CN209673517U - 一种晶元测试辅助设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及精密零件生产附属装置的技术领域，特别是涉及一种晶元测试辅助设备；其方便对进行检测的晶元元件进行位置固定，防止其位置移动对晶元元件的检测效果造成影响，给使用者带来便利；并且，方便对检测后的晶元元件进行存放，使用效果较强，从而提高其使用可靠性；包括底板、支撑架、左固定架、右固定架、连接轴、链条和驱动电机，支撑架的底端与底板的顶端连接，连接轴的左端与右固定架的右侧壁连接；两组固定槽的顶端分别设置有两组收缩槽，还包括两组第一伺服电机、两组第二伺服电机、步进电机、两组带动杆、两组带动板、两组压板、两组左连接架、两组右连接架和传动带，带动板的底端设置有连接杆；底板的顶端设置有放置槽。

Description

一种晶元测试辅助设备

技术领域

本实用新型涉及精密零件生产附属装置的技术领域，特别是涉及一种晶元测试辅助设备。

背景技术

众所周知，晶元测试辅助设备是一种用于对生产集成电路所使用晶元元件进行抗压抗弯强度的检测，以保障在生产集成电路板时电路板产品的使用寿命的装置，其在精密零件加工的领域中得到了广泛的使用；现有的晶元测试辅助设备包括底板、支撑架、左固定架、右固定架、连接轴、链条和驱动电机，支撑架的底端与底板的顶端连接，左固定架的右端和右固定架的左端均设置有固定槽，左固定架安装在支撑架前侧壁，支撑架上设置有连接板，连接板的左侧壁上设置有连接槽，连接槽内设置有滚珠轴承，连接轴的外侧壁与滚珠轴承内侧壁连接，连接轴的左端与右固定架的右侧壁连接，驱动电机安装在连接槽内，驱动电机的输出端设置有传动轴，传动轴和连接轴上分别设置有第一链轮和第二链轮，链条套设在第一链轮和第二链轮上；现有的晶元测试辅助设备在使用时，使用者将需要进行检测的晶元元件放入至放置槽内，打开驱动电机可带动传动轴旋转同时带动第一链轮转动以通过链条带动连接轴旋转，连接轴旋转可带动右固定架进行周期性的旋转以带动晶元元件在固定槽内移动方便使用者观察元件的磨损程度以对其抗弯能力进行记录即可；然而，现有的晶元测试辅助设备在使用中发现，其不方便对进行检测的晶元元件进行位置固定，易对晶元元件的检测效果造成影响，给使用者带来不便；并且，其不方便对检测后的晶元元件进行存放，使用效果较差，致使其使用可靠性较低。

发明内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种方便对进行检测的晶元元件进行位置固定，防止其位置移动对晶元元件的检测效果造成影响，给使用者带来便利；并且，方便对检测后的晶元元件进行存放，使用效果较强，从而提高其使用可靠性的晶元测试辅助设备。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，包括底板、支撑架、左固定架、右固定架、连接轴、链条和驱动电机，支撑架的底端与底板的顶端连接，左固定架的右端和右固定架的左端均设置有固定槽，左固定架安装在支撑架前侧壁，支撑架上设置有连接板，连接板的左侧壁上设置有连接槽，连接槽内设置有滚珠轴承，连接轴的外侧壁与滚珠轴承内侧壁连接，连接轴的左端与右固定架的右侧壁连接，驱动电机安装在连接槽内，驱动电机的输出端设置有传动轴，传动轴和连接轴上分别设置有第一链轮和第二链轮，链条套设在第一链轮和第二链轮上；所述两组固定槽的顶端分别设置有两组收缩槽，还包括两组第一伺服电机、两组第二伺服电机、步进电机、两组带动杆、两组带动板、两组压板、两组左连接架、两组右连接架和传动带，两组第一伺服电机和两组第二伺服电机分别安装在收缩槽内的前侧和后侧，所述两组第一伺服电机和两组第二伺服电机的输出端均设置有连接辊，并在所述四组连接辊的侧壁上均设置有多组活动板，所述两组带动杆的侧壁上均设置有多组固定板，并且所述多组固定板与活动板咬合，带动板的底端设置有连接杆，所述连接杆底端与压板的顶端连接，支撑架的前侧壁上设置有安装槽，两组左连接架和两组右连接架分别安装在所述安装槽内的左侧和右侧，步进电机安装在一组左固定架上，所述步进电机的输出端设置有带动轴，两组右连接架之间设置有固定轴，并在所述带动轴和固定轴上分别设置有两组传动辊，传动带套设在两组传动辊上，所述传动带上设置有安装板，所述连接板安装在安装板的前端；底板的顶端设置有放置槽。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，底板的前侧壁上设置有取放口，并且所述取放口与放置槽相通，还包括挡板和拉板，所述挡板的顶端铰接于取放口的侧壁上，所述挡板的前侧壁上设置有拉槽，拉板的左端和右端分别与所述拉槽的左侧壁和右侧壁连接。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括夹套，夹套左端的前侧、后侧和下侧均与底板连接，所述夹套与底板的右侧壁之间形成收纳槽。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括两组橡胶垫，两组橡胶垫分别安装在两组压板的底端，并在所述两组橡胶垫底端均设置有防滑纹。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括透明板，底板上设置有观察孔，并且所述观察孔与工作腔相通，所述透明板安装在观察孔上。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括四组支腿，四组支腿分别安装在底板底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，所述四组支腿底端分别设置有四组滚轮。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括推杆，底板顶端的前侧和后侧分别设置有两组支架，推杆的前端和后端分别与所述两组支架连接。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括两组固定锚，底板底端的前侧和后侧分别设置有两组固定杆，两组固定锚分别安装在两组固定杆的底端。

