CN208689950U - 一种采用真空吸盘固定sd卡的测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，该SD卡的测试设备采用真空吸盘放置SD卡，真空吸盘上设置的抽气孔路能够将SD卡吸紧，当伺服电机压下压盘时，压盘将SD卡压紧，SD卡将双头测试针向下压，双头测试针被下压后，其下端与接触端子触点接触，接触端子触点通过测试底板电路连接测试插槽，测试插槽插接有SD卡测试PCB板，通过SD卡测试PCB板上的测试电路对各SD进行测试，并将对应的测试结果显示在显示屏上，显示屏上设置有与SD卡置放槽单元对应的位置，当出现不合格的SD卡，会用特殊的颜色显示。本实用新型能够提高SD卡的测试效率，同时测试准确。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试设备，具体的说是涉及一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备。
背景技术
SD卡(SecureDigitalMemoryCard)是一种为满足安全性、容量、性能和使用环境等各方面的需求而设计的一种新型存储器件。目前的嵌入式平台的SD卡功能测试大多数采用人工测试的方法，即手动操作SD卡的拔插、卡内视频播放、读写速率等，其效率低下，并且很难覆盖全面的出错场景。还有一些采用继电平台来实现测试，但是这种测试需要额外的硬件设备，且这些硬件设备无法模拟SD卡在实际读写时的所有场景，因而在测试时无法覆盖SD卡在使用时的所有场景，以及这种测试对SD卡的测试压力也不够。
实用新型内容
针对现有技术中的不足，本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备。
为解决上述技术问题，本实用新型通过以下方案来实现：一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，该测试设备包括测试机台底座、设置于所述测试机台底座上的支架、设置于所述支架一侧的伺服马达、设置于所述伺服马达驱动部的压盘，还包括设置于所述压盘正下方、固定在所述测试机台底座上的用于装载SD卡的真空吸盘组件，以及设置于所述测试机台底座上端且置于所述支架后方的测试底板、航插于所述测试底板上的SD卡测试PCB板；
所述真空吸盘组件包括固定在所述测试机台底座上的真空吸盘固定板及设置于所述真空吸盘固定板上端的真空吸盘，所述真空吸盘设置有用于装载SD卡、由多个SD卡置放槽单元组成的SD卡置放槽阵列，所述SD卡置放槽单元设置有用于将所述SD卡吸紧固定的抽气孔路、与所述SD卡端子匹配的端子孔位，所述端子孔位与所述测试机台底座之间设置有具有伸缩功能用于通断电路的双头测试针，所述真空吸盘固定板设置有与所述双头测试针一一对应的接触端子触点；
所述测试底板上设置有microsd转USB协议电路，其上设置有多组测试插槽，所述测试插槽上插接有SD卡测试PCB板，所述SD卡测试PCB板设置有若干能够测试对应SD卡置放槽单元上的SD卡的测试电路单元。
进一步的，所述支架垂直固定于所述测试机台底座上，其上端的水平侧板前侧面固定伺服马达，其水平侧板上设置有垂直安装所述水平侧板的导板，所述导板设置有2个导孔，2 个导杆设置于导孔上，其上端分别连接有横置支架的两端，所述横置支架水平固定在水平侧板的背面上侧，所述伺服马达伸缩杆连接压盘，所述2个导杆下端固定在所述压盘的上端面后侧。
进一步的，所述双头测试针包括上下通孔的外套、设置于所述外套内的导电棒，在所述外套上端孔口设置有比通孔直径较大的圆柱腔，在该圆柱腔内的导电棒设置有凸圈和套于导电棒上的弹簧，所述通孔口设置环形塞，凸圈被环形塞挡住，所述弹簧一端抵在环形塞上，另一端抵在圆柱腔台阶处，弹簧为压缩弹簧，其将导电棒顶紧于环形塞，在受压时再向下压缩形成弹力。
进一步的，所述导电棒上端为尖形并露出于外套上通孔口，其下端露出于外套下通孔口，所述导电棒上端置于端子孔位上且露出一段距离于端子孔位外部，所述导电棒在不受外力时，其下端与真空吸盘固定板上的接触端子触点设置有间距。
进一步的，所述测试底板上至少设置有2层信号线PCB板，在每层信号线PCB板上设置有信号线电路各信号线电路之间设置有防干扰层，所述microsd转USB协议电路设置有microsd转USB协议处理器芯片。
