CN208206173U - 一种高精度检测工装 - Google Patents

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Abstract

一种高精度检测工装,其包括水平支架、微调支架、大理石检测台及检测器,所述微调支架装于水平支架上,大理石检测台装于微调支架上,而检测器装于大理石检测台上,所述大理石检测台为水平大理石块体且其上端面为检测水平面;所述水平支架为四角支撑架,微调支架为六脚支撑结构且其下端面固定于水平支架上。本实用新型于水平支架及大理石检测台之间设置有以微调支架,该微调支架通过对接的六根杆体配合形成,六个对接的杆体支架通过同一个微调杆配合实现六个杆体同时进行同样调节,从而有效的于水平基础上进行水平度的保持,从而有效确保整个检测结构的水平都,进而有效提高检测工装的精确度。

Description

一种高精度检测工装
技术领域
本实用新型设计工件检测仪器领域,尤其是涉及一种能够实现整体微调的高精度检测工装。
背景技术
于汽车零件加工领域中,对于加工精确度要求较高的零件而言,在加工样品之后需要仔细、精确的进行检测才能知晓是否达到标准内,针对于高标准的要求而言,精度高的检测设备则是必须的检测设备之一。
现有的对于检测工件水平及垂直度等技术参数的器具本身的水平都则是重要的确保高精度的参数,精度检测工装为了尽量提高精度,进而对于检测设备的水平度的要求及其高,现有的高精度检测设备中检测台采用不易变形的大理石平台,而为了确保平台的水平度通常利用可微调的支架实现支撑,而在支撑稳定形的同时支架的支脚数量至少大于三个,多跟支撑脚单独调整,极易造车水平误差,则直接影响检测工装的水平度,进而影响其检测精度。
从而如果避免现有技术的不足,则是本领域技术人员需要解决的技术问题之一。
实用新型内容
综上所述,为解决现有技术中存在的技术问题,本实用新型公开一种能够实现整体微调的高精度检测工装。
为达到上述目的,具体技术方案如下:
一种高精度检测工装,其包括水平支架、微调支架、大理石检测台及检测器,所述微调支架装于水平支架上,大理石检测台装于微调支架上,而检测器装于大理石检测台上,所述大理石检测台为水平大理石块体且其上端面为检测水平面;
所述水平支架为四角支撑架,微调支架为六脚支撑结构且其下端面固定于水平支架上。
进一步,所述微调支架包括上架及下架,所述下架装于水平支架上,而上架位于大理石检测台下方,所述上、下架之间配合相连且上、下架的对接处插接一微调杆。
进一步,所述下架包括六根矩阵排布的杆体,而各杆体固定于水平支架上。
进一步,所述上架包括六个矩阵分布的杆体及一水平平板,所述六个杆体至于水平平板下方并于水平平板一体相连。
进一步,所述上、下架对应位置的杆体相互对接且对接处插接。
相较于现有技术而言,本实用新型的优点如下:
本实用新型于水平支架及大理石检测台之间设置有以微调支架,该微调支架通过对接的六根杆体配合形成,六个对接的杆体支架通过同一个微调杆配合实现六个杆体同时进行同样调节,从而有效的于水平基础上进行水平度的保持,从而有效确保整个检测结构的水平都,进而有效提高检测工装的精确度,从而避免因多跟杆体分别调节导致水平度偏差大,而影响检测工装的精确度的不足,从而解决现有技术的技术问题。
附图说明
图1是本实用新型实施例结构示意图;
图2是本实用新型实施例中微调支架结构分布示意图;
图3是本实用新型实施例中微调支架中对接杆体于微调杆相连结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
如图1所示,一种高精度检测工装,其包括水平支架1、微调支架2、大理石检测台3及检测器(未视出),所述微调支架2装于水平支架1上,大理石检测台4装于微调支架2上,而检测器装于大理石检测台3上,所述大理石检测台3为水平大理石块体且其上端面为检测水平面。