与现有技术相比本实用新型的有益效果为：两组第一伺服电机和两组第二伺服电机带动四组连接辊转动，连接辊转动可使活动板移动从而使固定板随之进行移动，固定板可带动带动杆同时带动带动板移动，带动板移动可带动连接杆同时带动压板进行移动，步进电机带动带动轴旋转可带动一组传动辊进行转动，传动辊转动可带动传动带进行相对旋转使安装板移动，方便对进行检测的晶元元件进行位置固定，防止其位置移动对晶元元件的检测效果造成影响，给使用者带来便利；并且，利用放置槽方便对检测后的晶元元件进行存放，使用效果较强，从而提高其使用可靠性。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是连接板的结构示意图；

图3是安装槽的结构示意图；

图4是收缩槽的内部结构示意图；

附图中标记：1、底板；2、支撑架；3、左固定架；4、右固定架；5、连接轴；6、链条；7、驱动电机；8、连接板；9、滚珠轴承；10、第一伺服电机；11、第二伺服电机；12、步进电机；13、带动杆；14、压板；15、左连接架；16、右连接架；17、传动带；18、传动辊；19、活动板；20、固定板；21、安装板；22、连接杆；23、挡板；24、拉板；25、夹套；26、橡胶垫；27、透明板；28、支腿；29、滚轮；30、推杆；31、固定锚；32、固定杆。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

