CN207502429U - 一种中央处理器pin针缺陷检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及视觉检测设备技术领域，尤其是指一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，包括第一机架、装设于第一机架的第二机架、设于第一机架的输送底座以及驱动输送底座沿Y方向移动的Y向驱动装置，所述第二机架装设有X向导轨以及活动于X向导轨的安装基板，所述安装基板的上下两端分别设有图像采集装置以及光源，所述图像采集装置与光源之间设有间隔。本实用新型中，图像采集装置与光源之间设有间隔，以确保被检测中央处理器在受到光源照射充足的情况下，图像采集装置可以清晰而且大范围的对被检测的中央处理器进行摄取图像，从而有效提高检测效率。

Description

一种中央处理器PIN针缺陷检测设备

技术领域

本实用新型涉及视觉检测设备技术领域，尤其是指一种中央处理器PIN针缺陷检测设备。

背景技术

中央处理器（CPU，Central Processing Unit）是一块超大规模的集成电路，是一台计算机的运算核心（Core）和控制核心（Control Unit）。它的功能主要是解释计算机指令以及处理计算机软件中的数据。

一般检测中央处理器PIN针缺陷的方法是通过工作人员通过肉眼进行检测，但这工作量极其巨大，不仅大大的提高了工作人员的劳动强度，而且检测效率极其低下；随着科技的发展，出现了一种检测中央处理器PIN针的检测设备，但是该设备一次只能检测中央处理器的一部分PIN针，而且需手动挪动中央处理器对其他部分的PIN针，检测效率低下。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种检测效率高以及检测范围广的中央处理器PIN针缺陷检测设备。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：一种中央处理器PIN针缺陷检测设备,包括第一机架、装设于第一机架的第二机架、设于第一机架的输送底座以及驱动输送底座沿Y方向移动的Y向驱动装置，所述第二机架装设有X向导轨以及活动于X向导轨的安装基板，所述安装基板的上下两端分别设有图像采集装置以及光源，所述图像采集装置与光源之间设有间隔。

优选的，所述图像采集装置与光源之间的间隔为21至27cm。

优选的，所述安装基板开设有限位槽，所述光源与安装基板之间设有安装块，该安装块开设有与限位槽对应的第一槽孔。

优选的，所述输送底座的左右两侧均装设有限位块以及开设于输送底座的多个第二槽孔，所述限位块开设有与部分第二槽孔对应的第三槽孔。

优选的，所述X向导轨设有用于驱动安装基板在X向导轨移动的调节阀。

优选的，所述光源为环形光源或框形光源。

优选的，所述图像采集装置为CCD相机。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型提供了一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，图像采集装置与光源之间设有间隔，以确保被检测中央处理器在受到光源照射充足的的情况下，图像采集装置可以清晰而且大范围的对被检测的中央处理器进行摄取图像，从而有效提高检测效率。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图。

图2为图1中A部分的局部放大结构示意图。

图3为本实用新型中光源的立体结构示意图。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。

如图1至图3所示，一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，包括第一机架1、装设于第一机架1的第二机架2、设于第一机架1的输送底座3以及驱动输送底座3沿Y方向移动的Y向驱动装置4，所述第二机架2装设有X向导轨5以及活动于X向导轨5的安装基板6，所述安装基板6的上下两端分别设有图像采集装置7以及光源8，所述图像采集装置7与光源8之间设有间隔；所述光源8为环形光源8或框形光源8；所述图像采集装置7为CCD相机；所述图像采集装置7与光源8之间的间隔为21至27cm。

