CN209400624U - 一种便于移动的电子元件测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种便于移动的电子元件测试装置，包括底座、测试仪本体、连接框、丝杆、连接电线、检测头和伸缩杆，所述底座的左右两侧分别安装有左立柱和右立柱，且左立柱和右立柱的内侧固定安装有横梁，所述横梁的上方安装有测试仪本体，所述丝杆设置于套杆的内部，且丝杆的左端连接有安装板，所述连接齿轮的内壁固定有转杆，且转杆的左端安装有旋钮，并且旋钮与左立柱上均开设有限位孔，所述限位孔的内部设置有限位杆。该便于移动的电子元件测试装置，旋钮上设置有限位孔，且限位孔等角度分布，这样在检测头的高度调节后，便于对旋钮进行固定，防止旋钮出现自行转动的现象，进一步保证了该装置的正常使用。

Description

一种便于移动的电子元件测试装置

技术领域

本实用新型涉及电子通信设备技术领域，具体为一种便于移动的电子元件测试装置。

背景技术

电子产品如今在我们的生活中应用越来越广泛，电子产品中的电子元件在使用之前，都会经过测试装置对电路及各功能进行测试，电子元件品质的好坏会影响整体的使用，但是现有的电子元件测试装置还是存在一些不足之处，例如传统的方法对电子元件测试时，会需要移动整个测试仪，这样会造成测试仪有所损坏，而且在测试过程中不便于对测试装置高度的调节，并且调节过后不易于固定，导致对测试装置的使用效率降低，所以我们提出了一种便于移动的电子元件测试装置，以便于解决上述中提出的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种便于移动的电子元件测试装置，以解决上述背景技术提出的目前市场上的传统的方法对电子元件测试时，会需要移动整个测试仪，这样会造成测试仪有所损坏，而且在测试过程中不便于对测试装置高度的调节，并且调节过后不易于固定，导致对测试装置的使用效率降低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种便于移动的电子元件测试装置，包括底座、测试仪本体、连接框、丝杆、连接电线、检测头和伸缩杆，所述底座的左右两侧分别安装有左立柱和右立柱，且左立柱和右立柱的内侧固定安装有横梁，所述横梁的上方安装有测试仪本体，所述连接框的上方左右两侧通过伸缩杆与横梁相连接，且连接框的上表面开设有第一通槽，并且连接框的内部设置有套杆，所述套杆的前后连接固定于连接板，且连接板通过第二通槽与套杆相连接，所述第二通槽开设于连接框的内壁上，所述连接板的内部设置有通孔，所述丝杆设置于套杆的内部，且丝杆的左端连接有安装板，所述连接电线的顶部与测试仪本体相连接，且连接电线的底部贯穿通孔与检测头相连接，所述安装板的底部固定有固定板，且固定板的内部设置有齿条，并且齿条的前侧啮合连接有连接齿轮，所述连接齿轮的内壁固定有转杆，且转杆的左端安装有旋钮，并且旋钮与左立柱上均开设有限位孔，所述限位孔的内部设置有限位杆。

优选的，所述左立柱和右立柱的内部均为空心状，且左立柱和右立柱与横梁的连接方式均为焊接。

优选的，所述第一通槽与连接框为一体式结构，且第一通槽的长度等于2个伸缩杆的距离之和。

优选的，所述连接板与套杆为一体式结构，且连接板通过第二通槽与连接框构成滑动结构。

优选的，所述安装板与连接板的连接方式为焊接，且安装板与丝杆为轴承连接，并且丝杆与套杆为螺纹连接。

优选的，所述转杆与旋钮的连接方式为螺栓连接，且旋钮上的限位孔等角度分布。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该便于移动的电子元件测试装置，

(1)套杆的左右两侧均设置有连接板，且连接板内部设置有通孔，并且连接电线贯穿于通孔与检测头相连接，同时套杆与丝杆为螺纹连接，这样在丝杆转动时，可以带动套杆进行移动，从而使检测头进行位置的调节，而测试仪本体不需要移动，这样可以减少测试仪本体受损坏的几率；

(2)固定板的内侧设置有齿条，且齿条与连接齿轮啮合连接，当连接齿轮转动时，可以带动齿条与固定板一起进行高度的调节，进而对检测头的高度实现调节，使该装置可以更好的对电子元件进行测试；

