CN207622652U - 一种测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于测量技术领域，公开了一种测量装置。该测量装置包括工作台、设置于工作台上的高度尺和定位体及设置于定位体上的定位卡爪组件。将待测工件部分放置于定位体内，定位卡爪组件可调节的抵靠于待测工件的过渡部，高度尺测量实际定位圆所在的平面与待测工件的顶面之间的距离，其中实际定位圆为圆锥面与定位卡爪组件接触位置所形成的圆。通过设置将待测工件可以部分放置于定位体内，并配合高度尺测量实际定位圆所在的平面与待测工件顶面之间的距离，将测量误差控制在一定范围内，进而达到减少测量误差的目的。

Description

一种测量装置

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，尤其涉及一种测量装置。

背景技术

在工程生产中，如图1所示，有一种待测工件5为阶梯轴，该阶梯轴包括大轴51、小轴52及设置于大轴51和小轴52之间的过渡部53，该过渡部53为圆锥结构。在实际生产中，有时需要以过渡部53的锥形面上某一个直径的圆作为定位圆，来测量该定位圆到大轴51端面的高度。

通常，将上述定位圆认为是理想定位圆，然而由于过渡部53的锥形面上存在跳动误差，且测量装置不可避免的存在仪器误差，使得在实际测量中存在实际定位圆直径与理想定位圆直径具有较大差异，导致测量的高度误差较大的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测量装置，解决了现有技术中过渡部的锥形面由于跳动误差，而导致测量的高度误差较大的技术问题。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种测量装置，包括工作台、设置于所述工作台上的高度尺和定位体及设置于所述定位体上的定位卡爪组件；待测工件部分放置于所述定位体内，所述定位卡爪组件沿定位体可滑动，且能可调节地抵靠于所述待测工件的过渡部的圆锥面上的任意位置处，且所述圆锥面与所述定位卡爪组件接触位置形成有实际定位圆，所述高度尺能测量所述实际定位圆所在的平面与所述待测工件的顶面之间的距离。

作为优选，所述定位体为圆柱形结构，所述定位体的中心设置有阶梯孔，所述待测工件部分放置于所述阶梯孔内。

作为优选，所述阶梯孔包括由上至下依次设置且相互连通的第一定位孔和第二定位孔，所述第一定位孔的直径大于所述第二定位孔的直径；所述待测工件的小轴置于所述第二定位孔内，所述待测工件的过渡部部分设置于所述第一定位孔内。

作为优选，所述第二定位孔的直径与所述小轴直径相同，且所述小轴与所述第二定位孔间隙配合。

作为优选，所述第二定位孔的深度小于或等于所述小轴的高度。

作为优选，所述定位卡爪组件包括三个夹持卡爪，三个所述夹持卡爪周向均匀可滑动地设置于所述定位体上，三个所述夹持卡爪所调节的实际定位圆的直径与理想测量定位圆的直径相同，且三个所述夹持卡爪均抵靠于所述过渡部。

作为优选，所述高度尺包括设置于工作台的底座、连接于所述底座的支架及连接于所述支架的测头，所述测头能够沿所述支架上下移动，且所述测头能够测量所述实际定位圆所在的平面与待测工件的顶面之间的距离。

作为优选，所述高度尺还包括连杆，所述连杆的一端连接于所述支架，另一端连接于所述测头，所述连杆带动所述测头沿所述支架上下移动。

作为优选，所述待测工件的端面圆周均布有若干标记线。

本实用新型的有益效果：

1)通过设置将待测工件可以部分放置于定位体内，并配合高度尺测量实际定位圆所在的平面与待测工件顶面之间的距离，确保实际定位圆直径与理想定位圆直径的误差控制在一定范围内，进而达到减少测量误差的目的。

2)通过设置定位卡爪组件沿定位体可滑动，能够调节至定位圆大小，继而定位卡爪组件可以抵靠于待测工件的过渡部的圆锥面上。将定位圆平面采用定位卡爪组件定位，避免了由于待测工件的偏移而引起的测量误差。

