CN207516401U - 一种电磁兼容测试用的测试架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于电磁兼容测试技术领域，涉及一种电磁兼容测试用的测试架，包括探头夹具和支撑探头夹具的测试支架；探头夹具由两个框体围合连接构成，每个框体包括三根直线框条和两根圆弧框条；测试支架包括两根长边框条、三根短边框条和四根支柱框条。探头夹具固定测试的监控探头和注入探头，测试支架支撑探头夹具和测试样品电缆；探头夹具和测试支架可以拆分成多个部件，便于携带及存放；探头夹具和测试支架通过简单组装后，通过各个关节的旋钮可以灵活调整控制夹具的方位及角度，通过伸缩结构可调整测试支架的高度以及大小，以适应各种不同规格产品的测试。
Description
技术领域
本实用新型属于电磁兼容测试技术领域，尤其是GJB151电磁兼容试验技术中的CS114、CS115、CS116测试，具体涉及一种测试架。
背景技术
电磁兼容是指设备或系统在其电磁兼容环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。其分为电气电子设备向外部发射电磁骚扰的特性及电气电子设备抵抗外部干扰的能力，电气电子设备抵抗外部干扰的能力是通过静电测试来验证的。静电放电是两个不同电位的物体间的电荷转移，此产生的能量可能会造成电气电子设备的数据错误甚至物理性的永久损坏，静电测试就是通过使用静电枪模拟一个通用的静电放电情况，对电气电子设备进行放电，以评估其遭受静电放电时的性能。
GJB151系列电磁兼容标准中规定了CS114、CS115、CS116的测试规范及方法，要求测试监测探头距离样品线缆接头5cm，监测探头距离注入探头5cm，GJB151系列电磁兼容定义的测试布置图参见图1, 对电源线测试时使用虚线路径。同时将卡在互连电缆上的注入探头和监测探头移至电源线电缆相应位置上卡住。而在实际情况中，由于样品接头位置不固定，不同样品线缆接头位置不同，给实际测试带来很大的困难，大多数情况下是测试工程师找一些泡沫来支撑测试监控探头和注入探头，测试布置不满足标准要求，对测试结果造成很大的影响。
实用新型内容
本实用新型针对上述问题，提供一种电磁兼容测试用的测试架。
本实用新型的目的可以通过下述技术方案来实现：一种电磁兼容测试用的测试架，包括探头夹具和支撑探头夹具的测试支架；
探头夹具由两个框体围合连接构成，每个框体包括三根直线框条和两根圆弧框条，三根直线框条相平行地均布于两根圆弧框条之间，位于两侧的两根直线框条分别连接于两根圆弧框条的两端，位于两侧的两根直线框条上均设有连接片，连接片及位于中间的直线框条的居中处均设有第一连接孔，两个框体的各自的位于两侧的两根直线框条和连接片相对应，并用螺丝连接连接片而使两个框体相连接；
测试支架包括两根长边框条、三根短边框条和四根支柱框条，两根长边框条和两根短边框条围合连接成长方形，两根长边框条的居中处均设有第二连接孔，两根短边框条的居中处均形成一开合式结构的正方形框架，正方形框架的开合式结构为卡扣连接,另一根短边框条的两端分别连接于两根长边框条的第二连接孔上，并且该根短边框条穿过探头夹具的直线框条上的第一连接孔而使探头夹具安装于其上，探头夹具可在该根短边框条上旋转，四根支柱框条分别设置于长方形的四角处，长边框条、短边框条和支柱框条均为多级可伸缩结构。
进一步地，所述测试支架的每根短边框条分为两根短框条，每根短框条上设有第三连接孔，短框条为多级可伸缩结构。
本实用新型的有益效果：测试架包括探头夹具和测试支架，探头夹具固定测试的监控探头和注入探头，测试支架支撑探头夹具和测试样品电缆；探头夹具和测试支架可以拆分成多个部件，便于携带及存放；探头夹具和测试支架通过简单组装后，通过各个关节的旋钮可以灵活调整控制夹具的方位及角度，通过伸缩结构可调整测试支架的高度以及大小，以适应各种不同规格产品的测试。本测试架很好地满足了电磁兼容测试的测试布置要求，提供了可靠的支撑和夹持，使测试结果满足了测试标准要求。
附图说明
图1为GJB151系列电磁兼容定义的测试布置图。
图2为本实用新型测试架的整体结构示意简图。
图3为探头夹具分解状态的结构示意图。
图4为测试支架的整体结构示意图。
图5为测试支架的长边框条的结构示意图。
图6为测试支架的短框条的结构示意图。
图7是测试支架的正方形框架的结构示意图。
图中部件标号如下：
1探头夹具、11直线框条、12圆弧框条、13连接片、14第一连接孔；
2测试支架、21长边框条、22短边框条、23支柱框条、24正方形框架、25第二连接孔；
221短框条、222第三连接孔。
具体实施方式
以下结合附图详细说明本实用新型的具体实施方式，使本领域的技术人员更清楚地理解如何实践本实用新型。尽管结合其优选的具体实施方案描述了本实用新型，但这些实施方案只是阐述，而不是限制本实用新型的范围。
参见图2，电磁兼容测试用的测试架，包括探头夹具1和测试支架2。
参见图3，探头夹具1用于固定测试的监控探头和注入探头，探头夹具1由两个框体围合连接构成，每个框体包括三根直线框条11和两根圆弧框条12，三根直线框条11相平行地均布于两根圆弧框条12之间，位于两侧的两根直线框条11分别连接于两根圆弧框条12的两端，位于两侧的两根直线框条11上均设有连接片13，连接片13及位于中间的直线框条11的居中处均设有第一连接孔14，两个框体的各自的位于两侧的两根直线框条11和连接片13相对应，并用螺丝连接连接片13而使两个框体相连接。
参见图4和图5，测试支架2用于支撑探头夹具1，测试支架2包括两根长边框条21、三根短边框条22和四根支柱框条23，两根长边框条21和两根短边框条22围合连接成长方形，两根长边框条21的居中处均设有第二连接孔25，两根短边框条22的居中处均形成一开合式结构的正方形框架24，正方形框架24的开合式结构为卡扣连接,另一根短边框条22的两端分别连接于两根长边框条21的第二连接孔25上，并且该根短边框条22穿过探头夹具1的直线框条11上的第一连接孔14而使探头夹具1安装于其上，探头夹具1可在该根短边框条22上旋转，四根支柱框条23分别设置于长方形的四角处，长边框条21、短边框条22和支柱框条23均为多级可伸缩结构，便于调节。测试样品线缆从正方形框架24穿过, 正方形框架24的结构参见图7。
在具体实施时，测试支架2的每根短边框条22分为两根短框条221，每根短框条221上设有第三连接孔222，这样短框条221可通过螺丝与正方形框架24、探头夹具1的直线框条11连接，短框条221的结构参见图6，同样为多级可伸缩结构。
应当指出，对于经充分说明的本实用新型来说，还可具有多种变换及改型的实施方案，并不局限于上述实施方式的具体实施例。上述实施例仅仅作为本实用新型的说明，而不是对本实用新型的限制。总之，本实用新型的保护范围应包括那些对于本领域普通技术人员来说显而易见的变换或替代以及改型。
Claims (2)
1.一种电磁兼容测试用的测试架，其特征在于，包括探头夹具和支撑探头夹具的测试支架；
探头夹具由两个框体围合连接构成，每个框体包括三根直线框条和两根圆弧框条，三根直线框条相平行地均布于两根圆弧框条之间，位于两侧的两根直线框条分别连接于两根圆弧框条的两端，位于两侧的两根直线框条上均设有连接片，连接片及位于中间的直线框条的居中处均设有第一连接孔，两个框体的各自的位于两侧的两根直线框条和连接片相对应，并用螺丝连接连接片而使两个框体相连接；
测试支架包括两根长边框条、三根短边框条和四根支柱框条，两根长边框条和两根短边框条围合连接成长方形，两根长边框条的居中处均设有第二连接孔，两根短边框条的居中处均形成一开合式结构的正方形框架，正方形框架的开合式结构为卡扣连接,另一根短边框条的两端分别连接于两根长边框条的第二连接孔上，并且该根短边框条穿过探头夹具的直线框条上的第一连接孔而使探头夹具安装于其上，探头夹具可在该根短边框条上旋转，四根支柱框条分别设置于长方形的四角处，长边框条、短边框条和支柱框条均为多级可伸缩结构。
2.根据权利要求1所述的电磁兼容测试用的测试架，其特征在于，所述测试支架的每根短边框条分为两根短框条，每根短框条上设有第三连接孔，短框条为多级可伸缩结构。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN109444601A (zh) * | 2018-12-11 | 2019-03-08 | 上海优立检测技术股份有限公司 | 一种实船emc测试设备支架 |
| CN110927506A (zh) * | 2019-12-25 | 2020-03-27 | 广电计量检测（成都）有限公司 | 一种cs114项目的比对装置 |
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2017
- 2017-12-01 CN CN201721652369.6U patent/CN207516401U/zh active Active
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| CN109444601A (zh) * | 2018-12-11 | 2019-03-08 | 上海优立检测技术股份有限公司 | 一种实船emc测试设备支架 |
| CN109444601B (zh) * | 2018-12-11 | 2023-12-26 | 上海优立检测技术股份有限公司 | 一种实船emc测试设备支架 |
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| CN110927506B (zh) * | 2019-12-25 | 2022-03-08 | 广电计量检测（成都）有限公司 | 一种cs114项目的比对装置 |
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