(3)旋钮上设置有限位孔，且限位孔等角度分布，这样在检测头的高度调节后，便于对旋钮进行固定，防止旋钮出现自行转动的现象，进一步保证了该装置的正常使用。

附图说明

图1为本实用新型整体主剖结构示意图；

图2为本实用新型图1中A处放大结构示意图；

图3为本实用新型固定板与齿条连接左视结构示意图；

图4为本实用新型连接框与第一通槽连接俯视结构示意图；

图5为本实用新型套杆与连接板连接右视结构示意图；

图6为本实用新型旋钮与限位孔连接左视结构示意图。

图中：1、底座；2、左立柱；3、右立柱；4、横梁；5、测试仪本体；6、连接框；7、第一通槽；8、套杆；9、连接板；10、第二通槽；11、通孔；12、丝杆；13、连接电线；14、检测头；15、安装板；16、固定板；17、齿条；18、连接齿轮；19、转杆；20、旋钮；21、限位孔；22、限位杆；23、伸缩杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-6，本实用新型提供一种技术方案：一种便于移动的电子元件测试装置，包括底座1、左立柱2、右立柱3、横梁4、测试仪本体5、连接框6、第一通槽7、套杆8、连接板9、第二通槽10、通孔11、丝杆12、连接电线13、检测头14、安装板15、固定板16、齿条17、连接齿轮18、转杆19、旋钮20、限位孔21、限位杆22和伸缩杆23，底座1的左右两侧分别安装有左立柱2和右立柱3，且左立柱2和右立柱3的内侧固定安装有横梁4，横梁4的上方安装有测试仪本体5，连接框6的上方左右两侧通过伸缩杆23与横梁4相连接，且连接框6的上表面开设有第一通槽7，并且连接框6的内部设置有套杆8，套杆8的前后连接固定于连接板9，且连接板9通过第二通槽10与套杆8相连接，第二通槽10开设于连接框6的内壁上，连接板9的内部设置有通孔11，丝杆12设置于套杆8的内部，且丝杆12的左端连接有安装板15，连接电线13的顶部与测试仪本体5相连接，且连接电线13的底部贯穿通孔11与检测头14相连接，安装板15的底部固定有固定板16，且固定板16的内部设置有齿条17，并且齿条17的前侧啮合连接有连接齿轮18，连接齿轮18的内壁固定有转杆19，且转杆19的左端安装有旋钮20，并且旋钮20与左立柱2上均开设有限位孔21，限位孔21的内部设置有限位杆22；

左立柱2和右立柱3的内部均为空心状，且左立柱2和右立柱3与横梁4的连接方式均为焊接，保证了横梁4使用过程中的稳定性，从而使该装置对电子元件测试工作的顺利进行；

第一通槽7与连接框6为一体式结构，且第一通槽7的长度等于2个伸缩杆23的距离之和，方便对套杆8的移动，同时不影响伸缩杆23与连接框6之间的连接；

连接板9与套杆8为一体式结构，且连接板9通过第二通槽10与连接框6构成滑动结构，这样在套杆8移动时，可以通过连接板9的滑动使套杆8移动的更加平稳，保证了该装置使用时的整体稳定性；

安装板15与固定板16的连接方式为焊接，且安装板15与丝杆12为轴承连接，并且丝杆12与套杆8为螺纹连接，当丝杆12转动时，可以带动套杆8进行位置的移动，进而可以更好的对电子元件进行测试；

转杆19与旋钮20的连接方式为螺栓连接，且旋钮20上的限位孔21等角度分布，当检测头14的高度调节至合适位置后，易于对旋钮20进行固定，从而可以防止旋钮20出现自行转动的现象，进一步保证了该装置的使用。

