CN207557309U - 一种pcb测试探针 - Google Patents

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傅马腾
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Dongguan Yi Yi Electronic Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种PCB测试探针,包括测试探针主体、连通杆和调节杆,所述连通杆安装在测试探针主体中心位置,所述连通杆内端安装有转动卡齿,所述转动卡齿上端面上限位插接有传动轴,所述传动轴上端转动连接有防护架,所述防护架顶端连接有转轴,所述转轴上限位转动连接有转动支板,所述转轴侧端面设有紧固轴,且紧固轴通过杆件与转轴相固定,所述连通杆中心位置开设有观测孔,所述连通杆内腔一端连接有转动架,所述转动架一端与调节杆转动连接,所述调节杆内端设有支撑连杆,所述支撑连杆中心位置弹性连接有伸缩弹簧,所述伸缩弹簧外端设有固定凹槽,所述支撑连杆顶端固定有固定架。本实用新型为PCB测试探针,可以帮助试探工作。

Description

一种PCB测试探针
技术领域
本实用新型涉及测试探针设备技术领域,具体为一种PCB测试探针。
背景技术
PCB测试探针帮助进行测试工作,实现高效检测的目的,同时保护工作人员的安全,因此得到了推广,PCB测试探针方便进行携带,大大提高了技术人员的工作效率,但是目前PCB测试探针存在以下问题:
一是存在不便于进行微调的现象,会造成一定的不便,二是无法进行固定工作,需要进行改进。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种PCB测试探针,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种PCB测试探针,包括测试探针主体、连通杆和调节杆,所述连通杆安装在测试探针主体中心位置,所述连通杆内端安装有转动卡齿,所述转动卡齿上端面上限位插接有传动轴,所述传动轴上端转动连接有防护架,所述防护架顶端连接有转轴,所述转轴上限位转动连接有转动支板,所述转轴侧端面设有紧固轴,且紧固轴通过杆件与转轴相固定,所述连通杆中心位置开设有观测孔,所述连通杆内腔一端连接有转动架,所述转动架一端与调节杆转动连接,所述调节杆内端设有支撑连杆,所述支撑连杆中心位置弹性连接有伸缩弹簧,所述伸缩弹簧外端设有固定凹槽,所述支撑连杆顶端固定有固定架,所述固定架与固定凹槽中心位置连接有卡架,所述连通杆另一端设有连接架,且转动架穿插至连通杆另一端与连接架相连接,所述转动架另一端开设有转动螺纹,所述测试探针主体侧端连接有测试架。
优选的,所述伸缩弹簧设有两组,采用对称分布形式设置。
优选的,所述伸缩弹簧与固定凹槽相适配。
优选的,所述转轴设有三组,且三组转轴均与转动支板相连接。
优选的,所述连接架内端与转动螺纹相适配。
优选的,所述测试架采用圆盘型设计,且测试架顶端设有连接凸点。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
(1)通过安装连通杆,连通杆内端的紧固轴可以实现转轴的固定工作,使用者通过转动连通杆,使得带动内端的转动卡齿转动,使得通过传动轴,进行扭力的传递,使得顶端的转轴进行转动,带动转动支板的转动,可以实现调节测试探针主体伸长量。
(2)通过安装调节杆,调节杆内端的伸缩弹簧采用对称设计,且伸缩弹簧外侧设有固定凹槽,伸缩弹簧与固定凹槽相适配,使用者通过推移转动支撑连杆,使得伸缩弹簧得以位置的提升,通过伸缩弹簧的弹升,实现外端的固定工作。
(3)通过安装转动架,转动架穿插至测试探针主体内端,使用者可通过转动调节杆,使得转动架进行转动,实现转动架的推移工作,且转动架的底端设有转动螺纹,转动螺纹与连接架相适配,可以实现测试架的推移,且测试架顶端设有凸块,方便进行检测。
附图说明
图1为本实用新型主体结构示意图;
图2为本实用新型连通杆结构示意图;
图3为本实用新型调节杆结构示意图。
