CN102087086B - 大批量检测磁瓦的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种大批量检测磁瓦的方法,它通过制作上、下限尺寸检具,两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以及倒角平面,两检具的弧形拱高半径及弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同,弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺寸相同,两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸,上、下限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长分别与磁瓦的上、下限弧长相同;将磁瓦分别置于两检具上,通过观测磁瓦与检具的间隙来判断磁瓦是否合格;本发明可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧的半径、弧长和拱高误差是否符合要求,并提高了检测速度,具有操作误差小、可重覆性好、检测效率高的优点,保证了检测结果的准确性。

Description

大批量检测磁瓦的方法
技术领域
   本发明涉及一种大批量检测磁瓦的方法。
背景技术
磁瓦广泛用于永磁直流电机中,其形状如图1所示,磁瓦1为弧形的瓦片状,包括内外弧面、两端的呈90°夹角的斜面和两端的倒角平面,磁瓦的尺寸和形位精度要求较高,其中内弧的半径和弧长、内弧的拱高、磁瓦两端斜面所决定的弧长与磁瓦的安装紧密相关,决定了磁瓦与安装件的中心距和各磁瓦之间的间隙,最为关键;而目前常用的磁瓦的检测方法,如图2所示,用两个带90°夹角V形槽的检具2和3,两检具2和3的夹角交点的高度差H即为安装时的中心距中限尺寸,将磁瓦1先后平放于两检具2和3上,磁瓦1的两斜面与检具2或3的V形槽的两斜面接触,在磁瓦1的中心用百分表4测量出中心距的偏移量r1和r2,然后用r1减r2的绝对值r3与理论计算的上、下限值进行比较,从而判定磁瓦是否合格。
但该检测方法的缺点是:人为操作误差大、可重覆性差、检测效率低,特别是磁瓦1在检具上不易放平(如虚线所示),使得磁瓦1的中心点不是其最高点;百分表不易对准磁瓦中心,导致检测出现误差,特别是在大批量检测时,要求检测速度较快,难以仔细摆放磁瓦1;同时仅对磁瓦1的中心点进行检测,无法判断磁瓦厚度误差对安装的影响,影响了检测结果的准确性。
发明内容
   本发明的目的是针对现有技术存在的上述不足,提供一种用于大批量检测磁瓦的方法,它不仅可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧的半径、弧长和拱高误差是否符合要求,并具有操作误差小、可重覆性好、检测效率高的优点,保证了检测结果的准确性。
为达到上述目的,本发明的大批量检测磁瓦的方法,包括以下步骤:1)制作检具:制作一上限尺寸检具和一下限尺寸检具,两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以及连接弧形拱高每端部与对应斜面端部的倒角平面,两检具的弧形拱高半径及弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同,弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺寸相同,两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸,上限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的上限弧长相同,下限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的下限弧长相同;2)下限尺寸检具检测:将磁瓦的一斜面向下紧贴下限尺寸检具的对应斜面,观测磁瓦的另一斜面与下限尺寸检具的对应斜面是否有间隙,如有间隙,表示该磁瓦不合格;如无间隙,则继续观测磁瓦的倒角平面与该检具的倒角平面之间、以及磁瓦的内弧与检具的弧形拱高之间是否均有间隙,如均有间隙,该磁瓦通过本步骤;如二者之一无间隙,表示该磁瓦不合格;3)上限尺寸检具检测:将通过步骤2)的磁瓦的一端斜面向下紧贴上限尺寸检具的对应斜面,观测磁瓦的另一斜面与该检具的对应斜面是否有间隙,如无间隙,表示该磁瓦不合格;如有间隙,则继续观测:若磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间有间隙、磁瓦的内弧中部与检具的弧形拱高无间隙,则表明该磁瓦最终合格;如观测到磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间无间隙,或磁瓦的内弧中部与检具的弧形拱高之间有间隙,则表明该磁瓦均不合格。
本发明不仅可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧的半径、弧长和拱高误差是否符合要求,由于磁瓦可在检具上快速放平,既提高了检测速度,并具有操作误差小、可重覆性好、检测效率高的优点,保证了检测结果的准确性。
附图说明
图1为磁瓦的主视图。
图2为现有检测磁瓦工作状态的主视图。
图3为实施本发明检测状态一的主视图。
图4为实施本发明检测状态二的主视图。
图5为实施本发明检测状态三的主视图。
图6为实施本发明检测状态四的主视图。
图7为实施本发明检测状态五的主视图。
图8为实施本发明检测状态六的主视图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细的说明。
如图3至图8所示,该大批量检测磁瓦的方法,包括以下步骤:1)制作检具:制作一上限尺寸检具6和一下限尺寸检具7,两检具均包括中心的弧形拱高8、两侧呈90°夹角的斜面6b或7b、以及连接弧形拱高8每端部与对应斜面端部的倒角平面6a或7a,两检具的弧形拱高8的半径及弧长均与需检测磁瓦1的内弧下限尺寸相同,弧形拱高8的高度均与需检测的磁瓦1的内弧拱高高度上限尺寸相同,两检具6和7的倒角平面6a或7a长度均取磁瓦1倒角平面长度的下限尺寸,上限尺寸检具6两侧呈90°夹角的斜面6b与弧形拱高8所决定的弧长与需检测磁瓦1的上限弧长相同,下限尺寸检具7两侧呈90°夹角的斜面7b与弧形拱高8所决定的弧长与需检测磁瓦1的下限弧长相同;2)下限尺寸检具检测:如图3、图4和图5所示,将磁瓦1的右斜面向下紧贴下限尺寸检具7的右斜面7b,通过目测或一定规格的塞尺观测磁瓦1的左斜面与下限尺寸检具7的左斜面是否有间隙,如有间隙,如图3所示,表示磁瓦1与安装部件的中心距过大,磁瓦1的弧长过小,该磁瓦不合格,可终止对该磁瓦的检测;如无间隙,表示磁瓦1与安装部件的中心距符合上限要求,则继续观测磁瓦1的倒角平面与该检具的倒角平面7a之间、以及磁瓦1的内弧与检具的弧形拱高8之间是否均有间隙,如均有间隙,如图4所示,该磁瓦通过本步骤;如磁瓦1的倒角平面与该检具的倒角平面7a之间无间隙,如图5所示,表示磁瓦1的内弧拱高过大,如磁瓦1的内弧与检具的弧形拱高8之间无间隙,表示磁瓦1的内弧弧长过短,该磁瓦1均不合格;3)上限尺寸检具检测:如图6、图7和图8所示,将通过步骤2)的磁瓦1的左斜面向下紧贴上限尺寸检具6的左斜面6b,通过目测或一定规格的塞尺观测磁瓦1的右斜面与该检具6的右斜面是否有间隙,如无间隙,如图6所示,表示磁瓦1与安装部件的中心距过小,磁瓦1的弧长过大,该磁瓦1不合格,可终止对该磁瓦1的检测;如有间隙,表示磁瓦1与安装部件的中心距符合下限要求,则继续观测:若磁瓦1的倒角平面与检具6的倒角平面之间有间隙、磁瓦1的内弧中部与检具6的弧形拱高无间隙,则表明该磁瓦最终合格;如观测到磁瓦1的倒角平面与检具6的倒角平面之间无间隙,表示磁瓦1的内弧拱高过大,或磁瓦1的内弧中部与检具6的弧形拱高之间有间隙,表示磁瓦1的内弧半径过小,则表明该磁瓦均不合格。
本发明不仅可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧、拱高误差是否符合要求,以满足安装的需要;由于磁瓦可在检具上快速放平,既提高了检测速度,并具有操作误差小、可重覆性好、检测效率高的优点,保证了检测结果的准确性。 

