CN209280866U - 一种集成电路芯片测试用夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种集成电路芯片测试用夹具,包括夹持组件和保护组件,所述夹持组件包括底板、螺栓、固定板、滑板、支撑台、弹簧和伸缩杆,所述固定板设置在所述底板的顶部,所述滑板通过所述伸缩杆与所述支撑台滑动连接,且所述伸缩杆外表面还套设有所述弹簧,使用时向右拉动所述滑板,并将集成电路芯片放在所述滑板和所述固定板之间,然后松开所述滑板,所述弹簧由于失去牵引力的作用,恢复原来的形状,通过所述弹簧的伸长带动所述滑板向左移动,从而将集成电路芯片牢牢固定在所述滑板和所述固定板之间,避免了操作人员手持检测时由于手臂颤动,容易造成集成电路芯片与电源线脱离,浪费大量时间的问题。
Description
技术领域
本实用新型属于集成电路领域,尤其涉及一种集成电路芯片测试用夹具。
背景技术
集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件。
对集成电路芯片的检测通常是将集成电路芯片带入电路当中,操作人员用手握住芯片,但由于生理原因,手臂无法长时间的保持静止状态,会产生轻微的颤动,从而极易导致集成线路芯片上的触点与电源线分离,导致检测过程需要重新进行,从而浪费了大量的时间。
实用新型内容
本实用新型提供一种集成电路芯片测试用夹具,旨在解决对集成电路芯片的检测通常是将集成电路芯片带入电路当中,操作人员用手握住芯片,但由于生理原因,手臂无法长时间的保持静止状态,会产生轻微的颤动,从而极易导致集成线路芯片上的触点与电源线分离,导致检测过程需要重新进行,从而浪费了大量的时间的问题。
本实用新型是这样实现的,一种集成电路芯片测试用夹具,包括夹持组件和保护组件,所述夹持组件包括底板、螺栓、固定板、滑板、支撑台、弹簧和伸缩杆,所述螺栓位于所述固定板顶部,并与所述底板螺接,所述固定板位于所述底板外表面,所述固定板通过所述螺栓与所述底板螺接,所述滑板位于所述弹簧的左侧,所述滑板通过所述弹簧与所述支撑台滑动连接,所述支撑台位于所述底板顶部,并与所述底板固定连接,所述伸缩杆缠绕于所述支撑台的外表面;所述保护组件包括横杆、金属滑竿、支撑架、连接栓、滑环、电阻丝和金属夹,所述横杆位于所述支撑架之间,并与所述支撑架固定连接,所述金属滑竿位于所述支撑架顶部,所述金属滑竿固定连接于所述支撑架,所述支撑架位于所述底板内侧,并与所述底板固定连接,所述连接栓位于所述支撑架的左侧,并与所述支撑架螺接,所述滑环套设与所述金属滑竿的外表面,所述滑环与所述金属滑竿滑动连接,所述电阻丝缠绕于所述横杆的外表面,并与所述横杆固定连接,所述金属夹位于所述滑环的底部,并与所述滑环固定连接。
优选的,所述固定板的顶部设有两个圆形小孔,所述螺栓通过该圆形小孔贯穿所述固定板,并与所述底板相螺接。
优选的,所述滑板和所述固定板相对应的一侧均设置有卡槽,且两个所述卡槽距离所述底板顶部的高度相同。
优选的,所述伸缩杆分为两节,其中一节所述伸缩杆套设在另一节所述伸缩杆的外表面,两节所述伸缩杆之间相互滑动连接。
优选的,所述连接栓呈圆柱状,所述连接栓的其中一端贯穿所述支撑架,并与所述电阻丝电性连接。
优选的,所述滑环呈圆环状,所述滑环套设在所述金属滑竿的外表面,且所述滑环的内壁与所述金属滑竿的外表面相互贴合。
优选的,所述电阻丝的数量为多匝,多匝所述电阻丝均缠绕于所述横杆的外表面,且所述电阻丝上喷涂有绝缘漆。
优选的,所述金属夹的顶部呈矩形,所述金属夹的顶部与所述滑环固定连接,所述金属夹的底部呈圆弧状,且所述金属夹的底部与所述电阻丝紧密贴合。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:通过设置所述固定板、所述滑板、所述支撑台,所述弹簧和所述伸缩杆,所述固定板设置在所述底板的顶部,所述顶板通过所述螺栓螺接于所述底板上,所述固定板右侧设置有所述滑板,所述滑板通过所述伸缩杆与所述支撑台滑动连接,且所述伸缩杆外表面还套设有所述弹簧,使用时向右拉动所述滑板,并将集成电路芯片放在所述滑板和所述固定板之间,然后松开所述滑板,所述弹簧由于失去牵引力的作用,恢复原来的形状,通过所述弹簧的伸长带动所述滑板向左移动,从而将集成电路芯片牢牢固定在所述滑板和所述固定板之间,避免了操作人员手持检测时由于手臂颤动,容易造成集成电路芯片与电源线脱离,浪费大量时间的问题。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图;
图2为本实用新型平面结构示意图;
