CN209894848U - 一种芯片测试辅助装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 43
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 40
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims abstract description 15
- 230000008093 supporting effect Effects 0.000 claims description 18
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 6
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract description 5
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试附属装置的技术领域，特别是涉及一种芯片测试辅助装置，其方便对芯片进行拆装，提高使用可靠性；并且可以对芯片进行去静电操作，避免芯片由于静电吸附空气中的灰尘，保证测试的精度，提高实用性；包括检测箱、驱动电机、减速箱、转盘、支柱、连接杆、压缩弹簧、推杆、支杆、转轴和四组支腿，检测箱的内部设置有工作腔，检测箱的前端设置有取放口，转盘顶端的左端、右端、前端和后端均设置有定位槽，并在定位槽内安装有定位装置，定位槽内均设置有上下贯通的通孔，还包括检测装置、固定板、万向轮、四组弧形凸起和除静电装置，除静电装置包括两组螺纹管、两组螺纹杆、安装板、离子风扇和两组第一滚珠轴承。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试附属装置的技术领域，特别是涉及一种芯片测试辅助装置。
背景技术
众所周知，芯片测试辅助装置是一种用于芯片生产加工过程中，对芯片进行测试的辅助装置，其在电子产品加工的领域中得到了广泛的使用；现有的芯片测试辅助装置包括检测台，检测台的顶端设置有放置台，并在放置台上设置有定位槽，检测台的顶端设置有门型支架，并在门型支架的底端安装有检测端子，检测端子位于定位槽的正上方；现有的芯片测试辅助装置使用时，将芯片置于定位槽内，然后通过检测端子对芯片进行检测即可；现有的芯片测试辅助装置使用中发现，其不方便对芯片进行拆装，导致使用可靠性较低；并且芯片上的静电会吸附空气中的灰尘，从而对测试的精度造成影响，导致实用性较低。
发明内容
为解决上述技术问题，本实用新型提供一种方便对芯片进行拆装，提高使用可靠性；并且可以对芯片进行去静电操作，避免芯片由于静电吸附空气中的灰尘，保证测试的精度，提高实用性的芯片测试辅助装置。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，包括检测箱、驱动电机、减速箱、转盘、支柱、连接杆、压缩弹簧、推杆和支杆，检测箱底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有支腿，并在检测箱的内部设置有工作腔，检测箱的前端设置有取放口，所述驱动电机和减速箱均安装于检测箱的底端，并且减速箱位于驱动电机的输出端，并在减速箱的顶部输出端设置有转轴，所述转轴的顶端自检测箱的底端伸入至工作腔内并与转盘的底端中部连接，所述转盘顶端的左端、右端、前端和后端均设置有定位槽，并在定位槽内安装有定位装置，工作腔内顶壁的后端设置有检测装置，所述检测装置位于后端所述定位装置的正上方，所述支柱的底端与工作腔的内底壁左侧连接，支柱的顶端与连接杆底端的偏右位置可转动连接，支柱的右端设置有固定板，所述压缩弹簧的顶端与连接杆的底端连接，压缩弹簧的底端与固定板的顶端连接，所述支杆的底端与连接杆的右端连接，并在支杆的顶端设置有万向轮，转盘的底端均匀设置有四组弧形凸起，所述四组弧形凸起分别位于四组定位槽的内侧，最左端一组弧形凸起的底端与万向轮的顶端贴紧，四组定位槽内均设置有上下贯通的通孔，所述推杆的底端与连接杆的左端连接，推杆的顶端自转盘的底端穿过一组所述通孔并伸入至左端一组所述定位槽内；还包括除静电装置，所述除静电装置安装于工作腔的内顶壁上，并且除静电装置位于最右端一组定位装置的正上方，除静电装置包括两组螺纹管、两组螺纹杆、安装板和离子风扇，工作腔的内顶壁上设置有两组安装槽，并在两组安装槽内均固定安装有第一滚珠轴承，所述两组螺纹管的底端分别插入至两组第一滚珠轴承内部，所述两组螺纹杆的底端分别与安装板顶端的左侧和右侧连接，两组螺纹杆的顶端分别插入并螺装至两组螺纹管的底端内部，所述离子风扇安装于安装板的底端，并且离子风扇的输出端竖直向下。