Claims (1)

1.一种大批量检测磁瓦的方法,其特征在于包括以下步骤:1)制作检具:制作一上限尺寸检具和一下限尺寸检具,两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以及连接弧形拱高每端部与对应斜面端部的倒角平面,两检具的弧形拱高半径及弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同,弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺寸相同,两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸,上限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的上限弧长相同,下限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的下限弧长相同;2)下限尺寸检具检测:将磁瓦的一斜面向下紧贴下限尺寸检具的对应斜面,观测磁瓦的另一斜面与下限尺寸检具的对应斜面是否有间隙,如有间隙,表示该磁瓦不合格;如无间隙,则继续观测磁瓦的倒角平面与该检具的倒角平面之间、以及磁瓦的内弧与检具的弧形拱高之间是否均有间隙,如均有间隙,该磁瓦通过本步骤;如二者之一无间隙,表示该磁瓦不合格;3)上限尺寸检具检测:将通过步骤2)的磁瓦的一端斜面向下紧贴上限尺寸检具的对应斜面,观测磁瓦的另一斜面与该检具的对应斜面是否有间隙,如无间隙,表示该磁瓦不合格;如有间隙,则继续观测:若磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间有间隙、磁瓦的内弧中部与检具的弧形拱高无间隙,则表明该磁瓦最终合格;如观测到磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间无间隙,或磁瓦的内弧中部与检具的弧形拱高之间有间隙,则表明该磁瓦均不合格。
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