CN112033309A - 一种光纤阵列端面角度简易测试方法 - Google Patents

一种光纤阵列端面角度简易测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN112033309A
CN112033309A CN202010923466.4A CN202010923466A CN112033309A CN 112033309 A CN112033309 A CN 112033309A CN 202010923466 A CN202010923466 A CN 202010923466A CN 112033309 A CN112033309 A CN 112033309A
Authority
CN
China
Prior art keywords
optical fiber
fiber array
light source
angle
face
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202010923466.4A
Other languages
English (en)
Inventor
刘光清
欧阳克
王雨祥
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nanjing Huamai Technology Co Ltd
Original Assignee
Nanjing Huamai Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nanjing Huamai Technology Co Ltd filed Critical Nanjing Huamai Technology Co Ltd
Priority to CN202010923466.4A priority Critical patent/CN112033309A/zh
Publication of CN112033309A publication Critical patent/CN112033309A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Abstract

本发明公开了一种光纤阵列端面角度简易测试方法，测试方法采用了光的反射原理，搭建简易测试装置，包括固定夹具、点可见光光源、反射光接收板。测试步骤包括将光纤阵列固定，打开点光光源，端面反射的光照射到接收板上，由此判断研磨角度是否在合格范围之内。本发明的有益效果在于，生产效率高，易于操作，适用于批量化生产。

Description

一种光纤阵列端面角度简易测试方法
技术领域
本发明涉及一种光纤阵列端面角度简易测试方法，属于光通信及系统领域。
背景技术
光通信是目前世界上应用最为广泛的通信方式，传统的分立器件不仅体积大，而且损耗大，生产效率低，因此集成光学也越来越受到业界重视和追捧。而光纤阵列作为集成光学重要的元器件而日益显得重要。
光纤阵列主要指标包括纤芯距，端面研磨角度精度等。业界常规端面研磨角度的测量方法为图像法，使用CCD拍照后，通过软件平台测量端面研磨角度。这种测试方法存在效率低，人员操作易疲劳等问题。因此本发明设计了一款端面角度简易测试装置及测试方法，其生产效率高、易于人员操作，不易疲劳，适用于批量化生产。
发明内容
本发明的目的是克服了上述现有产品的缺点，提供一种生产效率高、易于人员操作，不易疲劳，适用于批量化生产的光纤阵列端面角度简易的测试方法。
为了实现上述发明目的，本发明主要采用光的反射原理进行设计检测装置，主要采用如下技术方案：
一种光纤阵列端面角度简易测试方法，包括以下步骤：
步骤S1，设置用于固定光纤阵列和公差标准件的固定夹具；设置用于固定点可见光源的光源固定装置；设置反射光接收板；
步骤S2，打开点可见光源；
步骤S3，放置角度上公差标准件于固定夹具上，点可见光源发出的光经角度上公差标准件的端面反射后照射在反射板上，标注为位置A；
步骤S4，将角度上公差标准件替换为下公差标准件，点可见光源2发出的光经角度下公差标准件的端面反射后照射在反射板4上，标注为位置B；
步骤S5，将下公差标准件替换为光纤阵列5，点可见光源2发出的光经光纤阵列5的端面反射后照射在反射板4上，标注为位置C；
S6，若位置C位于位置A和位置B之间，则光纤阵列5合格；否则不合格。
作为优选方案，所述光纤阵列研磨角度可以为任意角度。
作为优选方案，所述点可见光源是点红光光源。
本发明的有益效果在于，便于操作，使用时操作效率高且光缆防护性能高。
附图说明
图1本发明的测试原理图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明作进一步说明。
一种光纤阵列端面角度简易测试方法，包括以下步骤：
S1，设置用于固定光纤阵列5和公差标准件的固定夹具1；设置用于固定点可见光源2的光源固定装置3；设置反射光接收板4；
S2，打开点可见光源2；
S3，放置角度上公差标准件于固定夹具1上，点可见光源2发出的光经角度上公差标准件的端面反射后照射在反射板4上，标注为位置A；
S4，将角度上公差标准件替换为下公差标准件，点可见光源2发出的光经角度下公差标准件的端面反射后照射在反射板4上，标注为位置B；
S5，将角度下公差标准件替换为光纤阵列5，点可见光源2发出的光经光纤阵列5的端面反射后照射在反射板4上，标注为位置C；
S6，若位置C位于位置A和位置B之间，则光纤阵列5合格；否则不合格。
固定夹具和点光源固定装置转配完毕后要求将待测或标准件的侧面与光源的发射线需平行。
特别的，若无标准件进行参考，可以根据角度上下公差及光源与反射板的距离L计算位置A和位置B与O点的位置（O点为光源平行线与反射板的接触点），计算公式如下：
位置A与位置O点的距离为：H1=L×tan(2(θ下公差))；
位置B与位置O点的距离为：H2=L×tan(2(θ上公差))。
本发明在使用过程中，方便简单，易于操作员工的观察，更适合于产品的批量化生产。且本发明可以根据使用场景的需要，更改光纤阵列的类型，研磨角度等，同时可以应用于芯片或者其他产品种类。因此本发明的可拓展性更加有利于产品的推广及应用。同时说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。

Claims (3)