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，所述定位装置包括两组调节螺杆、第一夹板和第二夹板，所述定位槽的朝向转盘圆心的一端设置有两组第一放置槽，并在两组第一放置槽内均安装有第二滚珠轴承，定位槽远离转盘圆心的一端设置有两组第二放置槽，并在两组第二放置槽内均安装有第三滚珠轴承，所述两组调节螺杆邻近转盘圆心一端的外侧均设置有第一外螺纹结构，两组调节螺杆远离转盘圆心一端的外侧均设置有第二外螺纹结构，所述第一夹板的两端均设置有第一螺纹孔，所述第二夹板的两端均设置有第二螺纹孔，两组调节螺杆邻近转盘圆心的一端分别螺装穿过两组第一螺纹孔并分别插入至两组第二滚珠轴承内部，两组调节螺杆远离转盘圆心的一端分别螺装穿过两组第二螺纹孔并分别插入至两组第三滚珠轴承内部，第一夹板背向转盘圆心的一侧以及第二夹板朝向转盘圆心的一侧均设置有固定槽。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，所述通孔为以转盘为圆心的弧形结构。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，所述压缩弹簧始终处于压缩状态。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，所述推杆为橡胶材质。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，所述万向轮的顶端与弧形凸起分离时，所述推杆的顶端向下移动至转盘的下方。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，所述驱动电机带动转盘每次旋转90°。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，还包括三组支撑杆和三组支撑轮，所述三组支撑杆的一端均与转轴的外侧连接，三组支撑杆的另一端均向下倾斜并分别与三组支撑轮连接，所述三组支撑轮的底端均与工作腔的内底壁接触。
与现有技术相比本实用新型的有益效果为：将芯片置于定位槽内，通过定位装置对芯片进行定位即可，通过驱动电机带动转轴转动，转盘带动转盘旋转90°将芯片旋转至离子风扇的正下方，通过离子风扇去除芯片上的静电，然后驱动电机带动转盘再次旋转90°，使芯片旋转至检测装置的正下方，对芯片进行检测，检测后驱动电机再次带动转盘旋转90°，使芯片移动至左端，万向轮与转盘底端的弧形凸起配合，使连接杆倾斜，从而使推杆通过通孔伸入至定位槽内，将定位槽的的芯片顶出，方便对芯片进行拆装，提高使用可靠性；并且可以对芯片进行去静电操作，避免芯片由于静电吸附空气中的灰尘，保证测试的精度，通过手动转动两组螺纹管，通过螺纹管与螺纹杆的配合，方便对离子风扇的高度进行调节，提高实用性。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图；
图2是本实用新型图1的A处局部放大结构示意图；
图3是本实用新型转盘的俯视结构示意图；
附图中标记：1、检测箱；2、驱动电机；3、减速箱；4、转盘；5、支柱；6、连接杆；7、压缩弹簧；8、推杆；9、支杆；10、支腿；11、转轴；12、定位槽；13、检测装置；14、固定板；15、万向轮；16、弧形凸起；17、通孔；18、螺纹管；19、螺纹杆；20、安装板；21、离子风扇；22、第一滚珠轴承；23、调节螺杆；24、第一夹板；25、第二夹板；26、第二滚珠轴承；27、第三滚珠轴承；28、固定槽；29、支撑杆；30、支撑轮。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