进一步的，所述防干扰层为覆铜接地防干扰层。
进一步的，所述信号线PCB板设置有八层。
进一步的，所述真空吸盘包括吸盘基板、设置于吸盘基板上的SD卡置放槽阵列，所述 SD卡置放槽阵列由多个SD卡置放槽单元组成形成阵列。
进一步的，所述真空吸盘固定板包括固定板基板及设置于固定板基板上的接触端子触点阵列，所述接触端子触点阵列包括若干接触端子触点单元，所述接触端子触点单元上的各触点与双头测试针一一对应，其底端电路连接于所述测试底板上的电路。
进一步的，所述测试电路单元设置有microsd转USB协议桥接电路。
相对于现有技术，本实用新型的有益效果是：本实用新型SD卡的测试设备采用真空吸盘放置SD卡，真空吸盘上设置的抽气孔路能够将SD卡吸紧，当伺服电机压下压盘时，压盘将 SD卡压紧，SD卡将双头测试针向下压，双头测试针被下压后，其下端与接触端子触点接触，接触端子触点通过测试底板电路连接测试插槽，测试插槽插接有SD卡测试PCB板，通过SD 卡测试PCB板上的测试电路对各SD进行测试，并将对应的测试结果显示在显示屏上，显示屏上设置有与SD卡置放槽单元对应的位置，当出现不合格的SD卡，会用特殊的颜色显示。本实用新型能够提高SD卡的测试效率，同时测试准确。
附图说明
图1为本实用新型测试设备外形结构立体图；
图2为本实用新型测试设备侧视面结构示意图；
图3为本实用新型测试设备主视面结构示意图；
图4为本实用新型双头测试针结构示意图；
图5为本实用新型真空吸盘结构示意图；
图6为本实用新型真空吸盘固定板结构示意图；
图7为本实用新型真空吸盘组件与测试底板位置结构示意图；
图8为本实用新型SD卡置放槽单元上的双头测试针对应SD卡的电路图；
图9为本实用新型设置于测试底板上的与图8中的VCC33端电路连接的电路图；
图10为本实用新型测试插槽的各端子对应连接电路示意图；
图11为本实用新型八层信号线PCB板的覆铜接地防干扰层结构示意图；
图12为图11的俯视图；
图13为SD卡的测试电路单元分布示意图；
图14为SD卡的测试电路单元的主控芯片电路；
图15为与主控芯片连接的USB电路；
图16为与主控芯片XSCO HUB1脚、XSC1 HUB1脚连接的电路图；
图17为与主控芯片SUSPEND HUB1脚连接的电路图；
图18为与主控芯片RST HUB1脚连接的电路图；
图19为与主控芯片SEL27脚及VCC5端连接的电路图；
图20为与主控芯片AVDD 20脚、SEL48 25脚连接的电路图；
图21为与主控芯片HUB1 DP1 DM脚和HUB1 DP1 DP脚连接的电路图；
图22为与主控芯片VCC5端、图21电路中的VCC5_HUB1连接的电路图；
图23为microsd转USB协议桥接电路图；
图24为图22的上侧电路图；
图25为图22的左侧电路图；
图26为图22的右侧电路图；
图27为图22的下侧电路图；
图28与主控芯片连接的测试电路图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的优选实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
请参照附图1-12，本实用新型的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，该测试设备包括测试机台底座1、设置于所述测试机台底座1上的支架3、设置于所述支架3一侧的伺服马达4、设置于所述伺服马达4驱动部的压盘5，还包括设置于所述压盘5正下方、固定在所述测试机台底座1上的用于装载SD卡的真空吸盘组件，以及设置于所述测试机台底座1上端且置于所述支架3后方的测试底板2、航插于所述测试底板2上的SD卡测试PCB板8；
所述真空吸盘组件6包括固定在所述测试机台底座1上的真空吸盘固定板61及设置于所述真空吸盘固定板61上端的真空吸盘62，所述真空吸盘62设置有用于装载SD卡、由多个 SD卡置放槽单元组成的SD卡置放槽阵列63，所述SD卡置放槽单元设置有用于将所述SD卡吸紧固定的抽气孔路65、与所述SD卡端子匹配的端子孔位64，所述端子孔位与所述测试机台底座1之间设置有具有伸缩功能用于通断电路的双头测试针66，所述真空吸盘固定板61 设置有与所述双头测试针66一一对应的接触端子触点；
