CN209232736U - 一种半导体测试分选机用落料导轨 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及半导体加工设备技术领域，具体涉及一种半导体测试分选机用落料导轨，包括导轨、卡块、卡爪、连接块、螺纹轴、电机，导轨上开有滑动槽，其顶部还开有落料槽，其底部外壁上开有卡槽；卡块卡合在卡槽内且能在卡槽内自由滑动；卡爪设置在卡块两端；连接块固接在卡块上。本实用新型中半导体元件由导轨上的落料槽落入滑动槽内时，处于两个卡爪之间，通过螺纹轴的转动，驱动卡块沿导轨长度方向滑动，从而使半导体元件运送至导轨末端，完成落料作业，较传统方式使用重力原理，提高落料稳定性，避免产生卡料，设置调整机构，能够调整两个卡爪的间距，从而适应不同长度半导体元件。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体加工设备技术领域，具体涉及一种半导体测试分选机用落料导轨。
背景技术
现有的半导体测试分选机用落料导轨向上倾斜地安装在分选机上，其工作原理是使落入其内的半导体元件在重力作用下，自由滑动至其末端，完成落料作业，这样单纯依靠重力作用的方式，不能完全防止卡料的发生。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的问题，提供一种半导体测试分选机用落料导轨，它可以实现避免卡料发生。
为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型是通过以下技术方案实现的：
一种半导体测试分选机用落料导轨，其包括：
导轨，所述导轨上开有横跨其长度方向的、通孔形式的滑动槽，其顶部还开有连通至所述滑动槽内的落料槽，其底部外壁上还开有横跨其长度方向的、与滑动槽连通的卡槽；
卡块，所述卡块卡合在卡槽内且能在卡槽内沿导轨长度方向自由滑动；
卡爪，所述卡爪对应设有两个，分别设置在所述卡块两端且其位于滑动槽内；
连接块，所述连接块固接在卡块上；
螺纹轴，所述螺纹轴穿透连接块且与连接块螺纹连接；
电机，所述电机通过安装底板连接在导轨上，且其转轴与所述螺纹轴固接。
进一步地，所述滑动槽至少一个内壁上设有横跨其长度方向的凸块。
进一步地，还包括连接板，所述连接板固接在导轨远离落料槽的一端上，其上开有通孔形式的避空槽，所述螺纹轴远离电机的一端转动连接在连接板上。
进一步地，还包括用于调整两个所述卡爪间距的调整机构。
进一步地，所述调整机构包括：
滑块，所述滑块设有两个，分别固接在两个所述卡爪上，对应的所述卡块上开有供滑块卡合的、且滑块在其内能自由滑动的T形槽；
螺纹调整轴，所述螺纹调整轴由分置两端的正旋螺纹段、反旋螺纹段及中部的轴段组成，两个所述滑块分别套设在正旋螺纹段、反旋螺纹段上且与正旋螺纹段、反旋螺纹段螺纹连接，所述轴段转动连接在卡块上，所述螺纹调整轴转动时，驱动两个所述卡爪相对运动。
进一步地，所述T形槽内设有固定块，所述轴段穿透固定块且能自由转动，其在所述固定块两侧各设有锁紧环，所述锁紧环将轴段限位于固定块上。
进一步地，所述螺纹调整轴一端设有内六角螺钉。
本实用新型的有益效果：半导体元件由导轨上的落料槽落入滑动槽内时，处于两个卡爪之间，通过螺纹轴的转动，驱动卡块沿导轨长度方向滑动，从而使半导体元件运送至导轨末端，完成落料作业，较传统方式使用重力原理，提高落料稳定性，避免产生卡料，设置调整机构，能够调整两个卡爪的间距，从而适应不同长度半导体元件。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的立体结构示意图；
图2为图1中的立体结构爆炸示意图；
图3为本实用新型中调整机构的立体结构示意图；
附图中，各标号所代表的部件如下：
1-导轨，2-滑动槽，3-落料槽，4-卡槽，5-卡块，6-卡爪，7-连接块，8-螺纹轴，9-电机，10-凸块，11-连接板，12-避空槽，13-滑块，14-T形槽，15-正旋螺纹段，16-反旋螺纹段，17-轴段，18-固定块，19-锁紧环，20-内六角螺钉。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1-3所示的一种半导体测试分选机用落料导轨，其包括：
导轨1，所述导轨1上开有横跨其长度方向的、通孔形式的滑动槽2，其顶部还开有连通至所述滑动槽2内的落料槽3，其底部外壁上还开有横跨其长度方向的、与滑动槽2连通的卡槽4；
卡块5，所述卡块5卡合在卡槽4内且能在卡槽4内沿导轨1长度方向自由滑动；
卡爪6，所述卡爪6对应设有两个，分别设置在所述卡块5两端且其位于滑动槽2内；
连接块7，所述连接块7固接在卡块5上；
螺纹轴8，所述螺纹轴8穿透连接块7且与连接块7螺纹连接；
电机9，所述电机9通过安装底板连接在导轨1上，且其转轴与所述螺纹轴8固接。
