CN208189185U - 一种液晶模组检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例中一种液晶模组检测装置，该装置包括：具有液晶模组容纳槽的托盘；所述托盘上设有转接基板，所述转接基板位于液晶模组容纳槽的下方；所述转接基板上设有多个测试点；所述转接基板的下方设有用于对待测液晶模组进行检测的探针组件；所述多个测试点与所述探针组件上的多个探针匹配对应。本申请所述技术方案将多组探针组件整合为单个探针组件，将整个探针组件压接在转接组件上的测试点上，从而消除了多组探针组件的相对公差、加工公差和装配公差，实现精确定位，避免多组探针组件压接时不同步的问题。

Description

一种液晶模组检测装置

技术领域

本申请涉及液晶模组检测领域，尤其涉及一种用于OLED液晶模组的检测装置中探针的定位方案。

背景技术

近年来，液晶显示器(ThinFilmTransistor-LiquidCrystal Display，TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，已经广泛地应用于人们的生产和生活当中。随着用户对液晶显示器品质和性能要求的提高，各液晶显示器的生产商均在努力提高各自产品的质量和性能，以适应市场的需求。

OLED液晶模组作为液晶显示器的重要组成部分，其直接影响了液晶显示器的性能和质量。因此，对于液晶模组的检测的精准度成为液晶模组生产工序中重要的步骤之一。

液晶模组检测的过程中，探针定位的精准度直接影响探针对液晶模组检测的准确度。通常对于液晶模组探针的定位采用多点同时压接技术，即液晶模组通过探针对液晶模组的转接基板上的多个测试点进行压接。当所有的测试点都能和每根探针同时接触，就能实现液晶模组信号的传输检测。传统的压接方式采用多动作式操作压接，如图1所示，第一探针组件和第二探针组件需要两次压接，且第一探针组件和第二探针组件有相对公差，加工公差和装配公差，很难保证精确定位，压接不良率较高。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请提供了一种液晶模组检测装置，该装置包括：具有液晶模组容纳槽1的托盘2；

所述托盘2上设有转接基板4，所述转接基板4位于液晶模组容纳槽1的下方；所述转接基板4上设有多个测试点5；

所述转接基板4的下方设有用于对待测液晶模组进行检测的探针组件6；

所述多个测试点5与所述探针组件6上的多个测试点5匹配对应。

优选地，所述液晶模组容纳槽1为在所述托盘2上沿铅锤方向开设的通槽；

待检测液晶模组3置于所述通槽内，并能够被留置在预定位置。

优选地，所述液晶模组容纳槽1的槽壁上设有阻挡部，用于阻挡所述待检测液晶模组3沿铅垂方向向下运动，并使待检测液晶模组3留置在预定位置。

优选地，所述阻挡部为设置在液晶模组容纳槽1槽壁上的凸缘。

优选地，所述转接基板4与放置在托盘2上的待检测液晶模组3平行。

优选地，所述多个测试点5以阵列排布的方式设置在所述转接基本的预定位置。

优选地，该装置进一步包括：用于承载所述托盘2和探针组件6的支撑面板7。

优选地，所述探针组件6通过升降装置设置在所述支撑面板7上；

所述探针组件6通过升降装置实现沿铅垂方向的上下移动；向上移动时，所述探针组件6上探针同时压接在所述测试点5上；向下移动时，探针组件6从所述测试点5上离开，并到达限位处停止下移。

优选地，所述升降装置为升降螺杆、液压机构或连杆机构。

优选地，所述支撑面板7上设有控制单元，所述控制单元与所述升降装置连接；通过控制单元控制升降装置的升降运动。

本发明的有益效果如下：

本申请所述技术方案将多组探针组件整合为单个探针组件，将整个探针组件压接在转接组件上的测试点上，从而消除了多组探针组件的相对公差、加工公差和装配公差，实现精确定位，避免多组探针组件压接时不同步的问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1示出现有技术中液晶模组检测装置的探针压接示意图；

图2示出本方案所述液晶模组检测装置的示意图；

图3示出本方案所述转接基板的示意图；

图4示出本方案所述探针组件的控制方式示意图。

附图标号

1、容纳槽，2、托盘，3、待检测液晶模组，4、转接基板，5、测试点，6、探针组件，7、支撑面板，8、操纵手柄。

具体实施方式

为了使本申请的技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图对本申请的示例性实施例进行进一步详细的说明，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是所有实施例的穷举。并且在不冲突的情况下，本说明中的实施例及实施例中的特征可以互相结合。

本方案的核心思路是将多组探针组件6整合成单个整体的探针组件6，并将整个探针组件6压接在转接组件上的测试点5上，实现对探针的精确压接定位和多点同时压接。

如图2所示，本方案公开了一种液晶模组检测装置，该装置包括：具有液晶模组容纳槽1的托盘2和固定在所述托盘2上位于液晶模组容纳槽1下方的转接基板4；所述转接基板4的下方设有用于对待测液晶模组进行检测的探针组件6，所述多个测试点5与所述探针组件6上的多个探针匹配对应。

本方案中，所述托盘2可以通过三个长方形结构体构成，其中，第二长方形结构体和第三长方形结构体分别设置在第一长方形结构体的两端，作为第一长方形结构体的支撑，优选地，三个长方形结构体为一体化加工成型。

