CN208653364U - 一种锥齿轮齿厚m值检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种锥齿轮齿厚M值检测装置，包括平板、测量底座、测球、定位芯轴、螺母、涨套、限位圈，平板为一块测量用平板，其上放置测量底座，测量底座内部有一个台阶孔，底部小孔配合定位芯轴，上部大孔比锥齿轮大端齿顶圆大，中间有一个台阶面，外部有一个台阶外圆，定位芯轴底部的外圆与测量底座的小孔紧配、上部有外锥，与涨套及螺母组成一套内孔涨紧机构，限位圈有两段台阶孔，底部的孔与测量底座的台阶外圆为间隙滑配，上部内孔比锥齿轮大端齿顶圆大，两端有个向内凸出的小块。本实用新型解决了锥齿轮M值测量中测球不好定位，从而导致无法有效测量和检测精度不高的问题。本实用新型结构简单，操作方便，可实现大批量锥齿轮M值的在线检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种锥齿轮齿厚M值检测装置。
背景技术
锥齿轮目前是一种使用广泛的齿轮类型，锥齿轮齿厚是个重要的指标。由于锥齿厚不方便测量，现在很多图纸在设计时都以跨球距作为测量参数。跨球距即是齿轮的M值，圆柱齿轮的M值测量技术比较成熟，使用范围也很广 ，但锥齿轮M值测量相对较难。目前有两种测量方法，一种是比较测量法，用一个标准齿轮作为参考，再用带测球的测杆进行比较检测，这种方法需要有一个锥齿轮标准件。另一种是把零件放入一个带检测环的测量底座中，再放入钢珠检测，但该装置存在局限性：首先有的图纸在设计中选用的钢珠较小，且钢珠测量位置设计在齿槽中部，导致测球没有凸出在齿廓外有的部分；锥齿轮M值的尺寸比锥齿轮大端齿顶圆大，此时零件根本无法放入测量座中，如果重新换算成更大的量珠检测，由于锥齿轮的齿形存在误差，其检测点不在设计的位置中，从而导致检测精度下降；其次有的锥齿轮内孔的公差很大，当内孔处在取大值时与定位芯轴之间的间隙很会大，这样也会影响检测精度。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种锥齿轮齿厚M值检测装置，克服目前测量装置测球不好定位以及检测精度低的缺点。
一种锥齿轮齿厚M值检测装置，其特征在于：包括平板、测量底座、测球、定位芯轴、螺母、涨套、限位圈，平板为一块测量用平板，其上放置测量底座，测量底座内部有一个台阶孔，底部小孔配合定位芯轴，上部大孔比锥齿轮大端齿顶圆大，中间有一个台阶面，外部有一个台阶外圆，定位芯轴底部的外圆与测量底座的小孔紧配、上部有外锥，与涨套及螺母组成一套内孔涨紧机构，限位圈有两段台阶孔，底部的孔与测量底座的台阶外圆为间隙滑配，上部内孔比锥齿轮大端齿顶圆大，两端有个向内凸出的小块。
一种锥齿轮齿厚M值检测装置，其特征在于：限位圈装入测量底座后，其高度比测球所处在的高度低1～2毫米，方便高度尺测量。
一种锥齿轮齿厚M值检测装置，其特征在于：限位圈内凸块设计时让开锥齿轮的齿，凸块的内径尺寸就是M值中量球的径向测量基准尺寸，限位圈内凸块的数量可根据零件齿数设计。
本实用新型的优点是：本实用新型解决了锥齿轮M值测量中测球不好定位，从而导致无法有效测量和检测精度不高的问题。在测球没有凸出在齿廓或M值小于锥齿轮大端齿顶圆情况下也能方便快捷地检测锥齿轮的M值。本实用新型结构简单，操作方便，可实现大批量的锥齿轮M值的在线检测。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2是图1的俯视结构示意图；
图3是图1的测量底座与限位圈配合关系结构示意图；
图中：平板1，测量底座2，测球3，定位芯轴4，螺母5，涨套6，锥齿轮7，限位圈8。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步说明：