工作原理：在使用该便于移动的电子元件测试装置时，根据图1-6，首先工作人员将底座1固定在相应位置，然后将需要检测的电子元件放在底座1上，如果检测头14与电子元件之间的距离过大，不方便连接测试，这时工作人员先取出限位孔21内的限位杆22，然后逆时针转动旋钮20，使旋钮20带动转杆19和连接齿轮18一起逆时针旋转，因连接齿轮18与固定板16内的齿条17啮合连接，因此在连接齿轮18逆时针转动时，会带动齿条17与固定板16一起下降，从而使安装板15一起下降，而安装板15与丝杆12相连接，并且丝杆12的外侧依次设置有套杆8和连接框6，因而随着安装板15的下降，会使连接框6向下移动，进而使连接框6顶部的伸缩杆23向下拉伸，伸缩杆23为市场上的已知产品，在此不作详细介绍，当连接框6底部的检测头14可以与待检测的电子元件相连接时为止，并且将限位杆22插入限位孔21内，对旋钮20进行固定，之后工作人员进行相应的连接进行测试；

如果需要对检测头14的位置进行调节移动，根据图1-6，这时工作人员可以顺时针转动丝杆12上的把手，因丝杆12与套杆8为螺纹连接，进而在丝杆12顺时针转动时会带动套杆8向左移动，同时套杆8左右两侧的连接板9会沿着第二通槽10进行滑动，保证套杆8移动的稳定性，而连接板9内部设置有通孔11，并且连接电线13贯穿通孔11与检测头14相连接，连接电线13有一定的长度，因此可以确保该装置的正常使用，工作人员可以根据需要对检测头14的位置进行适当调节，如果需要向右调节检测头14，只需逆时针转动丝杆12上的把手即可，非常方便，既不影响对电子元件的测试，也减少了移动测试仪本体5的现象，防止测试仪本体5受到磨损，以上便是整个装置的工作过程，且本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种便于移动的电子元件测试装置，包括底座(1)、测试仪本体(5)、连接框(6)、丝杆(12)、连接电线(13)、检测头(14)和伸缩杆(23)，其特征在于：所述底座(1)的左右两侧分别安装有左立柱(2)和右立柱(3)，且左立柱(2)和右立柱(3)的内侧固定安装有横梁(4)，所述横梁(4)的上方安装有测试仪本体(5)，所述连接框(6)的上方左右两侧通过伸缩杆(23)与横梁(4)相连接，且连接框(6)的上表面开设有第一通槽(7)，并且连接框(6)的内部设置有套杆(8)，所述套杆(8)的前后连接固定于连接板(9)，且连接板(9)通过第二通槽(10)与套杆(8)相连接，所述第二通槽(10)开设于连接框(6)的内壁上，所述连接板(9)的内部设置有通孔(11)，所述丝杆(12)设置于套杆(8)的内部，且丝杆(12)的左端连接有安装板(15)，所述连接电线(13)的顶部与测试仪本体(5)相连接，且连接电线(13)的底部贯穿通孔(11)与检测头(14)相连接，所述安装板(15)的底部固定有固定板(16)，且固定板(16)的内部设置有齿条(17)，并且齿条(17)的前侧啮合连接有连接齿轮(18)，所述连接齿轮(18)的内壁固定有转杆(19)，且转杆(19)的左端安装有旋钮(20)，并且旋钮(20)与左立柱(2)上均开设有限位孔(21)，所述限位孔(21)的内部设置有限位杆(22)。

2.根据权利要求1所述的一种便于移动的电子元件测试装置，其特征在于：所述左立柱(2)和右立柱(3)的内部均为空心状，且左立柱(2)和右立柱(3)与横梁(4)的连接方式均为焊接。

3.根据权利要求1所述的一种便于移动的电子元件测试装置，其特征在于：所述第一通槽(7)与连接框(6)为一体式结构，且第一通槽(7)的长度等于2个伸缩杆(23)的距离之和。

4.根据权利要求1所述的一种便于移动的电子元件测试装置，其特征在于：所述连接板(9)与套杆(8)为一体式结构，且连接板(9)通过第二通槽(10)与连接框(6)构成滑动结构。

5.根据权利要求1所述的一种便于移动的电子元件测试装置，其特征在于：所述安装板(15)与固定板(16)的连接方式为焊接，且安装板(15)与丝杆(12)为轴承连接，并且丝杆(12)与套杆(8)为螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的一种便于移动的电子元件测试装置，其特征在于：所述转杆(19)与旋钮(20)的连接方式为螺栓连接，且旋钮(20)上的限位孔(21)等角度分布。