CN207866968U - 一种sg2803/desc系列三极管阵列测试适配器 - Google Patents
一种sg2803/desc系列三极管阵列测试适配器 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，包括测试母板与测试子板，测试母板与测试子板连接；测试母板包括底板以及设置在底板上的至少两个继电器，继电器包括第一继电器以及第二继电器，测试母板与外置测试设备连接；测试子板包括被测器件，被测器件内部包括多组三极管对；对于每一组三极管对，基极与第一继电器连接，发射极与第二继电器连接，集电极通过测试母板与外置测试设备连接。本实用新型提供的测试适配器，能够一次性快速实现被测器件的全部参数的测试需求，提高了测试精度，大大提高了产品批生产过程中的测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及可靠性筛选及测试领域，特别是指一种SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器。
背景技术
SG2803/DESC是一种特殊封装形式的三极管阵列。具体内部组成如附图1所示，它有20只管脚，内部有八组三极管。这种封装形式的尺寸较小(长8.89mm±0.2，宽8.89mm±0.2)，管脚间的尺寸仅为1.27mm。由于各管脚间的尺寸较小，极易在测试时短路，从而对器件造成损伤。目前属于不可测试器件。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，可以较好的实现SG2803/DESC系列三极管阵列的测试，满足产品的批量测试需求。
基于上述目的本实用新型提供的一种SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，包括测试母板与测试子板，所述测试母板与所述测试子板连接；
所述测试母板包括底板以及设置在所述底板上的至少两个继电器，所述继电器包括第一继电器以及第二继电器，所述测试母板与外置测试设备连接；
所述测试子板包括被测器件，所述被测器件内部包括多组三极管对；对于每一组三极管对，所述三极管对的基极与所述第一继电器连接，所述三极管对的发射极与所述第二继电器连接，所述三极管对的集电极通过所述测试母板与外置测试设备连接。
优选的，所述测试子板设置有与所述被测器件连接的第一排针以及第二排针，所述第一排针与所述三极管对的基极连接，所述第二排针与所述三极管对的所述发射极连接；
所述测试母板设置有与所述第一排针配合的第一排针插孔，以及与所述第二排针配合的第二排针插孔，所述第一排针插孔与所述第一继电器连接，所述第二排针插孔与所述第二继电器连接。
优选的，所述测试母板设置有数据线接口，用于实现至少两个所述的继电器与外置测试设备的连接。
优选的，所述测试母板设置有多个测试接口，所述测试接口与所述被测器件连接，所述测试接口用于实现所述被测器件与外置测试设备的连接。
优选的，所述被测器件采用开尔文接线方式与所述双排排针、所述测试接口连接。
从上面所述可以看出，本实用新型提供的SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，能够一次性快速实现器件的全部参数的测试需求，提高了测试精度，大大提高了产品批生产过程中的测试效率；该适配器结构简单，方便灵活，可以根据不同管脚分布及不同的内部结构需要进行改造，实用性强。
附图说明
图1为本实用新型实施例所述被测器件SG2803/DESC内部结构图；
图2为本实用新型实施例所采用的测试原理图；
图3为本实用新型实施例测试母板结构示意图；
图4为本实用新型实施例测试子板结构示意图；
图5为本实用新型实施例电压测试原理示意图；
图6为本实用新型实施例电流测试原理示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。
需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
附图1为本实用新型实施例所述被测器件SG2803/DESC内部结构图。附图2为本实用新型实施例所采用的测试原理图。
本实用新型实施例提出了一种SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，包括测试母板与测试子板，所述测试母板与所述测试子板连接。
参照附图3所示，所述测试母板包括底板1以及设置在所述底板上的至少两个继电器，所述继电器包括第一继电器21以及第二继电器22，所述测试母板与外置测试设备连接。
参照附图4所示，所述测试子板包括被测器件3，所述被测器件3内部包括多组三极管对。对于每一组三极管对，所述三极管对的基极B与所述第一继电器21连接，所述三极管对的发射极E与所述第二继电器22连接，所述三极管对的集电极C通过测试母板与外置测试设备连接。
优选的，所述测试子板设置有与所述被测器件3连接的第一排针41以及第二排针42，所述第一排针41与所述三极管对的基极B连接，所述第二排针42与所述三极管对的所述发射极E连接。优选的，被测器件3采用开尔文接线方式与第一排针41以及第二排针42连接，使测试结果更加准确。
所述测试母板设置有与所述第一排针41配合的第一排针插孔51，以及与所述第二排针42配合的第二排针插孔52，所述第一排针插孔51与所述第一继电器21连接，所述第二排针插孔52与所述第二继电器22连接。
优选的，所述测试母板设置有数据线接口6，所述数据线接口6一端与所述继电器连接，另一端与外置测试设备连接，数据线接口6用于实现至少两个所述的继电器与外置测试设备的连接。外置测试设备为BC3193分立器件测试系统的测试平台。
