CN208596835U - 便于快速测试记忆体的连接器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种便于快速测试记忆体的连接器，包括有绝缘本体以及多个导电端子；该绝缘本体为一体成型结构，其一端为USB A公端，另一端为USB A母端，该USB A母端具有一与记忆体厚度相适配并供记忆体插入的定位插槽；该多个导电端子由一套端子模一次冲压形成，多个导电端子设置于绝缘本体上，每一导电端子的一端具有USB A母接触部，该USB A母接触部露于定位插槽中。本产品辅助用于记忆体的测试，通过在USB A母端设置一与记忆体厚度相适配并供记忆体插入的定位插槽，可对记忆体进行快速的稳固定位，避免记忆体出现晃动，然后再将USB A公端与测试设备插接即可，为测试作业带来便利，并且，本产品结构简单，生产组装方便，成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及连接器领域技术，尤其是指一种便于快速测试记忆体的连接器。
背景技术
记忆体俗称黑胶体或黑豆干，其在生产制作完成后均需要将其定位在测试设备上进行各项性能的测试。由于记忆体厚度比较薄，难以实现很好的定位，在测试过程中容易出现晃动，从而给测试作业带来不便。因此，有必要研究一种连接器能够实现记忆体的快速定位，以便于进行快速测试。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种便于快速测试记忆体的连接器，其能有效解决现有之记忆体在测试过程中容易出现晃动的问题。
为实现上述目的，本实用新型采用如下之技术方案：
一种便于快速测试记忆体的连接器，包括有绝缘本体以及多个导电端子；该绝缘本体为一体成型结构，其一端为USB A公端，另一端为USB A母端，该USB A母端具有一与记忆体厚度相适配并供记忆体插入的定位插槽；该多个导电端子由一套端子模一次冲压形成，多个导电端子设置于绝缘本体上，每一导电端子的一端具有USB A母接触部，该USB A母接触部露于定位插槽中，每一导电端子的另一端具有USB A公接触部，该USB A公接触部露于USB A公端的表面。
作为一种优选方案，所述USB A母端包括有基板和两侧板，该两侧板均呈L形并对称设置于基板的两侧，该基板和两侧板围构形成前述定位插槽，前述USB A母接触部位于基板上。
作为一种优选方案，所述基板上开设有供USB A母接触部弹性形变的让位通槽。
作为一种优选方案，所述多个导电端子间隔排布并镶嵌成型固定在绝缘本体上。
本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术方案可知：
本产品辅助用于记忆体的测试，通过在USB A母端设置一与记忆体厚度相适配并供记忆体插入的定位插槽，可对记忆体进行快速的稳固定位，避免记忆体出现晃动，然后再将USB A公端与测试设备插接即可，为测试作业带来便利，并且，本产品结构简单，生产组装方便，成本低。
为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明。
附图说明
图1是本实用新型之较佳实施例的组装立体示意图；
图2是本实用新型之较佳实施例另一角度的组装立体示意图；
图3是本实用新型之较佳实施例中导电端子的放大示意图；
图4是本实用新型之较佳实施例中记忆体未插入的状态示意图；
图5是本实用新型之较佳实施例中记忆体插入后的状态示意图。
附图标识说明：
10、绝缘本体 11、USB A公端
12、USB A母端 121、基板
122、侧板 101、定位插槽
102、让位通槽 20、导电端子
21、USB A母接触部 22、USB A公接触部
30、记忆体 31、接触部。
具体实施方式
请参照图1至图5所示，其显示出了本实用新型之较佳实施例的具体结构，包括有绝缘本体10以及多个导电端子20。
该绝缘本体10为一体成型结构，其一端为USB A公端11，另一端为USB A母端12，该USB A母端12具有一与记忆体30厚度相适配并供记忆体30插入的定位插槽101；在本实施例中，所述USB A母端12包括有基板121和两侧板122，该两侧板122均呈L形并对称设置于基板121的两侧，该基板121和两侧板122围构形成前述定位插槽101。
该多个导电端子20由一套端子模一次冲压形成，该多个导电端子20设置于绝缘本体10上，每一导电端子20的一端具有USB A母接触部21，该USB A母接触部21露于定位插槽101中，每一导电端子20的另一端具有USB A公接触部22，该USB A公接触部22露于USB A公端11的表面。在本实施例中，所述多个导电端子20间隔排布并镶嵌成型固定在绝缘本体10上，导电端子20为四个，前述USB A母接触部21位于基板121上，并且，所述基板121上开设有供USB A母接触部21弹性形变的让位通槽102。
详述本实施例的使用方法如下：
使用时，如图4所示，将记忆体30由后往前插入定位插槽101中，使得记忆体30的接触部31与USB A母接触部21接触导通，然后，将USB A公端11与测试设备插接导通即可进行测试，测试完成后，将记忆体30向后拔出即可。
本实用新型的设计重点在于：本产品辅助用于记忆体的测试，通过在USB A母端设置一与记忆体厚度相适配并供记忆体插入的定位插槽，可对记忆体进行快速的稳固定位，避免记忆体出现晃动，然后再将USB A公端与测试设备插接即可，为测试作业带来便利，并且，本产品结构简单，生产组装方便，成本低。
以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (4)
1.一种便于快速测试记忆体的连接器，其特征在于：包括有绝缘本体以及多个导电端子；该绝缘本体为一体成型结构，其一端为USB A公端，另一端为USB A母端，该USB A母端具有一与记忆体厚度相适配并供记忆体插入的定位插槽；该多个导电端子由一套端子模一次冲压形成，多个导电端子设置于绝缘本体上，每一导电端子的一端具有USB A母接触部，该USB A母接触部露于定位插槽中，每一导电端子的另一端具有USB A公接触部，该USB A公接触部露于USB A公端的表面。
2.根据权利要求1所述的便于快速测试记忆体的连接器，其特征在于：所述USB A母端包括有基板和两侧板，该两侧板均呈L形并对称设置于基板的两侧，该基板和两侧板围构形成前述定位插槽，前述USB A母接触部位于基板上。
3.根据权利要求2所述的便于快速测试记忆体的连接器，其特征在于：所述基板上开设有供USB A母接触部弹性形变的让位通槽。
4.根据权利要求1所述的便于快速测试记忆体的连接器，其特征在于：所述多个导电端子间隔排布并镶嵌成型固定在绝缘本体上。
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2018
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