1.一种光纤阵列端面角度简易测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，设置用于固定光纤阵列和公差标准件的固定夹具；设置用于固定点可见光源的光源固定装置；设置反射光接收板；
S2，打开点可见光源；
S3，放置角度上公差标准件于固定夹具上，点可见光源发出的光经角度上公差标准件的端面反射后照射在反射板上，标注为位置A；
S4，将角度上公差标准件替换为下公差标准件，点可见光源发出的光经角度下公差标准件的端面反射后照射在反射板上，标注为位置B；
S5，将下公差标准件替换为光纤阵列，点可见光源发出的光经光纤阵列的端面反射后照射在反射板上，标注为位置C；
S6，若位置C位于位置A和位置B之间，则光纤阵列合格；否则不合格。
2.根据权利要求1所述的一种光纤阵列端面角度简易测试方法，其特征在于，所述光纤阵列研磨角度可以为任意角度。
3.根据权利要求1所述的一种光纤阵列端面角度简易测试方法，其特征在于，所述点可见光源是点红光光源。
CN202010923466.4A 2020-09-04 2020-09-04 一种光纤阵列端面角度简易测试方法 Pending CN112033309A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010923466.4A CN112033309A (zh) 2020-09-04 2020-09-04 一种光纤阵列端面角度简易测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010923466.4A CN112033309A (zh) 2020-09-04 2020-09-04 一种光纤阵列端面角度简易测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112033309A true CN112033309A (zh) 2020-12-04

Family

ID=73591509

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010923466.4A Pending CN112033309A (zh) 2020-09-04 2020-09-04 一种光纤阵列端面角度简易测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112033309A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114088017A (zh) * 2021-11-02 2022-02-25 武汉联胜光电技术有限公司 一种定制光纤端面角度和平面度检测装置和检测方法
CN114112942A (zh) * 2021-12-17 2022-03-01 中国电子科技集团公司第十三研究所 光纤切角方向对准设备及对准方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202002626U (zh) * 2011-04-02 2011-10-05 深圳市泰科微光学有限公司 光纤连接器的激光角度检测装置
CN204359285U (zh) * 2014-10-15 2015-05-27 樊利平 一种光分路器用芯片角度检测装置
CN205506000U (zh) * 2016-04-09 2016-08-24 福州科思捷光电有限公司 一种c透镜与光纤头楔角角度检测装置
CN207019634U (zh) * 2017-05-30 2018-02-16 上海永鼎光电子技术有限公司 一种光纤端面角度测量装置
CN207019636U (zh) * 2017-05-30 2018-02-16 上海永鼎光电子技术有限公司 光纤端面角度测量装置
CN207019635U (zh) * 2017-05-30 2018-02-16 上海永鼎光电子技术有限公司 光纤端面角度测量装置
CN210570543U (zh) * 2019-11-20 2020-05-19 福建富兰光学有限公司 一种快速检测激光雷达反射镜角度装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202002626U (zh) * 2011-04-02 2011-10-05 深圳市泰科微光学有限公司 光纤连接器的激光角度检测装置
CN204359285U (zh) * 2014-10-15 2015-05-27 樊利平 一种光分路器用芯片角度检测装置
CN205506000U (zh) * 2016-04-09 2016-08-24 福州科思捷光电有限公司 一种c透镜与光纤头楔角角度检测装置
CN207019634U (zh) * 2017-05-30 2018-02-16 上海永鼎光电子技术有限公司 一种光纤端面角度测量装置
CN207019636U (zh) * 2017-05-30 2018-02-16 上海永鼎光电子技术有限公司 光纤端面角度测量装置
CN207019635U (zh) * 2017-05-30 2018-02-16 上海永鼎光电子技术有限公司 光纤端面角度测量装置
CN210570543U (zh) * 2019-11-20 2020-05-19 福建富兰光学有限公司 一种快速检测激光雷达反射镜角度装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114088017A (zh) * 2021-11-02 2022-02-25 武汉联胜光电技术有限公司 一种定制光纤端面角度和平面度检测装置和检测方法
CN114112942A (zh) * 2021-12-17 2022-03-01 中国电子科技集团公司第十三研究所 光纤切角方向对准设备及对准方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN204007526U (zh) 光纤几何参数测试实验系统
CN112033309A (zh) 一种光纤阵列端面角度简易测试方法
CN102128600B (zh) 一种利用激光测量透镜曲率半径的方法及其装置
CN101413789B (zh) 表面轮廓检测装置及其检测方法
CN104459510B (zh) 一种led阵列结温快速在线检测装置
CN107727362B (zh) 光纤束出射光斑偏离值的检测装置及其检测方法
CN202486043U (zh) 一种硅片微裂纹检测系统
CN109900215A (zh) 一种光纤几何参数测试装置
CN107817095B (zh) 一种高精度同向双光轴以及多光轴平行性调校方法
CN115371965A (zh) 一种便携可调式多光轴一致性检测装置及检测方法
CN101221087A (zh) 镜片光反射率检测装置及镜片组装设备
CN108051082A (zh) 一种黑体腔吸收比的测量装置
CN108827915B (zh) 一种基于光电传感阵列测量折射率的亚像素位置获取方法
CN204934855U (zh) 调试装置
CN201903332U (zh) 一种激光牛顿环仪测量装置
CN208537398U (zh) 一种基于多光源的漫反射收集系统
CN109633864B (zh) 一种用于激光加工的光学镜头、激光加工装置及加工方法
CN201314901Y (zh) 基于显微视觉的光学测量和检测的装置
CN109752317A (zh) 一种手机屏缺陷检测装置及其检测方法
CN201707031U (zh) Ccd定位检测激光标记装置
CN214277285U (zh) 一种高清晰度精密压力表检定装置
CN211234321U (zh) 共轴对位检测光学系统
CN203786047U (zh) 棱镜片检测装置
CN112729122A (zh) 一种基于飞秒激光直写倾斜啁啾光纤光栅传感器测试方法
CN102589682B (zh) 白光led测量系统及方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20201204