CN2078447U - 集成电路特征电阻微电脑测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种集成电路特征电阻微电脑测试装置,由主
机、显示及驱动电路、键盘、采样及A/D转换电路、
电子开关阵列、断电保护电路及CMOS RAM等组
成,其特征是:(1)测试电压由恒压源VS通过串联标
准电阻RS及电子开关接至被测集成电路引脚。(2)
A/D转换采用单片逐位比较法芯片,其基准电压
VS输入端及信号电压输入端均接有一电压放大
器。本装置为便携式测试仪具,适于音频视频集成电
路的检测。
Description
本实用新型涉及一种微电脑控制的集成电路特征电阻测试装置,适用于音频视频集成电路的检测。
随着微电子技术的发展,民用四机中越来越多地采用了集成电路,在维修和使用集成电路时,需要一种具有适用型号广泛的简易测试工具,但至今还没有这类仪具问世,其原因是:
(1)民用音频视频集成电路品种达一千多种,功能各异。
(2)这类电路是模拟或模拟数字混合电路,测定性能要计量很多参数,而测定这些参数的仪器是工业生产专用的综合设备,其复杂程度与昂贵价格远远超出一般的使用场合。
因此,近年来已有较多文献提出测量电路芯片每一引脚的对地电阻(称为“特征电阻”)并与正常值比较的办法来判断电路好坏。由于集成电路损坏时,其有关引脚对地的体电阻(即特征电阻)必然呈现一定程度的变化,按大多数文献介绍,误差在10%以内可判断为好的。现出版的采用该方法测试的集成电路直流数据手册已有多种,涉及型号近千种。
特征电阻的测量一般用万用表进行,并要把每一脚数值与《手册》对照,显得十分烦琐,使该方法在实用上受到限制。
本实用新型目的是基于特征电阻测量原理而提供一种价格低廉的便携式测试仪具,测式速度二、三钞钟一片。
本实用新型的详细技术内容及其实施例结合附图说明如下:
附图1为本实用新型的主视图。
附图2为本实用新型电路框图。
附图3为实施例采样电路原理图。
本实用新型由主机、显示器(6)及驱动电路(7)、键盘(8)、采样(14)及A/D转换电路(15)、电子开关(2)阵列,断电保护电路(17)及CMOS RAM(5)等组成。
主机由单片机(3)(本实施例为MCS系列),地址锁存器(16)(本实施例为74LS373),程序存储器(4)(本实施例为2764)组成。
显示器(6)采用5位LED数码管,用动态扫描方法驱动。
键盘(8)是一个3×5键的小型键盘。共10个数字键,5个功能键。功能键分别为型号键(13),预置键(11),读出键(9),测试键(10)和小数点键(12)。
采样电路(14)由恒压源VS,串联标准电阻RS,基准电压放大器K1和采样信号放大器K2组成。K1将VS放大后送至 A/D转换器(15)作电压基准VR。VS通过串联标准电阻RS,再通过所选的电子开关通道(2),接至测试插座(1)上的被测集成电路的引脚。集成电路的地引脚则通过另一组开关(2)接至机内地电平。这样构成了测试回路。RS的对地电压即为采样电压VT,经K2放大后送至A/D转换器(15)的输入端。
A/D转换器(15)采用单片逐位比较法A/D芯片。
电子开关由二组40路双向模拟开关(2)组成。由二组此址锁存器(16)分别选择二个通道,各接至被测IC芯片的被测端和地引脚端。
测试时由主机控制选择电子开关(2)的各通道分别接通被测IC的每一引脚,经A/D转换后主机采样VT值,经计算后即可得出该引脚的特征电阻RT。
断电保护电路(17)由CMOS RAM(5)、断电检测电路及钮扣电池组成。当电源电压下降至某一幅度(本实施例为4.5V),断电检测电路输出立即由低电平翻转至高电平,并封锁住CMOSRAM的片选端 CE,从而保护数据不被破坏。
本实用新型在监控程序配合下可由键盘输入所测芯片的型号值、引脚数及地引脚序号数。各引脚对地特征电阻的数值可由键盘(8)上输入也可将标准芯片插在插座(1)上直接读入。按测试键(10)后即可启动测试程序将被测芯片所有引脚的特征电阻均测试一遍并和已存储之正常值比较。根据误差值是否在允许范围之内给出合格(Good)或不合格(Er)的显示。
本实用新型主要用来测试各种音频、视频IC电路,也可测试其它各种IC电路。
本实用新型使特征电阻测试法具备了实用的必要手段。结构简单,体积小、造价低、使用简便、测试迅速,将为家电维修行业在使用集成电路时带来便利。
Claims (1)
- 一种集成电路特征电阻微电脑测试装置,由主机、显示器(6)及驱动电路(7)、键盘(8)、采样装置(14)及转换电路(15)、电子开关陈列(2)、断电保护电路(17)组成,主机内装有单片机(3)、地址锁存器(16)、程序存贮器(4),显示器(6)及驱动电路(7)采用5位<ED数码管用动态扫描方法驱动,键盘(8)共有10个数字键和5个功能键,采样装置(14)由恒压源Vs、标准电阻Rs及放大器K1、K2组成,转换器(15)采用单片逐位比较芯片,电子开关(2)有二组40路双向模拟开关,其特征是标准电阻RS的一端与恒压源连接,另一端通过电子开关(2)与被测集成块引脚(1)连接,并在转换器A/D(15)的基准电压输入端及信号电压输入端分别接有放大器K1和K2。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 90205943 CN2078447U (zh) | 1990-05-04 | 1990-05-04 | 集成电路特征电阻微电脑测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN 90205943 CN2078447U (zh) | 1990-05-04 | 1990-05-04 | 集成电路特征电阻微电脑测试装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN2078447U true CN2078447U (zh) | 1991-06-05 |
Family
ID=4886620
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN 90205943 Withdrawn CN2078447U (zh) | 1990-05-04 | 1990-05-04 | 集成电路特征电阻微电脑测试装置 |
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CN (1) | CN2078447U (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101359009B (zh) * | 2007-08-03 | 2010-10-27 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 芯片电阻的测量装置 |
US9588171B2 (en) | 2012-05-16 | 2017-03-07 | Infineon Technologies Ag | System and method for testing an integrated circuit |
-
1990
- 1990-05-04 CN CN 90205943 patent/CN2078447U/zh not_active Withdrawn
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CN101359009B (zh) * | 2007-08-03 | 2010-10-27 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 芯片电阻的测量装置 |
US9588171B2 (en) | 2012-05-16 | 2017-03-07 | Infineon Technologies Ag | System and method for testing an integrated circuit |
US10288669B2 (en) | 2012-05-16 | 2019-05-14 | Infineon Technologies Ag | System and method for testing an integrated circuit |
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