CN206618705U - 一种光学膜缺陷检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光学膜缺陷检测装置，包括：用于产生偏振光投射到光学膜一面的光源；用于在光学膜一侧接收偏振光经过所述光学膜后出射的光、形成光学膜图像的成像设备；用于在获得的光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位的图像处理系统。所述光学膜具有对光传播方向一致的光学特性，若光学膜中存在瑕疵，在瑕疵部位光传播方向一致性被破坏，以偏振光照射光学膜形成光学膜的偏振图像，在偏振图像中瑕疵部位会表现出明显的明暗变化，从而能够有效地识别出光学膜中的缺陷。因此本实用新型光学膜缺陷检测装置实现了对光学膜更为有效的缺陷检测。

Description

一种光学膜缺陷检测装置

技术领域

本实用新型涉及光学检测技术领域，特别是涉及一种光学膜缺陷检测装置。

背景技术

在光学应用领域，广泛使用各类透明或者半透明光学膜，用于进行导光、增亮、聚光、反射、折射等光学处理，这类光学膜片由塑料制成，广泛应用于Led背光源、液晶背光源、工业光源、光学设备等领域。

光学膜属于较为精密的光学元件，若膜片存在黑点、白点、褶皱、弯折、凹凸等瑕疵，会极大影响光学膜对光的处理效果，甚至造成相关设备的重大缺陷，因此对光学膜进行缺陷检测具有重要价值。

现有技术中，光学膜的缺陷检测方法是，使用光源投射光到光学膜，使用高分辨相机拍摄光学膜图像，从图像中识别和发现膜片中存在的各类缺陷。但是该检测方法对膜片中存在的一些缺陷并不能有效检测出，比如膜中存在的较浅黑点、白点、褶皱，尤其是微小的凹凸等成像效果不明显，通过图像难以识别出。

实用新型内容

鉴于此，本实用新型提供一种光学膜缺陷检测装置，实现了对光学膜更为有效的图像呈现，实现对光学膜更加有效的缺陷检测。

为实现上述目的，本实用新型提供一种光学膜缺陷检测装置，包括：

用于产生偏振光投射到光学膜一面的光源；

用于在所述光学膜一侧接收偏振光经过所述光学膜后出射的光、形成光学膜图像的成像设备；

用于在获得的所述光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位的图像处理系统。

可选的，所述光源包括用于产生自然光的第一光源以及用于选通自然光中特定偏振方向光线的偏振器件。

可选的，所述光源包括用于产生自然光的第一光源，以及接收所述第一光源以布懦斯特角入射的光的介质界面。

可选的，在所述成像设备感光面一侧设置有用于通过所述光学膜出射光中特定偏振方向光线的偏振器件。

可选的，在所述光源光出射一侧设置有偏振片。

可选的，所述光源和用于接收偏振光经过所述光学膜透射的光并形成光学膜图像的所述成像设备分别位于所述光学膜的两侧。

可选的，还包括底座和与所述底座连接的立杆，所述成像设备设置在所述底座内，所述底座具有用于放置光学膜的光窗；

所述光源设置在所述立杆上，且正对所述光窗。

可选的，所述成像设备和用于接收偏振光经过所述光学膜反射的光并形成光学膜图像的所述光源设置在所述光学膜的同一侧。

可选的，所述光源包括可见光光源、紫外光光源或者红外光光源。

可选的，所述光源包括发光二极管或者激光器。

由上述技术方案可知，本实用新型所提供的光学膜缺陷检测装置，包括光源、成像设备和图像处理系统。光源产生偏振光，投射到光学膜一面，成像设备在光学膜一侧接收偏振光经过光学膜后出射的光，并形成光学膜图像；图像处理系统在获得的光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位，从而实现对光学膜的缺陷检测。

光学膜具有对光传播方向一致的光学特性，若光学膜中存在瑕疵，在瑕疵部位光传播方向一致性被破坏，以偏振光照射光学膜形成光学膜的偏振图像，在偏振图像中瑕疵部位会表现出明显的明暗变化，从而通过光学膜的偏振图像可以有效地识别出光学膜中的缺陷。因此，本实用新型光学膜缺陷检测装置，实现了对光学膜更为有效的图像呈现，实现对光学膜更加有效的缺陷检测。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种光学膜缺陷检测装置的示意图；

