CN209043946U - 一种jtag链任意连接装置 - Google Patents
一种jtag链任意连接装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN209043946U CN209043946U CN201821841899.XU CN201821841899U CN209043946U CN 209043946 U CN209043946 U CN 209043946U CN 201821841899 U CN201821841899 U CN 201821841899U CN 209043946 U CN209043946 U CN 209043946U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pin
- jtag
- switch
- jtag chain
- chain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本实用新型提供一种JTAG链任意连接装置，属于芯片测试系统领域，本实用新型在JTAG链串联电路中加入两个串联的单刀双掷模拟开关，当JTAG链正常工作时两个开关置于X端，当有新器件加入JTAG链时开关置于Y端，使新器件串联进入JTAG链工作；当器件拔出时，开关仍置于X端使JTAG链仍正常工作，从而实现JTAG链任意连接新器件的功能。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试系统，尤其涉及一种JTAG链任意连接装置。
背景技术
JTAG(Joint Test Action Group；联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：
TCK——测试时钟输入
TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；
TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；
TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port；测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。多个器件的硬件连接成菊花链结构，连接JTAG接口TDO的器件为菊花链上的第一个器件，连接JTAG接口TDI的器件为菊花链上的最后一个器件。前一个器件的TDI和后一个器件的TDO连接在一起，菊花链上所有ARM器件的TMS、TCK信号连接在一起。通过JTAG链，可以看到被仿真芯片哪个管脚不正常， 可以加载不同的仿真文件，测试IO管脚，DDR连接，nand flash连接等。
但是其中一个器件断开或加入会导致整个JTAG链无法正常工作。
发明内容
基于以上内容，本实用新型提出了一种JTAG链任意连接装置，避免JTAG链中的器件由于其中一个断开而使整个JTAG链无法正常工作的情况，实现器件自由加入或退出JTAG链的功能。
本实用新型的技术方案是：
一种JTAG链任意连接装置，主要包括两个单刀双掷模拟开关和具有JTAG测试口的器件，各器件JTAG接口的TMS和TCK脚并联，TDI和TDO脚串联；两个单刀双掷模拟开关串联在两个器件的JTAG接口TDO引脚和TDI引脚之间。
在JTAG串联电路中加入的两个单刀双掷模拟开关即开关SW1和开关SW2；开关SW1的X1引脚与开关SW2的X2引脚相连，开关SW1的Y1引脚与要加入器件的TDI引脚相连，开关SW2的Y2引脚与要加入器件的TDO引脚相连，两个开关的SW引脚分别与机箱槽位上的SW控制引脚相连。
当机箱插槽没有器件插入时，开关置于X端，JTAG链中的器件正常工作。
当有器件插入机箱插槽时，SW引脚由机箱槽位上的SW信号控制使开关置于Y端，器件串联加入JTAG链工作。
当器件退出时，开关置于X端，JTAG链继续工作。
本实用新型的有益效果是
本实用新型应用于服务器中可实现JTAG扫描各器件状态功能而不会受到JTAG链中器件插拔的影响。
附图说明
图1是本实用新型的电路连接示意图。
具体实施方式
下面对本实用新型的内容进行更加详细的阐述：
如图1所示，
本实用新型一种JTAG链任意连接装置，主要包括两个单刀双掷模拟开关和具有JTAG测试口的器件，主板中各器件JTAG接口的TMS和TCK脚并联，TDI和TDO脚串联。
两个单刀双掷模拟开关器件串联在两个器件的JTAG接口TDO引脚和TDI引脚之间。
开关SW1的X1引脚与开关SW2的X2引脚相连，SW1的Y1引脚与要加入器件的TDI引脚相连，SW2的Y2引脚与要加入器件的TDO引脚相连，两个开关的SW引脚与机箱槽位上的SW控制引脚相连。
当机箱插槽没有器件插入时，开关置于X端，JTAG链中的器件正常工作，当有器件插入机箱插槽时，SW引脚由机箱槽位上的SW信号控制使开关置于Y端，器件串联加入JTAG链工作。
当器件退出时，开关置于X端，JTAG链继续工作。
除本实用新型所公开的技术方案之外，均是本领域技术人员的公知技术。
Claims (5)
1.一种JTAG链任意连接装置，其特征在于，
主要包括两个单刀双掷模拟开关和具有JTAG测试口的器件，各器件JTAG接口的TMS和TCK脚并联，TDI和TDO脚串联；两个单刀双掷模拟开关串联在两个器件的JTAG接口TDO引脚和TDI引脚之间。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
在JTAG串联电路中加入的两个单刀双掷模拟开关即开关SW1和开关SW2；开关SW1的X1引脚与开关SW2的X2引脚相连，开关SW1的Y1引脚与要加入器件的TDI引脚相连，开关SW2的Y2引脚与要加入器件的TDO引脚相连，两个开关的SW引脚分别与机箱槽位上的SW控制引脚相连。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，
当机箱插槽没有器件插入时，开关置于X端，JTAG链中的器件正常工作。
4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，
当有器件插入机箱插槽时，SW引脚由机箱槽位上的SW信号控制使开关置于Y端，器件串联加入JTAG链工作。
5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，