所述测试底板2上设置有microsd转USB协议电路101，其上设置有多组测试插槽211，所述测试插槽211上插接有SD卡测试PCB板8，所述SD卡测试PCB板8设置有若干能够测试对应SD卡置放槽单元上的SD卡的测试电路单元100。
本实施例的一种优选技术方案：所述支架3垂直固定于所述测试机台底座1上，其上端的水平侧板前侧面固定伺服马达4，其水平侧板上设置有垂直安装所述水平侧板的导板9，所述导板9设置有2个导孔，2个导杆10设置于导孔上，其上端分别连接有横置支架的两端，所述横置支架水平固定在水平侧板的背面上侧，所述伺服马达4伸缩杆连接压盘5，所述2 个导杆10下端固定在所述压盘5的上端面后侧。
本实施例的一种优选技术方案：所述双头测试针66包括上下通孔的外套25、设置于所述外套25内的导电棒21，在所述外套25上端孔口设置有比通孔直径较大的圆柱腔，在该圆柱腔内的导电棒21设置有凸圈22和套于导电棒上的弹簧24，所述通孔口设置环形塞，凸圈 22被环形塞挡住，所述弹簧24一端抵在环形塞上，另一端抵在圆柱腔台阶处，弹簧为压缩弹簧，其将导电棒顶紧于环形塞，在受压时再向下压缩形成弹力。
本实施例的一种优选技术方案：所述导电棒21上端为尖形并露出于外套25上通孔口，其下端露出于外套下通孔口，所述导电棒21上端置于端子孔位上且露出一段距离于端子孔位外部，所述导电棒21在不受外力时，其下端与真空吸盘固定板61上的接触端子触点设置有间距。
本实施例的一种优选技术方案：所述测试底板2上至少设置有2层信号线PCB板，在每层信号线PCB板上设置有信号线电路31各信号线电路31之间设置有防干扰层32，所述microsd转USB协议电路101设置有microsd转USB协议处理器芯片。
本实施例的一种优选技术方案：所述防干扰层32为覆铜接地防干扰层。
本实施例的一种优选技术方案：所述信号线PCB板设置有八层。
本实施例的一种优选技术方案：所述真空吸盘62包括吸盘基板、设置于吸盘基板上的SD卡置放槽阵列63，所述SD卡置放槽阵列63由多个SD卡置放槽单元组成形成阵列。
本实施例的一种优选技术方案：所述真空吸盘固定板61包括固定板基板67及设置于固定板基板67上的接触端子触点阵列，所述接触端子触点阵列包括若干接触端子触点单元，所述接触端子触点单元上的各触点与双头测试针66一一对应，其底端电路连接于所述测试底板 2上的电路。
本实施例的一种优选技术方案：所述测试电路单元100设置有microsd转USB协议桥接电路200。
在本实施例中，测试机台底座1上设置有应急按钮及设置于应急按钮左右侧的双操作停止开关和双操作的启动开关7。
本实用新型SD卡的测试设备采用真空吸盘放置SD卡，SD卡放置在SD卡置放槽单元后，其向下的金属端子需对准端子孔位64，首先，通过抽空气，使真空吸盘上设置的抽气孔路能够将SD卡吸紧，然后双手同时按下双操作的启动开关，伺服电机4工作，当伺服电机4压下压盘时，压盘将SD卡压紧，SD卡将双头测试针66向下压，双头测试针被下压后，其下端与接触端子触点接触，接触端子触点通过测试底板电路连接测试插槽，测试插槽插接有SD卡测试PCB板，通过SD卡测试PCB板上的测试电路对各SD进行测试，并将对应的测试结果显示在显示屏上，显示屏上设置有与SD卡置放槽单元对应的位置，当出现不合格的SD卡，会用特殊的颜色显示。本实用新型能够提高SD卡的测试效率，同时测试准确。
当测试完成后，双手同时按下双操作停止开关，伺服电机反转，使压盘上升，然后取出不合格SD卡，快速换上另一个已经装满SD的真空吸盘。
以下根据附图内容将图13-28做详细说明：
图13为SD卡的测试电路单元分布示意图，在这个板体上设置有八组SD卡的测试电路单元。
图14为SD卡的测试电路单元的主控芯片电路，该主控芯片电路为GL850G主控芯片，其各引脚连接电路如下：
V33脚连接一有极性电容C2的正极，有极性电容C2的负极接地，在V33脚与有极性电容C2之间的电路节点上连接有D3.3V_HUB1接线端口；
V5脚连接电阻R1、有极性电容C1的正极，电阻R1另一端接VCC5端口，VCC5端口连接图19中的电路，有极性电容C1的负极接地；
SEL27脚接D3.3V_HUB1端口，该D3.3V_HUB1端口连接图19中的电路，VCC5端口连接稳压器ELM88331BA的IN端，D3.3V_HUB1端口连接稳压器ELM88331BA的OUT端，稳压器ELM88331BA的GND端接地，GND端与OUT端之间连接有电容C8。
