CN206684041U - 一种共聚焦低杂光荧光检测光学系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种共聚焦低杂光荧光检测光学系统，包括光源组、准直镜、光阑、激发滤光镜、分束镜、聚光镜、荧光物、发射滤光镜、会聚镜，接收光阑、光电接收器、光陷阱，所述荧光检测光学系统由光源组发出的光信号通过准直镜和光阑，将原发散的光束整形成为一束平行光，并依次入射通过激发滤光镜和分束镜，所述分束镜将入射光的一部分直接透射到光陷阱，另一部分改变光的传播方向，反射到聚光镜上，通过聚光镜投射到待检测的荧光物上，所述荧光物可发射荧光信号，并通过上方设置的聚光镜将荧光信号入射到分束镜上，所述分束镜将入射荧光信号直接透射，并入射到发射滤光镜上，然后通过会聚镜和接收光阑投射到光电接收器上。该光学系统体积小巧、输出光波长可选、杂光低，可实现精确度较高的荧光信号测量。

Description

一种共聚焦低杂光荧光检测光学系统

技术领域

本实用新型涉及荧光检测方法领域，具体为一种共聚焦低杂光荧光检测光学系统。

背景技术

荧光分析是一种利用荧光物质的荧光效应进行测试，目前主要通过免疫层析试纸条上的荧光素，经激发光源的照射并吸收一定波长的入射光后，发射出比入射光波长更长的荧光。荧光激发与接收光路装置直接影响荧光信号检测的准确度，现有光路系统具有体积大、输出光波长单一、杂散光较大等缺点。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种体积小巧、输出光波长可选的低杂光共聚焦荧光检测光学系统。

为解决上述问题，本实用新型采用如下技术方案：一种共聚焦低杂光荧光检测光学系统，包括光源组、准直镜、光阑、激发滤光镜、分束镜、聚光镜、荧光物、发射滤光镜、会聚镜，接收光阑、光电接收器、光陷阱，所述荧光检测光学系统由光源组发出的光信号通过准直镜和光阑，将原发散的光束整形成为一束平行光，并依次入射通过激发滤光镜和分束镜，所述分束镜将入射光的一部分直接透射到光陷阱，另一部分改变光的传播方向，反射到聚光镜上，通过聚光镜投射到待检测的荧光物上，所述荧光物可发射荧光信号，并通过上方设置的聚光镜将荧光信号入射到分束镜上，所述分束镜将入射荧光信号直接透射，并入射到发射滤光镜上，然后通过会聚镜和接收光阑投射到光电接收器上。

作为优选，所述光源组由一个独立工作的光源构成，也可以是多个光源组成的阵列形式，所述光源包括但不限于LED、激光器、钨灯、氙灯、氘灯、元素灯。

作为优选，所述光源可通过设置光源阵列实现输出光斑形状为线光斑，所述激发样品的光可以通过设置光源形式实现单波长光谱，或多波长光谱同时达到样品上。

作为优选，所述分束镜装置后面设置有消光用的光陷阱，所述光陷阱包括但不限于黑色罩、折返光路装置、消光材料。

作为优选，所述分束镜包括但不限于二向色镜、半透半反镜、棱镜、部分反射镜。

附图说明

图1为本实用新型的光学系统示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案、创新特征、达成目的与功效进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参阅图1所示，一种共聚焦低杂光荧光检测光学系统，包括光源组1、准直镜2、光阑3、激发滤光镜4、分束镜5、聚光镜6、荧光物7、发射滤光镜8、会聚镜9，接收光阑10、光电接收器11、光陷阱12，所述荧光检测光学系统由光源组1发出的光信号通过准直镜2和光阑3，将原发散的光束整形成为一束平行光，并依次入射通过激发滤光镜4和分束镜5，所述分束镜5将入射光的一部分直接透射到光陷阱12，另一部分改变光的传播方向，反射到聚光镜6上，通过聚光镜6投射到待检测的荧光物7上，所述荧光物7可发射荧光信号，并通过上方设置的聚光镜6将荧光信号入射到分束镜5上，所述分束镜5将入射荧光信号直接透射，并入射到发射滤光镜8上，然后通过会聚镜9和接收光阑10投射到光电接收器11上。

值得注意的是，所述光源组由一个独立工作的光源构成，也可以是多个光源组成的阵列形式，所述光源包括但不限于LED、激光器、钨灯、氙灯、氘灯、元素灯。

值得注意的是，所述光源可通过设置光源阵列实现输出光斑形状为线光斑，所述激发样品的光可以通过设置光源形式实现单波长光谱，或多波长光谱同时达到样品上。

值得注意的是，所述分束镜装置后面设置有消光用的光陷阱，所述光陷阱包括但不限于黑色罩、折返光路装置、消光材料。

值得注意的是，所述分束镜包括但不限于二向色镜、半透半反镜、棱镜、部分反射镜。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本领域技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，本实用新型还会有各种变化和改进。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定，而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (8)

1.一种共聚焦低杂光荧光检测光学系统，其特征在于：包括光源组（1）、准直镜（2）、光阑（3）、激发滤光镜（4）、分束镜（5）、聚光镜（6）、荧光物（7）、发射滤光镜（8）、会聚镜（9），接收光阑（10）、光电接收器（11）、光陷阱（12），所述荧光检测光学系统由光源组（1）发出的光信号通过准直镜（2）和光阑（3），将原发散的光束整形成为一束平行光，并依次入射通过激发滤光镜（4）和分束镜（5），所述分束镜（5）将入射光的一部分直接透射到光陷阱（12），另一部分改变光的传播方向，反射到聚光镜（6）上，通过聚光镜（6）投射到待检测的荧光物（7）上，所述荧光物（7）可发射荧光信号，并通过上方设置的聚光镜（6）将荧光信号入射到分束镜（5）上，所述分束镜（5）将入射荧光信号直接透射，并入射到发射滤光镜（8）上，然后通过会聚镜（9）和接收光阑（10）投射到光电接收器（11）上。

2.根据权利要求1所述的光学系统，其特征在于：所述光源组（1）由一个独立工作的光源构成，也可以是多个光源组成的阵列形式。

3.根据权利要求2所述的光学系统，其特征在于：所述光源包括但不限于LED、激光器、钨灯、氙灯、氘灯、元素灯。

4.根据权利要求2所述的光学系统，其特征在于：通过设置光源阵列可实现输出光斑形状为线光斑。

5.根据权利要求2所述的光学系统，其特征在于：激发样品的光可以通过设置光源形式实现单波长光谱，或多波长光谱同时打到样品上。

6.根据权利要求1所述的光学系统，其特征在于：分束镜（5）装置后面设置有消光用的光陷阱（12）。

7.根据权利要求6所述的光学系统，其特征在于：所述光陷阱（12）包括但不限于黑色罩、折返光路装置、消光材料。

8.根据权利要求1所述的光学系统，其特征在于：所述分束镜（5）包括但不限于二向色镜、半透半反镜、棱镜、部分反射镜。