图3为本实用新型的保护组件结构示意图;
图中:1夹持组件、11底板、12螺栓、13固定板、14滑板、15支撑台、16弹簧、17伸缩杆、2保护组件、21横杆、22金属滑竿、23支撑架、24连接栓、25滑环、26电阻丝、27金属夹。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案:一种集成电路芯片测试用夹具,包括夹持组件1和保护组件2,夹持组件1包括底板11、螺栓12、固定板13、滑板14、支撑台15、弹簧16和伸缩杆17,螺栓12位于固定板13顶部,并与底板11螺接,固定板13位于底板11外表面,固定板13通过螺栓12与底板11螺接,滑板14位于弹簧16的左侧,滑板14通过弹簧16与支撑台15滑动连接,支撑台15位于底板11顶部,并与底板11固定连接,伸缩杆17缠绕于支撑台15的外表面;保护组件2包括横杆21、金属滑竿22、支撑架23、连接栓24、滑环25、电阻丝26和金属夹27,横杆21位于支撑架23之间,并与支撑架23固定连接,金属滑竿22位于支撑架23顶部,金属滑竿22固定连接于支撑架23,支撑架23位于底板11内侧,并与底板11固定连接,连接栓24位于支撑架23的左侧,并与支撑架23螺接,滑环25套设与金属滑竿22的外表面,滑环25与金属滑竿22滑动连接,电阻丝26缠绕于横杆21的外表面,并与横杆21固定连接,金属夹27位于滑环25的底部,并与滑环25固定连接。
在本实施方式中,将底板11放置在检测台上,然后向右拉动滑板14,滑板14通过伸缩杆17与支撑台15滑动连接,且伸缩杆17的外表面还套设有弹簧16,当向右拉动滑板14时,滑板14向右移动带动伸缩杆17收缩,此时滑板14与弹簧16接触,并继续挤压弹簧16,直至滑板14与固定板13之间的间距大于集成电路芯片时,将集成电路芯片放置在固定板13和滑板14之间,固定板13和滑板14上均设有卡槽,通过卡槽将集成电路芯片卡在固定板13和滑板14上,然后松开滑板14,弹簧16由于失去了滑板14挤压的作用力,向左回弹伸长,从而带动滑板14向左移动,通过弹簧16提供的弹力抵住滑板14,从而将位于滑板14和固定板13之间的集成电路芯片牢牢卡住,避免了操作人员手持检测时由于手臂颤动,容易造成集成电路芯片与电源线脱离,从而浪费大量时间的问题。
在本实施方式中,向右拉动滑板14,滑板14通过伸缩杆17与支撑台15滑动连接,且伸缩杆17的外表面还套设有弹簧16,当向右拉动滑板14时,滑板14向右移动带动伸缩杆17收缩,此时滑板14与弹簧16接触,并继续挤压弹簧16,直至滑板14与固定板13之间的间距大于集成电路芯片时,将集成电路芯片放置在固定板13和滑板14之间,固定板13和滑板14上均设有卡槽,通过卡槽将集成电路芯片卡在固定板13和滑板14上,然后松开滑板14,弹簧16由于失去了滑板14挤压的作用力,向左回弹伸长,从而带动滑板14向左移动,通过弹簧16提供的弹力抵住滑板14,从而将位于滑板14和固定板13之间的集成电路芯片牢牢卡住,然后将连接栓24和金属滑竿22接入集成电路芯片的检测电路当中,由于连接栓24与电阻丝26电性连接,金属夹与电阻丝26电性连接,通过滑动滑环25带动金属夹27沿电阻丝26左右滑动,改变接入电路中的电阻丝26的长度,从而改变接入电路中的电阻值,通过在检测电路中接入电阻,能够保护集成电路芯片,避免由于电路中的电流强度过大,导致集成电路芯片过载,从而导致集成电路芯片烧毁的问题。
进一步的,固定板13的顶部设有两个圆形小孔,螺栓12通过该圆形小孔贯穿固定板13,并与底板11相螺接。
在本实施方式中,在固定板13顶部设置两个圆形小孔,且螺栓12通过该圆形小孔贯穿固定板13,并与底板11相螺接,使固定板13通过螺栓12固定在底板11上,通过螺接的连接方式,使固定板13与底板11之间的连接更加稳定。
进一步的,滑板14和固定板13相对应的一侧均设置有卡槽,且两个卡槽距离底板11顶部的高度相同。
在本实施方式中,在滑板14和固定板13上设置卡槽,用于将集成电路芯片卡在滑板14和固定板13之间,设置卡槽使集成电路芯片与滑板14和固定板13之间的连接更加牢固。
进一步的,伸缩杆17分为两节,其中一节伸缩杆17套设在另一节伸缩杆17的外表面,两节伸缩杆17之间相互滑动连接。
在本实施方式中,设置伸缩杆17用于支撑滑板14,其中一节伸缩杆17套设在另一节伸缩杆17的外表面,两节伸缩杆17之间相互滑动连接,使滑板14能够沿水平方向左右滑动。
进一步的,连接栓24呈圆柱状,连接栓24的其中一端贯穿支撑架23,并与电阻丝26电性连接。
