CN209606483U - 双探针系统及印制电路板检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种双探针系统及印制电路板检测设备，包括固定支架、固定于固定支架的探针驱动机构以及由探针驱动机构驱动的间距调整机构，间距调整机构包括直线驱动组件、导轨组件、第一探针组件和第二探针组件，第一探针组件和第二探针组件中至少之一为在直线驱动组件驱动下沿导轨组件往复滑动的活动探针组件。本实用新型提供的双探针系统及印制电路板检测设备，活动探针组件可以在直线驱动组件的带动下沿着导轨组件移动，从而对固定探针组件和活动探针组件之间的相对位置进行调整，可以实现对印制电路板检测过程中双探针的同步探刺，可以通过仅移动单个印制电路板检测设备既可以实现多印制电路板的检测，大大的提高了检测效率。

Description

双探针系统及印制电路板检测设备

技术领域

本实用新型属于印制电路板的加工检测设备的技术领域，更具体地说，是涉及一种双探针系统及印制电路板检测设备。

背景技术

印制电路板检测设备一般包括多个探测系统协同工作，每个探针系统上驱动单个探针完成探测动作，从而保证检测的效率。在对于内置线圈的电路板进行电感值检测时，需要同时对两点同时进行刺探测量，且同一规格的印制电路板中被测点的相对位置以及点距完全相同。

现有技术中，普遍采用传统单的探针系统对内置线圈的电路板进行探测，在进行检测时通过两个探针系统相配合，从而实现探刺操作，在对大批量多规格的内置线圈的电路板进行检测时，检测效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种双探针系统及印制电路板检测设备，以解决现有技术中存在单探针系统对大批量多规格的内置线圈的电路板进行检测时效率较低的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：提供一种双探针系统，包括：固定支架、固定于所述固定支架的探针驱动机构以及由所述探针驱动机构驱动的间距调整机构，所述间距调整机构包括直线驱动组件、导轨组件、第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和所述第二探针组件中至少之一为在所述直线驱动组件驱动下沿所述导轨组件往复滑动的活动探针组件。

进一步地，所述第一探针组件为固定于所述导轨组件的侧壁的固定探针组件，所述第二探针组件为所述活动探针组件，所述活动探针组件与所述直线驱动组件相连接。进一步地，所述直线驱动组件包括直线电机、固定杆和探针臂，所述固定杆的两端均固定于所述导轨组件上，所述直线电机设于所述固定杆上并沿所述固定杆直线运动，所述探针臂与所述直线电机固定连接。

进一步地，所述导轨组件包括基板和设于所述基板底部的第一导轨，所述第一导轨的长度方向与所述固定杆的长度方向一致。

进一步地，所述基板的两侧开设有长条孔，所述探针臂穿过所述长条孔与所述活动探针组件固定连接。

进一步地，所述探针臂的底部固定连接有第一滑块，所述第一滑块上开设有与所述第一导轨配合的第一滑槽。

进一步地，所述活动探针组件和所述固定探针组件均包括依次连接的高度连接件、间距调整件和探针，所述高度连接件和探针臂或基板固定连接，所述间距调整件调整两个所述探针之间的间距。

进一步地，所述探针驱动机构包括角度调节组件和高度调节组件，所述角度调节组件与所述固定支架固定连接，所述高度调节组件固定于所述角度调节组件上，且所述高度调节组件带动所述间距调整机构移动。

进一步地，所述角度调节组件包括旋转电机、电机固定板和支柱组，所述旋转电机设于所述电机固定板上且与所述固定支架固定连接，所述支柱组与所述电机固定板固定连接。

进一步地，所述高度调节组件包括固定背板、高度调节电机和传动部，所述支柱组和所述固定背板固定连接，且所述高度调节电机固定于所述固定背板上，所述传动部连接所述高度调节电机和所述间距调整机构。

进一步地，所述传动部包括主动轮、从动轮和同步带，所述主动轮设于所述高度调节电机的输出端，所述从动轮设于所述导轨组件的一侧，且所述同步带连接所述主动轮和所述从动轮，所述同步带上套设有同步连接件，所述同步连接件与所述导轨组件固定连接。