当器件退出时，开关置于X端，JTAG链继续工作。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201821841899.XU CN209043946U (zh) | 2018-11-09 | 2018-11-09 | 一种jtag链任意连接装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201821841899.XU CN209043946U (zh) | 2018-11-09 | 2018-11-09 | 一种jtag链任意连接装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN209043946U true CN209043946U (zh) | 2019-06-28 |
Family
ID=67041343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201821841899.XU Active CN209043946U (zh) | 2018-11-09 | 2018-11-09 | 一种jtag链任意连接装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN209043946U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021056401A1 (zh) * | 2019-09-25 | 2021-04-01 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种基于jtag的烧录装置 |
-
2018
- 2018-11-09 CN CN201821841899.XU patent/CN209043946U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021056401A1 (zh) * | 2019-09-25 | 2021-04-01 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种基于jtag的烧录装置 |
| US11874323B2 (en) | 2019-09-25 | 2024-01-16 | Inspur Suzhou Intelligent Technology Co., Ltd. | JTAG-based burning device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102998614B (zh) | 可实现dsp单板或多板jtag调试的系统及调试方法 | |
| CA2249088C (en) | Method and apparatus for high-speed interconnect testing | |
| WO2005072406A3 (en) | Test system and method for reduced index time | |
| US8872534B2 (en) | Method and apparatus for testing devices using serially controlled intelligent switches | |
| CN207965049U (zh) | 用于将tap信号耦合到集成电路封装中的jtag接口的电路 | |
| MY140869A (en) | Semi-automatic multiplexing system for automated semiconductor wafer testing | |
| CN106597265A (zh) | 一种jtag链路自动实现通道切换的方法及系统 | |
| CN209043946U (zh) | 一种jtag链任意连接装置 | |
| TW201710699A (zh) | 基於邊界掃描的主板ｃｐｕ插槽的連接測試方法和裝置 | |
| US7219278B2 (en) | Configurator arrangement and approach therefor | |
| CN102353867A (zh) | 一种互连测试设备及其测试方法 | |
| US20040193979A1 (en) | Circuit configurator arrangement and approach therefor | |
| RU189608U1 (ru) | Адаптер тестирования канала оперативной памяти третьего поколения | |
| CN203012704U (zh) | 可实现dsp单板或多板jtag调试的系统 | |
| CN110109006A (zh) | 一种jtag电平转接板、单板及单板调试系统 | |
| EP1601984B1 (en) | Automatically detecting and routing of test signals | |
| US20230184831A1 (en) | Server jtag component adaptive interconnection system and method | |
| CN105676051A (zh) | 一种集成线序测试装置和方法 | |
| CN102760497A (zh) | 含有jtag接口的芯片 | |
| CN102565664B (zh) | 一种测试覆盖率的评估方法 | |
| CN107860949A (zh) | 一种便捷的PXIe模块调试工装 | |
| CN209895331U (zh) | 一种bmc远程故障诊断与固件升级链路复用的实现装置 | |
| CN207074435U (zh) | 自适应jtag链开关电路 | |
| CN1516015B (zh) | 多链边界扫描测试系统及多链边界扫描测试方法 | |
| CN201903876U (zh) | 支持外部自动测试设备的电路板 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20211028 Address after: 250100 building S02, No. 1036, Langchao Road, high tech Zone, Jinan City, Shandong Province Patentee after: Shandong Inspur Scientific Research Institute Co.,Ltd. Address before: 250100 First Floor of R&D Building 2877 Kehang Road, Sun Village Town, Jinan High-tech Zone, Shandong Province Patentee before: JINAN INSPUR HIGH-TECH TECHNOLOGY DEVELOPMENT Co.,Ltd. |
|
| TR01 | Transfer of patent right |