本方案中，在第一长方形结构体上开设有“凸”形液晶模组容纳槽1，所述液晶模组容纳槽1为在所述托盘2上沿铅锤方向开设的通槽；待检测液晶模组3置于所述通槽内，并能够被留置在预定位置。

本方案中，优选地，在所述液晶模组容纳槽1的槽壁上设有阻挡部，该阻挡部用于阻挡所述待检测液晶模组3沿铅垂方向向下运动，并使待检测液晶模组3留置在预定位置。进一步优选地，所述阻挡部为设置在液晶模组容纳槽1槽壁上的凸缘。操作人员将液晶模组放入槽内，通过所述凸缘拖住待测液晶模组，通过转接基板4上的连接件与待测液晶模组抵接或卡接。

本方案中，所述转接基板4可以通过焊接、粘结、卡接、螺接等方式与托盘2固定。在固定的同时，需要保证所述转接基板4尽量水平，这样，就能够保证待检测液晶模组3放置在液晶模组容纳槽1内时，所述转接基板4与放置在托盘2上的待检测液晶模组3平行。由于安装过程或加工过程可能会有加工或安装公差，此时，应尽量保证转接基板4与放置在液晶屏容纳槽1内的待测液晶模组平行，这样就能保证对探针定位时，实现对探针的同时压接。

本方案为了保证检测过程的准确性，转接基板4上的多个测试点5要与所述探针组件6上的多个探针匹配对应。优选地，所述多个测试点5以阵列排布的方式设置在所述转接基本的预定位置。探针组件6上的多个探针也以同样阵列排布的方式设置在组件上。

本方案中，所述检测装置进一步设有用于承载所述托盘2和探针组件6的支撑面板7。所述托盘2通过螺接、卡接、焊接等方式固定在支撑面板7上表面。探针组件6通过升降装置设置在所述支撑面板7上，所述探针组件6通过升降装置实现沿铅垂方向的上下移动；向上移动时，所述探针组件6上探针同时压接在所述测试点5上；向下移动时，探针组件6从所述测试点5上离开，并到达限位处停止下移。

本方案中，所述升降装置可以为升降螺杆、液压机构或连杆机构；通过对上述机构的控制实现对探针组件6升降的控制。如图2所示，优选地，在所述支撑面板7上设置操纵手柄8，所述操纵手柄8通过连杆机构与所述升降装置连接；当拨动所述操纵手柄8时，控制升降装置的升降运动。为了方便机构运作，将连杆机构和部分升降装置设置在支撑面板7下表面；操纵手柄8设置在支撑面板7上表面。

在液晶模组检测过程中，需要保证液晶模组探针精确定位和多点同时压接，即液晶模组通过探针对液晶模组的转接基板4上的多个测试点5进行压接从而对液晶模组进行检测。如果所有的测试点5都能和每根探针同时接触，就能实现液晶模组信号的传输检测。如图1所示，由于传统系统进行多点同时压接时，第一探针组件6和第二探针组件6需要多动作式操作压接，两次压接的过程中会出现相对公差、加工公差和装配公差等问题，很难保证对探针的精确定位，压接不良率较高。因此，如图2所示，本方案将多组探针整合成一个探针组件6，通过转接基板4对整体探针组件6进行多点精确压接定位从而避免相对公差、加工公差和装配公差的问题，实现精确定位和多点同时压接。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

Claims (10)

1.一种液晶模组检测装置，其特征在于，该装置包括：具有液晶模组容纳槽(1)的托盘(2)；

所述托盘(2)上设有转接基板(4)，所述转接基板(4)位于液晶模组容纳槽(1)的下方；所述转接基板(4)上设有多个测试点(5)；

所述转接基板(4)的下方设有用于对待检测液晶模组(3)进行检测的探针组件(6)；

所述多个测试点(5)与所述探针组件(6)上的多个测试点(5)匹配对应。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述液晶模组容纳槽(1)为在所述托盘(2)上沿铅锤方向开设的通槽；

待检测液晶模组(3)置于所述通槽内，并能够被留置在预定位置。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述液晶模组容纳槽(1)的槽壁上设有阻挡部，用于阻挡所述待检测液晶模组(3)沿铅垂方向向下运动，并使待检测液晶模组(3)留置在预定位置。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述阻挡部为设置在液晶模组容纳槽(1)槽壁上的凸缘。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述转接基板(4)与放置在托盘(2)上的待检测液晶模组(3)平行。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述多个测试点(5)以阵列排布的方式设置在所述转接基板的预定位置。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，该装置进一步包括：用于承载所述托盘(2)和探针组件(6)的支撑面板(7)。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述探针组件(6)通过升降装置设置在所述支撑面板(7)上；

所述探针组件(6)通过升降装置实现沿铅垂方向的上下移动；向上移动时，所述探针组件(6)上探针同时压接在所述测试点(5)上；向下移动时，探针组件(6)从所述测试点(5)上离开，并到达限位处停止下移。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述升降装置为升降螺杆、液压机构或连杆机构。

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述支撑面板(7)上设有控制单元，所述控制单元与所述升降装置连接；通过控制单元控制升降装置的升降运动。