图中:1-转动架;2-转动螺纹;3-测试架;4-连接架;5-观测孔;6-测试探针主体;7-连通杆;8-调节杆;9-紧固轴;10-传动轴;11-转动卡齿;12-防护架;13-转轴;14-转动支板;15-固定架;16-卡架;17-伸缩弹簧;18-支撑连杆;19-固定凹槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案:一种PCB测试探针,包括测试探针主体6、连通杆7和调节杆8,连通杆7安装在测试探针主体6中心位置,连通杆7内端安装有转动卡齿11,转动卡齿11上端面上限位插接有传动轴10,传动轴10上端转动连接有防护架12,防护架12顶端连接有转轴13,转轴13上限位转动连接有转动支板14,转轴13侧端面设有紧固轴9,且紧固轴9通过杆件与转轴13相固定,连通杆7中心位置开设有观测孔5,连通杆7内腔一端连接有转动架1,转动架1一端与调节杆8转动连接,调节杆8内端设有支撑连杆18,支撑连杆18中心位置弹性连接有伸缩弹簧17,伸缩弹簧17外端设有固定凹槽19,通过安装调节杆8,调节杆8内端的伸缩弹簧17采用对称设计,且伸缩弹簧17外侧设有固定凹槽19,伸缩弹簧17与固定凹槽19相适配,使用者通过推移转动支撑连杆18,使得伸缩弹簧17得以位置的提升,通过伸缩弹簧17的弹升,实现外端的固定工作,支撑连杆18顶端固定有固定架15,固定架15与固定凹槽19中心位置连接有卡架16,连通杆7另一端设有连接架4,且转动架1穿插至连通杆7另一端与连接架4相连接,转动架1另一端开设有转动螺纹2,测试探针主体6侧端连接有测试架3。
伸缩弹簧17设有两组,采用对称分布形式设置,伸缩弹簧17与固定凹槽19相适配,转轴13设有三组,且三组转轴13均与转动支板14相连接,连接架4内端与转动螺纹2相适配,测试架3采用圆盘型设计,且测试架3顶端设有连接凸点,通过安装转动架1,转动架1穿插至测试探针主体6内端,使用者可通过转动调节杆8,使得转动架1进行转动,实现转动架1的推移工作,且转动架1的底端设有转动螺纹2,转动螺纹2与连接架4相适配,可以实现测试架3的推移,且测试架3顶端设有凸块,方便进行检测。
工作原理:在需要工作时,通过安装连通杆7,连通杆7内端的紧固轴9可以实现转轴13的固定工作,使用者通过转动连通杆7,使得带动内端的转动卡齿11转动,使得通过传动轴10,进行扭力的传递,使得顶端的转轴13进行转动,带动转动支板14的转动,可以实现调节测试探针主体6伸长量,通过安装调节杆8,调节杆8内端的伸缩弹簧17采用对称设计,且伸缩弹簧17外侧设有固定凹槽19,伸缩弹簧17与固定凹槽19相适配,使用者通过推移转动支撑连杆18,使得伸缩弹簧17得以位置的提升,通过伸缩弹簧17的弹升,实现外端的固定工作,通过安装转动架1,转动架1穿插至测试探针主体6内端,使用者可通过转动调节杆8,使得转动架1进行转动,实现转动架1的推移工作,且转动架1的底端设有转动螺纹2,转动螺纹2与连接架4相适配,可以实现测试架3的推移,且测试架3顶端设有凸块,方便进行检测,完成工作。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种PCB测试探针,包括测试探针主体(6)、连通杆(7)和调节杆(8),其特征在于:所述连通杆(7)安装在测试探针主体(6)中心位置,所述连通杆(7)内端安装有转动卡齿(11),所述转动卡齿(11)上端面上限位插接有传动轴(10),所述传动轴(10)上端转动连接有防护架(12),所述防护架(12)顶端连接有转轴(13),所述转轴(13)上限位转动连接有转动支板(14),所述转轴(13)侧端面设有紧固轴(9),且紧固轴(9)通过杆件与转轴(13)相固定,所述连通杆(7)中心位置开设有观测孔(5),所述连通杆(7)内腔一端连接有转动架(1),所述转动架(1)一端与调节杆(8)转动连接,所述调节杆(8)内端设有支撑连杆(18),所述支撑连杆(18)中心位置弹性连接有伸缩弹簧(17),所述伸缩弹簧(17)外端设有固定凹槽(19),所述支撑连杆(18)顶端固定有固定架(15),所述固定架(15)与固定凹槽(19)中心位置连接有卡架(16),所述连通杆(7)另一端设有连接架(4),且转动架(1)穿插至连通杆(7)另一端与连接架(4)相连接,所述转动架(1)另一端开设有转动螺纹(2),所述测试探针主体(6)侧端连接有测试架(3)。
2.根据权利要求1所述的一种PCB测试探针,其特征在于:所述伸缩弹簧(17)设有两组,采用对称分布形式设置。
3.根据权利要求1所述的一种PCB测试探针,其特征在于:所述伸缩弹簧(17)与固定凹槽(19)相适配。
4.根据权利要求1所述的一种PCB测试探针,其特征在于:所述转轴(13)设有三组,且三组转轴(13)均与转动支板(14)相连接。
5.根据权利要求1所述的一种PCB测试探针,其特征在于:所述连接架(4)内端与转动螺纹(2)相适配。
6.根据权利要求1所述的一种PCB测试探针,其特征在于:所述测试架(3)采用圆盘型设计,且测试架(3)顶端设有连接凸点。
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