CN208635735U - 槽深测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测距仪的技术领域，提供了一种槽深测量装置，包括：基座、X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨、用于固定待测物体的夹具，基座上设置有支撑架，支撑架包括架设于基座上方的横梁和设置在基座上并支撑在横梁下方的支撑柱，夹具滑设在X轴滑轨上，Y轴滑轨设置在横梁上，Z轴滑轨通过连接件滑设在Y轴滑轨上，Z轴滑轨上滑设有用于在夹具滑动至Z轴滑轨正下方时获取顶面与凹槽底面之间高度差的激光测距仪。本实用新型提供的槽深测量装置，激光测距仪能够对准待测量物体顶面上的任意一点进行测量，激光测距仪在测试的过程中不需要与待测物体直接接触，省去了调试激光测距仪与待测物体之间进行物理接触所需的时间，测量速度非常快。

Description

槽深测量装置

技术领域

本实用新型属于测距仪的技术领域，更具体地说，是涉及一种槽深测量装置。

背景技术

在机械加工的过程中，经常需要在产品上刻一些凹槽，比如说刻制商标的时候，通常是在待测物体的顶面上刻出多条用于组成该商标的凹槽。凹槽刻完之后通常需要对凹槽的深度进行测量，目前，通常采用三坐标测量机或高度规来测量凹槽深，可是三坐标测量机和高度规分别需要将自身一抵接件机械式地先后抵接在待测物体的顶面和凹槽底面上后才能够获取凹槽深，整个测试的速度非常慢。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种槽深测量装置，以解决现有技术中存在的在机械式测量槽深的过程中速度慢的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：提供一种槽深测量装置，用于测量待测物体的顶面上的凹槽深度，包括：基座、X轴滑轨、Y轴滑轨、Z 轴滑轨、用于固定待测物体的夹具，所述基座上设置有支撑架，所述支撑架包括架设于所述基座上方的横梁和设置在所述基座上并支撑在所述横梁下方的支撑柱，所述横梁与所述基座之间具有用于供所述夹具穿过的容置间隙，所述X 轴滑轨设置在所述基座上并穿过所述容置间隙，所述夹具滑设在所述X轴滑轨上，所述Y轴滑轨设置在所述横梁上，所述Z轴滑轨通过连接件滑设在所述Y 轴滑轨上，所述Z轴滑轨上滑设有用于在所述夹具滑动至所述Z轴滑轨正下方时获取所述顶面与所述凹槽底面之间高度差的激光测距仪。

进一步地，所述激光测距仪包括用于朝所述Z轴滑轨延伸方向向下发射激光束的激光发射器和用于接收所述激光束照射在所述待测物体上时被所述待测物体反射的反射光束的激光接收器。

进一步地，还包括设置在所述基座上的防护罩，所述激光发射器和所述激光接收器分别被罩设于所述防护罩内。

进一步地，所述防护罩的侧壁上开设有供所述夹具进出的通孔，所述X轴滑轨穿过所述通孔。

进一步地，所述防护罩的外壁上设置有与所述激光接收器电性连接并将所述激光接收器所获取的距离信息显示出来的液晶屏。

进一步地，所述夹具的数量至少为两个，所述X轴滑轨的数量至少为两个，至少两个所述夹具与至少两个所述X轴滑轨一一对应。

进一步地，至少两个所述X轴滑轨之间相互平行设置。

进一步地，所述Y轴滑轨位于所述横梁的顶端面上。

进一步地，所述支撑柱的数量为两个，两个所述支撑柱分别支撑在所述横梁的两端的下端面上。

进一步地，各所述支撑柱的下端分别设置有固定板，所述固定板可拆卸地固定在所述基座上。

本实用新型提供的槽深测量装置的有益效果在于：与现有技术相比，本实用新型提供的槽深测量装置，通过X轴滑轨、Y轴滑轨和Z轴滑轨能够非常方便地调节激光测距仪与夹具之间的相对位置关系，使得激光测距仪能够对准待测量物体顶面上的任意一点进行测量。当夹具位于Z轴滑轨正下方时，激光测距仪能够分别测量激光测距仪离顶面的第一距离以及激光测距仪与凹槽底面之间的第二距离，第一距离与第二距离之差即可获得凹槽的深度，激光测距仪在测试的过程中不需要与待测物体直接接触，省去了调试激光测距仪与待测物体之间进行物理接触所需的时间，测量速度非常快。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的槽深测量装置的主视结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的槽深测量装置去除防护罩后的俯视结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的激光测距仪的左侧安装结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的槽深测量装置的左视结构示意图。