优选的，所述光源8为环形光源8；所述图像采集装置7与光源8之间的间隔为25cm。首先调节好图像采集装置7的位置，然后开启光源8，工作人员将待检测的中央处理器放置至输送底座3，然后Y向驱动装置4驱动输送底座3移动至检测设备，然后图像采集装置7对中央处理器摄取图像，并将摄取的图像传输至显示器，若PIN针存在缺陷，则在显示器上存有缺陷的PIN针部分用红色标记，并发出NG信号，若PIN不存在缺陷，则在显示器上不存在缺陷的PIN针部分用绿色标记，并发出OK信号，检测完成后，Y向驱动装置4驱动输送底座3移出。光源8为环形光源8，从而聚拢光源8，使被检测的中央处理器被图像采集装置7摄取图像时更加的清晰；图像采集装置7与光源8的间隔为25cm，以确保被检测的中央处理器在受到光源8照射充足的情况下，使图像采集装置7可以清晰而且大范围的对被检测的中央处理器进行摄取图像，从而有效提高检测效率。

本实施例中，所述安装基板6开设有限位槽9，所述光源8与安装基板6之间设有安装块10，该安装块10开设有与限位槽9对应的第一槽孔11。可根据被检测的中央处理器的大小，通过调节安装块10的位置，然后用螺钉穿过限位槽9以及第一槽孔11对安装块10进行固定，从而改变了光源8的位置，进而改变了中央处理器受到的光照范围，通用性强。

本实施例中，所述输送底座3的左右两侧均装设有限位块12以及开设于输送底座3的多个第二槽孔13，所述限位块12开设有与部分第二槽孔13对应的第三槽孔14。可根据被检测的中央处理器的大小，通过调节输送底座3两侧限位块12的位置，然后用螺钉穿过第二槽孔13以及第三槽孔14对输送底座3两侧限位块12进行固定，从而改变输送底座3两侧限位块12之间的距离，进而使输送底座3两侧的限位块12可牢固的固定中央处理器，通用性强。

本实施例中，所述X向导轨5设有用于驱动安装基板6在X向导轨5移动的调节阀15。通过旋动调节阀15，从而对安装基板6的位置进行调节，进而改变了图像采集装置7摄取图像的位置。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，对于方位词，如有术语“中心”，“横向(X)”、“纵向(Y)”、“竖向(Z)”“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于叙述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作，不能理解为限制本实用新型的具体保护范围。

此外，如有术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”特征可以明示或者隐含包括一个或者多个该特征，在本实用新型描述中，“数个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除另有明确规定和限定，如有术语“组装”、“相连”、“连接”术语应作广义去理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是机械连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本实用新型中的具体含义。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的若干实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (7)

1.一种中央处理器PIN针缺陷检测设备,包括第一机架（1）、装设于第一机架（1）的第二机架（2）、设于第一机架（1）的输送底座（3）以及驱动输送底座（3）沿Y方向移动的Y向驱动装置（4），其特征在于：所述第二机架（2）装设有X向导轨（5）以及活动于X向导轨（5）的安装基板（6），所述安装基板（6）的上下两端分别设有图像采集装置（7）以及光源（8），所述图像采集装置（7）与光源（8）之间设有间隔。

2.根据权利要求1所述的一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，其特征在于：所述图像采集装置（7）与光源（8）之间的间隔为21至27cm。

3.根据权利要求1所述的一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，其特征在于：所述安装基板（6）开设有限位槽（9），所述光源（8）与安装基板（6）之间设有安装块（10），该安装块（10）开设有与限位槽（9）对应的第一槽孔（11）。

4.根据权利要求1所述的一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，其特征在于：所述输送底座（3）的左右两侧均装设有限位块（12）以及开设于输送底座（3）的多个第二槽孔（13），所述限位块（12）开设有与部分第二槽孔（13）对应的第三槽孔（14）。

5.根据权利要求1所述的一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，其特征在于：所述X向导轨（5）设有用于驱动安装基板（6）在X向导轨（5）移动的调节阀（15）。

6.根据权利要求1所述的一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，其特征在于：所述光源（8）为环形光源或框形光源。

7.根据权利要求1所述的一种中央处理器PIN针缺陷检测设备，其特征在于：所述图像采集装置（7）为CCD相机。