如图1至图3所示，本实用新型的一种芯片测试辅助装置，包括检测箱1、驱动电机2、减速箱3、转盘4、支柱5、连接杆6、压缩弹簧7、推杆8和支杆9，检测箱1底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有支腿10，并在检测箱1的内部设置有工作腔，检测箱1的前端设置有取放口，驱动电机2和减速箱3均安装于检测箱1的底端，并且减速箱3位于驱动电机2的输出端，并在减速箱3的顶部输出端设置有转轴11，转轴11的顶端自检测箱1的底端伸入至工作腔内并与转盘4的底端中部连接，转盘4顶端的左端、右端、前端和后端均设置有定位槽12，并在定位槽12内安装有定位装置，工作腔内顶壁的后端设置有检测装置13，检测装置13位于后端定位装置的正上方，支柱5的底端与工作腔的内底壁左侧连接，支柱5的顶端与连接杆6底端的偏右位置可转动连接，支柱5的右端设置有固定板14，压缩弹簧7的顶端与连接杆6的底端连接，压缩弹簧7的底端与固定板14的顶端连接，支杆9的底端与连接杆6的右端连接，并在支杆9的顶端设置有万向轮15，转盘4的底端均匀设置有四组弧形凸起16，四组弧形凸起16分别位于四组定位槽12的内侧，最左端一组弧形凸起16的底端与万向轮15的顶端贴紧，四组定位槽12内均设置有上下贯通的通孔17，推杆8的底端与连接杆6的左端连接，推杆8的顶端自转盘4的底端穿过一组通孔17并伸入至左端一组定位槽12内；还包括除静电装置，除静电装置安装于工作腔的内顶壁上，并且除静电装置位于最右端一组定位装置的正上方，除静电装置包括两组螺纹管18、两组螺纹杆19、安装板20和离子风扇21，工作腔的内顶壁上设置有两组安装槽，并在两组安装槽内均固定安装有第一滚珠轴承22，两组螺纹管18的底端分别插入至两组第一滚珠轴承22内部，两组螺纹杆19的底端分别与安装板20顶端的左侧和右侧连接，两组螺纹杆19的顶端分别插入并螺装至两组螺纹管18的底端内部，离子风扇21安装于安装板20的底端，并且离子风扇21的输出端竖直向下；将芯片置于定位槽内，通过定位装置对芯片进行定位即可，通过驱动电机带动转轴转动，转盘带动转盘旋转90°将芯片旋转至离子风扇的正下方，通过离子风扇去除芯片上的静电，然后驱动电机带动转盘再次旋转90°，使芯片旋转至检测装置的正下方，对芯片进行检测，检测后驱动电机再次带动转盘旋转90°，使芯片移动至左端，万向轮与转盘底端的弧形凸起配合，使连接杆倾斜，从而使推杆通过通孔伸入至定位槽内，将定位槽的的芯片顶出，方便对芯片进行拆装，提高使用可靠性；并且可以对芯片进行去静电操作，避免芯片由于静电吸附空气中的灰尘，保证测试的精度，通过手动转动两组螺纹管，通过螺纹管与螺纹杆的配合，方便对离子风扇的高度进行调节，提高实用性。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，定位装置包括两组调节螺杆23、第一夹板24和第二夹板25，定位槽12的朝向转盘4圆心的一端设置有两组第一放置槽，并在两组第一放置槽内均安装有第二滚珠轴承26，定位槽12远离转盘4圆心的一端设置有两组第二放置槽，并在两组第二放置槽内均安装有第三滚珠轴承27，两组调节螺杆23邻近转盘4圆心一端的外侧均设置有第一外螺纹结构，两组调节螺杆23远离转盘4圆心一端的外侧均设置有第二外螺纹结构，第一夹板24的两端均设置有第一螺纹孔，第二夹板25的两端均设置有第二螺纹孔，两组调节螺杆23邻近转盘4圆心的一端分别螺装穿过两组第一螺纹孔并分别插入至两组第二滚珠轴承26内部，两组调节螺杆23远离转盘4圆心的一端分别螺装穿过两组第二螺纹孔并分别插入至两组第三滚珠轴承27内部，第一夹板24背向转盘4圆心的一侧以及第二夹板25朝向转盘4圆心的一侧均设置有固定槽28；通过转动两组调节螺杆，通过第一外螺纹结构与第一螺纹孔的配合以及第二外螺纹结构与第二螺纹孔的配合，使第一夹板和第二夹板相向或者相背移动，从而对定位槽的大小进行调节，方便对不同大小的芯片进行定位，提高实用性。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，通孔17为以转盘4为圆心的弧形结构；方便推杆通过通孔进入定位槽内。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，压缩弹簧7始终处于压缩状态。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，推杆8为橡胶材；材质柔软，方便将芯片推出，且不会对芯片造成损坏。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，万向轮15的顶端与弧形凸起16分离时，推杆8的顶端向下移动至转盘4的下方。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，驱动电机2带动转盘4每次旋转90°；保证可以连续的对芯片进行检测。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，还包括三组支撑杆29和三组支撑轮30，三组支撑杆29的一端均与转轴11的外侧连接，三组支撑杆29的另一端均向下倾斜并分别与三组支撑轮30连接，三组支撑轮30的底端均与工作腔的内底壁接触；通过三组支撑杆和三组支撑轮提高对转轴以及转盘的支撑效果，提高转盘旋转时的稳定性。
