目测估计法、卡尺测量法、深度计/高度规测量法。
目测估计法,即不借助任何工具,直接用裸眼观测。此种方法虽然无需考虑任何成本,但其检测结果具有很大缺陷,精准度不高,尤其是对于一些微小距离检测,其可用性不高。
卡尺测量法,主要采用游标卡尺的深度测量功能对器件深度进行测量。此种方法虽然测量精度高,结果准确,但对于一些只需要区分是否在合格深度范围内、不需要测量准确深度值的产品显得操作复杂、检测效率低、可视性低,且检测PWDM器件时需要与滤波片表面直接接触,其本身结构会对滤波片造成一定损坏,影响产品性能。
深度计/高度规测量法,主要采用深度计/高度规对器件深度进行测量。深度计/高度规是专门用来测量深度的一种器具,其与卡尺测量法相比测量精度更高,结果更准确。但对PWDM器件的滤波片对钢管端面的内陷深度的检测区分也存在卡尺测量法同样的缺点。
发明内容
本发明的发明目的在于提供一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具,采用本发明提供的技术方案解决了现有PWDM器件滤波片的内陷深度的检测方法存在操作复杂、检测效率低以及可视性低的技术问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具,包括治具本体;在所述治具本体上形成有能抵靠于PWDM器件的钢管端部的端面;在所述端面上形成有能从所述钢管端部插入的凸起;所述凸起的高度介于所述滤波片内陷深度的最大值与最小值之间。
优选的,所述凸起有两个,且其高度分别为所述滤波片内陷深度的最大值和最小值。
优选的,所述治具本体呈条形,两个所述凸起分别形成于所述治具本体的两端部。
优选的,所述治具本体的端部延伸至所述凸起的部分呈倒角处理。
优选的,在所述治具本体两端部的轴心处开设有孔道。
优选的,所述凸起呈圆台形,且其边缘处呈圆角处理。
由上可知,应用本发明提供的内陷深度检测治具可以得到以下有益效果:本实用新型采用具有固定长度的凸起对滤波片的内陷深度实现检测,用于区分有深度要求且在标准深度范围内、外的产品,操作方法简单、检测速度快、可视性好,适用于大批量制造中产品的合格品检测与区分,并且斜面结构设计,提高了检测时的可视性;整体结构设计简单,便于制造。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对本发明实施例或现有技术的描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一部分实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明PWDM器件中滤波片内陷深度示意图;
图2为本发明现有内陷深度检测方法示意图;
图3为本发明实施例治具本体结构示意图;
图4为本发明实施例检测方法步骤一示意图;
图5为本发明实施例检测方法步骤二示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
为了解决上述技术问题,本实施例提供一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具。在说明本发明实施例之前,先介绍现有PWDM器件滤波片的结构特征,以帮助理解本发明实施例中的相关方案。
PWDM器件采用空心钢管为壳体,滤波片设置在钢管内,滤波片的内陷深度是对PWDM产品的检测参数,因此,在生产时需要对成品PWDM器件的滤波片的位置进行严格检测、筛选。目前对滤波片的内陷深度的检测方法存在操作复杂、检测效率低以及可视性低的技术问题。
为此,本实施例中提供了一种内陷深度检测治具,有别于现有技术,本实施例提供的内陷深度检测治具采用独特的结构特征对用于PWDM器件的滤波片的内陷深度实现检测,用于区分有深度要求且在标准深度范围内、外的产品。具体方案如下:
请参见图3,本实施例提供的一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具,包括治具本体10,该治具本体10的制作材质为质硬且热膨胀系数小的金属或非金属材料,如钢、钨钢、陶瓷、玻璃等。
在治具本体10上形成有能抵靠于PWDM器件的钢管端部的端面,在端面上形成有能从钢管端部插入的凸起,凸起的高度介于滤波片内陷深度的最大值与最小值之间。
由于特定标准的PWDM器件的滤波片内陷深度存在标准深度范围,可通过改变凸起的高度参数,实现对各种深度范围的检测。在本实施例中,以内陷深度的标准范围为0.3mm~0.7mm的PWDM器件为例做详细说明。
基于上述标准范围的PWDM器件,本实施例提供的内陷深度检测治具的凸起有两个,且其高度分别为滤波片内陷深度的最大值和最小值,即两个凸起的高度分别为0.3mm和0.7mm,其中高度为0.3mm的凸起为第一凸起11,高度为0.7mm的凸起为第二凸起12。并且凸起呈圆台形,且其边缘处呈圆角处理;凸起部分的外直径为标准2.5mm,能够与内径2.8mm的PWDM器件钢管契合;凸起部分的空心内直径为标准1.0mm,内外直径相差1.5mm,可以使其突出部分截面与PWDM器件的滤波片端面更好的接触,既降低了检测误差,又避免了接触时对滤波片通光区的损坏。