在本实施方式中,设置连接栓24便于将外部电阻丝26接入,连接栓24的其中一端贯穿支撑架23,并与电阻丝26电性连接,使电阻丝26与外部电路连接,从而保护电路,避免产生过载。
进一步的,滑环25呈圆环状,滑环25套设在金属滑竿22的外表面,且滑环25的内壁与金属滑竿22的外表面相互贴合。
在本实施方式中,滑环25呈圆环状,滑环25套设在金属滑竿22的外表面,使滑环25能够在金属滑竿22的外表面左右滑动,滑环25的内壁与金属滑竿22的外表面相互贴合,使金属滑竿22能够与滑环25电性连接。
进一步的,电阻丝26的数量为多匝,多匝电阻丝26均缠绕于横杆21的外表面,且电阻丝26上喷涂有绝缘漆。
在本实施方式中,设置多匝电阻丝26用于防止电路产生过载现象,通过滑动金属架27改变接入电路当中的线圈的匝数,从而改变接入电路当中的电阻值的大小,在电阻丝26上喷涂绝缘漆,避免了电阻丝26之间出现短路的现象。
进一步的,金属夹27的顶部呈矩形,金属夹27的顶部与滑环25固定连接,金属夹27的底部呈圆弧状,且金属夹27的底部与电阻丝26紧密贴合。
在本实施方式中,设置金属夹27用于夹持在电阻丝26的外表面,通过移动金属夹27,改变接入电路中的电阻值,从而保护电路。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种集成电路芯片测试用夹具,其特征在于:包括夹持组件(1)和保护组件(2),所述夹持组件(1)包括底板(11)、螺栓(12)、固定板(13)、滑板(14)、支撑台(15)、弹簧(16)和伸缩杆(17),所述螺栓(12)位于所述固定板(13)顶部,并与所述底板(11)螺接,所述固定板(13)位于所述底板(11)外表面,所述固定板(13)通过所述螺栓(12)与所述底板(11)螺接,所述滑板(14)位于所述弹簧(16)的左侧,所述滑板(14)通过所述弹簧(16)与所述支撑台(15)滑动连接,所述支撑台(15)位于所述底板(11)顶部,并与所述底板(11)固定连接,所述伸缩杆(17)缠绕于所述支撑台(15)的外表面;
所述保护组件(2)包括横杆(21)、金属滑竿(22)、支撑架(23)、连接栓(24)、滑环(25)、电阻丝(26)和金属夹(27),所述横杆(21)位于所述支撑架(23)之间,并与所述支撑架(23)固定连接,所述金属滑竿(22)位于所述支撑架(23)顶部,所述金属滑竿(22)固定连接于所述支撑架(23),所述支撑架(23)位于所述底板(11)内侧,并与所述底板(11)固定连接,所述连接栓(24)位于所述支撑架(23)的左侧,并与所述支撑架(23)螺接,所述滑环(25)套设与所述金属滑竿(22)的外表面,所述滑环(25)与所述金属滑竿(22)滑动连接,所述电阻丝(26)缠绕于所述横杆(21)的外表面,并与所述横杆(21)固定连接,所述金属夹(27)位于所述滑环(25)的底部,并与所述滑环(25)固定连接。
2.如权利要求1所述的一种集成电路芯片测试用夹具,其特征在于:所述固定板(13)的顶部设有两个圆形小孔,所述螺栓(12)通过该圆形小孔贯穿所述固定板(13),并与所述底板(11)相螺接。
3.如权利要求1所述的一种集成电路芯片测试用夹具,其特征在于:所述滑板(14)和所述固定板(13)相对应的一侧均设置有卡槽,且两个所述卡槽距离所述底板(11)顶部的高度相同。
4.如权利要求1所述的一种集成电路芯片测试用夹具,其特征在于:所述伸缩杆(17)分为两节,其中一节所述伸缩杆(17)套设在另一节所述伸缩杆(17)的外表面,两节所述伸缩杆(17)之间相互滑动连接。
5.如权利要求1所述的一种集成电路芯片测试用夹具,其特征在于:所述连接栓(24)呈圆柱状,所述连接栓(24)的其中一端贯穿所述支撑架(23),并与所述电阻丝(26)电性连接。
6.如权利要求1所述的一种集成电路芯片测试用夹具,其特征在于:所述滑环(25)呈圆环状,所述滑环(25)套设在所述金属滑竿(22)的外表面,且所述滑环(25)的内壁与所述金属滑竿(22)的外表面相互贴合。
7.如权利要求1所述的一种集成电路芯片测试用夹具,其特征在于:所述电阻丝(26)的数量为多匝,多匝所述电阻丝(26)均缠绕于所述横杆(21)的外表面,且所述电阻丝(26)上喷涂有绝缘漆。
8.如权利要求1所述的一种集成电路芯片测试用夹具,其特征在于:所述金属夹(27)的顶部呈矩形,所述金属夹(27)的顶部与所述滑环(25)固定连接,所述金属夹(27)的底部呈圆弧状,且所述金属夹(27)的底部与所述电阻丝(26)紧密贴合。
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