CN207908644U - 一种新型微动控制开关寿命及负载测试机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种新型微动控制开关寿命及负载测试机，旨在提供一种结构简单、操作方便、适应性强，能够测试翘板开关和按键开关的寿命及负载的新型微动控制开关寿命及负载测试机。本实用新型包括电源箱、电压负载箱、电流负载箱及温控测试箱，温控测试箱上设置有测试台，温控测试箱的下端设置有MCU控制系统，测试台上端设置有翘板开关测试装置、按键开关测试装置、加热器、制冷装置及温度传感器，翘板开关测试装置及按键开关测试装置均设置有计数传感器，电源箱、电压负载箱、电流负载箱、翘板开关测试装置、按键开关测试装置、加热器、制冷装置、温度传感器及计数传感器均与MCU控制系统电性连接。本实用新型应用于开关测试的技术领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种开关测试机，特别涉及一种新型微动控制开关寿命及负载测试机。
背景技术
目前，为了提高家电产品的使用性能，家电产品通常会设置多种功能性的开关。这样，开关的可靠性和使用寿命直接影响家电产品的可靠性和寿命，因此，在开关生产完成之后，需要对开关的可靠性和使用寿命进行测试。
但是，不同类型的开关，需要使用不同的测试机构对其进行测试，这就需要企业研发处不同类型的开关测试机构来进行测试，导致开关的测试成本较高。而且，现有开关测试机没有配备温控系统，当测试的环境温度过低或者过高时，会影响测试精度，设备的适应性较差。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种结构简单、操作方便、适应性强，能够测试翘板开关和按键开关的寿命及负载的新型微动控制开关寿命及负载测试机。
本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括电源箱、电压负载箱、电流负载箱及温控测试箱，所述温控测试箱上设置有测试台，所述温控测试箱的下端设置有MCU控制系统，所述测试台上端设置有翘板开关测试装置、按键开关测试装置、加热器、制冷装置及温度传感器，所述翘板开关测试装置及所述按键开关测试装置均设置有计数传感器，所述电源箱、所述电压负载箱、所述电流负载箱、所述翘板开关测试装置、所述按键开关测试装置、所述加热器、所述制冷装置、所述温度传感器及所述计数传感器均与所述MCU控制系统电性连接。
进一步的，所述翘板开关测试装置包括翘板开关安装座、设置在所述翘板开关安装座一侧的伺服电机一、与所述伺服电机一相连接的驱动杆及设置在所述驱动杆前端的拨动杆，翘板开关安装在所述翘板开关安装座上，所述拨动杆与所述翘板开关相配合。
进一步的，所述按键开关测试装置包括按键开关安装座、设置在所述按键开关安装座前端的伺服电机二、与所述伺服电机二相连接的按压杆及设置在所述按压杆前端的按压头，按键开关安装在所述按键开关安装座上，所述按压头与所述按键开关相配合。
进一步的，所述拨动杆及所述按压头均采用橡胶材料制作而成。
进一步的，所述测试箱上设置有控制面板及显示面板，所述控制面板与所述显示面板均与所述MCU控制系统电性连接。
进一步的，所述温控测试箱的上端设置有警报器，所述警报器与所述MCU控制系统电性连接，所述温控测试箱的下端设置有若干固定脚垫。
本实用新型的有益效果是：由于本实用新型包括电源箱、电压负载箱、电流负载箱及温控测试箱，所述温控测试箱上设置有测试台，所述温控测试箱的下端设置有MCU控制系统，所述测试台上端设置有翘板开关测试装置、按键开关测试装置、加热器、制冷装置及温度传感器，所述翘板开关测试装置及所述按键开关测试装置均设置有计数传感器，所述电源箱、所述电压负载箱、所述电流负载箱、所述翘板开关测试装置、所述按键开关测试装置、所述加热器、所述制冷装置、所述温度传感器及所述计数传感器均与所述MCU控制系统电性连接，所以，。
附图说明
图1是本实用新型的结构简图；
图2是本实用新型测试箱的内部结构示意图。
具体实施方式
如图1和图2所示，在本实施例中，本实用新型包括电源箱1、电压负载箱2、电流负载箱3及温控测试箱4，所述温控测试箱4上设置有测试台5，所述温控测试箱4的下端设置有MCU控制系统，所述测试台5上端设置有翘板开关测试装置6、按键开关测试装置7、加热器8、制冷装置9及温度传感器10，所述翘板开关测试装置6及所述按键开关测试装置7均设置有计数传感器，所述电源箱1、所述电压负载箱2、所述电流负载箱3、所述翘板开关测试装置6、所述按键开关测试装置7、所述加热器8、所述制冷装置9、所述温度传感器10及所述计数传感器均与所述MCU控制系统电性连接。此设计中，可通过所述翘板开关测试装置6测试翘板开关11的寿命及负载，通过所述按键开关测试装置7测试按键开关12的寿命及负载；负载可通过所述电压负载箱2及所述电流负载箱3来调节；通过所述计数传感器来计算翘板开关11的拨动次数及按键开关12的按压次数，从而反测试出开关的使用寿命；通过所述温度传感器10来检测所述温控测试箱4内的温度，并通过所述加热器8及所述制冷装置9配合来调节所述温控测试箱4内的温度，从而提高设备的适应性，即使在极端的天气条件也能完成精确测量。