为了便于在检测过程中对检测结果实现可视化,本实施例在治具本体10的端部延伸至凸起的部分呈倒角13处理,在治具本体10两端部的轴心处开设有孔道14。倒角13形成斜面,与孔道14组合形成可视窗。
请参见图4-5,具体检测方法如下所示:
步骤一、将治具本体10上的第一凸起11水平缓慢地插入PWDM器件钢管的一端,观察治具与钢管端面之间的接触情况,同时通过治具斜面及空心部分观察第一凸起11与滤波片之间的接触情况。
若第一凸起11接触滤波片,治具未接触钢管端面,则可判定此器件内陷深度小于0.3mm;若第一凸起11接触滤波片,治具也接触钢管端面,则可判定此器件内陷深度等于0.3mm;若第一凸起11未接触滤波片,而治具接触钢管端面,则可判定此器件内陷深度大于0.3mm。
步骤二、将治具本体10上的第二凸起12水平缓慢地插入PWDM器件钢管的一端,观察治具与钢管端面之间的接触情况,同时通过治具斜面及空心部分观察第二凸起12与滤波片之间的接触情况。
若第二凸起12接触滤波片,治具未接触钢管端面,则可判定此器件内陷深度大于0.3mm,小于0.7mm;若第二凸起12接触滤波片,治具也接触钢管端面,则可判定此器件内陷深度等于0.7mm;若第二凸起12未接触滤波片,而治具接触钢管端面,则可判定此器件内陷深度大于0.7mm。
综上,本实施例提供的内陷深度检测治具,其两检测端做斜面处理,给检测的同时提供一种内部接触可视的状态;特定突出长度设计,用于区分不同的深度范围;斜面结构设计,提高了检测时的可视性;空心设计,降低对待测物接触表面的损坏;操作方法简单、检测速度快、可视性好,适用于大批量制造中产品的合格品检测与区分。
实施例2
本实施例提供的一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具,包括治具本体10,同样在治具本体10上形成有能抵靠于PWDM器件的钢管端部的端面,在端面上形成有能从钢管端部插入的凸起,凸起的高度介于滤波片内陷深度的最大值与最小值之间。
为了便于工作人员手持治具对滤波片的内陷深度进行检测,本实施例治具本体10呈条形,两个凸起分别形成于治具本体10的两端部。其中条形的治具本体10可以但不限于直线型、L字形、U字形或S形。
实施例3
本实施例提供的一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具,包括治具本体10,同样在治具本体10上形成有能抵靠于PWDM器件的钢管端部的端面,在端面上形成有能从钢管端部插入的凸起,凸起的高度介于滤波片内陷深度的最大值与最小值之间。
由于器件本身尺寸较小,容易丢失,作为技术方案的进一步改进,本实施例在治具本体10上开设有挂绳孔15,用于将治具绑定于工作岗位,避免丢失。
以上所述的实施方式,并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在该技术方案的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具,其特征在于:包括治具本体;在所述治具本体上形成有能抵靠于PWDM器件的钢管端部的端面;在所述端面上形成有能从所述钢管端部插入的凸起;所述凸起的高度介于所述滤波片内陷深度的最大值与最小值之间。
2.根据权利要求1所述的内陷深度检测治具,其特征在于:所述凸起有两个,且其高度分别为所述滤波片内陷深度的最大值和最小值。
3.根据权利要求2所述的内陷深度检测治具,其特征在于:所述治具本体呈条形,两个所述凸起分别形成于所述治具本体的两端部。
4.根据权利要求3所述的内陷深度检测治具,其特征在于:所述治具本体的端部延伸至所述凸起的部分呈倒角处理。
5.根据权利要求4所述的内陷深度检测治具,其特征在于:在所述治具本体两端部的轴心处开设有孔道。
6.根据权利要求5所述的内陷深度检测治具,其特征在于:所述凸起呈圆台形,且其边缘处呈圆角处理。
7.根据权利要求3-6中任一项所述的内陷深度检测治具,其特征在于:所述治具本体呈直线型、L字形、U字形或S形。
8.根据权利要求7所述的内陷深度检测治具,其特征在于:所述滤波片的内陷深度介于0.3mm与0.7mm之间。
9.根据权利要求8所述的内陷深度检测治具,其特征在于:在所述治具本体上开设有挂绳孔。
10.根据权利要求9所述的内陷深度检测治具,其特征在于:所述治具本体的制作材质为质硬且热膨胀系数小的金属或非金属材料。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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