OVCUR1#脚接OVCUR HUB1端口；
PGANG脚接SUSPEND HUB1端口，该SUSPEND HUB1端口与图17的电路连接，其连接有电阻R8、电阻R9，电阻R9的另一端连接发光二极管D2的负极，电阻R8、发光二极管D2的正极连接在主控芯片D3.3V_HUB1脚(此处的主控芯片D3.3V_HUB1脚为主控芯片的37脚)；
DVDD 33脚连接D3.3V_HUB1脚；
RESET#26脚为RST HUB1端口，其连接图18电路，RST HUB1端口连接电阻R19，电阻R19的另一端分别连接电容C9、电阻R16、电阻R21，所述电容C9、电阻R21另一端分别接地，所述电阻R16的另一端连接CMOS逻辑IC，该CMOS逻辑IC为ELM7S08，所述CMOS逻辑 IC的2脚连接主控芯片VBUS_HUB1端，其1脚连接主控芯片VCC5端，其5脚连接二极管D3 的负极、二极管D4的负极，所述二极管D3的正极端接入主控芯片VCC5端，所述二极管D4 正极端连接有电阻R10、主控芯片VBUS_HUB1，电阻R10的另一端接地；
DP1 6脚和DM1 5脚连接图21电路，图21电路为USB电路，该USB电路的D+和D-端分别连接DP4 22脚和DM4 21脚，其VBUS端连接有极性电容C24的正极、主控芯片VCC5_HUB1 端口，有极性电容C24的负极接地，该USB电路的GND端接地，并在USB两侧设置有AGND4 电路，AGND4电路与USB上的GND端之间连接有BEAD_120电感；
AVDD 19脚接A3.3V_HUB1端口；该A3.3V_HUB1端口连接图20中的电路，A3.3V_HUB1端口与主控芯片D3.3V_HUB1端口之间连接有0_NC电感L2，并在A3.3V_HUB1端口与接地端之间连接有并联的五个电容，在D3.3V_HUB1端口与接地端之间连接有四个电容；
XSCO_HUB1脚和XSC1_HUB1脚连接图16中的电路，XSCO_HUB1脚和XSC1_HUB1脚分别连接晶振的两端，并在晶振的两端之间连接两个电容，两个电容之间的电路节点上接地；
RREF脚连接电阻R11，电阻R11的另一端接地；
主控芯片VCC5端连接有电阻R2，电阻R2的另一端连接保险丝F1，保险丝F1另一端连接电阻R3，电阻R3另一端连接电阻R6，电阻R6另一端接地，在电阻R3和电阻R6电路之间的电路节点上连接主控芯片OVCUR_HUB1端口，基电阻R3与保险丝F1之间的电路节点上连接主控芯片VCC5_HUB1端口。
图23至图28为本实用新型的microsd转USB协议桥接电路图，其通过对SD卡的检测，判断SD卡的功能是否完善，是否达到行业标准，检测合格后会在显示屏对应的位置显示绿灯，如果不合格会在显示屏对应的位置显示不合格。
以上所述仅为本实用新型的优选实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，该测试设备包括测试机台底座(1)、设置于所述测试机台底座(1)上的支架(3)、设置于所述支架(3)一侧的伺服马达(4)、设置于所述伺服马达(4)驱动部的压盘(5)，其特征在于：还包括设置于所述压盘(5)正下方、固定在所述测试机台底座(1)上的用于装载SD卡的真空吸盘组件，以及设置于所述测试机台底座(1)上端且置于所述支架(3)后方的测试底板(2)、航插于所述测试底板(2)上的SD卡测试PCB板(8)；
所述真空吸盘组件(6)包括固定在所述测试机台底座(1)上的真空吸盘固定板(61)及设置于所述真空吸盘固定板(61)上端的真空吸盘(62)，所述真空吸盘(62)设置有用于装载SD卡、由多个SD卡置放槽单元组成的SD卡置放槽阵列(63)，所述SD卡置放槽单元设置有用于将所述SD卡吸紧固定的抽气孔路(65)、与所述SD卡端子匹配的端子孔位(64)，所述端子孔位与所述测试机台底座(1)之间设置有具有伸缩功能用于通断电路的双头测试针(66)，所述真空吸盘固定板(61)设置有与所述双头测试针(66)一一对应的接触端子触点；
