CN206557095U - 一种检测绝缘气体分解的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及光电技术检测技术领域,具体涉及一种检测绝缘气体分解的装置。本实用新型的目的是为了解决在SF6分解气体检测时,不能实时检测,对设备要求高等问题,提供一种定性检测SF6分解的装置。本实用新型的检测SF6绝缘气体分解的装置包括:光源、准直镜、第一平面镜、密封气室、第二平面镜、检测器;本实用新型通过测量SF6分解前后的折射率变化,来定性的分析SF6气体是否分解以及分解的程度,装置简单,并可以实现实时检测。本实用新型应用于组合绝缘电器(GIS)、断路器(GCB)、变压器(GIT)、电缆(GIC)、输电管道(GIL)等输配电设备中SF6气体分解的检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及光电技术检测技术领域,具体涉及一种检测绝缘气体分解的装置。
背景技术
六氟化硫(SF6)具有优良的绝缘灭弧性能和理化特性,作为绝缘介质既可以减小设备尺寸,又能提高绝缘强度,伴随着城市用地的日益紧张,广泛应用于组合绝缘电器(GIS)、断路器(GCB)、变压器(GIT)、电缆(GIC)、输电管道(GIL)等输配电设备中。
纯净的SF6是无色、无毒、无味、不燃的惰性气体,在温度为150℃及以下时不易与其它物质发生化学反应,正常运行时分解产物极少或不分解。当SF6设备中发生绝缘隐患或故障时,无论是局部、电晕、火花或是电弧放电,都必然会引起能量释放,这些能量会使SF6气体发生分解反应,生成H2S、SO2、HF、SOF2、SF4、等多种低氟硫化物。SF6分解组分会加速GIS内绝缘的老化和金属材料表面的腐蚀,加重局部放电程度,严重时还会导致GIS发生突发性绝缘故障。因此对SF6分解的检测是必须的。
目前国内外均有大量商业化的SF6检测器,归纳起来主要有4种测量方法:高压击穿法、色谱法、离子移动度计和红外光吸收谱法。
高压击穿法主要是根据待测SF6击穿电压的变化来进行定性测量,并不能定量给出SF6气体浓度,而且不能实时在线检测。
色谱法:色谱法被广泛应用于复杂组分的分离与鉴定。一般由真空系统、进样系统、离子源、检测器和计算机控制等部分组成。优点是测量精度和灵敏度较高。缺点是设备昂贵,且不能实时在线检测。
离子移动度计法:它是通过对设备中SF6气体总体杂质含量的测定,来反应设备中SF6气体的优劣程度。优点:测量成分多,精度较高。缺点:易受实验环境条件影响,不能实时检测。
综上所述,现有的SF6气体检测方式存在不能够实时检测,对光源设备要求高,灵敏度低和易受环境影响等问题,因此,研制出一种能够实时检测,对光源设备要求低,灵敏度高,且不受环境影响的SF6气体检测装置具有重要的意义
实用新型内容
本实用新型的目的是为了克服目前的SF6气体检测设备存在的上述问题,提供一种定性检测SF6分解的装置。
本实用新型的目的是这样实现的,一种检测绝缘气体分解的装置,包括:沿光线传播方向依次设置光源、准直镜、第一平面镜、密封气室、第二平面镜和检测器;
所述光源设置在准直镜的焦点位置,所述第一平面镜和第二平面镜平行设置,所述密封气室包括子气室A和子气室B,所述子气室A一端设置有第一充气阀,所述子气室B一端设置有第二充气阀;
从光源发出的光束,经过准直镜后形成平行光,以入射角θ照射到第一平面镜前表面,第一路光经过第一平面镜前表面反射、密封气室子气室A透射、第二平面镜折射、第二平面镜后表面反射和第二平面镜再次射,第二路光经过第一平面镜折射、第一平面镜后表面反射、第平面镜再次折射、密封气室子气室B透射和第二平面镜前表面反射,两路光最终汇集成一路,入射到检测器,在检测器上形成干涉条纹;
所述气体为SF6气体。
进一步地,所述光源为CO2激光器。
进一步地,所述入射角θ为30~60°。
进一步地,所述检测装置为CCD图像传感器。
有益效果:
本实用新型利用光干涉法对SF6分解进行定性检测,使用时,只要光线射出,就能马上得到干涉条纹,通过读数,比较就可以得到检测结果,能够实时检测;本实用新型的检测装置对于光源的中心波长没有特定限制,相比红外光谱吸收法,对光源设备的要求低,更易实现;通过测量气体折射率的变化来分析SF6是否分解以及分解的程度,SF6气体浓度的微小变化,都会引起干涉中心条纹位置的偏移,灵敏度高;而且由于气室装置密闭,与外界环境隔离,受实验环境影响小。
附图说明
图1为本发明的装置结构图;
图中:1-光源、2-准直镜、3-第一平面镜、4-密封气室、5-第一充气阀、6-第二充气阀、7-第二平面镜、8-检测器。
具体实施方式