进一步地，所述从动轮的中心设有调整杆，所述固定背板上开设有与所述调整杆滑动连接的调节孔。

进一步地，所述高度调节组件还包括设于所述固定背板内侧壁的第二导轨，所述导轨组件的外侧固定有第二滑块，所述第二滑块上开设有与所述第二导轨配合的第二滑槽。

本实用新型还公开了一种印制电路板检测设备，包括如上任一条所述的双探针系统。

本实用新型提供的双探针系统及印制电路板检测设备的有益效果在于：与现有技术相比，本实用新型双探针系统及印制电路板检测设备，通过固定支架与印制电路板检测设备上的其他部件相连接，活动探针组件可以在直线驱动组件的带动下沿着导轨组件移动，从而对第一探针组件和第二探针组件之间的相对位置进行调整，可以实现对印制电路板检测过程中双探针的同步探刺，可以通过仅移动单个印制电路板检测设备既可以实现多印制电路板的检测，大大的提高了检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的双探针系统的立体结构示意图；

图2为本实用新型实施例所采用的间距调整机构的立体结构示意图；

图3为图2所采用的间距调整机构的另一角度的立体结构示意图；

图4为本实用新型实施例所采用的固定支架的立体结构示意图；

图5为本实用新型实施例所采用的角度调节组件的立体结构示意图；

图6为本实用新型实施例所采用的高度调节组件的立体结构示意图；

图7为图6所采用的高度调节组件的另一角度的立体结构示意图，其中从动轮未示；

图8为图7中的A部分的局部放大示意图。

其中，图中各附图标记：

1、固定支架；2、探针驱动机构；3、间距调整机构；21、角度调节组件；22、高度调节组件；211、旋转电机；212、电机固定板；213、支柱组；221、固定背板；222、高度调节电机；223、传动部；224、第二滑块；225、第二滑槽；2231、主动轮；2232、从动轮；2233、同步带；2234、同步连接件；2235、调整杆；2236、调节孔；31、直线驱动组件；32、导轨组件；33、固定探针组件；34、活动探针组件；311、直线电机；312、固定杆；313、探针臂；321、基板；322、第一导轨；3211、长条孔；3131、第一滑块；331、高度连接件；332、间距调整件；333、探针；341、高度连接件；342、间距调整件；343、探针；344、“L”形连接板；3421、连接板；3422、调节块；3423、推板。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请一并参阅图1至图3，现对本实用新型提供的双探针系统进行说明。所述双探针系统，包括固定支架1、固定于所述固定支架1的探针驱动机构2以及由所述探针驱动机构2驱动的间距调整机构3，所述间距调整机构3包括直线驱动组件31、导轨组件32、第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和所述第二探针组件中至少之一为在所述直线驱动组件31驱动下沿所述导轨组件32往复滑动的活动探针组件34。

本实用新型提供的双探针系统，与现有技术相比，通过固定支架1与印制电路板检测设备上的其他部件相连接，活动探针组件34可以在直线驱动组件31的带动下沿着导轨组件32移动，从而对第一探针组件和第二探针组件之间的相对位置进行调整，可以实现对印制电路板(图未示)检测过程中双探针的同步探刺，可以通过仅移动单个印制电路板检测设备既可以实现多印制电路板的检测，大大的提高了检测效率。

具体的，第一探针组件和第二探针组件可以其中一个为可以往复滑动的活动探针组件34，也可以为只有其中一个为活动探针组件34。第一探针组件和第二探针组件均为活动探针组件34时，则需要直线驱动组件31同时驱动第一探针组件和第二探针组件的运动。

进一步地，请一并参阅图1至图4，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述第一探针组件为固定于所述导轨组件32的侧壁的固定探针组件33，所述第二探针组件为所述活动探针组件34，所述活动探针组件33与所述直线驱动组件31相连接。具体的，所述固定探针组件33固定于所述导轨组件32的侧壁，所述活动探针组件34与所述直线驱动组件31相连接，且所述活动探针组件34在所述导轨组件32上滑动。活动探针组件34可以在直线驱动组件31的带动下沿着导轨组件32移动，从而对固定探针组件33和活动探针组件34之间的相对位置进行调整，可以实现对印制电路板检测过程中双探针的同步探刺。

进一步地，请一并参阅图1至图4，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述直线驱动组件31包括直线电机311、固定杆312和探针臂313，所述固定杆312的两端均固定于所述导轨组件32上，所述直线电机311设于所述固定杆312上并沿所述固定杆312直线运动，所述探针臂313与所述直线电机311固定连接。具体的，直线驱动组件31用于驱动活动探针组件34沿着导轨组件32直线移动，从而调整活动探针组件34和固定探针组件33之间的间距。探针臂313设置在直线电机311的一侧或相对两侧，探针臂313的一端和直线电机311固定连接，另一端与活动探针组件34相连接，保证了活动探针组件34可以与直线电机311一起沿着导轨组件32的长度方向移动。