如图1至图4所示，本实用新型的一种晶元测试辅助设备，包括底板1、支撑架2、左固定架3、右固定架4、连接轴5、链条6和驱动电机7，支撑架2的底端与底板1的顶端连接，左固定架的右端和右固定架4的左端均设置有固定槽，左固定架3安装在支撑架2前侧壁，支撑架2上设置有连接板8，连接板8的左侧壁上设置有连接槽，连接槽内设置有滚珠轴承9，连接轴5的外侧壁与滚珠轴承9内侧壁连接，连接轴5的左端与右固定架4的右侧壁连接，驱动电机7安装在连接槽内，驱动电机7的输出端设置有传动轴，传动轴和连接轴5上分别设置有第一链轮和第二链轮，链条6套设在第一链轮和第二链轮上；两组固定槽的顶端分别设置有两组收缩槽，还包括两组第一伺服电机10、两组第二伺服电机11、步进电机12、两组带动杆13、两组带动板、两组压板14、两组左连接架15、两组右连接架16和传动带17，两组第一伺服电机10和两组第二伺服电机11分别安装在收缩槽内的前侧和后侧，两组第一伺服电机10和两组第二伺服电机11的输出端均设置有连接辊，并在四组连接辊的侧壁上均设置有多组活动板19，两组带动杆13的侧壁上均设置有多组固定板20，并且多组固定板20与活动板19咬合，带动板的底端设置有连接杆22，连接杆22底端与压板14的顶端连接，支撑架2的前侧壁上设置有安装槽，两组左连接架15和两组右连接架16分别安装在安装槽内的左侧和右侧，步进电机12安装在一组左连接架15上，步进电机12的输出端设置有带动轴，两组右连接架16之间设置有固定轴，并在带动轴和固定轴上分别设置有两组传动辊18，传动带17套设在两组传动辊18上，传动带17上设置有安装板21，连接板8安装在安装板21的前端；底板1的顶端设置有放置槽；两组第一伺服电机和两组第二伺服电机带动四组连接辊转动，连接辊转动可使活动板移动从而使固定板随之进行移动，固定板可带动带动杆同时带动带动板移动，带动板移动可带动连接杆同时带动压板进行移动，步进电机带动带动轴旋转可带动一组传动辊进行转动，传动辊转动可带动传动带进行相对旋转使安装板移动，方便对进行检测的晶元元件进行位置固定，防止其位置移动对晶元元件的检测效果造成影响，给使用者带来便利；并且，利用放置槽方便对检测后的晶元元件进行存放，使用效果较强，从而提高其使用可靠性。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，底板1的前侧壁上设置有取放口，并且取放口与放置槽相通，还包括挡板23和拉板24，挡板23的顶端铰接于取放口的侧壁上，挡板23的前侧壁上设置有拉槽，拉板24的左端和右端分别与拉槽的左侧壁和右侧壁连接；使用者拉动拉板带动挡板进行移动，方便使用者由取放口取出放置槽内回收的晶元。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括夹套25，夹套25左端的前侧、后侧和下侧均与底板1连接，夹套25与底板1的右侧壁之间形成收纳槽；方便使用者将写有工作信息的标签纸放置在收纳槽内，给使用者带来便利。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括两组橡胶垫26，两组橡胶垫26分别安装在两组压板14的底端，并在两组橡胶垫26底端均设置有防滑纹；橡胶垫可增加压板工作时与晶元接触的摩擦力，可提高压板工作的效果。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括透明板27，底板1上设置有观察孔，并且观察孔与工作腔相通，透明板27安装在观察孔上；方便使用者透过透明板观察放置槽内的收集情况。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括四组支腿28，四组支腿28分别安装在底板1底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组支腿28底端分别设置有四组滚轮29；底板移动可带动四组支腿移动同时带动四组滚轮滚动，从而方便调节装置的位置。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括推杆30，底板1顶端的前侧和后侧分别设置有两组支架，推杆30的前端和后端分别与两组支架连接；推动推杆可带动两组支架移动同时带动底板移动方便调节装置的移动方向。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，还包括两组固定锚31，底板1底端的前侧和后侧分别设置有两组固定杆32，两组固定锚31分别安装在两组固定杆32的底端；使用者移动两组固定锚使其与地面接触，可防止装置在工作过程中发生位置滑动。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，其在工作时，使用者首先推动推杆可带动两组支架移动同时带动底板移动，底板移动可带动四组支腿移动同时带动四组滚轮滚动，从而将将装置整体移动到用户需要的位置，使用者移动两组固定锚使其与地面接触，使用者将晶元放置在左固定架的固定槽内，打开步进电机带动带动轴旋转可带动一组传动辊进行转动，传动辊转动可带动传动带进行相对旋转使安装板移动，以将连接板和右固定架移动至适宜位置从而将晶元的左端和右端位于两组固定槽内，两组第一伺服电机和两组第二伺服电机带动四组连接辊转动，连接辊转动可使活动板移动从而使固定板随之进行移动，固定板可带动带动杆同时带动带动板移动，带动板移动可带动连接杆同时带动压板进行移动从而对晶元进行位置的固定，打开驱动电机可带动传动轴旋转同时带动第一链轮转动以通过链条带动连接轴旋转，连接轴旋转可带动右固定架进行周期性的旋转以带动晶元元件在固定槽内移动方便使用者观察元件的磨损程度以对其抗弯能力进行记录即可。