所述滑动槽2至少一个内壁上设有横跨其长度方向的凸块10，减少滑动槽2内壁与半导体元件的接触面积，从而减少半导体元件的摩擦磨损。
还包括连接板11，所述连接板11固接在导轨1远离落料槽3的一端上，其上开有通孔形式的避空槽12，所述螺纹轴8远离电机9的一端转动连接在连接板11上，设置连接板11使螺纹轴8处于平衡状态，防止产生晃动，影响传动效果，避空槽12用于避让半导体元件输送至导轨1末端。
还包括用于调整两个所述卡爪6间距的调整机构。
所述调整机构包括：
滑块13，所述滑块13设有两个，分别固接在两个所述卡爪6上，对应的所述卡块5上开有供滑块13卡合的、且滑块13在其内能自由滑动的T形槽14；
螺纹调整轴，所述螺纹调整轴由分置两端的正旋螺纹段15、反旋螺纹段16及中部的轴段17组成，两个所述滑块13分别套设在正旋螺纹段15、反旋螺纹段16上且与正旋螺纹段15、反旋螺纹段16螺纹连接，所述轴段17转动连接在卡块5上，所述螺纹调整轴转动时，驱动两个所述卡爪6相对运动。
所述T形槽14内设有固定块18，所述轴段17穿透固定块18且能自由转动，其在所述固定块18两侧各设有锁紧环19，所述锁紧环19将轴段17限位于固定块18上，锁紧环19使螺纹调整轴转动连接在卡块5上。
所述螺纹调整轴一端设有内六角螺钉20，通过转动内六角螺钉20，从而使螺纹调整轴转动，方便调整两个卡爪的间距。
本实用新型在使用时：外部半导体测试分选机上的半导体元件由导轨上落料槽落入滑动槽内，此时，半导体元件处于两个卡爪之间，接通外部电源，启动电机，电机转动驱动螺纹轴转动，使卡块沿导轨上滑动，将半导体元件输送至导轨末端，由外部设备或装置将半导体元件进行转送，调整卡爪间距时，使用外部工具转动内六角螺钉，使螺纹调整轴转动，由于正旋螺纹段与反旋螺纹段的螺纹旋向相反，此时，两个卡爪将相对运动，从而进行间距的调整。
以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (7)
1.一种半导体测试分选机用落料导轨，其特征在于，其包括：
导轨(1)，所述导轨(1)上开有横跨其长度方向的、通孔形式的滑动槽(2)，其顶部还开有连通至所述滑动槽(2)内的落料槽(3)，其底部外壁上还开有横跨其长度方向的、与滑动槽(2)连通的卡槽(4)；
卡块(5)，所述卡块(5)卡合在卡槽(4)内且能在卡槽(4)内沿导轨(1)长度方向自由滑动；
卡爪(6)，所述卡爪(6)对应设有两个，分别设置在所述卡块(5)两端且其位于滑动槽(2)内；
连接块(7)，所述连接块(7)固接在卡块(5)上；
螺纹轴(8)，所述螺纹轴(8)穿透连接块(7)且与连接块(7)螺纹连接；
电机(9)，所述电机(9)通过安装底板连接在导轨(1)上，且其转轴与所述螺纹轴(8)固接。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机用落料导轨,其特征在于，所述滑动槽(2)至少一个内壁上设有横跨其长度方向的凸块(10)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机用落料导轨,其特征在于，还包括连接板(11)，所述连接板(11)固接在导轨(1)远离落料槽(3)的一端上，其上开有通孔形式的避空槽(12)，所述螺纹轴(8)远离电机(9)的一端转动连接在连接板(11)上。
4.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机用落料导轨,其特征在于，还包括用于调整两个所述卡爪(6)间距的调整机构。
5.根据权利要求4所述的一种半导体测试分选机用落料导轨,其特征在于，所述调整机构包括：
滑块(13)，所述滑块(13)设有两个，分别固接在两个所述卡爪(6)上，对应的所述卡块(5)上开有供滑块(13)卡合的、且滑块(13)在其内能自由滑动的T形槽(14)；
螺纹调整轴，所述螺纹调整轴由分置两端的正旋螺纹段(15)、反旋螺纹段(16)及中部的轴段(17)组成，两个所述滑块(13)分别套设在正旋螺纹段(15)、反旋螺纹段(16)上且与正旋螺纹段(15)、反旋螺纹段(16)螺纹连接，所述轴段(17)转动连接在卡块(5)上，所述螺纹调整轴转动时，驱动两个所述卡爪(6)相对运动。
6.根据权利要求5所述的一种半导体测试分选机用落料导轨,其特征在于，所述T形槽(14)内设有固定块(18)，所述轴段(17)穿透固定块(18)且能自由转动，其在所述固定块(18)两侧各设有锁紧环(19)，所述锁紧环(19)将轴段(17)限位于固定块(18)上。
7.根据权利要求5所述的一种半导体测试分选机用落料导轨,其特征在于，所述螺纹调整轴一端设有内六角螺钉(20)。
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