CN208383768U - 一种多功能电子探针样品台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种多功能电子探针样品台,用以解决目前标准样品台不能夹持任意高度、不同尺寸样品的难题。该样品台包括:底座、矩形台面、弹簧、带调平挡板的滑动挡板、固定滑动挡板的螺栓、固定样品的螺栓。本实用新型可利用弹簧和调平挡板来实现不同高度样品的表面水平,同时通过滑动挡板和螺栓实现不同尺寸样品的固定,样品放置稳定牢固,且能够保证样品测试面水平,提高试验结果的精度,易于操作使用。
Description
技术领域
本实用新型属于电子探针实验室样品夹持装置领域,特别涉及一种多功能电子探针样品台。
背景技术
电子探针X射线显微分析仪(EPMA)简称电子探针,主要用于微区的化学成分测定和显微组织观察,近年来在各种材料的显微分析方面得到越来越广泛的应用。其主要的功能为定性和定量点分析、线分析、面分析,样品测试面的平整度对试验结果有着至关重要的作用,如果由于夹持造成样品测试面不水平,则会影响试验结果的准确性。而样品台是进行电子探针试验的核心部件,设备自带的样品台适用的样品尺寸比较单一,在夹持过程中不能保证样品测试面完全水平,且对于毫米级的薄片状样品不能很好的固定。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是,克服现有技术的缺点,提供一种任意高度、不同尺寸样品都可适用的多功能电子探针样品台。
为了实现上述实用新型目的,本实用新型采用的技术方案为:
一种多功能电子探针样品台,其特征在于:包括底座、矩形台面、弹簧、滑动挡板;弹簧通过矩形台面上的圆孔放置在底座上;滑动挡板通过与矩形台面匹配的倒角凹槽移动,调节滑动挡板上带有的调平挡板的位置,调平挡板与矩形台面平行。
进一步,所述的多功能电子探针样品台中弹簧的直径与圆孔匹配,且均小于底座的直径,弹簧的高度取决于样品的高度。
更进一步,所述的多功能电子探针样品台中滑动挡板通过螺栓与矩形台面固定。
更进一步,所述的多功能电子探针样品台中滑动挡板通过螺栓与样品固定。
同现有技术相比,本实用新型通过弹簧和调平挡板联合使用,弹簧可以使不同高度的样品满足试验要求,调平挡板可以实现不同高度样品的测试面水平,同时通过滑动挡板的移动,使不同尺寸的样品满足试验要求,样品放置稳定牢固,且能够保证样品测试面水平,提高试验结果的精度,易于操作使用。
附图说明:
图1是本实用新型样品台的结构示意图;
图中:1-底座、2-矩形台面、3-弹簧,4-滑动挡板,5-调平挡板,6-圆孔。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的阐述,但该实施例不应理解为对本实用新型的限制。
如图1,一种多功能电子探针样品台,包括底座1、矩形台面2、弹簧3、滑动挡板4;底座1的尺寸与电子探针自带样品座圆孔匹配;矩形台面2两边设有倒角,中心开有圆孔6,且圆孔6的深度与矩形台面2的厚度相同,圆孔6直径不大于底座1的直径;弹簧3通过矩形台面2上的圆孔6放置在底座1上,可以根据样品的高度选择弹簧3的高度,弹簧3直径与圆孔6大小匹配;滑动挡板4通过与矩形台面2匹配的倒角凹槽移动,以便在遇到不同尺寸样品时调节滑动挡板4上带有的调平挡板5的位置,调平挡板5与矩形台面2平行,滑动挡板4通过4个螺栓与矩形台面2固定,滑动挡板4通过8个螺栓与样品固定。调平挡板5位于滑动挡板4上方,与弹簧3联合使用,可以实现不同高度样品的测试面水平。
本实用新型还可以有其他多种实施方式,但在不脱离本实用新型精神及其实质之情况下,本领域技术人员当可根据本实用新型做出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
Claims (4)
1.一种多功能电子探针样品台,其特征在于:包括底座(1)、矩形台面(2)、弹簧(3)、滑动挡板(4);弹簧(3)通过矩形台面(2)上的圆孔(6)放置在底座(1)上;滑动挡板(4)通过与矩形台面(2)匹配的倒角凹槽移动,调节滑动挡板(4)上带有的调平挡板(5)的位置,调平挡板(5)与矩形台面(2)平行。
2.根据权利要求1所述的多功能电子探针样品台,其特征在于:所述的弹簧(3)的直径与圆孔(6)匹配,且均小于底座(1)的直径,弹簧(3)的高度取决于样品的高度。
3.根据权利要求2所述的多功能电子探针样品台,其特征在于:所述的滑动挡板(4)通过螺栓与矩形台面(2)固定。
4.根据权利要求1-3中任一权利要求所述的多功能电子探针样品台,其特征在于:所述的滑动挡板(4)通过螺栓与样品固定。
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2018
- 2018-05-31 CN CN201820835776.9U patent/CN208383768U/zh active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113075244A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-06 | 长安大学 | 一种电子探针薄片样品台及其使用方法 |
CN113075244B (zh) * | 2021-04-06 | 2023-05-26 | 长安大学 | 一种电子探针薄片样品台及其使用方法 |
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