CN208672759U - 一种测试电路通断的电子装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种测试电路通断的电子装置,属于电路测试技术领域。所述测试电路通断的电子装置包括MCU,用于控制恒流源控制模块和IO电源驱动模块。恒流源控制模块输出恒定电流给IO开关控制模块;IO电源驱动模块控制IO选通模块。可以采用两种方式进行测试:通过恒流源控制模块输出100UA的恒定电流;或MCU发送指令,通过回读数据来测试。对不同测试需要的电路,选择适合的测试方法。而且可以同时测试多组电路,缩短测试时间,提高效率。测试结果的显示载体有两种:通过LED显示灯来显示结果,简单直接的显示方式可以让测试者快速明了的知道测试结果;通过LED显示屏来显示结果,这样可以显示具体详细的测试数据,让测试可以通过具体数据来做作具体分析。
Description
技术领域
本实用新型涉及电路测试技术领域,特别涉及一种测试电路通断的电子装置。
背景技术
测试电路通断的装置是电路测试环节必备的测试工具,但传统的测试电路的装置都是通过硬件方式处理的,测试方式比较单一,而且一次只能测试一只电路,测试效率较低。此外显示结果的方式也比较简单,不能显示具体测试的各项数据。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种测试电路通断的电子装置,以解决现有的测试方法单一且效率低的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种测试电路通断的电子装置,包括:
MCU,用于控制恒流源控制模块和IO电源驱动模块;
所述恒流源控制模块输出恒定电流给IO开关控制模块;
所述IO电源驱动模块控制IO选通模块;
所述IO开关控制模块和所述IO选通模块均输出至测试接口组模块。
可选的,所述测试电路通断的电子装置还包括蜂鸣器、显示灯和显示屏,均受所述MCU控制。
可选的,所述测试电路通断的电子装置还包括电源控制模块,用于向MCU、蜂鸣器、显示灯、显示屏、恒流源控制模块、IO开关控制模块、IO电源驱动模块、IO选通模块和测试接口组模块供电。
可选的,所述MCU控制所述IO开关控制模块和所述IO选通模块。
可选的,所述MCU、所述蜂鸣器、所述显示灯、所述显示屏、所述恒流源控制模块、所述IO开关控制模块、所述IO电源驱动模块、所述IO选通模块、所述测试接口组模块和所述电源控制模块均设置在控制线路板上。
可选的,所述显示灯为LED显示灯,所述显示屏为LED显示屏。
在本实用新型中提供了一种测试电路通断的电子装置,包括MCU、恒流源控制模块、IO电源驱动模块。所述MCU控制恒流源控制模块和IO电源驱动模块;所述恒流源控制模块输出恒定电流给IO开关控制模块;所述IO电源驱动模块控制IO选通模块。通过该测试电路通断的电子装置可以采用两种方式测试电路通断:通过恒流源控制模块输出100UA的恒定电流来测试,也可以通过MCU发送指令,通过回读数据来测试。针对不同测试需要的电路,选择适合的测试方法。而且可以同时测试多组电路,缩短了测试时间,提高了测试效率。测试结果的显示载体有两种,一种通过LED显示灯来显示结果,这样简单直接的显示方式可以让测试者快速明了的知道测试结果;另一种通过LED显示屏来显示结果,这样可以显示具体详细的测试数据,让测试可以通过具体数据来做作具体分析。
附图说明
图1是本实用新型提供的测试电路通断的电子装置的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的一种测试电路通断的电子装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书,本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
实施例一
本实用新型提供了一种测试电路通断的电子装置,其结构示意图如图1所示。所述测试电路通断的电子装置包括MCU 1,用于控制恒流源控制模块2和IO电源驱动模块3,所述恒流源控制模块2输出恒定电流给IO开关控制模块4;所述IO电源驱动模块3控制IO选通模块5;所述IO开关控制模块4和所述IO选通模块5均输出至测试接口组模块6。所述测试接口组模块6用于连接待测电路。
具体的,所述测试电路通断的电子装置还包括蜂鸣器7、显示灯8和显示屏9,均受所述MCU 1控制。并且,所述显示灯8为LED显示灯,所述显示屏9为LED显示屏。进一步的,所述测试电路通断的电子装置还包括电源控制模块10,用于向所述MCU 1、恒流源控制模块2、所述IO电源驱动模块3、所述IO开关控制模块4、所述IO选通模块5、所述测试接口组模块6、所述蜂鸣器7、所述显示灯8和所述显示屏9供电。更进一步的,上述的所有部件均设置在控制线路板上。
第一种测试方法:所述MCU 1控制恒流源控制模块2,所述恒流源控制模块2输出100UA的恒定电流给IO开关控制模块4,再通过所述IO开关控制模块4输出给测试接口组模块6;
相类似的,所述MCU 1控制IO电源驱动模块3,通过所述IO电源驱动模块3输出控制IO选通模块5,再通过所述IO选通模块5来输出选通的测试点给所述测试接口组模块6。
