CN209222684U - Led芯片光电性检测清针设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及LED检测设备技术领域，尤其是涉及一种LED芯片光电性检测清针设备，包括用于放置探针的工作平台，所述工作平台上设置有用于清洁探针异物的清洁片，所述清洁片的材质为亚克力，本实用新型LED芯片光电性检测清针设备在使用时，通过在工作平台上设置了清洁片，使得探针与清洁片接触，由于清洁片的材质为亚克力，亚克力材质具有良好的综合力学性能，并且对探针具有缓冲分散应力效果，同时也降低了探针磨耗，使得探针提升使用寿命。
Description
技术领域
本实用新型涉及LED检测设备技术领域，尤其是涉及一种LED芯片光电性检测清针设备。
背景技术
LED是一种可以将电能转化为光能的半导体二极管，LED芯片是其核心组件。LED芯片的制备工艺过程复杂，步骤繁多，为确定LED能否正常工作以及发光二极管的各种特性，通常会对切割之后的各个LED进行测试，以便根据其光电参数进行等级分类，现有检测设备通过探针来检测芯片的光电性，而探针长时间量测芯片晶粒（chip）过程会有异物累计残留，这样就间接影响探针在量测芯片时的光电性，也就影响到芯片的量测品质。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是：为了解决现有检测设备通过探针来检测芯片的光电性，而探针长时间量测芯片晶粒（chip）过程会有异物累计残留，这样就间接影响探针在量测芯片时的光电性，也就影响到芯片的量测品质的问题，现提供了一种LED芯片光电性检测清针设备。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种LED芯片光电性检测清针设备，包括用于放置探针的工作平台，所述工作平台上设置有用于清洁探针异物的清洁片，所述清洁片的材质为亚克力。通过在工作平台上设置了清洁片，使得探针与清洁片接触，由于清洁片的材质为亚克力，亚克力材质具有良好的综合力学性能，并且对探针具有缓冲分散应力效果，同时也降低了探针磨耗，使得探针提升使用寿命。
为了便于清洁片的后期维护，进一步地，所述工作平台包括底座和上压板，所述上压板可拆卸连接在底座上表面，所述清洁片设置在上压板的上表面。将上压板可拆卸的安装在底座上，这样就使得清洁片在需要维护时，只需要把上压板进行拆卸，并换上新的上压板即可。
本实用新型的有益效果是：本实用新型LED芯片光电性检测清针设备在使用时，通过在工作平台上设置了清洁片，使得探针与清洁片接触，由于清洁片的材质为亚克力，亚克力材质具有良好的综合力学性能，并且对探针具有缓冲分散应力效果，同时也降低了探针磨耗，使得探针提升使用寿命，避免了现有检测设备通过探针来检测芯片的光电性，而探针长时间量测芯片晶粒（chip）过程会有异物累计残留，这样就间接影响探针在量测芯片时的光电性，也就影响到芯片的量测品质的问题。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的主视图；
图2是本实用新型的俯视图。
图中：1、工作平台，2、清洁片，3、底座，4、上压板，5、探针。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1-2所示，一种LED芯片光电性检测清针设备，包括用于放置探针5的工作平台1，所述工作平台1上设置有用于清洁探针5异物的清洁片2，所述清洁片2的材质为亚克力。
所述工作平台1包括底座3和上压板4，所述上压板4通过螺钉可拆卸连接在底座3上表面，所述清洁片2设置在上压板4的上表面。
上述LED芯片光电性检测清针设备在使用时，通过探针5达到固定量测次数后，设备就会根据自身设定的程序对探针5进行清洁，使得探针5与清洁片2接触并对探针5上的异物进行清除，在后期维护时，通过转动上压板4与底座3之间的螺钉，从而可以将上压板4在底座3上拆卸下来，从而对上压板4上的清洁片2进行维护，再将新的上压板4与清洁片2通过螺钉安装在底座3上即可。
上述依据本实用新型的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (2)
1.一种LED芯片光电性检测清针设备，其特征在于：包括用于放置探针（5）的工作平台（1），所述工作平台（1）上设置有用于清洁探针（5）异物的清洁片（2），所述清洁片（2）的材质为亚克力。
2.根据权利要求1所述的LED芯片光电性检测清针设备，其特征在于：所述工作平台（1）包括底座（3）和上压板（4），所述上压板（4）可拆卸连接在底座（3）上表面，所述清洁片（2）设置在上压板（4）的上表面。
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|---|---|---|---|---|
| CN113030534A (zh) * | 2021-05-27 | 2021-06-25 | 琉明光电(常州)有限公司 | 一种led芯片电性检测用针头降钝清洁设备 |
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Cited By (2)
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| CN113030534B (zh) * | 2021-05-27 | 2021-08-03 | 琉明光电(常州)有限公司 | 一种led芯片电性检测用针头降钝清洁设备 |
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Legal Events
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| GR01 | Patent grant | ||
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