3)由于待测工件的过渡部为圆锥结构，通过设置定位卡爪组件所调节的实际定位圆的直径与理想测量定位圆的直径相同，避免了因锥面的跳动误差而引起的测量误差。

附图说明

图1是现有技术中待测工件的结构示意图；

图2是本实用新型测量装置的结构示意图；

图3是本实用新型测量装置中定位卡爪组件的结构示意图；

图4是本实用新型图1的俯视图。

图中：

1、工作台；2、高度尺；3、定位体；4、定位卡爪组件；5、待测工件；

21、底座；22、支架；23、连杆；24、测头；

31、第一定位孔；32、第二定位孔；

41、夹持卡爪；

51、大轴；52、小轴；53、过渡部；54、标记线。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

本实施例提供了一种测量装置，该测量装置用于测量定位点位于锥面处的工件。如图1-2所示，该测量装置包括工作台1、设置于工作台1上的高度尺2和定位体3及设置于定位体3上的定位卡爪组件4。其中，待测工件5为阶梯轴，该阶梯轴包括大轴51、小轴52及设置于大轴51和小轴52之间的过渡部53，且过渡部53为圆锥结构。将待测工件5部分放置于定位体3内，定位卡爪组件4可调节地抵靠于过渡部53，高度尺2测量实际定位圆所在的平面与待测工件5的顶面之间的距离，其中实际定位圆为圆锥面与定位卡爪组件4接触位置所形成的圆。

通过设置将待测工件5可以部分放置于定位体3内，并配合高度尺2测量实际定位圆所在的平面与待测工件5顶面之间的距离，确保实际定位圆直径与理想定位圆直径的误差控制在一定范围内，进而达到减少测量误差的目的。同时，通过设置定位卡爪组件4沿定位体3可滑动，能够调节至定位圆大小，继而定位卡爪组件4可以抵靠于待测工件5的过渡部53的圆锥面上。将定位圆平面采用定位卡爪组件4定位，避免了由于待测工件5的偏移而引起的测量误差。另外，由于待测工件5的过渡部53为圆锥结构，通过设置定位卡爪组件4所调节的实际定位圆的直径与理想测量定位圆的直径相同，避免了因锥面的跳动误差而引起的测量误差。

如图2所示，上述定位体3为圆柱形结构，在定位体3的中心设置有阶梯孔(图中未标出)。其中，该阶梯孔包括由上至下依次设置且相互连通的第一定位孔31和第二定位孔32，其中第一定位孔31的直径大于第二定位孔32的直径。将待测工件5的小轴52置于第二定位孔32内，第二定位孔32的直径与小轴52直径相同，且所述小轴52与所述第二定位孔32间隙配合。

通过设置第二定位孔32的直径与小轴52直径相同，可以保证测量时待测工件5的轴线与定位体3的轴线重合，避免了因待测工件5的倾斜而引起测量误差。同时，第二定位孔32的深度小于或等于所述小轴52的高度，使得待测工件5的过渡部53部分设置于所述第一定位孔31内，进而便于定位卡爪组件4能够抵靠于过渡部53。

如图2-3所示，上述定位卡爪组件4包括三个夹持卡爪41，三个夹持卡爪41周向均匀可滑动地设置于定位体3上。同时，将三个夹持卡爪41所调节的实际定位圆的直径设置与理想测量定位圆的直径相同，且三个夹持卡爪41均抵靠于过渡部53，避免了由于待测工件5的偏移而引起的测量误差。由于待测工件5的过渡部53为圆锥结构，通过设置三个夹持卡爪41所调节的实际定位圆的直径与理想测量定位圆的直径相同，避免了因锥面的跳动误差而引起的测量误差。

如图2所示，上述高度尺2包括设置于工作台1的底座21、连接于底座21的支架22及连杆23。其中连杆23的一端连接于支架22，另一端连接于测头24。同时，由于连杆23带动测头24可以沿支架22上下移动，使得测头24能够测量实际定位圆所在的平面与待测工件5顶面之间的距离。另外，由于以实际定位圆所在的平面作为测量基准面，可以近似认为是三个夹持卡爪41的顶面所在的平面。因此，高度尺2在测量前进行校零，就以三个夹持卡爪41的顶面所在的平面作为校零平面。

