CN208254507U - 一种检测器用探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种检测器用探针,包括主体部、设于主体部前端的探测部。探测部为钨钢探测部,钨钢探测部与主体部可拆卸连接。钨钢探测部包括过渡部、设于过渡部前端的头部,过渡部与头部一体设置,过渡部与主体部相连接。主体部的后端具有用于与检测器相连接的连接部。本实用新型的检测器用探针,采用钨钢探测部和非钨钢主体部相结合的方式制成,保证钨钢探测部和主体部连接强度,保证探针的使用效果;同时能够降低探针的制造成本,提高探针使用性价比。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测器用探针。
背景技术
探针是检测器使用部件,主要用来触测工件表面,使得测头的机械装置移位,产生信号触发并采集一个测量数据。在使用中,为满足各种测量条件,现有的探针一般选用高硬度高耐磨性的钨钢制成,但是钨钢价格较高,导致探针的造价昂贵。同时,现有设计中的探针多为一体设计,又由于钨钢较脆,一旦损坏就需要整只更换,生产成本较高,市场急需一款性价比高的探针。
发明内容
本实用新型的目的是为了克服现有技术的缺点,提供一种检测器用探针,其检测性能好,且造价低。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种检测器用探针,包括主体部、设于所述主体部前端的探测部,所述探测部为钨钢探测部,所述钨钢探测部与所述主体部可拆卸连接,所述钨钢探测部包括过渡部、设于所述过渡部前端的头部,所述过渡部与头部一体设置,所述过渡部与所述主体部相连接,所述主体部的后端具有用于与检测器相连接的连接部。
优选地,所述过渡部的后端设有凸起部,所述主体部的前端设有与所述凸起部相配合的孔。
优选地,所述过渡部与所述主体部连接周面平滑过渡。
优选地,所述主体部为不锈钢主体部、铝主体部或铁主体部。
进一步地,所述铝主体部或铁主体部的外表面上设有防锈层。
再进一步地,所述防锈层为烤漆层或电镀防锈层。
优选地,所述主体部上设有便于将其安装至检测器上的安装部。
进一步地,所述安装部为贯穿所述主体部设置的通孔。
由于上述技术方案运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点:本实用新型的一种检测器用探针,采用钨钢探测部和非钨钢主体部相结合的方式制成,保证钨钢探测部和主体部连接强度,保证探针的使用效果;同时能够降低探针的制造成本,提高探针使用性价比。
附图说明
附图1为本实用新型的检测器用探针的透视示意图;
附图2为本实用新型的检测器用探针的正视示意图;
附图3为本实用新型的检测器用探针的拆分结构示意图。
其中:1、主体部;11、孔;12、连接部;13、安装部;2、钨钢探测部;21、过渡部;22、头部;23、凸起部。
具体实施方式
下面结合附图和具体的实施例来对本实用新型的技术方案作进一步的阐述。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。在本实施例中,主体部1设置在后方,钨钢探测部2设置在前方。
参见附图1至附图3所示的一种检测器用探针,包括主体部1、设于主体部1前端的探测部。探测部采用钨钢制成为钨钢探测部2,钨钢探测部2与主体部1可拆卸连接。
本实施例中,钨钢探测部2包括过渡部21、设于过渡部21前端的头部22。过渡部21与头部22一体成型设置,保证钨钢探测部2的强度与直线度。
头部22可以根据客户需求制成各种形状,如圆柱形、椭圆柱形等。头部22的前端部可安装测头,如红宝石测头、组合星形测头、圆盘形测头等,以满足各种使用需求。
过渡部21的后端设有凸起部23,主体部1的前端设有与凸起部23相配合的孔11。凸起部23与孔11为过盈配合,在将钨钢探测部2与主体部1相固定时,先将主体部1加热至一定温度,使孔11变大,再将凸起部23插入孔11内,待主体部1冷却后,钨钢探测部2与主体部1相固定。凸起部23与孔11也可以为间隙配合或过渡配合,凸起部23插入孔11后,使用胶将两者固定,优选的胶为厌氧胶。本固定方式能够保证钨钢探测部2与主体部1的连接强度。当钨钢探测部2与主体部1固定后,对其进行进一步的精加工,保证钨钢探测部2与主体部1的直线度。过渡部21与主体部1连接周面平滑过渡,使探针的外表面平滑。
本实施例中,主体部1可以由不锈钢、铝或铁等制成,形成不锈钢主体部、铝主体部或铁主体部。其中铝主体部或铁主体部的外表面上设有防锈层,以增加探针的使用寿命。优选的防锈层为烤漆层或电镀防锈层。
主体部1的后端具有用于与检测器相连接的连接部12。优选的,连接部12与检测器螺纹连接,连接部12的外周面上设置有用于与检测器相连接的螺纹。
主体部1上设有便于将其安装至检测器上的安装部13。优选的,安装部13为贯穿主体部1设置的通孔。当将探针安装至检测器上时,可使用杆件穿过通孔,使用杆件将探针拧紧在检测器上。安装部13也可以是设置在主体部1外周上的防滑凸起,以便于安装人员抓取和发力,将探针拧紧在检测器上。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种检测器用探针,其特征在于:包括主体部、设于所述主体部前端的探测部,所述探测部为钨钢探测部,所述钨钢探测部与所述主体部可拆卸连接,所述钨钢探测部包括过渡部、设于所述过渡部前端的头部,所述过渡部与头部一体设置,所述过渡部与所述主体部相连接,所述主体部的后端具有用于与检测器相连接的连接部。
2.根据权利要求1所述的检测器用探针,其特征在于:所述过渡部的后端设有凸起部,所述主体部的前端设有与所述凸起部相配合的孔。
3.根据权利要求1所述的检测器用探针,其特征在于:所述过渡部与所述主体部连接周面平滑过渡。
4.根据权利要求1所述的检测器用探针,其特征在于:所述主体部为不锈钢主体部、铝主体部或铁主体部。
5.根据权利要求4所述的检测器用探针,其特征在于:所述铝主体部或铁主体部的外表面上设有防锈层。
6.根据权利要求5所述的检测器用探针,其特征在于:所述防锈层为烤漆层或电镀防锈层。
7.根据权利要求1所述的检测器用探针,其特征在于:所述主体部上设有便于将其安装至检测器上的安装部。
8.根据权利要求7所述的检测器用探针,其特征在于:所述安装部为贯穿所述主体部设置的通孔。
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CN112858884A (zh) * | 2021-01-14 | 2021-05-28 | 强一半导体(苏州)有限公司 | 一种面向超高温工作环境下芯片测试的mems探针结构 |
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CN112858884A (zh) * | 2021-01-14 | 2021-05-28 | 强一半导体(苏州)有限公司 | 一种面向超高温工作环境下芯片测试的mems探针结构 |
CN112858884B (zh) * | 2021-01-14 | 2022-07-05 | 强一半导体(苏州)有限公司 | 一种面向超高温工作环境下芯片测试的mems探针结构 |
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