所述测试底板(2)上设置有microsd转USB协议电路(101)，其上设置有多组测试插槽(211)，所述测试插槽(211)上插接有SD卡测试PCB板(8)，所述SD卡测试PCB板(8)设置有若干能够测试对应SD卡置放槽单元上的SD卡的测试电路单元(100)。
2.根据权利要求1所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述支架(3)垂直固定于所述测试机台底座(1)上，其上端的水平侧板前侧面固定伺服马达(4)，其水平侧板上设置有垂直安装所述水平侧板的导板(9)，所述导板(9)设置有2个导孔，2个导杆(10)设置于导孔上，其上端分别连接有横置支架的两端，所述横置支架水平固定在水平侧板的背面上侧，所述伺服马达(4)伸缩杆连接压盘(5)，所述2个导杆(10)下端固定在所述压盘(5)的上端面后侧。
3.根据权利要求1所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述双头测试针(66)包括上下通孔的外套(25)、设置于所述外套(25)内的导电棒(21)，在所述外套(25)上端孔口设置有比通孔直径较大的圆柱腔，在该圆柱腔内的导电棒(21)设置有凸圈(22)和套于导电棒上的弹簧(24)，所述通孔口设置环形塞，凸圈(22)被环形塞挡住，所述弹簧(24)一端抵在环形塞上，另一端抵在圆柱腔台阶处，弹簧为压缩弹簧，其将导电棒顶紧于环形塞，在受压时再向下压缩形成弹力。
4.根据权利要求3所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述导电棒(21)上端为尖形并露出于外套(25)上通孔口，其下端露出于外套下通孔口，所述导电棒(21)上端置于端子孔位上且露出一段距离于端子孔位外部，所述导电棒(21)在不受外力时，其下端与真空吸盘固定板(61)上的接触端子触点设置有间距。
5.根据权利要求1所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述测试底板(2)上至少设置有2层信号线PCB板，在每层信号线PCB板上设置有信号线电路(31)各信号线电路(31)之间设置有防干扰层(32)，所述microsd转USB协议电路(101)设置有microsd转USB协议处理器芯片。
6.根据权利要求5所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述防干扰层(32)为覆铜接地防干扰层。
7.根据权利要求6所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述信号线PCB板设置有八层。
8.根据权利要求1所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述真空吸盘(62)包括吸盘基板、设置于吸盘基板上的SD卡置放槽阵列(63)，所述SD卡置放槽阵列(63)由多个SD卡置放槽单元组成形成阵列。
9.根据权利要求1所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述真空吸盘固定板(61)包括固定板基板(67)及设置于固定板基板(67)上的接触端子触点阵列，所述接触端子触点阵列包括若干接触端子触点单元，所述接触端子触点单元上的各触点与双头测试针(66)一一对应，其底端电路连接于所述测试底板(2)上的电路。
10.根据权利要求1所述的一种采用真空吸盘固定SD卡的测试设备，其特征在于：所述测试电路单元(100)设置有microsd转USB协议桥接电路(200)。
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2018
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN108766503A (zh) * | 2018-06-05 | 2018-11-06 | 深圳市时创意电子有限公司 | 一种采用真空吸盘固定sd卡的测试设备 |
| CN108766503B (zh) * | 2018-06-05 | 2024-07-26 | 深圳市时创意电子股份有限公司 | 一种采用真空吸盘固定sd卡的测试设备 |
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