CN209542778U - 一种用于io自动测试平台的开关量输出校验卡 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡，包括多通道开关量输出模块、FPGA、微处理器、电源模块和通讯接口；多通道开关量输出模块的每一个通道输出开关量校验信号，实现对被测试电路的开关量输入模块进行自动同时校验；FPGA用于和自动测试平台通讯，接收所需数据和状态参数，控制开关量输出通道进行同时校验以及与微处理器交换数据；微处理器负责处理和控制，完成开关量信息的输出。本实用新型可以实现对被测试电路的开关量输入模块进行自动同时检测，提高了测试的自动化水平、工作效率和测试精度，降低了人工成本。

Description

一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡

技术领域

本实用新型涉及电路板测试领域，尤其涉及一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡。

背景技术

国外从20世纪初就开始研制电路板测试系统，起初主要应用于军事领域。据统计采用电路板测试后，可以使装备的测试效率提高10倍以上，在其全寿命周期内节省费用20％以上。鉴于电路板测试在生产维护中的卓越功能，世界各国都投入研制各自的电路板测试技术，促进了这一行业的飞速发展。其中开关量输出校验是电路板测试的重要组成部分。

现有技术中，对电路板开关量输入模块的测试主要依靠人工完成，利用单一功能测试平台逐一测试开关量输入模块。这需要大量人工以及时间来完成该工作，并且测试的效率及精度都不高。因此，为了提高电路板测试的自动化水平、工作效率以及测试精度同时降低测试工作的人工成本，需要开发电路板自动测试平台装置中的开关量输出校验装置。

因此，本领域的技术人员致力于开发一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡，可以实现对电路板中开关量信号输入模件的自动检测。

实用新型内容

有鉴于现有技术的上述缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是如何实现开关量输入模件的自动检测以及与自动测试平台进行通讯。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡，包括多通道开关量输出模块、FPGA、微处理器、电源模块和通讯接口，其中：

所述多通道开关量输出模块的每一个通道输出开关量校验信号，实现对被测试电路的开关量输入信号模块进行自动同时校验；

所述FPGA与所述多通道开关量输出模块连接，用于和自动测试平台通讯，接收所需要的数据和状态参数；将接收到的多通道开关量发送给所述多通道开关量输出模块；与所述微处理器进行数据交换；

所述微处理器与所述FPGA通过并行总线连接进行通讯，负责对采集数据进行处理，完成多通道开关量的输出；

所述通讯接口用于与自动测试平台进行数据传输；

所述电源模块为所述开关量输出校验卡供电。

进一步地，所述多通道开关量输出模块包括32个开关量输出通道。

进一步地，所述多通道开关量输出通道的每一个通道输出的开关量信号可驱动负载电压40V，驱动负载电流4.5A。

进一步地，所述通讯接口采用并行异步串口通讯。

进一步地，所述微处理器为32位的ARM7M0516LAN芯片。

进一步地，所述FPGA内部包括一个双口RAM，所述FPGA通过双口单片机ARM与外部交换数据。

进一步地，所述FPGA为Lattice公司LCMX02-1200HC-6TG100芯片。

进一步地，所述微处理器采用高速磁介质隔离芯片。

进一步地，所述电源模块将两路24V直流供电通过2个二极管进行比较，选择压值大的一路源转换为正负12V、5V或3.3V直流电源。

进一步地，所述开关量输出校验卡还包括一个与所述微处理器相连的看门狗电路。

本实用新型具有以下技术效果：与自动测试平台配合使用，操作人员通过自动测试平台的人机界面进行操作，可以实现对被测试电路的开关量输入模块进行自动检测，提高了测试的自动化水平、工作效率和测试精度，降低了人工成本。

以下将结合附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本实用新型的目的、特征和效果。

附图说明

图1是本实用新型的一个较佳实施例的开关量输出校验卡结构框图。

具体实施方式

以下参考说明书附图介绍本实用新型的一个优选实施例，使其技术内容更加清楚和便于理解。本实用新型可以通过许多不同形式的实施例来得以体现，本实用新型的保护范围并非仅限于文中提到的实施例。