在本实施例中，所述翘板开关测试装置6包括翘板开关安装座61、设置在所述翘板开关安装座61一侧的伺服电机一62、与所述伺服电机一62相连接的驱动杆63及设置在所述驱动杆63前端的拨动杆64，翘板开关11安装在所述翘板开关安装座61上，所述拨动杆64与所述翘板开关11相配合。此设计中，将所述翘板开关11安装在所述翘板开关安装座61上，并接通电源，所述拨动杆64位于所述翘板开关11的翘板的中部，通过所述伺服电机一62驱动所述拨动杆64来回运动，从而来按压翘板的两端，使所述翘板开关11不断开关，并通过所述计数传感器测量所述翘板开关11的开关次数，从而测试出所述翘板开关11的使用寿命。
在本实施例中，所述按键开关测试装置7包括按键开关安装座71、设置在所述按键开关安装座71前端的伺服电机二72、与所述伺服电机二72相连接的按压杆73及设置在所述按压杆73前端的按压头74，按键开关12安装在所述按键开关安装座71上，所述按压头74与所述按键开关12相配合。此设计中，将所述按键开关12安装在所述按键开关安装座71上，并接通电源，所述按压头74正对所述按键开关12的键帽，通过所述伺服电机二72驱动所述按压头74来回运动，从而不停按压所述按键开关12，使所述按键开关12不断开关，并通过所述计数传感器测量出所述按键开关12的开合次数，从而测试出所述按键开关12的使用寿命。
在本实施例中，所述拨动杆64及所述按压头74均采用橡胶材料制作而成。此设计中，为了避免拨动杆64及所述按压头74的硬度过大而造成开关损坏，故采用橡胶材料制作所述拨动杆64及所述按压头74。
在本实施例中，所述温控测试箱4上设置有控制面板13及显示面板14，所述控制面板13与所述显示面板14均与所述MCU控制系统电性连接。此设计中，设置所述控制面板13及所述显示面板14是为了方便工人操作设备及观察设备的测试情况。
在本实施例中，所述温控测试箱4的上端设置有警报器15，所述警报器15与所述MCU控制系统电性连接，所述温控测试箱4的下端设置有若干固定脚垫16。此设计中，当测试结束之后，所述警报器15就会发出警报，提醒工人测试完毕。
本实用新型应用于开关测试的技术领域。
虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。
Claims (6)
1.一种新型微动控制开关寿命及负载测试机，其特征在于：它包括电源箱（1）、电压负载箱（2）、电流负载箱（3）及温控测试箱（4），所述温控测试箱（4）上设置有测试台（5），所述温控测试箱（4）的下端设置有MCU控制系统，所述测试台（5）上端设置有翘板开关测试装置（6）、按键开关测试装置（7）、加热器（8）、制冷装置（9）及温度传感器（10），所述翘板开关测试装置（6）及所述按键开关测试装置（7）均设置有计数传感器，所述电源箱（1）、所述电压负载箱（2）、所述电流负载箱（3）、所述翘板开关测试装置（6）、所述按键开关测试装置（7）、所述加热器（8）、所述制冷装置（9）、所述温度传感器（10）及所述计数传感器均与所述MCU控制系统电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型微动控制开关寿命及负载测试机，其特征在于：所述翘板开关测试装置（6）包括翘板开关安装座（61）、设置在所述翘板开关安装座（61）一侧的伺服电机一（62）、与所述伺服电机一（62）相连接的驱动杆（63）及设置在所述驱动杆（63）前端的拨动杆（64），翘板开关（11）安装在所述翘板开关安装座（61）上，所述拨动杆（64）与所述翘板开关（11）相配合。
3.根据权利要求2所述的一种新型微动控制开关寿命及负载测试机，其特征在于：所述按键开关测试装置（7）包括按键开关安装座（71）、设置在所述按键开关安装座（71）前端的伺服电机二（72）、与所述伺服电机二（72）相连接的按压杆（73）及设置在所述按压杆（73）前端的按压头（74），按键开关（12）安装在所述按键开关安装座（71）上，所述按压头（74）与所述按键开关（12）相配合。
4.根据权利要求3所述的一种新型微动控制开关寿命及负载测试机，其特征在于：所述拨动杆（64）及所述按压头（74）均采用橡胶材料制作而成。
5.根据权利要求4所述的一种新型微动控制开关寿命及负载测试机，其特征在于：所述温控测试箱（4）上设置有控制面板（13）及显示面板（14），所述控制面板（13）与所述显示面板（14）均与所述MCU控制系统电性连接。
6.根据权利要求5所述的一种新型微动控制开关寿命及负载测试机，其特征在于：所述温控测试箱（4）的上端设置有警报器（15），所述警报器（15）与所述MCU控制系统电性连接，所述温控测试箱（4）的下端设置有若干固定脚垫（16）。
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Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| CN109444732A (zh) * | 2018-11-21 | 2019-03-08 | 格力电器（武汉）有限公司 | 一种微动开关测试装置及方法 |
| CN110244220A (zh) * | 2019-07-29 | 2019-09-17 | 中壹发展八五零电子有限公司 | 微动开关寿命测试控制装置 |
| CN113447807A (zh) * | 2021-07-02 | 2021-09-28 | 东阳市联宜机电有限公司 | 微动开关寿命检测装置及检测方法 |
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