一种锥齿轮齿厚M值检测装置，其特征在于：包括平板1、测量底座2、测球3、定位芯轴4、螺母5、涨套6、限位圈8，平板1为一块测量用平板，其上放置测量底座2，测量底座2内部有一个台阶孔，底部小孔配合定位芯轴4，上部大孔比锥齿轮大端齿顶圆大，中间有一个台阶面，外部有一个台阶外圆，定位芯轴4底部的外圆与测量底座2的小孔紧配、上部有外锥，与涨套6及螺母5组成一套内孔涨紧机构，限位圈8有两段台阶孔，底部的孔与测量底座2的台阶外圆为间隙滑配，上部内孔比锥齿轮大端齿顶圆大，两端有个向内凸出的小块，限位圈8内凸块设计时让开锥齿轮7的齿，凸块的内径尺寸就是M值中量球的径向测量基准尺寸，限位圈8内凸块的数量可根据零件齿数设计。限位圈8装入测量底座2后，其高度比测球3所处在的高度低1～2毫米，方便高度尺测量。
测量时，测量底座2放在平板1上，锥齿轮7套入涨套6上，锥齿轮7底部与测量底座2的内孔台阶平面贴平，再转动螺母5，涨套6紧固锥齿轮7的内孔，固定好锥齿轮7后，再把限位圈8套入测量底座2上部外圆上，限位圈8的内凸块对准锥齿轮7的齿槽，根据图纸参数要求选择符合图纸规格的测球3，把测球3放入锥齿轮7的齿槽中，测球3停在锥齿轮7的齿槽及限位圈8的内凸块的内圈中，此时测球3处在锥齿轮7 M值中测球所在的径向尺寸位置¢D上。把高度尺放入平板1上，并利高度尺测量测球3的高度尺寸H，即是锥齿轮M值中测球的轴向位置尺寸 。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，则应当视为属于本实用新型所提交的权利要求书确定的保护范围。
Claims (3)
1.一种锥齿轮齿厚M值检测装置，其特征在于：包括平板（1）、测量底座（2）、测球（3）、定位芯轴（4）、螺母（5）、涨套（6）、限位圈（8），平板（1）为一块测量用平板，其上放置测量底座（2），测量底座（2）内部有一个台阶孔，底部小孔配合定位芯轴（4），上部大孔比锥齿轮（7）大端齿顶圆大，中间有一个台阶面，外部有一个台阶外圆，定位芯轴（4）底部的外圆与测量底座（2）的小孔紧配、上部有外锥，与涨套（6）及螺母（5）组成一套内孔涨紧机构，限位圈（8）有两段台阶孔，底部的孔与测量底座（2）的台阶外圆为间隙滑配，上部内孔比锥齿轮（7）大端齿顶圆大，两端有个向内凸出的小块。
2.根据权利要求1所述的锥齿轮齿厚M值检测装置，其特征在于：限位圈（8）装入测量底座（2）后，其高度比测球所处在的高度低1～2毫米。
3.根据权利要求1或2所述的锥齿轮齿厚M值检测装置，其特征在于：限位圈（8）内凸块设计时让开锥齿轮的齿，凸块的内径尺寸就是M值中量球的径向测量基准尺寸，限位圈（8）内凸块的数量可根据零件齿数设计。
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| CN201821326655.8U CN208653364U (zh) | 2018-08-17 | 2018-08-17 | 一种锥齿轮齿厚m值检测装置 |
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| CN201821326655.8U CN208653364U (zh) | 2018-08-17 | 2018-08-17 | 一种锥齿轮齿厚m值检测装置 |
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| CN208653364U true CN208653364U (zh) | 2019-03-26 |
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| CN (1) | CN208653364U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112935875A (zh) * | 2021-03-12 | 2021-06-11 | 四川明日宇航工业有限责任公司 | 一种薄壁结构件装夹工装及加工方法 |
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2018
- 2018-08-17 CN CN201821326655.8U patent/CN208653364U/zh not_active Expired - Fee Related
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