图2为本实用新型又一实施例提供的一种光学膜缺陷检测装置的示意图；

图3为本实用新型实施例提供的一种光学膜缺陷检测装置的结构示意图。

具体实施方式

本实用新型提供一种光学膜缺陷检测装置，实现了对光学膜更为有效的图像呈现，实现对光学膜更加有效的缺陷检测。

本实用新型提供的一种光学膜缺陷检测装置，包括：

用于产生偏振光投射到光学膜一面的光源；

用于在所述光学膜一侧接收偏振光经过所述光学膜后出射的光、形成光学膜图像的成像设备；

用于在获得的所述光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位的图像处理系统。其中，光源产生偏振光投射到光学膜一面，偏振光照射到光学膜，经过光学膜后出射；由成像设备接收出射光，并形成光学膜图像。

所述光学膜具有对光传播方向一致的光学特性，若光学膜中不存在瑕疵，偏振光经过光学膜传播方向一致，由成像设备形成的光学膜图像灰度均匀一致；若光学膜中存在瑕疵，比如膜片中存在黑点、白点，或者微小褶皱、凹凸等，在瑕疵部位光传播方向一致性被破坏，在拍摄的光学膜图像中瑕疵部位会表现出明显的明暗变化。从而在光学膜图像中根据图像灰度变化可以将瑕疵部位识别出，实现对光学膜的缺陷检测。

对于某些光学膜，透光性很强，光学膜内存在的褶皱、凹凸等微小形变缺陷或者存在的较浅黑点、白点，若采用现有的普通光学成像方法很难分辨出。而本实用新型光学膜缺陷检测装置，利用光的偏振特性，拍摄光学膜的偏振图像，能够将光学膜中缺陷有效地展现出。

因此，本实用新型光学膜缺陷检测装置，实现了对光学膜更为有效的图像呈现，实现对光学膜更加有效的缺陷检测。

以上是本实用新型的核心思想，为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的原理以及具体实施方式做详细的说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违`背本实用新型内涵的情况下做类似推广，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

在本实用新型的一种实施例中，请参考图1，为本实施例提供的一种光学膜缺陷检测装置的示意图。由图可知，所述光学膜缺陷检测装置包括光源10、成像设备11和图像处理系统12，其中，所述光源10和所述成像设备11分别位于所述光学膜的两侧。

所述光源10用于产生偏振光，投射到光学膜一面。

所述成像设备11接收偏振光经过所述光学膜透射的光，形成光学膜图像。

图像处理系统12用于在获得的所述光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位。

光源产生的偏振光投射到光学膜，经过光学膜透射出。光学膜具有对光传播方向一致的光学特性，但在膜片中存在缺陷时，在瑕疵部位透射光传播方向会改变，在成像设备11接收透射光形成的光学膜图像中，在瑕疵部位会表现出明显的明暗变化，从而通过拍摄的膜图像将光学膜中缺陷有效的检测出。

本实施例中，可选的，所述光源可按如下方式设置，具体包括用于产生自然光的第一光源，以及用于选通自然光中特定偏振方向光线的偏振器件。由第一光源产生自然光，自然光经过偏振器件，选通自然光中特定偏振方向光线，产生偏振光投射到光学膜一面。

可选的，所述光源10包括用于产生自然光的第一光源，以及接收所述第一光源以布懦斯特角入射的光的介质界面。第一光源产生自然光，以布懦斯特角入射到介质界面，在界面发生反射，形成线偏振光的反射光，以形成的反射光作为光源出射光，投射到光学膜一面。

可选的，请参考图2，在所述成像设备感光面一侧设置有用于通过所述光学膜出射光中特定偏振方向光线的偏振器件13。光学膜的出射光先经过偏振器件13，偏振器件允许通过光学膜出射光中特定偏振方向光线，避免杂光进入，以保证成像设备拍摄到均匀清晰的图像，避免杂光干扰。

在上述中所述偏振器件可以是偏振片，或者是其它可选通偏振光的器件。

进一步的，在所述光源10光出射一侧设置有偏振片。通过偏振片选通光源出射的偏振光，保证投射到光学膜表面光的偏振性。

在一种具体实施方式中，请参考图3，为本实施例提供的一种光学膜缺陷检测装置的结构示意图。本具体实施方式中，所述光学膜缺陷检测装置，还包括底座14和与所述底座14连接的立杆15，所述成像设备设置在所述底座14内，所述底座14具有用于放置光学膜的光窗；所述光源10设置在所述立杆15上，且正对所述光窗。

