CN208847662U - 一种表面瑕疵检测器 - Google Patents

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邓君
孙振忠
李培
陈卫东
廖钊华
王湘
罗海明
张国森
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Abstract

本实用新型公开了一种表面瑕疵检测器，属于检测领域，一种表面瑕疵检测器具有光敏电阻传感单元，利用光敏电阻的特性；光敏电阻在光线的作用下其电阻值往往变小，一旦产品待检测面出现瑕疵，产品待检测面光的反射就会改变，光敏电阻的电阻值就会发生变化，只要光敏电阻的阻值发生变化，就可以认定该产品为不良品；配合电压检测单元检测光敏电阻传感单元的电压变化，得知光敏电阻的阻值发生变化，判断产品表面瑕疵结果。

Description

一种表面瑕疵检测器
技术领域
本实用新型涉及检测领域，特别是涉及一种表面瑕疵检测器。
背景技术
在产品的生产过程中，其表面划痕、凹痕或者凸点的瑕疵是常见的品质不良现象，所以在检验中，要筛选检出不良品；现有技术中，表面检测通常采用CCD检测或者激光检测光源检测，这两种检测方法所使用的设备都结构复杂，造价较高，尤其是CCD检测方法，一个CCD摄像头就造价较高。
实用新型内容
为解决上述的问题，本实用新型提供了一种表面瑕疵检测器，利用光敏电阻的特性，感应产品表面的光线的变化，判断产品表面瑕疵结果。
本实用新型所采取的技术方案是：一种表面瑕疵检测器，包括检测室和设于检测室内的光敏检测模块；光敏检测模块包括主控芯片、光源单元、光敏电阻传感单元和电压检测单元；光源单元电性连接主控芯片，主控芯片控制光源单元提供光源进行检测。光敏电阻传感单元电性连接主控芯片，主控芯片控制光敏电阻传感单元进行检测，光敏电阻传感单元位于待检测产品的待检测面上并感应待检测产品的待检测面光线变化改变光敏电阻传感单元的电阻值；电压检测单元电性连接光敏电阻传感单元并检测光敏电阻传感单元的电压值,并传输电压值给主控芯片；光源单元的光照射到待检测产品的待检测面上，当待检测产品的待检测面经过光敏电阻传感单元时，如果产品的待检测面上有瑕疵，待检测产品的待检测面反射的光线就会发生变化，光敏电阻传感单元的电阻值就会发生变化，光敏电阻传感单元的电压值也相应变化，电压检测单元会检测出光敏电阻传感单元的电压值，并传输电压值给主控芯片，判断产品表面瑕疵结果。
本实用新型的有益效果是：一种表面瑕疵检测器，都是利用光敏电阻的特性；光敏电阻在光线的作用下其电阻值往往变小，一旦产品待检测面出现瑕疵，产品待检测面光的反射就会改变，光敏电阻的电阻值就会发生变化，只要光敏电阻的阻值发生变化，判断产品表面存在瑕疵；配合电压检测单元检测光敏电阻传感单元的电压变化，得知光敏电阻的阻值发生变化，就能完成产品的表面检测，检测结构简单，易于实现；而且光敏电阻价格比其他检测结构价格低，使用光敏电阻大大降低了制造成本。
附图说明
图1是本实用新型的光敏检测模块电路图；
图2是本实用新型的表面瑕疵检测器示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。
图1至图2示意性地显示了根据本实用新型的一种实施方式的一种表面瑕疵检测器。
一种表面瑕疵检测器，包括检测室1和设于检测室内的光敏检测模块2；外部环境光不稳定，容易造成光敏检测模块2出错，检测室1将光敏检测模块2和外部环境光隔绝，避免了外部环境光影响。