进一步地，请参阅图1至图5，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述导轨组件32包括基板321和设于所述基板321底部的第一导轨322，所述第一导轨322的长度方向与所述固定杆312的长度方向一致。具体的，直线电机311沿着固定杆312直线移动，且固定杆312的长度方向和第一导轨322的驱动方向一致，即直线电机311沿着第一导轨322的长度方向移动。第一导轨322固定设置在基板321的底部，第一导轨322和探针臂313相配合用于和活动探针组件34相连接，保证活动探针组件34运动的稳定性。

进一步地，参阅图1至图3，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述基板321的两侧开设有长条孔3211，所述探针臂313穿过所述长条孔3211与所述活动探针组件34固定连接。具体的，长条孔3211开设在基板321的相对两侧，长条孔3211的长度方向与第一导轨322的长度方向一致，且长条孔3211的宽度略大于探针臂313的厚度，从而使得探针臂313可以穿过基板321与活动探针组件34相连接。其中，长条孔3211的数量和探针臂313的数量均可以为一个或者两个，且长条孔3211的数量和探针臂313的数量一致。

进一步地，请参阅图1至图3，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述探针臂313的底部固定连接有第一滑块3131，所述第一滑块3131上开设有与所述第一导轨322配合的第一滑槽(图未示)。具体的，第一滑块3131连接于探针臂313之间，第一滑块3131和探针臂313相结合对活动探针组件34进行支撑，从而保证活动探针组件34运动的稳定性。第一滑槽设置在第一滑块3131背离活动探针组件34的一侧，且第一滑槽与第一导轨322相配合。

进一步地，请参阅图1至图3，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述活动探针组件34和所述固定探针组件33均包括依次连接的高度连接件331或341、间距调整件332或342和探针333或343，所述高度连接件331或341和探针臂313或基板321固定连接，所述间距调整件332或342调整两个所述探针333或343之间的间距。具体的，高度连接件331与探针臂313固定连接或者与导轨组件32的基板321固定连接，其中，活动探针组件34的间距调整件332或342设置的方向与固定探针组件33的间距调整的方向相对，即活动探针组件34的间距调整件332或342设置的方向与固定探针组件33的间距调整的方向是相反的，既可以实现活动探针组件34和固定探针组件33的位置限定。

优选的，请参阅图2，间距调整件332或342内包括连接板3421、调节块3422和推板，探针333或343固定于推板上，连接块与高度连接件331固定连接，调节块3422固定于连接板3421上并与推板相抵接，且调节块3422的位置可以调整，从而带动推板的运动，从而实现探针333或343的移动。

优选的，请参阅图1至图3，对于固定探针组件33，高度连接件331和间距调整件332之间固定连接，间距调整件332的高度不可以调整。对于活动探针组件34，高度连接件341和间距调整件342之间还设有“L”形连接板344，且高度连接件331的形状也为“L”形，高度连接件331和“L”形连接板344之间通过螺栓(图未示)固定连接，且通过调整高度连接件331底部和“L”形连接板344底部之间的螺栓的长度可以调整高度连接件331底部和“L”形连接板344底部之间的间距，实现间距调整件342的高度进行调整，从而达到对探针343相对于印制电路板之间高度的微调。

进一步地，参阅图1，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述探针驱动机构2包括角度调节组件21和高度调节组件22，所述角度调节组件21与所述固定支架1固定连接，所述高度调节组件22固定于所述角度调节组件21上，且所述高度调节组件22带动所述间距调整机构3移动。具体的，角度调节组件21和固定支架1相连接，角度调节组件21能够带动下方的高度调节组件22实现转动；高度调节组件22连接在角度调节组件21的下方，间距调整机构3设于高度调节组件22的下方，且能够实现角度调节组件21的上下移动。角度调节组件21、高度调节组件22和间距调整机构3相结合实现对固定探针组件33和活动探针组件34的转动、高度调整和间距的调整。