本实用新型的一种晶元测试辅助设备，在未作相反说明的情况下，“上下左右、前后内外以及垂直水平”等包含在术语中的方位词仅代表该术语在常规使用状态下的方位，或为本领域技术人员理解的俗称，而不应视为对该术语的限制，与此同时，“第一”、“第二”和“（）”等名词不代表具体的数量及顺序，仅仅是用于名称的区分，而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种晶元测试辅助设备，包括底板（1）、支撑架（2）、左固定架（3）、右固定架（4）、连接轴（5）、链条（6）和驱动电机（7），支撑架（2）的底端与底板（1）的顶端连接，左固定架的右端和右固定架（4）的左端均设置有固定槽，左固定架（3）安装在支撑架（2）前侧壁，支撑架（2）上设置有连接板（8），连接板（8）的左侧壁上设置有连接槽，连接槽内设置有滚珠轴承（9），连接轴（5）的外侧壁与滚珠轴承（9）内侧壁连接，连接轴（5）的左端与右固定架（4）的右侧壁连接，驱动电机（7）安装在连接槽内，驱动电机（7）的输出端设置有传动轴，传动轴和连接轴（5）上分别设置有第一链轮和第二链轮，链条（6）套设在第一链轮和第二链轮上；其特征在于，所述两组固定槽的顶端分别设置有两组收缩槽，还包括两组第一伺服电机（10）、两组第二伺服电机（11）、步进电机（12）、两组带动杆（13）、两组带动板、两组压板（14）、两组左连接架（15）、两组右连接架（16）和传动带（17），两组第一伺服电机（10）和两组第二伺服电机（11）分别安装在收缩槽内的前侧和后侧，所述两组第一伺服电机（10）和两组第二伺服电机（11）的输出端均设置有连接辊，并在所述四组连接辊的侧壁上均设置有多组活动板（19），所述两组带动杆（13）的侧壁上均设置有多组固定板（20），并且所述多组固定板（20）与活动板（19）咬合，带动板的底端设置有连接杆（22），所述连接杆（22）底端与压板（14）的顶端连接，支撑架（2）的前侧壁上设置有安装槽，两组左连接架（15）和两组右连接架（16）分别安装在所述安装槽内的左侧和右侧，步进电机（12）安装在一组左连接架（15）上，所述步进电机（12）的输出端设置有带动轴，两组右连接架（16）之间设置有固定轴，并在所述带动轴和固定轴上分别设置有两组传动辊（18），传动带（17）套设在两组传动辊（18）上，所述传动带（17）上设置有安装板（21），所述连接板（8）安装在安装板（21）的前端；底板（1）的顶端设置有放置槽。

2.如权利要求1所述的一种晶元测试辅助设备，其特征在于，底板（1）的前侧壁上设置有取放口，并且所述取放口与放置槽相通，还包括挡板（23）和拉板（24），所述挡板（23）的顶端铰接于取放口的侧壁上，所述挡板（23）的前侧壁上设置有拉槽，拉板（24）的左端和右端分别与所述拉槽的左侧壁和右侧壁连接。

3.如权利要求2所述的一种晶元测试辅助设备，其特征在于，还包括夹套（25），夹套（25）左端的前侧、后侧和下侧均与底板（1）连接，所述夹套（25）与底板（1）的右侧壁之间形成收纳槽。

4.如权利要求3所述的一种晶元测试辅助设备，其特征在于，还包括两组橡胶垫（26），两组橡胶垫（26）分别安装在两组压板（14）的底端，并在所述两组橡胶垫（26）底端均设置有防滑纹。

5.如权利要求4所述的一种晶元测试辅助设备，其特征在于，还包括透明板（27），底板（1）上设置有观察孔，并且所述观察孔与工作腔相通，所述透明板（27）安装在观察孔上。

6.如权利要求5所述的一种晶元测试辅助设备，其特征在于，还包括四组支腿（28），四组支腿（28）分别安装在底板（1）底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，所述四组支腿（28）底端分别设置有四组滚轮（29）。

7.如权利要求6所述的一种晶元测试辅助设备，其特征在于，还包括推杆（30），底板（1）顶端的前侧和后侧分别设置有两组支架，推杆（30）的前端和后端分别与所述两组支架连接。

8.如权利要求7所述的一种晶元测试辅助设备，其特征在于，还包括两组固定锚（31），底板（1）底端的前侧和后侧分别设置有两组固定杆（32），两组固定锚（31）分别安装在两组固定杆（32）的底端。