CN209823101U - 倍频组件调试装置及激光器 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及固体激光器技术领域，尤其是涉及一种倍频组件调试装置及激光器。倍频组件调试装置包括连接座和调节件；连接座与倍频晶体座的连接部相连接，倍频晶体座用于放置倍频晶体并转动连接于倍频大底座上；调节件包括固定端和伸缩端，调节件固定设置于连接件的侧部，通过调节件的伸缩端的伸长或缩短，能够施力于连接座，以推动或拉动连接座和倍频晶体座发生偏转，从而带动倍频晶体座上的倍频晶体发生偏转，改变倍频晶体的俯仰角，并通过精确调节伸缩端伸长或缩短的长度，能够精确调节连接座和倍频晶体偏转的角度。同时，通过调节件的伸缩端也能够对倍频晶体座进行定位，保证倍频晶体在工作过程中不会发生偏转而影响倍频组件的正常工作。

Description

倍频组件调试装置及激光器

技术领域

本实用新型涉及固体激光器技术领域，尤其是涉及一种倍频组件调试装置及激光器。

背景技术

现有的倍频应用技术，通常采用调节倍频晶体的俯仰角和改变倍频晶体的温度优化输出的光功率。现有固体激光器制造商大部分通过使用工具或者夹具进行摆动倍频晶体的俯仰角来调试输出功率，由于基本是依靠手法去进行调试，无法将倍频晶体非常精密的优化到最佳俯仰角。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种倍频组件调试装置及激光器，以在一定程度上解决现有技术中倍频晶体的俯仰角调节精度差的技术问题。

本实用新型提供了一种倍频组件调试装置，包括连接座和调节件；所述连接座与倍频晶体座的连接部相连接；所述调节件设置于所述连接座的侧部，且所述调节件的一端为固定端，另一端为伸缩端；所述伸缩端能够施力于所述连接座，以推动或拉动所述连接座和所述倍频晶体座发生偏转。

进一步地，所述连接座的两侧均设置有所述调节件，且两侧的所述调节件的施力方向不同。

进一步地，所述倍频晶体座的数量为两个，所述连接座的数量也为两个，两个所述连接座分别与两个所述倍频晶体座的连接部相对应连接；两个所述连接座的侧部均设置有所述调节件。

进一步地，还包括固定架；所述固定架设置于所述倍频晶体座的侧部，且所述固定架上开设有安装通孔，所述调节件的固定端能够穿过所述安装通孔并与所述固定架相连接。

进一步地，所述调节件为微分头。

进一步地，每个所述连接座两侧的所述调节件一个为长微分头，另一个为短微分头。

进一步地，两个所述连接座上均设置有避让部，每个所述避让部上方对应形成避让空间，其中一个所述连接座的所述调节件的伸缩端能够穿过另一个所述连接座的避让空间，以施力于对应的所述连接座。

进一步地，所述连接部朝向所述连接座的一端的端面上开设有连接孔，所述连接座朝向所述连接部的一端的端面上设置有连接件；所述连接件能够伸入到所述连接孔内，以固定所述连接部和所述连接座。

进一步地，所述连接座朝向所述连接部的一端端面上设置有限位块，用于防止所述连接座与所述连接部绕着所述连接件的轴向方向发生旋转。

本实用新型还提供了一种激光器，包括上述任一项所述的倍频组件调试装置。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的倍频组件调试装置包括连接座和调节件；倍频晶体座用于放置倍频晶体，倍频晶体座通过其连接部转动连接于倍频组件的倍频大底座上，当倍频晶体座受到外力时能够发生偏转；连接座与倍频晶体座的连接部相连接，从而当连接座受到外力发生偏转时能够带动倍频晶体座和倍频晶体随之发生偏转；调节件包括固定端和伸缩端，调节件通过固定端固定设置于连接件的侧部，调节件能够精确地调节其伸缩端伸长或缩短的长度；调节件的伸缩端能够作用于连接座的侧壁上，通过调节其伸缩端的伸缩长度，伸缩端能够向连接座施加一个推动或拉动的作用力，在这个作用力的作用下，能够使连接座和与之相连接倍频晶体座向作用力的方向发生偏转，从而带动倍频晶体座上的倍频晶体发生偏转，改变倍频晶体的俯仰角，并通过精确调节其伸缩端伸长或缩短的长度，能够精确地调节连接座及倍频晶体发生偏转的角度。同时，通过调节件的伸缩端也能够对倍频晶体座进行定位，从而保证倍频晶体在工作过程中不会发生偏转导致俯仰角发生变化而影响倍频组件的正常工作。

本实用新型还提供了一种激光器，包括所述的倍频组件调试装置，因而所述激光器也具有倍频组件调试装置的有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的倍频组件调试装置第一视角下的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的倍频组件调试装置的连接座第一视角下的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的倍频组件调试装置的连接座第三视角下的结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的倍频组件调试装置的连接座和调节件第一视角下的结构示意图。

附图标记：

1-连接座，11-避让部，12-连接件，13-限位块，2-调节件，21-固定端，22-伸缩端，3-倍频晶体座，31-连接部，32-连接孔，4-倍频大底座，5-固定架。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

通常在此处附图中描述和显示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。

基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面参照图1至图4描述根据本申请一些实施例所述的倍频组件调试装置及激光器。

本申请提供了一种倍频组件调试装置，如图1至图4所示，包括连接座1和调节件2；连接座1与倍频晶体座3的连接部31相连接；调节件2设置于连接座1的侧部，调节件2的一端为固定端21，另一端为伸缩端22；伸缩端22能够施力于连接座1，以推动或拉动连接座1和倍频晶体座3发生偏转。

本申请提供的倍频组件调试装置包括连接座1和调节件2；倍频晶体座3用于放置倍频晶体，倍频晶体座3通过其连接部31转动连接于倍频组件的倍频大底座4上，当倍频晶体座3受到外力时能够发生偏转；连接座1与倍频晶体座3的连接部31相连接，从而当连接座1受到外力发生偏转时能够带动倍频晶体座3和倍频晶体随之发生偏转。

调节件2包括固定端21和伸缩端22，调节件2通过固定端21固定设置于连接件12的侧部，调节件2能够精确地调节其伸缩端22伸长或缩短的长度；调节件2的伸缩端22能够作用于连接座1的侧壁上，通过调节其伸缩端22的伸缩长度，伸缩端22能够向连接座1施加一个推动或拉动的作用力，在这个作用力的作用下，能够使连接座1和与之相连接的倍频晶体座3向作用力的方向发生偏转，从而带动倍频晶体座3上的倍频晶体发生偏转，改变倍频晶体的俯仰角，并通过精确调节其伸缩端22伸长或缩短的长度，能够精确地调节连接座1及倍频晶体发生偏转的角度。

当连接座1的一侧设置有调节件2时，调节件2的伸缩端22与连接座1的侧壁相连接，当调节件2的伸缩端22伸长时，伸缩端22的端部能够作用于连接座1的侧壁上，并向连接座1施加一个推动力，在该推动力的作用下能够使连接座1向远离调节件2的一侧发生偏转，通过精确调节伸缩端22的伸长长度，则可精确调节连接座1及倍频晶体向一侧发生偏转的角度，并能够根据伸缩端22伸长或缩短的长度计算得出倍频晶体座3和倍频晶体的具体偏转角度，进而可得知调整后倍频晶体的俯仰角的角度；当调节件2的伸缩端22缩短时，伸缩端22能够向连接座1施加一个拉力，在该拉力的作用下，能够使连接座1向靠近调节件2的一侧发生偏转；从而通过改变调节件2伸缩端22的伸长或缩短能够能够带动连接座1和倍频晶体座3发生偏转，并带动倍频晶体发生偏转，进而改变倍频晶体的俯仰角，同时通过精确地控制伸缩端22伸长或缩短的长度，能够精确地调节连接座1及倍频晶体发生偏转的角度。

同时，调节件2的伸缩端22伸缩长度调整完毕后，其伸缩长度在没有人为调整的情况下不会发生改变，伸缩端22与连接部31相连接，通过调节件2的伸缩端22也能够对倍频晶体座3进行定位，从而保证倍频晶体在工作过程中不会发生偏转导致俯仰角发生变化而影响倍频组件的正常工作。

在该实施例中，也可以在连接座1的两侧各设置一个调节件2，此时两侧的调节件2的伸缩端22均不与连接座1的侧壁相连接；当连接座1一侧的调节件2的伸缩端22伸长时，伸缩端22的端部先与连接座1的侧壁相接触，继续伸长伸缩端22，该伸缩端22会向连接座1施加一个推力，在该推力的作用下，能够使连接座1向远离该侧调节件2的一侧发生偏转；通过调节该侧调节件2的伸缩端22的具体伸长长度能够精确地调整连接座1和倍频晶体座3的偏转角度；在完成调整后，调节相对一侧的调节件2的伸缩端22，使该侧伸缩端22抵靠在连接座1的侧壁上，从而对倍频晶体座3进行固定，保证倍频晶体在工作过程中不会发生偏转导致俯仰角发生变化而影响倍频组件的正常工作。

在本申请的一个实施例中，优选地，如图1和图4所示，连接座1的数量为两个，两个连接座1分别与两个倍频晶体座3的连接部31相对应连接；两个连接座1的侧部均设置有调节件2。

在该实施例中，倍频组件包括两个倍频晶体座3，两个倍频晶体座3用于放置两种不同的倍频晶体；两个倍频晶体座3并排设置于倍频大底座4上并分别通过连接部31转动连接与倍频组件的倍频大底座4上。两个连接部31的侧部均设置有调节件2，通过调节件2来对对应的倍频晶体座3和倍频晶体的偏转角度进行单独调节，使两种倍频晶体均处于最佳俯仰角处，实现激光光路调节的最优化。

当两个连接座1均是一侧设置有调节件2时，这两个调节件2可以固定设置在同一侧或相对的两侧；两个调节件2的伸缩端22分别与对应的连接座1的侧壁相连接，分别控制两个调节件2伸缩端22伸长或缩短的长度可以精确控制倍频晶体座3和倍频晶体的偏转角度，并通过伸缩端22对倍频晶体座3进行定位，从而保证倍频晶体座3在在工作过程中不会发生偏转导致俯仰角发生变化而影响倍频组件的正常工作。

同时，也可以在每个连接座1的两侧各设置一个调节件2；调节件2的伸缩端22均不与对应的连接座1相连接和接触；在对每个倍频晶体座3的偏转角度进行调节时，调节器对应的一侧的调节件2的伸缩端22的长度，使其能够向连接座1施加一个推动力来推动倍频晶体座3和倍频晶体发生偏转；在调整完偏转角度后调节对应的另一侧的调节件2的伸缩端22，使其与连接座1相抵靠，从而通过两侧的调节件2对倍频晶体座3的定位。

在本申请的一个实施例中，优选地，如图1所示，倍频组件调试装置还包括固定架5；固定架5设置于倍频晶体座3的侧部，固定架5上开设有安装通孔，调节件2的固定端21能够穿过安装通孔并与固定架5相连接。

在该实施例中，倍频组件调试装置还包括固定架5，固定架5固定设置于倍频晶体座3的侧部，用于对微分头进行固定安装；固定架5上开设有安装通孔，调节件2能够穿过该安装通孔，并与固定架5固定连接；调节件的伸缩端22位于固定架5朝向连接座1的一侧。

在本申请的一个实施例中，优选地，如图1和图4所示，所述调节件2为微分头。

在该实施例中，调节件2为微分头，旋动微分头的微分端可以使微分头的测杆调节件2的伸缩端22按一定尺寸伸长或缩短；通过微分头的微分端可以精确地调整伸缩端22的伸长或缩短的长度，并根据微分头上的刻度标识读取到伸缩端22的伸长或缩短的长度，从而对倍频晶体座3和倍频晶体的偏转角度精确地调节，并能够根据伸缩端22伸长或缩短的长度计算得出倍频晶体座3和倍频晶体的具体偏转角度，进而便于对倍频晶体的俯仰角的角度进行数据化分析。

在本申请的一个实施例中，优选地，如图1和图4所示，每个连接座1的两侧的调节件2一个为长微分头，另一个为短微分头。

在该实施例中，当每个连接座1的两侧均设置有微分头时，由于两个倍频晶体座3是沿倍频大底座4的长度方向并排设置与倍频大底座4上的，每个连接座1的两侧的微分头也是设置于相对应的连接座1的沿倍频大底座4的长度方向的两侧，且另个连接座1位于同一侧的微分头通过一个固定架5相连接，从而到时每个连接座1相对应的两个微分头中一个距离连接座1较远，另一个距离较近，因此根据具体的位置关系将其中一个微分头设置为长微分头，另一个设置为短微分头，在保证调节精度的同时，两个微分头都能伸长到相对应的连接座1的位置，并能够对其施加偏转作用力。