本实用新型的一种芯片测试辅助装置，其在工作时，在完成上述动作之前，首先将其移动到用户需要的位置，将芯片置于定位槽内，通过定位装置对芯片进行定位即可，通过驱动电机带动转轴转动，转盘带动转盘旋转90°将芯片旋转至离子风扇的正下方，通过离子风扇去除芯片上的静电，然后驱动电机带动转盘再次旋转90°，使芯片旋转至检测装置的正下方，对芯片进行检测，检测后驱动电机再次带动转盘旋转90°，使芯片移动至左端，万向轮与转盘底端的弧形凸起配合，使连接杆倾斜，从而使推杆通过通孔伸入至定位槽内，将定位槽的的芯片顶出，方便对芯片进行拆装，提高使用可靠性；并且可以对芯片进行去静电操作，避免芯片由于静电吸附空气中的灰尘，保证测试的精度，通过手动转动两组螺纹管，通过螺纹管与螺纹杆的配合，方便对离子风扇的高度进行调节，提高实用性，通过转动两组调节螺杆，通过第一外螺纹结构与第一螺纹孔的配合以及第二外螺纹结构与第二螺纹孔的配合，使第一夹板和第二夹板相向或者相背移动，从而对定位槽的大小进行调节，方便对不同大小的芯片进行定位，提高实用性，推杆材质柔软，方便将芯片推出，且不会对芯片造成损坏，通过三组支撑杆和三组支撑轮提高对转轴以及转盘的支撑效果，提高转盘旋转时的稳定性。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (8)
1.一种芯片测试辅助装置，其特征在于，包括检测箱（1）、驱动电机（2）、减速箱（3）、转盘（4）、支柱（5）、连接杆（6）、压缩弹簧（7）、推杆（8）和支杆（9），检测箱（1）底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有支腿（10），并在检测箱（1）的内部设置有工作腔，检测箱（1）的前端设置有取放口，所述驱动电机（2）和减速箱（3）均安装于检测箱（1）的底端，并且减速箱（3）位于驱动电机（2）的输出端，并在减速箱（3）的顶部输出端设置有转轴（11），所述转轴（11）的顶端自检测箱（1）的底端伸入至工作腔内并与转盘（4）的底端中部连接，所述转盘（4）顶端的左端、右端、前端和后端均设置有定位槽（12），并在定位槽（12）内安装有定位装置，工作腔内顶壁的后端设置有检测装置（13），所述检测装置（13）位于后端所述定位装置的正上方，所述支柱（5）的底端与工作腔的内底壁左侧连接，支柱（5）的顶端与连接杆（6）底端的偏右位置可转动连接，支柱（5）的右端设置有固定板（14），所述压缩弹簧（7）的顶端与连接杆（6）的底端连接，压缩弹簧（7）的底端与固定板（14）的顶端连接，所述支杆（9）的底端与连接杆（6）的右端连接，并在支杆（9）的顶端设置有万向轮（15），转盘（4）的底端均匀设置有四组弧形凸起（16），所述四组弧形凸起（16）分别位于四组定位槽（12）的内侧，最左端一组弧形凸起（16）的底端与万向轮（15）的顶端贴紧，四组定位槽（12）内均设置有上下贯通的通孔（17），所述推杆（8）的底端与连接杆（6）的左端连接，推杆（8）的顶端自转盘（4）的底端穿过一组所述通孔（17）并伸入至左端一组所述定位槽（12）内；还包括除静电装置，所述除静电装置安装于工作腔的内顶壁上，并且除静电装置位于最右端一组定位装置的正上方，除静电装置包括两组螺纹管（18）、两组螺纹杆（19）、安装板（20）和离子风扇（21），工作腔的内顶壁上设置有两组安装槽，并在两组安装槽内均固定安装有第一滚珠轴承（22），所述两组螺纹管（18）的底端分别插入至两组第一滚珠轴承（22）内部，所述两组螺纹杆（19）的底端分别与安装板（20）顶端的左侧和右侧连接，两组螺纹杆（19）的顶端分别插入并螺装至两组螺纹管（18）的底端内部，所述离子风扇（21）安装于安装板（20）的底端，并且离子风扇（21）的输出端竖直向下。