如图4所示，对于压制成型工件，待测工件5的锥面的跳动误差比较大，且定位点还必须位于锥面处，也就是说选择实际定位圆所在的平面作为基准面，则待测工件5的锥面的跳动误差会对测量结果产生较大影响。因此，为了保证测量结果的准确性，将待测工件5按角度进行六等分并作出标记线54。在测量时将待测工件5放置于定位体3内，并使得高度尺2的测头24对准任一标记线54，以测量实际定位圆所在的平面与标记线54所在平面之间的距离。根据划分角度把待测工件5进行逆时针(或顺时针)方向旋转，分别进行六次测量，并对测量结果再求取平均值，以减小因锥面的跳动误差而引起的测量误差。

需要说明的是，本实施例对待测工件5等分的数量为六个，本实施例对待测工件5等分的数量不作限定，可以根据实际生产需要进行调整。

本实施例提供的测量装置使用过程为：

首先，以三个夹持卡爪41的顶面所在的平面作为校零平面，对高度尺2进行校零；

其次，在待测工件5的大轴51端面进行六等分并作出标记线54；

然后，设定某一个定位圆，该定位圆认为是理想定位圆，将三个夹持卡爪41调节至该定位圆大小；

再次，将待测工件5部分放置于定位体3内，且三个夹持卡爪41抵靠于过渡部53的圆锥面上，此时，三个夹持卡爪41的端面所在平面即为实际定位圆平面；

然后，将高度尺2的测头24对准待测工件5的任一标记线54，进行测量；

最后，将待测工件5进行逆时针(或顺时针)方向旋转，分别进行六次测量，并对测量结果再求取平均值。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种测量装置，其特征在于，包括工作台(1)、设置于所述工作台(1)上的高度尺(2)和定位体(3)及设置于所述定位体(3)上的定位卡爪组件(4)；

待测工件(5)部分放置于所述定位体(3)内，所述定位卡爪组件(4)沿定位体(3)可滑动，且能抵靠于所述待测工件(5)的过渡部(53)的圆锥面上的任意位置处，且所述圆锥面与所述定位卡爪组件(4)接触位置形成有实际定位圆，所述高度尺(2)能测量所述实际定位圆所在的平面与所述待测工件(5)的顶面之间的距离。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述定位体(3)为圆柱形结构，所述定位体(3)的中心设置有阶梯孔，所述待测工件(5)部分放置于所述阶梯孔内。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述阶梯孔包括由上至下依次设置且相互连通的第一定位孔(31)和第二定位孔(32)，所述第一定位孔(31)的直径大于所述第二定位孔(32)的直径；

所述待测工件(5)的小轴(52)置于所述第二定位孔(32)内，所述待测工件(5)的过渡部(53)部分设置于所述第一定位孔(31)内。

4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述第二定位孔(32)的直径与所述小轴(52)直径相同，且所述小轴(52)与所述第二定位孔(32)间隙配合。

5.根据权利要求4所述的测量装置，其特征在于，所述第二定位孔(32)的深度小于或等于所述小轴(52)的高度。

6.根据权利要求5所述的测量装置，其特征在于，所述定位卡爪组件(4)包括三个夹持卡爪(41)，三个所述夹持卡爪(41)周向均匀可滑动地设置于所述定位体(3)上，三个所述夹持卡爪(41)所调节的实际定位圆的直径与理想测量定位圆的直径相同，且三个所述夹持卡爪(41)均抵靠于所述过渡部(53)。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述高度尺(2)包括设置于工作台(1)的底座(21)、连接于所述底座(21)的支架(22)及连接于所述支架(22)的测头(24)，所述测头(24)能够沿所述支架(22)上下移动，且所述测头(24)能够测量所述实际定位圆所在的平面与待测工件(5)的顶面之间的距离。

8.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述高度尺(2)还包括连杆(23)，所述连杆(23)的一端连接于所述支架(22)，另一端连接于所述测头(24)，所述连杆(23)带动所述测头(24)沿所述支架(22)上下移动。

9.根据权利要求1-8任一所述的测量装置，其特征在于，所述待测工件(5)的端面圆周均布有若干标记线(54)。