CN206301533U - 一种单丝单缝衍射实验仪 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准导轨的一侧连接有控制箱,所述半导体激光器与控制箱电连接。本实用新型的有益效果是结构简单、操作简单、精准度高。

Description

一种单丝单缝衍射实验仪
技术领域
本实用新型属于光学实验设备领域,尤其是涉及一种单丝单缝衍射实验仪。
背景技术
单丝、单缝衍射实验时高校理工科基本光学实验之一。但大多数的单丝、单缝衍射实验是通过几件厚重的仪器放置在普通试验台上,组合移动后完成实验,因此实验过程操作很不便利,且很多学生发现由于操作困难会造成实验数据不准确,有的甚至得不到实验结果。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种结构简单、操作简单、精准度高的单丝单缝衍射实验仪,尤其适合高校教学使用。
本实用新型的技术方案是:一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准导轨的一侧连接有控制箱,所述半导体激光器与控制箱电连接;
进一步的,所述滑座与第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架滑动连接,所述第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架可前后移动还可以左右微调;
进一步的,所述基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架的材质均为表面经阳极氧化处理的铝合金材料。
本实用新型具有的优点和积极效果是:由于采用上述技术方案,结构简单,操作简单,质量轻,方便操作,精确度高。
附图说明
图1是本实用新型的立体结构示意图。
图中:基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6、可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10、控制箱11。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做详细说明。
如图1所示,本实用新型一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6、可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10、控制箱11,所述基准导轨1上设有滑座2,所述滑座2上设有第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6,所述其中第一横向移动测量架3的上方卡接有白屏9,所述第二横向移动测量架4的上方固定连接有光电流放大器8,所述第三横向移动测量架5的上方连接有可调狭缝7,所述激光器架6上卡接有半导体激光器10,所述基准导轨1的一侧连接有控制箱11,所述半导体激光器10与控制箱11电连接;
进一步的,所述滑座2与第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6滑动连接,所述第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6可前后移动还可以左右微调;
进一步的,所述基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6的材质均为表面经阳极氧化处理的铝合金材料。
本实例的工作过程:使用时先将第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6滑动安装在滑座2上,然后分别再安装可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10,打开控制箱11,然后半导体激光器10发出光,通过可调夹缝7和光电流放大器8后照射在白屏9上,第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6还可尽心旋钮微调,直到白屏9上得到最佳效果。
以上对本实用新型的一个实施例进行了详细说明,但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例,不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等,均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。

Claims (3)

1.一种单丝单缝衍射实验仪,其特征在于:包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准导轨的一侧连接有控制箱,所述半导体激光器与控制箱电连接。
2.根据权利要求1所述的一种单丝单缝衍射实验仪,其特征在于:所述滑座与第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架滑动连接,所述第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架可前后移动还可以左右微调。
3.根据权利要求1所述的一种单丝单缝衍射实验仪,其特征在于:所述基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架的材质均为表面经阳极氧化处理的铝合金材料。
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CN108074459A (zh) * 2016-11-11 2018-05-25 天津良益科技有限公司 一种单丝单缝衍射实验仪

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