优选的，所述测试母板设置有多个测试接口7，所述测试接口7与所述被测器件3连接，所述测试接口7用于实现所述被测器件3与外置测试设备的连接。具体的，测试接口7共有六个，包括ES接口、EF接口、BS接口、BF接口、CS接口以及CF接口，其中ES接口、EF接口与被测器件3的第10管脚连接，BS接口、BF接口、CS接口以及CF接口用于与被测器件3的第12管脚连接，优选的，被测器件3采用开尔文接线方式与各接口连接，使测试结果更加准确。
在一个具体的实施例中，被测器件SG2803/DESC三极管阵列内部封装八组三极管对，具有20个管脚。为了对该器件测试，第一排针41以及第二排针42选取16X2的双排排针，测试母板上的继电器共有16个，均分为两列分别设置在两个排针插孔与测试母板边缘之间。对于第一组三极管对，其基极B对应的第2管脚通过第一排针41与第一继电器21连接，其发射极E对应的第20引脚通过第二排针42与第二继电器22连接，其集电极C对应的第12引脚与测试母板上的测试接口7连接，同时测试接口7与外置测试设备连接。测试时每次测试一组三极管对，测试完成后进行继电器的切换后进行下一组三极管对的测试，每个三极管对的测试需要两个继电器来完成。参照附图5与附图6所示，测试内容包括：(1)IIN(ON)通态输入电流：即在规定的输入电压下的输入端电流。(2)IIN(OFF)断态输入电流：即在规定的输出端电流条件下的输入端电流。(3)VIN(ON)输入电压：即在规定的集电极电流和集电极C-发射机E电压条件下的基极输入电压。相当于VBE(ON)。(4)IR反向电流：施加规定的反向电压时流过二极管的电流。(5)VF正向直流电压：规定的正向电流流过被测器件时，在器件两端产生的直流电压。(6)HFE共发射极正向电流传输比：输出电压保持不变时，直流输出电流与直流输入电流之比。(7)ICEO集电极-发射极截止电流：基极开路时，在规定的集电极-发射极电压下，流过集电极-发射极结的反向电流。(8)VCES集电极-发射极饱和电压：在规定的基极电流和集电极电流下，集电极-发射极之间的剩余电压。
本实用新型实施例所述SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器不仅能够适用SG2803/DESC系列三极管阵列，还能够适用于具有同样封装并且内部具有其他数量三极管对的器件的测试，例如内部封装有1～7组三极管对的器件。
本实用新型提供的SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，能够一次性快速实现器件的全部参数的测试需求，提高了测试精度，大大提高了产品批生产过程中的测试效率；该适配器结构简单，方便灵活，可以根据不同管脚分布及不同的内部结构需要进行改造，实用性强；该适配器根据器件的管脚分布进行改造时，只需在子板上根据器件的管脚不同来重新接线，而无需改变母板，节约了成本；该适配器设计组成合理，易于采购和组装，便于推广使用。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，其特征在于，包括测试母板与测试子板，所述测试母板与所述测试子板连接；
所述测试母板包括底板以及设置在所述底板上的至少两个继电器，所述继电器包括第一继电器以及第二继电器，所述测试母板与外置测试设备连接；
所述测试子板包括被测器件，所述被测器件内部包括多组三极管对；对于每一组三极管对，所述三极管对的基极与所述第一继电器连接，所述三极管对的发射极与所述第二继电器连接，所述三极管对的集电极通过所述测试母板与外置测试设备连接。
2.根据权利要求1所述的SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，其特征在于，所述测试子板设置有与所述被测器件连接的第一排针以及第二排针，所述第一排针与所述三极管对的基极连接，所述第二排针与所述三极管对的所述发射极连接；
所述测试母板设置有与所述第一排针配合的第一排针插孔，以及与所述第二排针配合的第二排针插孔，所述第一排针插孔与所述第一继电器连接，所述第二排针插孔与所述第二继电器连接。
3.根据权利要求1所述的SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，其特征在于，所述测试母板设置有数据线接口，用于实现至少两个所述的继电器与外置测试设备的连接。
4.根据权利要求2所述的SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，其特征在于，所述测试母板设置有多个测试接口，所述测试接口与所述被测器件连接，所述测试接口用于实现所述被测器件与外置测试设备的连接。
5.根据权利要求4所述的SG2803/DESC系列三极管阵列测试适配器，其特征在于，所述被测器件采用开尔文接线方式与双排排针、所述测试接口连接。
Priority Applications (1)
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| CN201820039292.3U CN207866968U (zh) | 2018-01-10 | 2018-01-10 | 一种sg2803/desc系列三极管阵列测试适配器 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115113013A (zh) * | 2022-08-01 | 2022-09-27 | 南京宏泰半导体科技有限公司 | 一种双极结型晶体管iceo参数快速测试装置及方法 |
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2018
- 2018-01-10 CN CN201820039292.3U patent/CN207866968U/zh active Active
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