2.如权利要求1所述的一种芯片测试辅助装置，其特征在于，所述定位装置包括两组调节螺杆（23）、第一夹板（24）和第二夹板（25），所述定位槽（12）的朝向转盘（4）圆心的一端设置有两组第一放置槽，并在两组第一放置槽内均安装有第二滚珠轴承（26），定位槽（12）远离转盘（4）圆心的一端设置有两组第二放置槽，并在两组第二放置槽内均安装有第三滚珠轴承（27），所述两组调节螺杆（23）邻近转盘（4）圆心一端的外侧均设置有第一外螺纹结构，两组调节螺杆（23）远离转盘（4）圆心一端的外侧均设置有第二外螺纹结构，所述第一夹板（24）的两端均设置有第一螺纹孔，所述第二夹板（25）的两端均设置有第二螺纹孔，两组调节螺杆（23）邻近转盘（4）圆心的一端分别螺装穿过两组第一螺纹孔并分别插入至两组第二滚珠轴承（26）内部，两组调节螺杆（23）远离转盘（4）圆心的一端分别螺装穿过两组第二螺纹孔并分别插入至两组第三滚珠轴承（27）内部，第一夹板（24）背向转盘（4）圆心的一侧以及第二夹板（25）朝向转盘（4）圆心的一侧均设置有固定槽（28）。
3.如权利要求2所述的一种芯片测试辅助装置，其特征在于，所述通孔（17）为以转盘（4）为圆心的弧形结构。
4.如权利要求3所述的一种芯片测试辅助装置，其特征在于，所述压缩弹簧（7）始终处于压缩状态。
5.如权利要求4所述的一种芯片测试辅助装置，其特征在于，所述推杆（8）为橡胶材质。
6.如权利要求5所述的一种芯片测试辅助装置，其特征在于，所述万向轮（15）的顶端与弧形凸起（16）分离时，所述推杆（8）的顶端向下移动至转盘（4）的下方。
7.如权利要求6所述的一种芯片测试辅助装置，其特征在于，所述驱动电机（2）带动转盘（4）每次旋转90°。
8.如权利要求7所述的一种芯片测试辅助装置，其特征在于，还包括三组支撑杆（29）和三组支撑轮（30），所述三组支撑杆（29）的一端均与转轴（11）的外侧连接，三组支撑杆（29）的另一端均向下倾斜并分别与三组支撑轮（30）连接，所述三组支撑轮（30）的底端均与工作腔的内底壁接触。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201920369166.9U CN209894848U (zh) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | 一种芯片测试辅助装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201920369166.9U CN209894848U (zh) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | 一种芯片测试辅助装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN209894848U true CN209894848U (zh) | 2020-01-03 |
Family
ID=68997723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201920369166.9U Expired - Fee Related CN209894848U (zh) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | 一种芯片测试辅助装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN209894848U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112512195A (zh) * | 2020-11-18 | 2021-03-16 | 深圳市中明科技股份有限公司 | 一种消除芯片静电的装置 |
-
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- 2019-03-20 CN CN201920369166.9U patent/CN209894848U/zh not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112512195A (zh) * | 2020-11-18 | 2021-03-16 | 深圳市中明科技股份有限公司 | 一种消除芯片静电的装置 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20200103 |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |