CN207557360U - 一种检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种检测装置，用于检测电路板，该检测装置包括：固定平台；检测探针，所述检测探针固定于所述固定平台上，用于在检测过程中与电路板上的测试点相接触以进行信号传输。本实用新型实施例根据电路板新增加的测试点以及连接器的位置情况设计改进了相应的检测装置，从而在不增加电路板尺寸的前提下，实现了所述检测装置与电路板上的测试点能匹配接触连接，并传输检测讯号以进行检测的目的。

Description

一种检测装置

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测装置。

背景技术

随着科技和经济的持续发展，具备显示屏的智能手机、平板电脑、液晶电视等电子产品得到了空前普及，同时对这些电子产品的显示屏的质量、性能等方面也提出了越来越高的要求。因此，制备具有高画质、低功率、无辐射、显示稳定等优越特性的品质及性能可靠的显示屏成为占领液晶显示市场必不可少的竞争力之一。

为了确保生产出的显示屏具备高画质、低功率、无辐射、显示稳定等特点且品质、性能可靠，在显示屏的生产过程中，需要对显示面板进行检测，以确定显示面板是否存在缺陷。因此，在显示面板制备完成后，在进行液晶显示面板的封装制程之前，会对该尚未进行封装制程的液晶显示面板进行PCBI检测，在进行PCBI检测时，需要将连接检测机本体的信号线材手动插到印刷电路板(PCB，Printed Circuit Board)上的连接器(Connecter)上，并在PCBI检测完成后，又要手动将信号线材从电路板上的连接器中拔出。目前，PCBI检测皆是采用这种人工手动插拔的方式进行检测。但是，手动插拔方式存在以下缺陷：采用人工手动插拔方式进行检测费时耗力，浪费人力资源，而且手动插拔信号线材的方式容易对电路板上的连接器造成损伤，进而影响显示屏产品的品质。

为了解决现有技术中采用手动插拔方式来连接以进行检测而造成的问题，本申请发明人在对显示面板的PCBI检测中引入了PCBI自动检测设备，在电路板上设计增加了检测用的测试点，通过检测装置定位连接电路板上的测试点来传输检测讯号以进行PCBI自动检测。但由于在电路板上增加了测试点，会增加电路板的尺寸及生产成本，在客户对电路板的尺寸有明确的要求下，无法直接增加电路板的宽度来增加测试点，没有测试点则无法进行PCBI自动检测。

因此，在不增加电路板的尺寸的前提下，如何根据电路板中增加的测试点及改进测试点和连接器相应的位置情况改进检测装置，以使所述检测装置与所改进后的电路板上的测试点匹配连接，并传输检测讯号以进行PCBI自动检测，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种检测装置，根据电路板增加的测试用的多个测试点和设计改进的测试点及连接器的位置，相应改进了检测装置，以使该检测装置在检测过程中能与电路板上多个测试点相匹配接触传输检测讯号以进行PCBI自动检测。

本实用新型实施例提供了一种检测装置，用于检测电路板，该检测装置包括:固定平台；检测探针，固定于所述固定平台上，用于在检测过程中与所述电路板上的测试点相接触以进行信号传输。

其进一步技术方案为：所述检测探针包括：壳体，所述壳体包括与所述固定平台相连的本体、设置于本体内的空腔、以及设置于本体上与所述空腔连通的通孔；探针，包括探针本体和探针头部，所述探针本体置于所述空腔内且与所述固定平台相连，所述探针头部穿过所述通孔而从所述壳体裸露出来。

其进一步技术方案为：所述通孔位于所述本体远离所述固定平台的一端的中心位置上。

其进一步技术方案为：所述本体上所述探针头部所在的一端长为1.6毫米。

其进一步技术方案为：所述本体的左右两侧高各长为4.5毫米。

其进一步技术方案为：所述探针本体的横截面尺寸大于所述通孔的尺寸以将所述探针本体限制在所述空腔内。

其进一步技术方案为：所述探针头部的横截面尺寸与所述通孔的尺寸相匹配。

其进一步技术方案为：该电路板包括：基板；连接器，包括第一侧边和与该第一侧边相对设置的第二侧边，所述连接器设置在所述基板上且其第一侧边靠近所述基板的边沿；多个测试点，设置在所述基板上且沿着所述第二侧边呈直线排布，所述多个测试点用于在检测过程中与检测装置相接触以进行信号传输。

其进一步技术方案为：所述多个测试点的两侧分别设有第一元件净空区和第二元件净空区，所述第二元件净空区位于所述多个测试点和所述第二侧边之间。

其进一步技术方案为：所述第一元件净空区和第二元件净空区宽度均至少为1.15毫米。

本实施例在不增加电路板的尺寸的前提下，根据电路板中增加的测试点及改进测试点和连接器相应的位置情况，相应改进了检测装置，以使所述检测装置与所改进后的电路板上的测试点匹配连接，实现了检测装置与电路板上测试点能接触连接并传输检测讯号，以进行PCBI自动检测的目的。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1展示了一种可被本实用新型实施例提供的检测装置检测的电路板的示意图。

图2是本实用新型实施例提供的一种检测装置的示意图。

图3是本实用新型实施例提供的一种检测装置及可被其检测的电路板示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本实用新型说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本实用新型。如在本实用新型说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

具体实现中，显示屏可以以各种形式来实施。例如，本实用新型实施例中描述的显示屏包括但不限于诸如薄膜晶体管液晶显示屏、有机发光二极管显示屏，液晶显示屏、等离子显示屏、阴极射线管显示屏等显示屏。

请参看图1，展示了一种可被本实用新型实施例提供的检测装置检测的电路板的示意图。在本实施例中，该电路板1上设置有基板30、连接器40、多个测试点50以及第一元件净空区60和60’。

连接器40包括第一侧边401和与该第一侧边401相对设置的第二侧边402，该连接器40设置在该基板30上且其第一侧边401靠近该基板30的边沿。

多个测试点50设置在该基板30上且沿着该连接器40的第二侧边402呈直线排布，该多个测试点用于在电路板检测过程中与检测装置相接触以进行信号传输检测。在一些实施例中，该多个测试点50可例如为正方形状，长为0.3毫米。在另一些实施例中，该多个测试点50可例如为圆形状，矩形状等。该多个测试点50的两侧分别设有第一元件净空区60和第二元件净空区60’，该第二元件净空区60’位于该多个测试点50和该连接器40的第二侧边402之间。可选地，该第一元件净空区60和第二元件净空区60’宽度均至少为1.15毫米，即在测试点两侧1.15毫米的范围内都不焊接放置任何元器件。

上述实施例中，在不增加电路板的尺寸及制作成本的前提下，通过设计改进电路板上的连接器的位置，并在电路板上设计增加多个测试点，将多个测试点沿着连接器的另一侧边呈直线排布设置安装。并在测试点两侧均设有元件净空区，以防止检测装置在与测试点连接并传输检测信号时，与测试点周围的元器件接触碰撞产生干扰。

请参看图2，其是本实用新型实施例提供的一种检测装置的示意图，检测装置2，用于检测电路板。该检测装置2设置有固定平台10、检测探针20；该检测探针20固定于该固定平台10上，用于在检测过程中与电路板上的测试点相接触以进行信号传输检测。

固定平台10位于该检测探针20的上方用于固定该检测探针20，并且该检测探针20可以采用多种方式被固定安装在固定平台10的底部。因此，在多个实施例中，可以采用多种固定连接方式将检测探针20固定在固定平台10底部。例如螺纹固定连接、电磁吸附固定连接、焊接固定、枢接固定等固定连接方式。

检测探针20包括壳体201和探针202。检测探针20的一端与固定平台10的一端固定连接。壳体201包括本体2011、设置于本体内的空腔2012、以及设置于本体上与所述空腔连通的通孔2013。该探针202包括探针本体2021和探针头部2022，该探针本体2021置于该空腔2012内且与该固定平台10相连，该探针本体2021的横截面尺寸大于该通孔2013的尺寸，用于限制该探针本体2021位于该空腔2012内；该探针头部2022穿过该通孔2013而从该壳体201裸露出来，该探针头部2022的横截面尺寸与上述通孔2013的尺寸相匹配。该探针头部2022可穿过该通孔2013而从该本体2011露出来，该探针头部2022穿过该通孔2013而从该本体2011裸露出来的长度可通过上下平移该探针202进行调整，该探针头部2022用于与该电路板1上测试点50相接触以进行信号传输，该通孔2013设置在该本体2011远离该固定平台10的一端的中心位置上，该探针202设置于该本体2011的中心位置上。在一些可行的实施例中，该本体2011上该探针头部2022所在的一端长为1.6毫米。将该本体2011上的该探针头部2022所在的一端面定义为该本体2011的底面，则该底面面向着电路板1上的多个测试点50且该底面与该连接器40垂直的侧边长度为1.6毫米；将该底面与该连接器40平行的两侧边分别沿着该本体2011向上做底面的两个垂直面，该两个垂直面的高度均为4.5毫米，该两垂直面用于避免检测装置2与电路板1上的多个测试点50相接触连接时碰撞到连接器40和位于第一元件净空区60远离多个测试点50的另一侧上的元器件，进而减少干扰，增强检测的精确度。

请参看图3，其是本实用新型实施例提供的一种检测装置及可被其检测的电路板示意图。具体地，包括电路板1以及检测装置2。

如图1所示，电路板1设置有连接器40、多个测试点50。该连接器40包括第一侧边401和与该第一侧边401相对设置的第二侧边402，该连接器40设置在该基板30上且其第一侧边401靠近该基板30的边沿；该多个测试点50用于在电路板检测过程中与检测装置相接触以进行信号传输检测，可选地，该多个测试点50呈正方形状，长为0.3毫米；该多个测试点50的两侧分别设有第一元件净空区60和第二元件净空区60’，可选地，该第一元件净空区60和第二元件净空区60’宽度均至少为1.15毫米，即在测试点两侧1.15毫米的范围内都不焊接放置任何元器件。

检测装置2，用于检测电路板。该检测装置2设置有固定平台10、检测探针20，该固定平台10位于该检测探针20的上方用于固定该检测探针20。该检测探针20包括壳体201和探针202。该壳体201包括本体2011、设置于本体内的空腔2012、以及设置于本体上与所述空腔连通的通孔2013。该探针202还包括探针本体2021和探针头部2022，该探针本体2021的横截面尺寸大于上述通孔2013的尺寸，用于限制该探针主体2021位于该空腔2012内；该探针头部2022的横截面尺寸与上述通孔2013的尺寸相匹配，用于该探针头部2022可穿过该通孔2013而从该壳体201裸露出来。该探针头部2022穿过该通孔2013而从该本体2011裸露出来的长度可通过上下平移该探针202进行调整，该探针头部2022用于与该电路板1上测试点50相接触以进行信号传输。该探针202设置于该本体2011的中心位置上。

在一些可行的实施例中，该本体2011上该探针头部2022所在的一端长为1.6毫米。将该本体2011上的该探针头部2022所在的一端面定义为该本体2011的底面，则该底面面向着电路板1上的多个测试点50且该底面与该连接器40垂直的侧边长度为1.6毫米；由于探针202在与电路板1上的多个测试点50相接触时存在检测探针20仪器精度上的偏差，因此，需要在该本体2011底面与该连接器40的垂直的侧边前后分别预留0.5毫米。由于检测探针20底面侧边长度为1.6毫米，前后分别需要预留0.5毫米，因此，在电路板1上设置多个测试点50的总需求空间为2.6毫米，可选地，该测试点长度为0.3毫米，因此，在测试点的两侧设置的第一元件净空区60和第二元件净空区60’宽度均至少为1.15毫米。将该底面与该连接器40平行的两侧边分别沿着该本体2011向上做底面的两个垂直面，该两个垂直面的高度均为4.5毫米，该两垂直面用于避免检测装置2与电路板1上的多个测试点50相接触连接时碰撞到连接器40和位于第一元件净空区60远离多个测试点50的另一侧上的元器件，进而减少干扰，增强检测的精确度。

上述实施例中，在不增加电路板的尺寸的前提下，根据增加的测试点后及改进相应的测试点和连接器的位置情况，相应改进了检测装置，以使所述检测装置与所改进后的电路板上的测试点匹配连接，实现了检测装置与电路板上测试点能接触连接并传输检测讯号，以进行PCBI自动检测的目的。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述装置的划分，仅仅为一种结构功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个装置或组件可以结合或者可以集成到另一个装置，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口、装置或模块的间接耦合或通信连接，也可以是电的，机械的或其它的形式连接。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种检测装置，用于检测电路板，其特征在于，包括：

固定平台；

检测探针，固定于所述固定平台上，用于在检测过程中与所述电路板上的测试点相接触以进行信号传输；

其中，所述检测探针包括：

壳体，包括与所述固定平台相连的本体、设置于本体内的空腔、以及设置于本体上与所述空腔连通的通孔；

探针，包括探针本体和探针头部，所述探针本体置于所述空腔内且与所述固定平台相连，所述探针头部穿过所述通孔而从所述壳体裸露出来。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述通孔位于所述本体远离所述固定平台的一端的中心位置上。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述本体上所述探针头部所在的一端长为1.6毫米。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述本体的左右两侧高各长为4.5毫米。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述探针本体的横截面尺寸大于所述通孔的尺寸以将所述探针本体限制在所述空腔内。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述探针头部的横截面尺寸与所述通孔的尺寸相匹配。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述电路板包括：

基板；

连接器，包括第一侧边和与该第一侧边相对设置的第二侧边，所述连接器设置在所述基板上且其第一侧边靠近所述基板的边沿；

多个测试点，设置在所述基板上且沿着所述第二侧边呈直线排布，所述多个测试点用于在检测过程中与检测装置相接触以进行信号传输。

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述多个测试点的两侧分别设有第一元件净空区和第二元件净空区，所述第二元件净空区位于所述多个测试点和所述第二侧边之间。

9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述第一元件净空区和第二元件净空区宽度均至少为1.15毫米。