其中，图中各附图标记：

1-基座；2-X轴滑轨；3-Y轴滑轨；4-Z轴滑轨；51-夹具；52-待测物体； 521-顶面；6-支撑架；61-横梁；62-支撑柱；621-固定板；63-容置间隙；7- 激光测距仪；81-防护罩；82-通孔；83-液晶屏；9-连接件。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请一并参阅图1至图3，现对本实用新型提供的槽深测量装置进行说明。所述槽深测量装置，用于测量待测物体52的顶面521上的凹槽(未图示)深度，包括：基座1、X轴滑轨2、Y轴滑轨3、Z轴滑轨4、用于固定待测物体52的夹具51，基座1上设置有支撑架6，支撑架6包括架设于基座1上方的横梁61 和设置在基座1上并支撑在横梁61下方的支撑柱62，横梁61与基座1之间具有用于供夹具51穿过的容置间隙63，X轴滑轨2设置在基座1上并穿过容置间隙63，夹具51滑设在X轴滑轨2上，Y轴滑轨3设置在横梁61上，Z轴滑轨4 通过连接件9滑设在Y轴滑轨3上，Z轴滑轨4上滑设有用于在夹具51滑动至 Z轴滑轨4正下方时获取顶面521与凹槽底面之间高度差的激光测距仪7。

如此，横梁61架设在基座1上方，X轴滑轨2设置在基座1上，Y轴滑轨 3设置在横梁61上，Z轴滑轨4通过连接件9滑设在Y轴滑轨3上，激光测距仪7滑设在Z轴滑轨4上，夹具51能够通过X轴滑轨2在X轴方向滑动，激光测距仪7能够通过Y轴滑轨3和Z轴滑轨4分别在Y轴方向和Z轴方向滑动，即通过X轴滑轨2、Y轴滑轨3和Z轴滑轨4能够非常方便地调节激光测距仪7 与夹具51之间的相对位置关系，使得激光测距仪7能够对准待测量物体顶面 521上的任意一点进行测量。当夹具51位于Z轴滑轨4正下方时，激光测距仪 7能够分别测量激光测距仪7离顶面521的第一距离(未图示)以及激光测距仪7与凹槽底面之间的第二距离(未图示)，第一距离与第二距离之差即可获得凹槽的深度，激光测距仪7在测试的过程中不需要与待测物体52直接接触，省去了调试激光测距仪7与待测物体52之间进行物理接触所需的时间，测量速度非常快。

其中，可选地，在一个实施例中，夹具51在X轴滑轨2上的滑动、Z轴滑轨4通过连接件9在Y轴滑轨3上的滑动以及激光测距仪7在Z轴滑轨4上的滑动分别通过伺服电机驱动的。当然，在另一个实施例中，上述各种滑动都是用户用手推动的。

进一步地，请参阅图3，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，激光测距仪7包括用于朝Z轴滑轨4延伸方向向下发射激光束的激光发射器(未图示)和用于接收激光束照射在待测物体52上时被待测物体52 反射的反射光束的激光接收器(未图示)。如此，激光发射器发射的激光光束照射到待测物体52上后会被待测物体52反射形成反射光束，反射光束被激光接收器接收就能够获得激光发射器离待测物体52之间的距离。

进一步地，请参阅图3和图4，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，还包括设置在基座1上的防护罩81，激光发射器和激光接收器分别被罩设于防护罩81内。如此，激光发射器发出的光束被待测物体52反射后不会对周边环境产生光污染。

进一步地，请参阅图1和图2，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，防护罩81的侧壁上开设有供夹具51进出的通孔82，X轴滑轨2穿过通孔82。如此，夹具51通过X轴滑轨2进出防护罩81的时候不需要打开或关闭防护罩81。