通过所述MCU 1来控制所述蜂鸣器7的输出:当所有测试点都成功通过测试,即测试结果满足设定的测试要求,则蜂鸣器7则发出短暂的“嘀”的蜂鸣声,时长约1秒;当有1个或1个以上的测试点测试结果不满足测试要求,则蜂鸣器7则发出一段“嘀——”的蜂鸣声,时长约3秒。
通过所述MCU 1来控制所述显示灯8的输出,当所有测试点都成功通过测试,即测试结果满足设定的测试要求,则显示灯8的所有的指示灯全亮或者全部显示绿光;当有1个或1个以上的测试点测试结果不满足测试要求,则显示灯8的对应测试点的指示灯不亮或者显示红光。
通过所述MCU 1来控制所述显示屏9的显示,当所有测试点都成功通过测试,即测试结果满足设定的测试要求,则显示屏9显示所有测试点都通过的字样,并显示测试的具体数值。当有1个或1个以上的测试点测试结果不满足测试要求,则显示屏9显示对应测试点都不通过的字样,并显示测试的具体数值,以便测试者对测试不通过的原因进行分析。
第二种测试方法:通过所述MCU 1来控制IO电源驱动模块3,再通过所述IO电源驱动模块3输出到控制IO选通模块5,通过IO选通模块5来输出选通的测试点A和测试点B给测试接口组模块6,再给待测的测试点A发一段编码同时,通过所述MCU 1读出另一个测试点B的数据,再通过所述MCU 1比对数据。
通过所述MCU 1来控制蜂鸣器7的输出,当所有测试点都成功通过测试,即测试结果满足设定的测试要求,则蜂鸣器7发出短暂的“嘀”的蜂鸣声,时长约1秒;当有1个或1个以上的测试点测试结果不满足测试要求,则蜂鸣器7发出一段“嘀——”的蜂鸣声,时长约3秒。
通过所述MCU 1来控制显示灯8的输出,当所有测试点都成功通过测试,即测试结果满足设定的测试要求,则显示灯8的所有的指示灯全亮或者全部显示绿光;当有1个或1个以上的测试点测试结果不满足测试要求,则显示灯8的对应测试点的指示灯不亮或者显示红光。
通过所述MCU 1来控制显示屏9的显示,当所有测试点都成功通过测试,即测试结果满足设定的测试要求,则显示屏9显示所有测试点都通过的字样,并显示测试的具体数值。当有1个或1个以上的测试点测试结果不满足测试要求,则显示屏9显示对应测试点都不通过的字样,并显示测试的具体数值,以便测试者对测试不通过的原因进行分析。
通过本实用新型的测试电路通断的电子装置,可以采用两种方式测试电路通断:一是通过恒流源控制模块输出100UA的恒定电流来测试,也可以通过MCU发送指令,通过回读数据来测试。针对待测电路的不同测试需求,选择适合的测试方法。而且可以通过增加测试接口组模块的接口数量,同时测试多组电路,缩短了测试时间,提高了测试效率。通过两种载体显示测试结果,一种通过LED显示灯来显示结果,这样简单直接的显示方式可以让测试者快速明了的知道测试结果;另一种通过LED显示屏来显示结果,这样可以显示具体详细的测试数据,让测试可以通过具体数据来做作具体分析。
上述描述仅是对本实用新型较佳实施例的描述,并非对本实用新型范围的任何限定,本实用新型领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰,均属于权利要求书的保护范围。
Claims (6)
1.一种测试电路通断的电子装置,其特征在于,包括:MCU,用于控制恒流源控制模块和IO电源驱动模块;所述恒流源控制模块输出恒定电流给IO开关控制模块;所述IO电源驱动模块控制IO选通模块;所述IO开关控制模块和所述IO选通模块均输出至测试接口组模块。
2.如权利要求1所述的测试电路通断的电子装置,其特征在于,所述测试电路通断的电子装置还包括蜂鸣器、显示灯和显示屏,均受所述MCU控制。
3.如权利要求2所述的测试电路通断的电子装置,其特征在于,所述测试电路通断的电子装置还包括电源控制模块,用于向MCU、蜂鸣器、显示灯、显示屏、恒流源控制模块、IO开关控制模块、IO电源驱动模块、IO选通模块和测试接口组模块供电。
4.如权利要求1所述的测试电路通断的电子装置,其特征在于,所述MCU控制所述IO开关控制模块和所述IO选通模块。
5.如权利要求3所述的测试电路通断的电子装置,其特征在于,所述MCU、所述蜂鸣器、所述显示灯、所述显示屏、所述恒流源控制模块、所述IO开关控制模块、所述IO电源驱动模块、所述IO选通模块、所述测试接口组模块和所述电源控制模块均设置在控制线路板上。
6.如权利要求2所述的测试电路通断的电子装置,其特征在于,所述显示灯为LED显示灯,所述显示屏为LED显示屏。
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CN201821263323.XU CN208672759U (zh) | 2018-08-07 | 2018-08-07 | 一种测试电路通断的电子装置 |
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CN108710077A (zh) * | 2018-08-07 | 2018-10-26 | 中科芯集成电路股份有限公司 | 一种测试电路通断的电子装置 |
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2018
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