具体实施方式一:参照图1具体说明本实施方式,本实施方式所述的检测SF6分解的装置包括:沿光线传播方向依次设置光源1、准直镜2、第一平面镜3、密封气室4、第二平面镜7和检测器8;所述光源1设置在准直镜2的焦点位置,所述第一平面镜3和第二平面镜7平行设置,所述密封气室4包括子气室A和子气室B,所述子气室A一端设置有第一充气阀5,所述子气室B一端设置有第二充气阀6;
从光源1发出的光束,经过准直镜2后形成平行光,以入射角θ照射到第一平面3前表面,第一路光经过第一平面镜3前表面反射、密封气室4子气室A透射、第二平面镜7折射、第二平面镜7后表面反射和第二平面镜7再次射,第二路光经过第一平面镜3折射、第一平面镜3后表面反射、第平面镜3再次折射、密封气室4子气室B透射和第二平面镜7前表面反射,两路光最终汇集成一路,入射到检测器8,在检测器8上形成干涉条纹。
具体实施方式二:本实施方式在具体实施方式一的基础上进一步限定,所述光源(1)为CO2激光器。
具体实施方式三:本实施方式在具体实施方式一的基础上进一步限定,所述入射角θ为30~60°。
具体实施方式四:本实施方式在具体实施方式一的基础上进一步限定,所述检测器8为CCD图像传感器。
本实用新型的工作原理:
光源发出的光经过准直镜2后变成平行光束,以入射角θ射入第一平面镜,第一束光经第一平面镜3的前端面的反射,密封气室4的子气室A的透射,再经第二平面镜7的折射,第二平面镜7后端面的反射,第二平面镜7的再次折射后射出,第二束经第一平面镜3的折射,第一平面镜3后端面的反射,再经第一平面镜3折射,密封气室4的子气室B的透射,再经第二平面镜7的前端面反射后射出,与第一束光汇集成一束光,发生光干涉现象,产生干涉条纹,从检测器可观察到白光光源的干涉现象:中央为白色条纹,两侧各有一条黑色条纹,其余是以中央白条纹为对称轴对称的彩色条纹。在一定的大气和温度条件下,当气室中的气室A和气室B中均充入未分解的SF6时,两光束的光程相同,光程差为0,形成稳定不动的干涉条纹,如果把这种情况下干涉条纹的位置记做零级条纹的位置,那么一旦气室B中的未分解的SF6被分解气体取代时,则由于折射率的变化使光程差发生了变化,从而干涉条纹的位置发生移动,干涉条纹的移动量可直接从望远镜的分划板上读出,小数部分从刻微盘上读出,位移量取决于SF6的分解程度。
设气室长度为L,在常温常压条件下,纯净的SF6气体的折射率为n1,SF6分解气体的折射率为n2,那么通过A、B两气室的光程差为L(n1-n2)。设所用光源的波长为λ,则有:
L(n1-n2)=Nλ (1)
式中N为干涉条纹的移动量,则:
△n=Nλ/L (2)
△n为SF6气体分解后,气体折射率的变化,通过△n即能够判断出SF6气体是否分解,及分解的程度。
Claims (4)
1.一种检测绝缘气体分解的装置,其特征在于,包括:沿光线传播方向依次设置光源(1)、准直镜(2)、第一平面镜(3)、密封气室(4)、第二平面镜(7)和检测器(8);所述光源(1)设置在准直镜(2)的焦点位置,所述第一平面镜(3)和第二平面镜(7)平行设置,所述密封气室(4)包括子气室A和子气室B,所述子气室A一端设置有第一充气阀(5),所述子气室B一端设置有第二充气阀(6);
从光源(1)发出的光束,经过准直镜(2)后形成平行光,以入射角θ照射到第一平面镜(3)前表面,第一路光经过第一平面镜(3)前表面反射、密封气室(4)子气室A透射、第二平面镜(7)折射、第二平面镜(7)后表面反射和第二平面镜(7)再次射,第二路光经过第一平面镜(3)折射、第一平面镜(3)后表面反射、第平面镜(3)再次折射、密封气室(4)子气室B透射和第二平面镜(7)前表面反射,两路光最终汇集成一路,入射到检测器(8),在检测器(8)上形成干涉条纹;
所述绝缘气体为SF6气体。
2.根据权利要求1所述的检测绝缘气体分解的装置,其特征在于,所述光源(1)为CO2激光器。
3.根据权利要求1所述的检测绝缘气体分解的装置,其特征在于,所述入射角θ为30~60°。
4.根据权利要求1所述的检测绝缘气体分解的装置,其特征在于,所述检测器(8)为CCD图像传感器。
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CN201720280582.2U CN206557095U (zh) | 2017-03-21 | 2017-03-21 | 一种检测绝缘气体分解的装置 |
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CN109061418A (zh) * | 2018-08-24 | 2018-12-21 | 国网冀北电力有限公司检修分公司 | 一种gis放电检测装置 |
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2017
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