进一步地，请参阅图1，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，防护罩81的外壁上设置有与激光接收器电性连接并将激光接收器所获取的距离信息显示出来的液晶屏83。如此，激光接收器根据所接收到的反射光束获取到距离参数之后将该参数在也就液晶屏83上显示出来，非常的直观。该参数可以是第一距离的数值，也可以是第二距离的数值，还可以是第一距离与第二距离之差得到的凹槽深度的数值。

进一步地，请参阅图2，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，夹具51的数量至少为两个，X轴滑轨2的数量至少为两个，至少两个夹具51与至少两个X轴滑轨2一一对应。如此，当激光测距仪7正在测试其中一个夹具51上的待测物体52的时候，其余的夹具51能够进行上下料的操作，节省了时间。

进一步地，请参阅图2，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，至少两个X轴滑轨2之间相互平行设置。如此，各X轴滑轨2上的夹具51在相对移动的过程中不容易发生碰撞。

进一步地，请参阅图1至图4，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，Y轴滑轨3位于横梁61的顶端面(未图示)上。如此，Y轴滑轨3被支撑在横梁61的顶端面上，使得Y轴滑轨3更加的牢固。

进一步地，请参阅图3，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，支撑柱62的数量为两个，两个支撑柱62分别支撑在横梁61的两端的下端面(未图示)上。如此，两个支撑柱62支撑横梁61的时候，横梁61 的受力更加均匀。

进一步地，请参阅图3，作为本实用新型提供的槽深测量装置的一种具体实施方式，各支撑柱62的下端分别设置有固定板621，固定板621可拆卸地固定在基座1上。如此，支撑柱62通过固定板621能够非常方便地与基座1之间进行固定或分离。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.槽深测量装置，用于测量待测物体的顶面上的凹槽深度，包括：基座、X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨、用于固定待测物体的夹具，其特征在于：所述基座上设置有支撑架，所述支撑架包括架设于所述基座上方的横梁和设置在所述基座上并支撑在所述横梁下方的支撑柱，所述横梁与所述基座之间具有用于供所述夹具穿过的容置间隙，所述X轴滑轨设置在所述基座上并穿过所述容置间隙，所述夹具滑设在所述X轴滑轨上，所述Y轴滑轨设置在所述横梁上，所述Z轴滑轨通过连接件滑设在所述Y轴滑轨上，所述Z轴滑轨上滑设有用于在所述夹具滑动至所述Z轴滑轨正下方时获取所述顶面与所述凹槽底面之间高度差的激光测距仪。

2.如权利要求1所述的槽深测量装置，其特征在于：所述激光测距仪包括用于朝所述Z轴滑轨延伸方向向下发射激光束的激光发射器和用于接收所述激光束照射在所述待测物体上时被所述待测物体反射的反射光束的激光接收器。

3.如权利要求2所述的槽深测量装置，其特征在于：还包括设置在所述基座上的防护罩，所述激光发射器和所述激光接收器分别被罩设于所述防护罩内。

4.如权利要求3所述的槽深测量装置，其特征在于：所述防护罩的侧壁上开设有供所述夹具进出的通孔，所述X轴滑轨穿过所述通孔。

5.如权利要求3所述的槽深测量装置，其特征在于：所述防护罩的外壁上设置有与所述激光接收器电性连接并将所述激光接收器所获取的距离信息显示出来的液晶屏。

6.如权利要求1所述的槽深测量装置，其特征在于：所述夹具的数量至少为两个，所述X轴滑轨的数量至少为两个，至少两个所述夹具与至少两个所述X轴滑轨一一对应。

7.如权利要求6所述的槽深测量装置，其特征在于：至少两个所述X轴滑轨之间相互平行设置。

8.如权利要求1所述的槽深测量装置，其特征在于：所述Y轴滑轨位于所述横梁的顶端面上。

9.如权利要求1所述的槽深测量装置，其特征在于：所述支撑柱的数量为两个，两个所述支撑柱分别支撑在所述横梁的两端的下端面上。

10.如权利要求9所述的槽深测量装置，其特征在于：各所述支撑柱的下端分别设置有固定板，所述固定板可拆卸地固定在所述基座上。