在附图中，结构相同的部件以相同数字标号表示，各处结构或功能相似的组件以相似数字标号表示。附图所示的每一组件的尺寸和厚度是任意示出的，本实用新型并没有限定每个组件的尺寸和厚度。为了使图示更清晰，附图中有些地方适当夸大了部件的厚度。

如图1所示，本实施例提供的开关量输出检验卡，是IO自动测试平台的功能模块之一，具有32路开关量信号输出通道，包括32路通道开关量输出模块，FPGA、微处理器、电源模块和通讯接口。

在32路通道开关量输出模块中，每一个通道输出的开关量校验信号可实现对被测电路板的开关量输入模块进行自动校验，并且32路通道能够进行同时校验，较好地解决了单一功能测试平台中需要逐一测试开关量输入模块的缺陷。

每路通道所输出的开关量信号能够驱动负载电压40V，驱动负载电流4.5A。

在32路通道开关量输出模块与FPGA之间设置了一个光隔离模块，对32路开关量输出信号进行隔离，能有效地抑制系统噪声，消除接地回路的干扰，具有响应速度较快、寿命长、体积小、耐冲击等优点。

通信接口采用了并行异步串口通讯，能更快更好地解决开关量输出校验卡与自动测试平台之间的数据传输问题。

微处理器用于对采集数据进行处理和控制，通过并行总线与FPGA交换数据和命令。本实施例中，采用的是新塘32位的微控制器ARM7M0516LAN芯片，用C语言编程，并通过并行异步串口通讯，完成32通道开关量的输出。此外，为了隔离现场设备对微处理器的干扰，保证其正常工作，微处理器采用了高速磁介质隔离芯片。

FPGA与自动测试平台进行通讯，将所需要的数据和状态参数传送给微处理器；微处理器将处理后的开关量输出信息传给FPGA，由FPGA输出给32路通道开关量输出模块，对被测电路板的开关量输入模件进行自动同时校验。

本实施例中，FPGA采用Lattice公司LCMX02-1200HC-6TG100芯片。在FPGA内部还设置有一个双口RAM，FPGA通过双口单片机ARM处理器与外部进行数据通讯。

电源模块将自动测试平台的两路24V直流供电通过2个二极管进行比较，选择压值大的一路电源转换为正负12V、5V或3.3V直流电源，给各个模块供电。

本实施中，还设置了一个与微处理器相连的看门狗电路，用于监控主程序的运行，保证系统正常工作。

以上详细描述了本实用新型的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术无需创造性劳动就可以根据本实用新型的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本技术领域中技术人员依本实用新型的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。

Claims (10)

1.一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡，其特征在于，包括多通道开关量输出模块、FPGA、微处理器、电源模块和通讯接口，其中：

所述多通道开关量输出模块的每一个通道输出开关量校验信号，实现对被测试电路的开关量输入信号模块进行自动同时校验；

所述FPGA与所述多通道开关量输出模块连接，用于和自动测试平台通讯，接收所需要的数据和状态参数；将接收到的多通道开关量发送给所述多通道开关量输出模块；与所述微处理器进行数据交换；

所述微处理器与所述FPGA通过并行总线连接进行通讯，负责对采集数据进行处理，完成多通道开关量的输出；

所述通讯接口用于与自动测试平台进行数据传输；

所述电源模块为所述开关量输出校验卡供电。

2.如权利要求1所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述多通道开关量输出模块包括32个开关量输出通道。

3.如权利要求1或2所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述多通道开关量输出通道的每一个通道输出的开关量信号可驱动负载电压40V，驱动负载电流4.5A。

4.如权利要求1所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述通讯接口采用并行异步串口通讯。

5.如权利要求1所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述微处理器为32位的ARM7M0516LAN芯片。

6.如权利要求1所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述FPGA内部包括一个双口RAM，所述FPGA通过双口单片机ARM与外部交换数据。

7.如权利要求1或6所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述FPGA为Lattice公司LCMX02-1200HC-6TG100芯片。

8.如权利要求1所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述微处理器采用高速磁介质隔离芯片。

9.如权利要求1所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述电源模块将两路24V直流供电通过2个二极管进行比较，选择压值大的一路电源转换为正负12V、5V或3.3V直流电源。

10.如权利要求1所述的开关量输出校验卡，其特征在于，所述开关量输出校验卡还包括一个与所述微处理器相连的看门狗电路。