在本申请的一个实施例中，优选地，如图2和图3所示，两个连接座1上均设置有避让部11，每个避让部11上方对应形成避让空间，其中一个连接座1的调节件2的伸缩端22能够穿过另一个连接座1的避让空间，以施力于对应的连接座1。

在该实施例中，两个连接部31相对应的连接座1上均设置有避让部11，并在避让部11的上方形成避让空间，从而使一个连接座1的调节件2的伸缩端22能够穿过另一个连接座1上方的避让空间，与相对应的连接座1相接触，并对其施加作用力使其偏转。

在本申请的一个实施例中，优选地，如图3所示，连接部31朝向连接座1的一端的端面上开设有连接孔32，连接座1朝向连接部31的一端的端面上设置有连接件12；连接件12能够伸入到连接孔32内，以固定连接部31和连接座1。

在该实施例中，连接部31的朝向连接座1的一端的端面上开设有连接孔32，连接座1朝向连接部31的一端的端面上设置有连接件12，连接件12能够伸入到连接孔32内，从而将连接部31和连接座1连接在一起。

在本申请的一个实施例中，优选地，如图2和图3所示，连接座1朝向连接部31的一端端面上设置有限位块13，用于防止连接座1与连接部31绕着连接件12发生旋转。

在该实施例中，连接座1朝向连接部31的一端端面上设置有限位块13，当对连接座1与连接部31进行安装时，限位块13能够与连接部31的一侧侧壁相抵靠，从而当连接座1受到外力作用时，连接座1和连接部31不会绕着连接件12发生旋转而影响连接座1和连接部31的正常偏转；同时通过限位块13的设置，也能够使连接座1和连接部31的连接更稳定，在连接座1受力发生偏转时，连接部31能够同步、稳定地随之发生偏转。

本申请还提供了一种激光器，包括上述任一实施例的倍频组件调试装置。

在该实施例中，激光器包括倍频组件调试装置，因此激光器具有倍频组件调试装置的全部有益效果，在此不再一一赘述。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种倍频组件调试装置，其特征在于，包括连接座和调节件；

所述连接座与倍频晶体座的连接部相连接；

所述调节件设置于所述连接座的侧部，且所述调节件的一端为固定端，另一端为伸缩端；所述伸缩端能够施力于所述连接座，以推动或拉动所述连接座和所述倍频晶体座发生偏转。

2.根据权利要求1所述的倍频组件调试装置，其特征在于，所述连接座的两侧均设置有所述调节件，且两侧的所述调节件的施力方向不同。

3.根据权利要求1所述的倍频组件调试装置，其特征在于，所述倍频晶体座的数量为两个，所述连接座的数量也为两个，两个所述连接座分别与两个所述倍频晶体座的连接部相对应连接；两个所述连接座的侧部均设置有所述调节件。

4.根据权利要求1所述的倍频组件调试装置，其特征在于，还包括固定架；所述固定架设置于所述倍频晶体座的侧部，且所述固定架上开设有安装通孔，所述调节件的固定端能够穿过所述安装通孔并与所述固定架相连接。

5.根据权利要求2所述的倍频组件调试装置，其特征在于，所述调节件为微分头。

6.根据权利要求5所述的倍频组件调试装置，其特征在于，每个所述连接座两侧的所述调节件一个为长微分头，另一个为短微分头。

7.根据权利要求3所述的倍频组件调试装置，其特征在于，两个所述连接座上均设置有避让部，每个所述避让部上方对应形成避让空间，其中一个所述连接座的所述调节件的伸缩端能够穿过另一个所述连接座的避让空间，以施力于对应的所述连接座。

8.根据权利要求1所述的倍频组件调试装置，其特征在于，所述连接部朝向所述连接座的一端的端面上开设有连接孔，所述连接座朝向所述连接部的一端的端面上设置有连接件；所述连接件能够伸入到所述连接孔内，以固定所述连接部和所述连接座。

9.根据权利要求8所述的倍频组件调试装置，其特征在于，所述连接座朝向所述连接部的一端端面上设置有限位块，用于防止所述连接座与所述连接部绕着所述连接件的轴向方向发生旋转。

10.一种激光器，其特征在于，包括权利要求1-9中任一项所述的倍频组件调试装置。