如图1至图3所示,所述水平支架1为四角支撑架,其具体包括四个支撑脚及一水平板体,所述四个支撑脚的高度之一且各支撑脚通过螺钉锁固于地面上,为确保整个检测器具的水平度,固定水平支架的地面需要为水平地面,以提供给检测设备的水平基础,而水平支架装于水平地面上,在确保水平度的同时提供以检测工装的水平基础。
如图1至图3所示,微调支架2为六脚支撑结构且其下端面固定于水平支架上。所述微调支架2包括上架21及下架22,所述下架21装于水平支架上,而上架21位于大理石检测台3下方,所述上、下架21、22之间配合相连且上、下架21、22的对接处插接一微调杆23;所述下架22包括六根矩阵排布的杆体,而各杆体固定于水平支架上,所述上架21包括六个矩阵分布的杆体及一水平平板,所述六个杆体至于水平平板下方并于水平平板一体相连,所述上、下架21、22对应位置的杆体相互对接且对接处插接。
如图1至图3所示,所述微调杆23包括六根支杆231及一根手柄杆232,六根支杆231分别对应微调支架2的六脚设置,各支杆231包括一固定对接套2311及螺纹杆2312,所述固定对接套2311的高度大于微调支架2中上、下架21、22对应杆的微调距离,固定对接套2311沿其径向开设有贯穿孔,螺纹支杆的尾段(所述尾端为调节段)为锥状段且其外表面开设有螺纹,形成能与所述贯穿孔螺纹连接实现微调的结构,六个支杆中螺纹杆2312的一端于同一手柄杆232相连并联动形成一带六旋转调节的结构。
更有选的技术方案是:所述微调支架2中的上、下架21、22中的各支杆231的与微调杆232中各支杆231配合抵接的端处为与各支杆中螺纹杆倾斜度相适配的斜面;各斜面上为了防止长期提交的磨损,于斜面上设置有防磨损套,各防磨损套为硬质套体。
如图2至图3所示,上述是实施例中阐述的结构中需要进行微调时,只需旋转微调杆中手柄杆232,该手柄杆232带动六个支杆231同时旋转,六个支杆231同时伸入贯穿孔或移出贯穿孔,以实现进行为微调支架2中的微调功能,其中在各支杆231进行旋转运动的同时,相对接的杆体之间能于固定对接套内相对运动,进而达到调节的目的。
以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,但是本实用新型并不限于此实施方式,在所属技术领域的技术人员所具备的知识范围内,在不脱离本实用新型宗旨的前提下,还可以做出各种变化。所属技术领域的技术人员从上述的构思出发,不经过创造性的劳动,所作出的种种变换,均落在本实用新型的保护范围内。

Claims (5)

1.一种高精度检测工装,其特征在于:其包括水平支架、微调支架、大理石检测台及检测器,所述微调支架装于水平支架上,大理石检测台装于微调支架上,而检测器装于大理石检测台上,所述大理石检测台为水平大理石块体且其上端面为检测水平面;
所述水平支架为四角支撑架,微调支架为六脚支撑结构且其下端面固定于水平支架上。
2.根据权利要求1所述的一种高精度检测工装,其特征在于:所述微调支架包括上架及下架,所述下架装于水平支架上,而上架位于大理石检测台下方,所述上、下架之间配合相连且上、下架的对接处插接一微调杆。
3.根据权利要求2所述的一种高精度检测工装,其特征在于:所述下架包括六根矩阵排布的杆体,而各杆体固定于水平支架上。
4.根据权利要求3所述的一种高精度检测工装,其特征在于:所述上架包括六个矩阵分布的杆体及一水平平板,所述六个杆体至于水平平板下方并于水平平板一体相连。
5.根据权利要求4所述的一种高精度检测工装,其特征在于:所述上、下架对应位置的杆体相互对接且对接处插接。
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