CN208350334U - 一种光学器件平面45度角度检测装置 - Google Patents
一种光学器件平面45度角度检测装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种光学器件平面45度角度检测装置，包括装置主体、激光光源、可调光源固定架、器件固定平台、角度检测区；所述激光光源为检测输入光，通过可调光源固定架来调整输入光的水平位置；所述器件固定平台与激光光源为垂直状态；所述角度检测区为反射光呈现区。本实用新型一种光学器件平面45度角度检测装置，可应用于光学器件在生产加工过程中的角度检测，便于器件的后道耦合与封装，提高光学器件耦合与封装效率及良率，降低生产成本。
Description
技术领域
本实用新型公开了一种光学器件平面45度角度检测装置。
背景技术
随着光进铜退，光学器件在无源光网络中的应用范围越来越广。在光通信系统中，各种光无源器件扮演着不可或缺的角色。在光通信系统中，大部份的光无源器件都是利用光的全反射原理来实现光的应用。在传统的光无源器件的应用中，为了避免器件中的反射光对光通信系统中造成影响，一般会将光纤头加工成8度角，以减少光在耦合后的损耗。而在光模块的光收发系统中，需将光的反射角加工成45度来能改变光的传播方向。随着市场对光模块的需求量越来越大，对45度光学器件的生产效率要求也越来越高。
现有的8度角度检测装置，由于检测的角度不同，无法满足45度角的检测。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种光学器件平面45度角度检测装置，旨在生产45度光学器件过程中，提前检测所用器件的角度，提高生产效率与一次良率，减少器件耦合封装时因材料角度不良造成的浪费，降低45度角光学器器件的生产成本。
为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是设计一种光学应用器件平面45度角度检测装置，包括：装置主体、激光光源、可调光源固定架、器件固定平台、角度检测区；所述激光光源为检测输入光，所述可调光固定架安装在所述装置主体的下方用于调整检测输入光的水平位置，所述器件固定平台安装在所述装置主体的上方，所述器件固定平台与所述激光光源呈垂直状态，所述角度检测区为反射光呈现区。
本实用新型的优点和有益效果在于：本实用新型的光学应用器件平面45度角度检测装置，适用于各种尺寸器件的45度角度检测，应用泛围广，操作简单，测试准确。可有效提高生产效率与一次良率，减少器件耦合封装时因材料角度不良造成的浪费。降低45度角光学器器件的生产成本。
附图说明
图1为本实用新型的示意图。
本实用新型中器件固定平台1、光源2、可调器件固定架3、角度检测区4、入射光5、反射光6。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
实施例：
一种光学器件平面45度角度检测装置，包括装置主体、激光光源2、可调光源固定架3、器件固定平台1、角度检测区4；所述激光光源2为检测输入光源，通过可调光源固定架3来调整输入射光5的水平方向；入射光5通过45度器件的反射面形成反射光6；根据反射光6在角度检测区4呈现的位置可判断所检器件的45度角是否合格。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (1)
1.一种光学器件平面45度角度检测装置，其特征在于，包括：装置主体、激光光源、可调光源固定架、器件固定平台、角度检测区；所述激光光源为检测输入光，所述可调光固定架安装在所述装置主体的下方用于调整检测输入光的水平位置，所述器件固定平台安装在所述装置主体的上方，所述器件固定平台与所述激光光源呈垂直状态，所述角度检测区为反射光呈现区。
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