光敏检测模块2包括主控芯片21、光源单元22、光敏电阻传感单元23和电压检测单元24。光源单元22是由电阻R2和灯LED1组成，能为检测提供稳定的光源，光源单元22的电阻R2电性连接主控芯片21的引脚，主控芯片21控制光源单元22提供光源进行检测。光敏电阻传感单元23具有一个光敏电阻CDs，从而利用的光敏电阻的特性进行检测；光敏电阻传感单元23的光敏电阻CDs电性连接主控芯片21的引脚，主控芯片21控制光敏电阻传感单元23进行检测，光敏电阻传感单元23位于待检测产品的待检测面上并感应待检测产品的待检测面光线变化改变光敏电阻传感单元23的电阻值。电压检测单元24具有电阻R1，电压检测单元24的电阻R1电性连接光敏电阻传感单元23并检测光敏电阻传感单元23的电压值,并传输电压值给主控芯片21。
上述的，待检测产品的每个待检测面上都设有光敏检测模块2，以完整地检测产品，避免少检或者多工序操作。
上述的，检测室1设有将光源单元22和光敏电阻传感单元23隔开的隔板11，隔板11防止光源单元的光直接照射到光敏电阻传感单元23，影响光敏电阻的灵敏度，导致光敏电阻传感单元23无法准确判断光线变化，影响检测结果。
上述的，光敏检测模块2还包括电源单元25，电源单元25电性连接主控芯片21；电源单元22具有正负极接口，以连接主控芯片21进行供电。
上述的，光敏检测模块2还包括阈值比较单元，阈值比较单元内置于主控芯片21，阈值比较单元预存储数值并和电压检测单元24的电压值作为比较值，以准确判断电压检测单元24的电压值是否存在变化。
上述的，光敏检测模块2还包括输出接口27，输出接口27电性连接主控芯片21；输出接口27将主控芯片21的判断结果输出，以得到判断产品表面瑕疵结果，尤其是当表面瑕疵检测器配合其他设备进行检测时，及时反映结果给其他部件。
上述的，光敏检测模块2设有检测电路板28，主控芯片21、电源单元25、光敏电阻传感单元23、电压检测单元24、阈值比较单元26和输出接口27都焊接在检测电路板28上，方便安装使用。
在应用了上述的表面瑕疵检测器时，首先，光源单元22的照射到产品的待检测面上，光敏电阻传感单元23在待检测产品的待检测面上感应待检测产品待检测面反射的光线，得到待检测产品待检测面上的光线变化；接着，电压检测单元24实时检测光敏电阻传感单元23的电压值，当光敏电阻传感单元23的电压值发生变化时，主控芯片21判断产品表面存在瑕疵。
上述过程中，表面瑕疵检测器的阈值比较单元储存检测合格产品时的电压值数据，检测合格产品时的电压值数据做为合格比对值；在检测未检测产品时，电压检测单元的电压值数据与合格比对值比较，以准确判断电压检测单元24的电压值是否存在变化。
上述过程中，上述的表面瑕疵检测器在每个产品独立的待检测面都设有光敏检测模块2，光敏检测模块2对于每个产品独立的待检测面都独立检测，由于产品每个独立的待检测面的光线都不一样，检测出的数据都不一致。
以上的实施例只是在于说明而不是限制本实用新型，故凡依本实用新型专利申请范围所述的方法所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。

Claims (6)

1.一种表面瑕疵检测器，其特征在于，包括检测室和设于检测室内的光敏检测模块；光敏检测模块包括主控芯片、光源单元、光敏电阻传感单元和电压检测单元；光源单元电性连接主控芯片；光敏电阻传感单元电性连接主控芯片，光敏电阻传感单元位于产品的待检测面上；电压检测单元电性连接光敏电阻传感单元片。
2.根据权利要求1所述的一种表面瑕疵检测器，其特征在于：待检测产品的每个待检测面上都设有光敏检测模块。
3.根据权利要求1或2所述的一种表面瑕疵检测器，其特征在于：检测室设有将光源单元和光敏电阻传感单元隔开的隔板。
4.根据权利要求1所述的一种表面瑕疵检测器，其特征在于：光敏检测模块还包括阈值比较单元，阈值比较单元内置于主控芯片。
5.根据权利要求1、2或4所述的一种表面瑕疵检测器，其特征在于：敏检测模块还包括电源单元，电源单元电性连接主控芯片。
6.根据权利要求1、2或4所述的一种表面瑕疵检测器，其特征在于：光敏检测模块还包括输出接口，输出接口电性连接主控芯片。
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