在对光学膜进行检测时，将光学膜对应放置在底座14的光窗处，打开光源，光投射到光学膜表面，使用成像设备对光学膜拍摄图像，图像处理系统在拍摄的膜图像中检测光学膜是否存在缺陷，在图像中识别出瑕疵部位。

本实施例光学膜检测装置结构简单，操作简便，利用光的偏振特性，实现了对光学膜更为有效的图像呈现，实现对光学膜更加有效的缺陷检测。

在本实用新型的另一种实施例中，所述光学膜缺陷检测装置包括光源、成像设备和图像处理系统，其中，所述成像设备和所述光源设置在所述光学膜的同一侧。

所述光源用于产生偏振光，投射到光学膜一面。所述成像设备接收偏振光经过所述光学膜反射的光，形成光学膜图像。

光经过光学膜传播方向一致，若膜片中存在瑕疵，在瑕疵部位存在偏折表面，光源产生的偏振光经过光学膜，在瑕疵部位光传播方向一致性被破坏，在成像设备形成的膜图像中，在瑕疵部位会表现出明显的明暗变化，从而通过形成的光学膜图像可以将光学膜中缺陷有效的检测出。

本实施例中可选的，所述光源包括用于产生自然光的第一光源，以及用于选通自然光中特定偏振方向光线的偏振器件。由第一光源产生自然光，自然光经过偏振器件，选通自然光中特定偏振方向光线，产生偏振光投射到光学膜一面。

可选的，所述光源包括用于产生自然光的第一光源，以及接收所述第一光源以布懦斯特角入射的光的介质界面。第一光源产生自然光，以布懦斯特角入射到介质界面，在界面发生反射，形成线偏振光的反射光，以形成的反射光作为光源出射光，投射到光学膜一面。

可选的，在所述成像设备感光面一侧设置有用于通过所述光学膜出射光中特定偏振方向光线的偏振器件。光学膜的出射光先经过偏振器件，偏振器件通过光学膜出射光中特定偏振方向光线，避免杂光进入，以保证成像设备拍摄到均匀清晰的图像，避免杂光干扰。

在上述中所述偏振器件可以是偏振片，或者是其它可选通偏振光的器件。

进一步的，在所述光源光出射一侧设置有偏振片。通过偏振片选通光源出射的偏振光，保证投射到光学膜表面光的偏振性。

在上述各实施例中，所述光源可采用可见光光源、紫外光光源或者红外光光源，但不限于此，也可采用其它波段光源。

可选的，所述光源具体可采用发光二极管或者激光器，但不限于此，也可采用其它类型的发光器件。

以上对本实用新型所提供的一种光学膜缺陷检测装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种光学膜缺陷检测装置，其特征在于，包括：

用于产生偏振光投射到光学膜一面的光源；

用于在所述光学膜一侧接收偏振光经过所述光学膜后出射的光、形成光学膜图像的成像设备；

用于在获得的所述光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位的图像处理系统。

2.根据权利要求1所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，所述光源包括用于产生自然光的第一光源以及用于选通自然光中特定偏振方向光线的偏振器件。

3.根据权利要求1所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，所述光源包括用于产生自然光的第一光源，以及接收所述第一光源以布懦斯特角入射的光的介质界面。

4.根据权利要求1所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，在所述成像设备感光面一侧设置有用于通过所述光学膜出射光中特定偏振方向光线的偏振器件。

5.根据权利要求1所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，在所述光源光出射一侧设置有偏振片。

6.根据权利要求1-5任一项所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，所述光源和用于接收偏振光经过所述光学膜透射的光并形成光学膜图像的所述成像设备分别位于所述光学膜的两侧。

7.根据权利要求6所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，还包括底座和与所述底座连接的立杆，所述成像设备设置在所述底座内，所述底座具有用于放置光学膜的光窗；

所述光源设置在所述立杆上，且正对所述光窗。

8.根据权利要求1-5任一项所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，所述成像设备和用于接收偏振光经过所述光学膜反射的光并形成光学膜图像的所述光源设置在所述光学膜的同一侧。

9.根据权利要求1所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，所述光源包括可见光光源、紫外光光源或者红外光光源。

10.根据权利要求8所述的光学膜缺陷检测装置，其特征在于，所述光源包括发光二极管或者激光器。