进一步地，请参阅图5，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述角度调节组件21包括旋转电机211、电机固定板212和支柱组213，所述旋转电机211设于所述电机固定板212上且与所述固定支架1固定连接，所述支柱组213与所述电机固定板212固定连接。具体的，旋转电机211用于带动旋转，旋转电机211的输出轴的轴端与高度调节组件22相连接，电机固定板212与固定支架1相结合对旋转电机211进行固定，支柱组213和电机固定板212进行固定，能够协助输出轴对高度调节组件22进行固定。

进一步地，请参阅图6及图7，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述高度调节组件22包括固定背板221、高度调节电机222和传动部223，所述支柱组213和所述固定背板221固定连接，且所述高度调节电机222固定于所述固定背板221上，所述传动部223连接所述高度调节电机222和所述间距调整机构3。具体的，高度调节组件22包括高度调节电机222用于带动传动部223的转动，固定背板221用于固定和支撑高度调节电机222和传动部223，传动部223与导轨组件32固定连接，通过传动部223对导轨组件32的高度进行调整。支柱组213的两端分别连接固定背板221和电机固定板212，从而实现角度调节组件21和高度调节组件22之间的固定连接。

优选的，旋转电机211和高度调节电机222均采用步进电机，能够通过步进电机对行程进行控制，从而方便的实现对探针343或333的旋转角度和高度的微小控制，保证双探针系统控制的精度。

进一步地，请参阅图6及图7，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述传动部223包括主动轮2231、从动轮2232和同步带2233，所述主动轮2231设于所述高度调节电机222的输出端，所述从动轮2232设于所述导轨组件32的一侧，且所述同步带2233连接所述主动轮2231和所述从动轮2232，所述同步带2233上套设有同步连接件2234，所述同步连接件2234与所述导轨组件32固定连接。具体的，主动轮2231设置在高度调节电机222的输出轴的轴端，将高度调节电机222的转动能输出，主动轮2231和从动轮2232之间通过同步带2233相连接，同步带2233上设置有若干均匀设置的凸条(图未示)，同步连接件2234套设在同步带2233上，通过同步带2233的传动带动同步连接件2234的上下移动，其中同步连接件2234上设有凹槽(图未示)与凸条相配合，既而实现导轨组件32的上下移动。当然，根据实际情况和具体需求，在本实用新型的其他实施例中，传动件还可以通过多个相互啮合的齿轮实现，但是其控制精度不高，此处不作唯一限定。

进一步地，请参阅图8，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述从动轮2232的中心设有调整杆2235，所述固定背板221上开设有与所述调整杆2235滑动连接的调节孔2236。具体的，调节孔2236可以为长条孔3211，且调整杆2235可以在长条孔3211内滑动并固定，从而通过调整杆2235和调节孔2236之间的相对距离实现从动轮2232的位置调整，从而对同步带2233的张紧度进行调整。当然，根据实际情况和具体需求，在本实用新型的其他实施例中，调节孔2236还可以不为长条孔3211，同步带2233上均匀的设置若干固定孔(图未示)，且固定孔和调整杆2235相配合，通过调整杆2235与不同高度的固定孔相连接，从而实现同步带2233张紧度的调节，此处不作唯一限定。

进一步地，请参阅图6及图7，作为本实用新型提供的双探针系统的一种具体实施方式，所述高度调节组件22还包括设于所述固定背板221内侧壁的第二导轨(图未示)，所述导轨组件32的外侧固定有第二滑块224，所述第二滑块224上开设有与所述第二导轨配合的第二滑槽225。具体的，第二滑块224上设置的第二滑槽225的尺寸与第二导轨相配合，保证第二滑块224可以沿着第二导轨移动，第二滑块224和导轨组件32固定连接，且第二导轨设置在固定背板221上，且第二导轨的长度方向和同步带2233的长度方向一致，从而通过第二导轨和第二滑块224相结合承担导轨组件32的重量，保证导轨组件32的稳定移动。

本实用新型提供的印制电路板检测设备，采用了上述任一实施例中的双探针系统。

本实用新型提供的印制电路板检测设备，与现有技术相比，通过固定支架1与印制电路板检测设备上的其他部件相连接，探针驱动机构2能够对固定探针组件33和活动探针组件34的位置，活动探针组件34可以在直线驱动组件31的带动下沿着导轨组件32移动，从而对固定探针组件33和活动探针组件34之间的相对位置进行调整，可以实现对印制电路板检测过程中双探针的同步探刺，可以通过仅移动单个印制电路板检测设备既可以实现多印制电路板的检测，大大的提高了检测效率。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (14)

1.双探针系统，其特征在于：包括固定支架(1)、固定于所述固定支架(1)的探针驱动机构(2)以及由所述探针驱动机构(2)驱动的间距调整机构(3)，所述间距调整机构(3)包括直线驱动组件(31)、导轨组件(32)、第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和所述第二探针组件中至少之一为在所述直线驱动组件(31)驱动下沿所述导轨组件(32)往复滑动的活动探针组件(34)。

2.根据权利要求1所述的双探针系统，其特征在于：所述第一探针组件为固定于所述导轨组件(32)的侧壁的固定探针组件(33)，所述第二探针组件为所述活动探针组件(34)，所述活动探针组件(34)与所述直线驱动组件(31)相连接。

3.如权利要求2所述的双探针系统，其特征在于：所述直线驱动组件(31)包括直线电机(311)、固定杆(312)和探针臂(313)，所述固定杆(312)的两端均固定于所述导轨组件(32)上，所述直线电机(311)设于所述固定杆(312)上并沿所述固定杆(312)直线运动，所述探针臂(313)与所述直线电机(311)固定连接。

4.如权利要求3所述的双探针系统，其特征在于：所述导轨组件(32)包括基板(321)和设于所述基板(321)底部的第一导轨(322)，所述第一导轨(322)的长度方向与所述固定杆(312)的长度方向一致。

5.如权利要求4所述的双探针系统，其特征在于：所述基板(321)的两侧开设有长条孔(3211)，所述探针臂(313)穿过所述长条孔(3211)与所述活动探针组件(34)固定连接。

6.如权利要求4所述的双探针系统，其特征在于：所述探针臂(313)的底部固定连接有第一滑块(3131)，所述第一滑块(3131)上开设有与所述第一导轨(322)配合的第一滑槽。

7.如权利要求3所述的双探针系统，其特征在于：所述活动探针组件(34)和所述固定探针组件(33)均包括依次连接的高度连接件(331或341)、间距调整件(332或342)和探针(333或343)，所述高度连接件(331或341)和探针臂(313)或基板(321)固定连接，所述间距调整件(332或342)调整两个所述探针(333和343)之间的间距。

8.如权利要求1所述的双探针系统，其特征在于：所述探针驱动机构(2)包括角度调节组件(21)和高度调节组件(22)，所述角度调节组件(21)与所述固定支架(1)固定连接，所述高度调节组件(22)固定于所述角度调节组件(21)上，且所述高度调节组件(22)带动所述间距调整机构(3)移动。

9.如权利要求8所述的双探针系统，其特征在于：所述角度调节组件(21)包括旋转电机(211)、电机固定板(212)和支柱组(213)，所述旋转电机(211)设于所述电机固定板(212)上且与所述固定支架(1)固定连接，所述支柱组(213)与所述电机固定板(212)固定连接。

10.如权利要求9所述的双探针系统，其特征在于：所述高度调节组件(22)包括固定背板(221)、高度调节电机(222)和传动部(223)，所述支柱组(213)和所述固定背板(221)固定连接，且所述高度调节电机(222)固定于所述固定背板(221)上，所述传动部(223)连接所述高度调节电机(222)和所述间距调整机构(3)。

11.如权利要求10所述的双探针系统，其特征在于：所述传动部(223)包括主动轮(2231)、从动轮(2232)和同步带(2233)，所述主动轮(2231)设于所述高度调节电机(222)的输出端，所述从动轮(2232)设于所述导轨组件(32)的一侧，且所述同步带(2233)连接所述主动轮(2231)和所述从动轮(2232)，所述同步带(2233)上套设有同步连接件(2234)，所述同步连接件(2234)与所述导轨组件(32)固定连接。

12.如权利要求11所述的双探针系统，其特征在于：所述从动轮(2232)的中心设有调整杆(2235)，所述固定背板(221)上开设有与所述调整杆(2235)滑动连接的调节孔(2236)。

13.如权利要求10所述的双探针系统，其特征在于：所述高度调节组件(22)还包括设于所述固定背板(221)内侧壁的第二导轨，所述导轨组件(32)的外侧固定有第二滑块(224)，所述第二滑块(224)上开设有与所述第二导轨配合的第二滑槽(225)。

14.印制电路板检测设备，其特征在于：包括如权利要求1至13任一项所述的双探针系统。